JPH0540075A - 光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 コヒーレント検波方式を用いる光パルス試験
器において、後方散乱波形上のフェージングノイズが小
さい光パルス試験器を提供すること。 【構成】 温度制御部２２により半導体レ−ザ２１の温
度を変化させ、光周波数が変化する試験信号光ａ及びロ
−カル信号光ｂを発生する。この試験信号光ａをパルス
化すると共に偏波状態を変化させて被試験光ファイバ５
に入射し、この被試験光ファイバ５からの反射光及び後
方散乱光ｃとロ−カル信号光ｂと合分岐器６により合波
してビ−ト信号光ｄを生成する。このビ−ト信号光ｄを
受光器７で電気信号に変換し、加算処理した後、後方散
乱波形をＣＲＴ１１に表示する。 【効果】 後方散乱波形上のフェ−ジングノイズが低減
され、被試験光ファイバ５の途中に接続箇所や損失の変
化する箇所があれば、後方散乱波形上で段差として判別
できるようになる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光パルス試験器に関し、
特に、光信号の伝送媒体である光ファイバ及び光ファイ
バ線路の光損失等の特性を試験する光パルス試験器に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、信頼性が高く、経済的な光通信シ
ステムを実現するためには、高信頼で経済的な光ファイ
バ線路を構築することが重要であり、そのために光ファ
イバ線路の特性を、高信頼な試験器で短時間で遠距離ま
で測定、試験する必要がある。光パルス試験器（以下、
ＯＴＤＲ (Optical TimeDomain Reflectometer)と称す
る）は、被試験光ファイバに光パルスを送出し、光ファ
イバからの反射光や後方散乱光を受信し、これを解析し
て光損失等の特性をＣＲＴ等に表示する装置であり、光
ファイバの片端からの光の入出力により試験できること
から非常に有用な道具とされている。そのため、従来か
らＯＴＤＲの測定可能距離（これをダイナミックレンジ
と言う）を拡大する研究開発がなされてきた。

【０００３】ダイナミックレンジを拡大するには、主に
被試験光ファイバへの送出パルス強度を大きくすること
と、後方散乱光等の受信感度を向上する方法が取られ
る。受信感度を向上する一方法として、ヘテロダインも
しくはホモダイン受信と言ったコヒ−レント検波技術を
適用することが検討されている。

【０００４】コヒ−レント検波技術を用いる従来のＯＴ
ＤＲについて図２をもとに説明する。図２では試験信号
光とロ−カル信号光の発生を同一光源により行ってい
る。図において、１は狭線幅スペクトルの光を発生する
光源部、２は光源部１からの出射光を試験信号光ａとロ
−カル信号光ｂとに分岐する第１の合分岐器、３は分岐
した試験信号光ａを一定の周期でパルス化すると共に、
光周波数変調する第１の音響光学スイッチ（以下、ＡＯ
スイッチと称する）、４はパルス化した試験信号光ａを
被試験光ファイバ５に入射すると共に被試験光ファイバ
５からの反射光及び後方散乱光ｃを試験器に導く第２の
合分岐器もしくは第２のＡＯスイッチである。

【０００５】また、６は試験器内に導かれた反射光及び
後方散乱光ｃと前記ロ−カル信号光ｂとを合波する第３
の合分岐器、７は合波された反射光及び後方散乱光ｃと
ロ−カル信号光ｂとのビ−ト信号光ｄを光−電気変換す
る受光器、８は受光器７から出力された電気信号をＡ／
Ｄ変換さらに自乗変換する信号変換器、９は自乗変換し
た一定周期の信号をＳＮ比改善のために加算する加算処
理器、１０は加算処理した信号を対数変換する対数変換
器、１１は反射光及び後方散乱光ｃのそれぞれの強度の
長手方向分布を表示するＣＲＴ、１２は試験信号光ａを
一定周期でパルス化したり加算処理するためのタイミン
グ発生器である。８〜１１によって電気信号処理系１３
が構成されている。

【０００６】この様なコヒ−レント検波技術を用いるＯ
ＴＤＲは、微弱な反射光及び後方散乱光ｃに対して比較
的大きな強度のロ−カル信号光ｂを合波したビ−ト信号
光ｄを受信検波するものである。ビート信号光ｄの強度
Ａｄは、反射光及び後方散乱光ｃの強度をＡｃ、ローカ
ル信号光ｂの強度をＡｂとすると、これらの積の平方根
（Ａｃ・Ａｂ）^1/2 に比例する。従って、ローカル信号
光強度Ａｂを比較的大きくすることによって、より微弱
な反射光及び後方散乱光ｃまで受信できることになり、
ＯＴＤＲとしてのダイナミックレンジを拡大することが
できる。

【０００７】また、コヒーレント検波ＯＴＤＲにおいて
コヒーレント検波を行なうには、数ＫＨｚといった狭線
幅スペクトルの光を発生する光源部１が不可欠であり、
これを実現するために分布帰還型半導体レーザ（以下、
ＤＦＢーＬＤと称する）１４等の出力端に長さ１ｋｍ程
度のシングルモ−ド光ファイバ１５を融着接続し、光フ
ァイバ１５からの後方散乱光を利用して狭線幅化するこ
となどが行なわれている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来の光パルス試験器（ＯＴＤＲ）では、コヒーレン
ト検波技術を用いることによってダイナミックレンジは
拡大できるが、狭線幅スペクトルの光源部１を用いるた
めに、後方散乱波形上にフェージングノイズと称される
ノイズを生じる欠点がある。

【０００９】この原因は、反射光及び後方散乱光ｃの偏
波依存性が被試験光ファイバ５の長手方向で違うこと
と、光源部１のコヒーレンシの良さに起因してファイバ
中の光パルス幅相当の微小区間からの散乱光が干渉する
ことにある。

【００１０】図３に従来のコヒーレント検波ＯＴＤＲで
観測した後方散乱波形例を示す。図３は、１０ｋｍ長の
被試験光ファイバ５に、波長１．５５μｍ、パルス幅１
μｓ、パルス周期１ｍｓ、ピーク強度ー１０ｄＢｍの光
パルスを入射したときの後方散乱波形である。

【００１１】後方散乱波形のＳＮ比改善のための加算回
数は３．９×１０⁵ 回行なっている。波形は、フェージ
ングノイズがなければ、ほぼ一直線になるべきである
が、フェージングノイズのために±０．２ｄＢ程度の揺
らぎが見られる。このようなノイズは、被試験光ファイ
バ５の途中に接続箇所や損失の変化する箇所があって、
本来、後方散乱波形上に段差が見られるべき場合に、段
差を判別できなくする恐れがある。本来の段差が０．１
ｄＢ程度であれば、段差は全く判別できない結果とな
る。従って、コヒーレント検波ＯＴＤＲ波形上のフェー
ジングノイズは、高信頼な光線路を構築する場合の道具
として使う上で好ましくない。

【００１２】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、コヒ
ーレント検波方式を用いる光パルス試験器（ＯＴＤＲ）
において、後方散乱波形上のフェージングノイズが小さ
い光パルス試験器を提供することにある。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、試験信号光及びロ−カル信号光の信号光
発生手段と、前記試験信号光をパルス化して所定周期ご
とに被試験光ファイバに繰り返し送出する光パルス生成
手段と、前記被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる
反射光及び後方散乱光を受光し、前記ロ−カル信号光と
合波してビ−ト信号光を生成する光合波手段と、該ビ−
ト信号光を電気信号に変換する光電気変換手段と、該電
気信号を加算処理する加算処理手段と、該加算処理の結
果に基づいて前記反射光及び後方散乱光の波形を表示す
る表示手段とを備えた光パルス試験器において、前記試
験信号光及びロ−カル信号光の光周波数を、前記光パル
スの所定周期毎に変化させる光周波数可変手段と、前記
試験信号光もしくは前記ロ−カル信号光の偏波状態を、
前記光パルスの所定周期毎に変化させる偏波状態制御手
段とを設けた光パルス試験器を提案する。

【００１４】

【作用】本発明によれば、信号光発生手段によって試験
信号光及びロ−カル信号光が発生され、該試験信号光は
光パルス生成手段によってパルス化され所定周期毎に被
試験光ファイバに繰り返し送出される。前記試験信号光
及びロ−カル信号光の光周波数は、光周波数可変手段に
よって前記光パルスの一周期毎或いは複数周期毎に変化
される。さらに、偏波状態制御手段によって、前記試験
信号光もしくは前記ロ−カル信号光の偏波状態が、前記
光パルスの一周期毎或いは複数周期毎に変化される。ま
た、前記被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる反射
光及び後方散乱光は、光合波手段によって受光されると
共に前記ロ−カル信号光と合波されてビ−ト信号光とさ
れる。ここで、例えば前記光周波数可変手段によって前
記試験信号光及びロ−カル信号光の光周波数が僅かづつ
変化されると、前記反射光、後方散乱光及び前記ビ−ト
信号光の干渉特性等は前記光パルスの所定周期毎に異な
るものになる。さらに、前記偏波状態制御手段によって
前記試験信光もしくは前記ロ−カル信号光の偏波状態が
僅かずつ変化されると、前記反射光、後方散乱光及びビ
−ト信号光の偏波特性は前記光パルスの所定周期毎に異
なるものになる。これらのビ−ト信号光は光電気変換手
段によって電気信号に変換される。さらに、この干渉特
性及び偏波特性が僅かずつ異なるビ−ト信号は、加算処
理手段によって加算処理されて後方散乱光上の干渉によ
るノイズ及び偏波依存性によるノイズ成分が平均化さ
れ、該加算処理の結果に基づいて、表示手段によって前
記反射光及び後方散乱光の波形が表示される。

【００１５】

【実施例】本発明は、試験信号光及びロ−カル信号光を
発する光源の光周波数、及び試験信号光もしくはロ−カ
ル信号光の偏波状態を、繰り返し送出している光パルス
の少なくとも１パルス毎に僅かに変化させることによっ
て、後方散乱波形上のフェージングノイズを低減しよう
とするものである。但し、光源からの光出力をほぼ一定
に保たなければならない。

【００１６】光源からの光出力をほぼ一定に保ちながら
光周波数を変える方法としては、ＤＦＢーＬＤの温度を
変える方法が知られている。例えば、ペルチェ素子上に
マウントした１．５μｍ帯のＤＦＢーＬＤを用いて、Ｌ
Ｄ駆動電流を一定にし、ＬＤ温度を１５℃から２８℃の
間で変化させた結果、光出力は±０．５ｄＢ以下とほと
んど変動無く、光周波数を±７０ＧＨｚ変化させること
ができた。

【００１７】また、多電極を有するＤＦＢーＬＤ等は、
複数の電極に流す電流を制御することによって、光出力
をほぼ一定に保ちながら光周波数を変えることが可能で
ある。例えば、１．５μｍ帯の２電極ＤＦＢーＬＤを用
いて、それぞれの電極に流す電流を変化させたところ、
光出力は±０．５ｄＢ以下とほとんど変動無く、光周波
数を±３０ＧＨｚ変化させることができた。

【００１８】このような光源を使って、被試験光ファイ
バに入射する光パルスの波長即ち光周波数を、少なくと
も１パルス毎に僅かに変化させると共に、試験信号光も
しくはロ−カル信号光の偏波状態を少なくとも１パルス
毎に僅かに変化させる。その結果、被試験光ファイバか
ら戻ってくる後方散乱光、及び後方散乱光とロ−カル信
号光とを合波して得られるビート信号光は、少なくとも
１パルス毎に僅かずつ干渉特性及び偏波特性が異なる。
この僅かずつ異なるビート信号光を検出して電気信号処
理系で加算処理すると、被試験光ファイバからの後方散
乱光上の干渉によるノイズ及び偏波依存性によるノイズ
成分が平均化されるので、後方散乱波形上のフェージン
グノイズを低減できる。

【００１９】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説
明する。図１は本発明の第１の実施例を示す構成図であ
る。図において、前述した従来例と同一構成部分は同一
符号をもって表し、その説明を省略する。２１は温度制
御可能なＤＦＢーＬＤ等の半導体レ−ザ、２２はペルチ
ェ素子等により構成され、半導体レ−ザ２１の温度を制
御する温度制御部であり、これらは狭線幅化用シングル
モード光ファイバ１５と合わせて光周波数可変な光源部
２３をなす。２４は偏波状態制御器で、例えば（１／
４）波長板と（１／２）波長板の２個の位相板が直列接
続された回転位相板方式のもの、或いは２つのファイバ
型ファラデ−回転子がファイバコイルを介して直列接続
されたファラデ−回転子方式のもの等が用いられる。２
５はＣＰＵ等からなる主制御部で、温度制御部２２、偏
波状態制御器２４及びタイミング発生器１２の動作を制
御する。光源部２３は、従来例における光源部１に代え
て用いられる。また、偏波状態制御器２４は、ＡＯスイ
ッチ３と合分岐器４との間に介在される。

【００２０】次に、前述の構成よりなる本発明の第１の
実施例のコヒーレント検波ＯＴＤＲの動作について説明
する。温度制御可能な半導体レ−ザ２１は、温度制御部
２２からの制御により前述したように周辺の温度が制御
され、その結果、光出力はほぼ一定に保たれながら光周
波数が変化される。さらに、半導体レ−ザ２１から出射
されたレ−ザ光のスペクトル線幅は狭線幅化用光ファイ
バ１５によって、コヒ−レント検波を行うために十分な
線幅に狭くされる。

【００２１】このように光周波数可変な光源部２３から
の出射光は第１の合分岐器２により試験信号光ａとロー
カル信号光ｂとに分岐される。分岐された試験信号光ａ
はＡＯスイッチ３で一定の周期でパルス化されると共に
光周波数変調され、さらに偏波状態制御器２４によりそ
の偏波状態が制御され、第２の合分岐器４を介して被試
験光ファイバ５に入射される。被試験光ファイバ５から
の反射光及び後方散乱光ｃは第２の合分岐器４を介して
第３の合分岐器６に導かれる。この第３の合分岐器６に
はローカル信号光ｂも導かれ、反射光及び後方散乱光ｃ
とロ−カル信号光ｂとが合波され、ビ−ト信号光ｄが生
成される。

【００２２】第３の合分岐器６によって生成されたビー
ト信号光ｄは、ダブルバランス型ＰＩＮ−ＦＥＴ等の受
光器７で光／電気変換される。受光器７によって光／電
気変換されたビート信号は、信号変換器８でＡ／Ｄ変換
されると共に自乗変換され、加算処理器９でＳＮ改善の
ために加算される。さらにこの後、対数変換器１０で対
数変換され、ＣＲＴ１１に信号の時間的変化，即ち長手
方向の分布として表示される。タイミング発生器１２
は、試験信号光ａをパルス化するための信号をＡＯスイ
ッチ３の駆動部に供給すると共に加算処理器９へ加算処
理タイミング信号を供給する。

【００２３】主制御部２５は、温度制御部２２、偏波状
態制御器２４及びタイミング発生器１２の動作制御を行
ない、その結果、被試験光ファイバ５に送出する光パル
スのタイミングに応じて試験信号光ａ及びロ−カル信号
光ｂの光周波数を変化させると共に、試験信号光ａの偏
波状態の制御を行なうものである。これら光周波数及び
偏波状態の制御は、光周波数及び偏波状態を、例えば光
パルスの送出前に変化させて光パルスを送出した後、次
の光パルス送出前までの間は一定に保ったり、或いは光
パルスの送出タイミングに関係なく時間に対応して直線
的に変化させるように行う。

【００２４】次に、第１の実施例のコヒーレント検波Ｏ
ＴＤＲを用いた実験結果に基づいて本発明の効果につい
て説明する。この実験では、回転位相板方式の偏波状態
制御器２４を用いた。また、被試験光ファイバ５の長さ
は１０ｋｍ、被試験光ファイバ５に送出する光パルス
は、波長１．５５μｍ、パルス幅１μｓ、パルス周期１
ｍｓ、ピーク強度−１０ｄＢｍであり、図２に示す従来
例と同じである。さらに、長さ１ｋｍの狭線幅化用シン
グルモ−ド光ファイバ１５によってスペクトル線幅は３
ＫＨｚ以下とされると共に、第３の合分岐器６に入力さ
れるローカル信号光ｂの強度はほぼ０ｄＢｍであり、従
来例の場合と同じに設定されている。また、後方散乱波
形のＳＮ改善のための加算回数は従来例と同様に３．９
×１０⁵ 回行なった。従って、加算時間は３９０秒であ
る。

【００２５】図４の(a) 〜(c) に、実験によって得られ
た後方散乱波形を示す。それぞれの図において、横軸は
被試験光ファイバ５の長さを表し、縦軸は後方散乱光ｃ
の強度を表している。

【００２６】図４(a) は、試験信号光ａの偏波状態を一
定に保ち、３．９×１０⁵ 回の加算の間、光周波数を変
化させたときの後方散乱波形を示す図である。ここで、
光周波数変化は、光パルス送出タイミングに関係なく時
間に対応してほぼ直線的に±７０ＧＨｚの間を往復さ
せ、一往復時間を６５秒とした。図３に示す従来例の実
験結果に比べてフェ−ジングノイズが小さくなっている
ことが分かる。

【００２７】図４(b) は、試験信号光ａ及びロ−カル信
号光ｂの光周波数を一定に保ち、３．９×１０⁵ 回の加
算の間、０．６５×１０⁵ 回の加算回数毎に試験信号光
ａの偏波状態を変えたときの後方散乱波形を示す図であ
る。これもまた、図３に示す従来例の実験結果に比べて
フェ−ジングノイズが小さくなっていることが分かる。
図４(c) は、試験信号光ａ及びロ−カル信号光ｂの光
周波数変化させると共に、試験信号光ａの偏波状態を変
化させたときの後方散乱波形を示す図である。ここで
は、光周波数変化は、光パルス送出タイミングに関係な
く時間に対応してほぼ直線的に±７０ＧＨｚの間を往復
させ、一往復時間を６５秒とし、３．９×１０⁵ 回の加
算の間、０．６５×１０⁵ 回の加算回数毎に試験信号光
ａの偏波状態を変化させた。図３に示す従来例の実験結
果に比べてフェ−ジングノイズは０．０５ｄＢ以下と非
常に小さくなっており、波形がほぼ一直線になっている
ことが分かる。また、光周波数だけを変化させた図４
(a) 及び偏波状態だけを変化させた図４(b) の後方散乱
波形よりもさらにフェ−ジングノイズは小さくなってお
り、本発明の有効性が確認できた。

【００２８】このように、被試験光ファイバ５に入射す
る光パルスの光周波数を、少なくとも１パルス毎に僅か
に変化させると共に、試験信号光ａの偏波状態を少なく
とも１パルス毎に僅かに変化させると、被試験光ファイ
バ５から戻ってくる後方散乱光ｃ、及び後方散乱光ｃと
ロ−カル信号光ｂとを合波して得られるビート信号光ｄ
は、少なくとも１パルス毎に僅かずつ干渉特性及び偏波
特性が異なる。この僅かずつ異なるビート信号光ｄを検
出して電気信号処理系で加算処理すると、被試験光ファ
イバ５からの後方散乱光上の干渉によるノイズ及び偏波
依存性によるノイズが平均化されるので、後方散乱波形
上のフェージングノイズを低減することができる。

【００２９】次に、本発明の第２の実施例を図５に基づ
いて説明する。図５は第２の実施例を示す構成図であ
る。図において、前述した第１の実施例と同一構成部分
は同一符号をもって表し、その説明を省略する。３１は
複数の電極を有する半導体レーザで、例えば２電極を有
するＤＦＢーＬＤ、３２は半導体レ−ザ３１の複数の電
極に対応した駆動電流制御部、３３は主制御部で、駆動
電流制御部３２、偏波状態制御器２４及びタイミング発
生器１２を制御する主制御部である。半導体レ−ザ３
１、駆動電流制御部３２及び主制御部３３のそれぞれ
は、前述した第１の実施例における半導体レ−ザ２１、
温度制御部２２、主制御部２５に代えて用いられる。ま
た、第２の実施例においては、ＡＯスイッチ３からの出
力光パルスを直接第２の合分岐器４に入射すると共に、
偏波状態制御器２４を第１の合分岐器２と第３の合分岐
器６との間に介在させ、ロ−カル信号光ｂの偏波状態を
変化させている。

【００３０】半導体レーザ３１は、複数の電極に対応し
た数の電流駆動ができる駆動電流制御部３２によって制
御され、複数の電極に流す電流の比が適切に設定される
ことによって、光出力の変動を小さく保ちながら、光周
波数が変化させられる。

【００３１】次に、前述の構成よりなる第２の実施例の
動作を説明する。半導体レ−ザ３１の出力光は、狭線幅
化用シングルモ−ド光ファイバ１５によってスペクトル
線幅が小さくされ、第１の合分岐器２によって試験信号
光ａとローカル信号光ｂに分岐される。試験信号光ａは
ＡＯスイッチ３でパルス化された後、第２の合分岐器４
を介して被試験光ファイバ５に入射される。被試験光フ
ァイバ５からの反射光及び後方散乱光ｃは、第２の合分
岐器４を介して第３の合分岐器６に導かれる。また、ロ
−カル信号光ｂは、偏波状態制御器２４によってその偏
波状態が制御された後、第３の合分岐器６に導かれる。
この第３の合分岐器６において、反射光及び後方散乱光
ｃとロ−カル信号光ｂとが合波され、ビ−ト信号光ｄが
生成される。この後、第３の合分岐器６によって生成さ
れたビート信号光ｄが、受光器７によって光／電気変換
され、さらに電気信号処理系１３によって電気処理され
て表示される点は、前述した第１の実施例と同様であ
る。

【００３２】また、第２の実施例のコヒ−レント検波Ｏ
ＴＤＲを用いた実験においても、図４に示す第１の実験
結果と同様の後方散乱波形が得られた。即ち、この実験
においても前述した第１の実施例の実験と同様に、回転
位相板方式の偏波状態制御器２４を用いると共に、被試
験光ファイバ５の長さを１０ｋｍ、被試験光ファイバ５
に送出する光パルスを、波長１．５５μｍ、パルス幅１
μｓ、パルス周期１ｍｓ、ピーク強度−１０ｄＢｍとし
た。また、光周波数及び偏波状態を変化させる条件も第
１の実施例の実験と同様とした。

【００３３】この結果、試験信号光ａ及びロ−カル信号
光ｂの光周波数だけを変化させたときは図４(a) と同様
の後方散乱波形が得られ、ロ−カル信号光ｂの偏波状態
だけを変化させたときは図４(b) と同様の後方散乱波形
が得られた。また、試験信号光ａ及びロ−カル信号光ｂ
の光周波数変化させると共に、ロ−カル信号光ｂの偏波
状態を変化させたときの後方散乱波形は図４(C) と同様
となった。

【００３４】このように、被試験光ファイバ５に入射す
る光パルスの光周波数を、少なくとも１パルス毎に僅か
に変化させると共に、ロ−カル信号光ｂの偏波状態を少
なくとも１パルス毎に僅かに変化させると、被試験光フ
ァイバ５から戻ってくる後方散乱光ｃ、及び後方散乱光
ｃとロ−カル信号光ｂとを合波して得られるビート信号
光ｄは、少なくとも１パルス毎に僅かずつ干渉特性及び
偏波特性が異なる。この僅かずつ異なるビート信号光ｄ
を検出して電気信号処理系で加算処理すると、被試験光
ファイバ５からの後方散乱光上の干渉によるノイズ及び
偏波依存性によるノイズ成分が平均化されるので、後方
散乱波形上のフェージングノイズを低減することができ
る。

【００３５】以上述べたように、本発明の第１及び第２
の実施例は、光周波数可変な光源部１を用いて、試験信
号光ａ及びロ−カル信号光ｂの光周波数を少なくとも１
パルス毎に僅かに変化させると共に、試験信号光ａもし
くはロ−カル信号光ｂの偏波状態を少なくとも１パルス
毎に僅かに変化させ、干渉特性及び偏波特性が僅かずつ
異なるビート信号光ｄを加算処理することによって、被
試験光ファイバ５からの後方散乱光ｃ上のフェージング
ノイズを低減するものである。

【００３６】従って本発明の光パルス試験器を用いるこ
とにより、コヒーレント検波技術を用いるＯＴＤＲの最
大の問題であった後方散乱波形上のフェージングノイズ
が低減されるので、被試験光ファイバ５の途中に接続箇
所や損失の変化する箇所があれば、後方散乱波形上で段
差として判別できるようになる。即ち、高信頼な光線路
を構築するための道具としてコヒーレント検波ＯＴＤＲ
を実用に供することが可能となる。

【００３７】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
パルスの所定周期毎に試験信号光及びロ−カル信号光の
光周波数が変化され、さらに前記試験信号光もしくは前
記ロ−カル信号光の偏波状態が変化されるので、被試験
光ファイバからの後方散乱光及びビ−ト信号光の干渉特
性及び偏波特性は前記光パルスの所定周期毎に異なるも
のになり、前記後方散乱光の干渉によるノイズ及び偏波
依存性によるノイズ成分が平均化され、後方散乱波形上
のフェ−ジングノイズが低減される。これにより、被試
験光ファイバの途中に接続箇所や損失の変化する箇所が
あれば、後方散乱波形上で段差として判別できるように
なり、高信頼な光線路を構築するための道具としてコヒ
ーレント検波光パルス試験器を実用に供することができ
るという非常に優れた効果を奏するものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例のコヒ−レント検波方式
光パルス試験器を示す構成図

【図２】従来例のコヒ−レント検波方式光パルス試験器
を示す構成図

【図３】従来例を用いて測定した後方散乱波形を示す図

【図４】本発明の第１の実施例を用いて測定した後方散
乱波形を示す図

【図５】本発明の第２の実施例のコヒ−レント検波方式
光パルス試験器を示す構成図

【符号の説明】

１…光源部、２，４，６…合分岐器、３…ＡＯスイッ
チ、５…被試験光ファイバ、７…受光器、８…信号変換
器、９…加算処理器、１０…対数変換器、１１…ＣＲ
Ｔ、１２…タイミング発生器、１３…電気信号処理系、
１４…ＤＦＢ−ＬＤ、１５…狭線幅化用光ファイバ、２
１…半導体レ−ザ、２２…温度制御部、２３…光源部、
２４…偏波状態制御器、２５…主制御部、３１…半導体
レ−ザ、３２…駆動電流制御部、３３…主制御部。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三川 泉 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験信号光及びロ−カル信号光の信号光
   発生手段と、前記試験信号光をパルス化して所定周期ご
   とに被試験光ファイバに繰り返し送出する光パルス生成
   手段と、前記被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる
   反射光及び後方散乱光を受光し、前記ロ−カル信号光と
   合波してビ−ト信号光を生成する光合波手段と、該ビ−
   ト信号光を電気信号に変換する光電気変換手段と、該電
   気信号を加算処理する加算処理手段と、該加算処理の結
   果に基づいて前記反射光及び後方散乱光の波形を表示す
   る表示手段とを備えた光パルス試験器において、 前記試験信号光及びロ−カル信号光の光周波数を、前記
   光パルスの所定周期毎に変化させる光周波数可変手段
   と、 前記試験信号光もしくは前記ロ−カル信号光の偏波状態
   を、前記光パルスの所定周期毎に変化させる偏波状態制
   御手段とを設けた、 ことを特徴とする光パルス試験器。