JPS63254835A - 光伝送装置試験回路 - Google Patents
光伝送装置試験回路Info
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- JPS63254835A JPS63254835A JP62088746A JP8874687A JPS63254835A JP S63254835 A JPS63254835 A JP S63254835A JP 62088746 A JP62088746 A JP 62088746A JP 8874687 A JP8874687 A JP 8874687A JP S63254835 A JPS63254835 A JP S63254835A
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- Japan
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- wave
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- liquid crystal
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 16
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の属する技術分野
本発明は光を媒体とした伝送装置に関するものであり、
特にその試験のための信号折り返し回路に関するもので
ある。
特にその試験のための信号折り返し回路に関するもので
ある。
（２）従来の技術
第１図に従来の光伝送装置回路の一般的な形態を示す。
伝送装置１と伝送装置２間は光フアイバケーブル３で接
続されている。電気信号が伝送装置ｌの入力端子１−１
から入力され光源駆動回路１−２、光源１−３により光
信号に変換され、光ファイバ３−１を介し伝送装置２の
受光素子２−４に伝達されて電気信号に再変換され増幅
器２−５により増幅された後に出力端子２−６より取り
出される。伝送装置２から伝送装置ｌへの信号伝送は上
記の信号の涛れと逆向きに入力端子２−１、光源駆動回
路２−２、光源２−３、光ファイバ３−２、受光素子１
−４、増幅器１−５、出力端子１−６を経て伝送される
。伝送路に障害が発生した場合には、障害点を切り分け
る必要がある。このため、伝送装置１に試験用スイッチ
１−７を設け、試験時にはこのスイッチを閉じ入力端子
１１から入力した信号を折り返し出力端子１−６で観測
することにより障害点が電気回路部分かあるいはそれよ
り後段の光素子ないし光ファイバかを判定する方法がと
られていた。伝送装置２においても同じ構成を取り試験
用スイッチ２−７を設けている。しかし、実際には伝送
装置の障害が電気回路より信頼生の低い光素子、特に光
源として用いられる半導体レーザ、発光ダイオードで発
生することが多いため障害点の切り分けが充分でない欠
点があった。
続されている。電気信号が伝送装置ｌの入力端子１−１
から入力され光源駆動回路１−２、光源１−３により光
信号に変換され、光ファイバ３−１を介し伝送装置２の
受光素子２−４に伝達されて電気信号に再変換され増幅
器２−５により増幅された後に出力端子２−６より取り
出される。伝送装置２から伝送装置ｌへの信号伝送は上
記の信号の涛れと逆向きに入力端子２−１、光源駆動回
路２−２、光源２−３、光ファイバ３−２、受光素子１
−４、増幅器１−５、出力端子１−６を経て伝送される
。伝送路に障害が発生した場合には、障害点を切り分け
る必要がある。このため、伝送装置１に試験用スイッチ
１−７を設け、試験時にはこのスイッチを閉じ入力端子
１１から入力した信号を折り返し出力端子１−６で観測
することにより障害点が電気回路部分かあるいはそれよ
り後段の光素子ないし光ファイバかを判定する方法がと
られていた。伝送装置２においても同じ構成を取り試験
用スイッチ２−７を設けている。しかし、実際には伝送
装置の障害が電気回路より信頼生の低い光素子、特に光
源として用いられる半導体レーザ、発光ダイオードで発
生することが多いため障害点の切り分けが充分でない欠
点があった。
（３）発明の目的
本発明の目的は光伝送装置の障害時試験のための光信号
段での折り返しループを構成する手段として用いられる
光伝送装置試験回路を提供することにある。
段での折り返しループを構成する手段として用いられる
光伝送装置試験回路を提供することにある。
（４）発明の構成
（４−１）発明の特徴と従来の技術との差異本発明は光
の偏波に対する透過、反射特性が可変の偏波ビームスプ
リッタを光源並びに受光素子と光ファイバの間に配置し
、通常時は光源並びに受光素子と光ファイバとを結合状
態にし、試験時には光源から受光素子への折り返しルー
プを構成することを特徴としている。
の偏波に対する透過、反射特性が可変の偏波ビームスプ
リッタを光源並びに受光素子と光ファイバの間に配置し
、通常時は光源並びに受光素子と光ファイバとを結合状
態にし、試験時には光源から受光素子への折り返しルー
プを構成することを特徴としている。
（４−２）実施例
第２図は本発明の実施例で用いる偏波ビームスプリッタ
を示す。例えば高屈折率ガラスプリズムのギャップにネ
マチック液晶を充填することによって構成される。この
液晶に電界を印加しない場合〔（ａ）で示すＯＦＦ時〕
には液晶が紙面に垂直にホモジニアス配列をし角度θで
入射した光ビームのうち偏光方向が入射面に垂直（ｓｅ
ｎｋｒｅｃｈｔ）なＳ波が透過し、入射面に平行（ｐａ
ｒａｌｌｅｌ）なＰ波が全反射する。電界を印加した場
合〔（ロ）で示すＯＮ時〕には液晶がホメオトロピック
配列をし角度θで入射した光ビームのうちＰ波が透過し
Ｓ波が全反射する。
を示す。例えば高屈折率ガラスプリズムのギャップにネ
マチック液晶を充填することによって構成される。この
液晶に電界を印加しない場合〔（ａ）で示すＯＦＦ時〕
には液晶が紙面に垂直にホモジニアス配列をし角度θで
入射した光ビームのうち偏光方向が入射面に垂直（ｓｅ
ｎｋｒｅｃｈｔ）なＳ波が透過し、入射面に平行（ｐａ
ｒａｌｌｅｌ）なＰ波が全反射する。電界を印加した場
合〔（ロ）で示すＯＮ時〕には液晶がホメオトロピック
配列をし角度θで入射した光ビームのうちＰ波が透過し
Ｓ波が全反射する。
第３図は本発明の実施例であり、第１図で示した伝送装
置の一端１を本図の構成で置き替えた構成をとっている
。１−１は入力端子、１−２は光源駆動回路、１−３は
光源、１−４は受光素子、１−５は増幅器、３−１．３
−２は光ファイバ、４−１〜４−６は第２図に示した偏
波ビームスプリッタ、５−１．５−２はミラーである。
置の一端１を本図の構成で置き替えた構成をとっている
。１−１は入力端子、１−２は光源駆動回路、１−３は
光源、１−４は受光素子、１−５は増幅器、３−１．３
−２は光ファイバ、４−１〜４−６は第２図に示した偏
波ビームスプリッタ、５−１．５−２はミラーである。
このように、本発明の光伝送装置試験回路は、信号送信
用光源回路と信号受信用受光回路を伝送路の両端に一対
ずつ配置する光伝送方式において、角度θで入射した光
ビームに対して無電界時にＳ波を通過させＰ波を反射さ
せ電界印加時にＰ波を通過させＳ波を反射する偏波ビー
ムスプリッタを上記送信用光源回路光源からの出射光ビ
ームに対して角度θで交わる位置に一枚（４−１）、こ
れに平行で出射光ビームと交わらない位置に一枚（４−
２）、出射光ビームに対して角度（π−θ）で交わる位
置に一枚（４−３）、さらに、信号受信用受光回路への
入射光ビームに対して角度θで交わる位置に一枚（４−
４）、これに平行で入射光ビームと交わらない位置に一
枚（４−５）、入射光ビームに対して角度（π−θ）で
交わる位置に一枚（４−６）の計６枚が配置されている
ことを特徴とする構成を有している。
用光源回路と信号受信用受光回路を伝送路の両端に一対
ずつ配置する光伝送方式において、角度θで入射した光
ビームに対して無電界時にＳ波を通過させＰ波を反射さ
せ電界印加時にＰ波を通過させＳ波を反射する偏波ビー
ムスプリッタを上記送信用光源回路光源からの出射光ビ
ームに対して角度θで交わる位置に一枚（４−１）、こ
れに平行で出射光ビームと交わらない位置に一枚（４−
２）、出射光ビームに対して角度（π−θ）で交わる位
置に一枚（４−３）、さらに、信号受信用受光回路への
入射光ビームに対して角度θで交わる位置に一枚（４−
４）、これに平行で入射光ビームと交わらない位置に一
枚（４−５）、入射光ビームに対して角度（π−θ）で
交わる位置に一枚（４−６）の計６枚が配置されている
ことを特徴とする構成を有している。
正常時は全ての偏波ビームスプリッタをＯＦＦ状態にし
ておく、この場合には、光源１−３からの出射光ビーム
は偏波ビームスプリンタ４−１で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波は偏波ビームスプリンタ４
−２およびミラー５−１で全反射を繰り返し偏波ビーム
スプリッタ４−３でＳ波と再び合成され光ファイバ３−
１に結合される。光ファイバ３−２からの入射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ４−４で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波はミラ５−２および偏波ビ
ームスプリンタ４−５で全反射を繰り返し偏波ビームス
プリッタ４−６でＳ波と再び合成され受光素子１−４に
結合する。
ておく、この場合には、光源１−３からの出射光ビーム
は偏波ビームスプリンタ４−１で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波は偏波ビームスプリンタ４
−２およびミラー５−１で全反射を繰り返し偏波ビーム
スプリッタ４−３でＳ波と再び合成され光ファイバ３−
１に結合される。光ファイバ３−２からの入射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ４−４で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波はミラ５−２および偏波ビ
ームスプリンタ４−５で全反射を繰り返し偏波ビームス
プリッタ４−６でＳ波と再び合成され受光素子１−４に
結合する。
試験時には対向する伝送装置２の光出力をＯＦＦとし伝
送装置ｌにおける光ファイバ３−２からの入射光はない
ものとし、偏波ビームスプリッタ４−１，４−３，４−
６を（ｂ）に示すようにＯＮ状態にする。光源１−３か
らの出射光ビームは偏波ビームスプリッタ４−１で偏波
分離し、Ｐ波は透過しＳ波は全反射する。透過したＰ波
はさらに偏波ビームスプリッタ４−３も透過し光ファイ
バ３−１に結合する。全反射したＳ波は偏波ビームスプ
リッタ４−２．４−５を透過し偏波ビームスプリッタ４
−６で全反射して受光素子１−４に結合する。
送装置ｌにおける光ファイバ３−２からの入射光はない
ものとし、偏波ビームスプリッタ４−１，４−３，４−
６を（ｂ）に示すようにＯＮ状態にする。光源１−３か
らの出射光ビームは偏波ビームスプリッタ４−１で偏波
分離し、Ｐ波は透過しＳ波は全反射する。透過したＰ波
はさらに偏波ビームスプリッタ４−３も透過し光ファイ
バ３−１に結合する。全反射したＳ波は偏波ビームスプ
リッタ４−２．４−５を透過し偏波ビームスプリッタ４
−６で全反射して受光素子１−４に結合する。
（５）発明の詳細
な説明したように、本発明によれば光伝送装置において
光信号段で信号を電界の印加により非機械的に折り返す
ことができるため、充分な切り分けが行われ、伝送路の
自動試験の観点から有用である。
光信号段で信号を電界の印加により非機械的に折り返す
ことができるため、充分な切り分けが行われ、伝送路の
自動試験の観点から有用である。
第１図は従来の光伝送装置回路の一般的な形態を示す系
統図、第２図は本発明に用いる偏波ビームスプリッタの
１例を示すブロック図、第３図は本発明の実施例を示す
接続系統図である。 １．２・・・伝送装置、 ３・・・光フアイバケーブル
、１−１．２−１・・・入力端子、１−２．２−２光源
駆動回路、１−３．２−３・・・光源、１−４．２−４
・・・受光素子、１−５．２−５・・・増幅器、１−６
．２−６・・・出力端子、１−７．２−７・・・試験用
スイッチ、３−１．３−２・・・光ファイバ、４−１．
４−２．４−３．４−４．４−５．４−６・・・偏波ビ
ームスプリッタ、５−１．５−２ ・・・ミラー。
統図、第２図は本発明に用いる偏波ビームスプリッタの
１例を示すブロック図、第３図は本発明の実施例を示す
接続系統図である。 １．２・・・伝送装置、 ３・・・光フアイバケーブル
、１−１．２−１・・・入力端子、１−２．２−２光源
駆動回路、１−３．２−３・・・光源、１−４．２−４
・・・受光素子、１−５．２−５・・・増幅器、１−６
．２−６・・・出力端子、１−７．２−７・・・試験用
スイッチ、３−１．３−２・・・光ファイバ、４−１．
４−２．４−３．４−４．４−５．４−６・・・偏波ビ
ームスプリッタ、５−１．５−２ ・・・ミラー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 信号送信用光源回路と信号受信用受光回路を伝送路の両
端に一対ずつ配置する光伝送方式において、 角度θで入射した光ビームに対して無電界時にＳ波を通
過させＰ波を反射させ電界印加時にＰ波を通過させＳ波
を反射する偏波ビームスプリッタを上記送信用光源回路
光源からの出射光ビームに対して角度θで交わる位置に
一枚、これに平行で出射光ビームと交わらない位置に一
枚、出射光ビームに対して角度（π−θ）で交わる位置
に一枚、さらに、信号受信用受光回路への入射光ビーム
に対して角度θで交わる位置に一枚、これに平行で入射
光ビームと交わらない位置に一枚、入射光ビームに対し
て角度（π−θ）で交わる位置に一枚の計６枚が配置さ
れていることを特徴とする光伝送装置試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8874687A JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8874687A JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63254835A true JPS63254835A (ja) | 1988-10-21 |
| JP2511265B2 JP2511265B2 (ja) | 1996-06-26 |
Family
ID=13951474
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8874687A Expired - Fee Related JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2511265B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109314585A (zh) * | 2016-04-21 | 2019-02-05 | 希尔莱特有限责任公司 | 无线数据链路的维护 |
-
1987
- 1987-04-13 JP JP8874687A patent/JP2511265B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109314585A (zh) * | 2016-04-21 | 2019-02-05 | 希尔莱特有限责任公司 | 无线数据链路的维护 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2511265B2 (ja) | 1996-06-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |