JPH08166322A - リターンロス測定方法及びその装置 - Google Patents
リターンロス測定方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH08166322A JPH08166322A JP6310497A JP31049794A JPH08166322A JP H08166322 A JPH08166322 A JP H08166322A JP 6310497 A JP6310497 A JP 6310497A JP 31049794 A JP31049794 A JP 31049794A JP H08166322 A JPH08166322 A JP H08166322A
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- JP
- Japan
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- return loss
- laser light
- light source
- coupler
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定精度が高く再現性のよいリターンロス測
定方法及びその装置を提供する。 【構成】 レーザ光源１から出射したレーザ光を被測定
物３に入射する際に生じる反射光を光検出器５で受光し
て被測定物３のリターンロスを測定するリターンロス測
定方法において、レーザ光源１から出射したレーザ光を
無偏光化手段６で無偏光化した後被測定物３に入射させ
ることを特徴としている。
定方法及びその装置を提供する。 【構成】 レーザ光源１から出射したレーザ光を被測定
物３に入射する際に生じる反射光を光検出器５で受光し
て被測定物３のリターンロスを測定するリターンロス測
定方法において、レーザ光源１から出射したレーザ光を
無偏光化手段６で無偏光化した後被測定物３に入射させ
ることを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光源から出射し
たレーザ光を被測定物に入射する際に生じる反射光を光
検出器で受光して被測定物のリターンロスを測定するリ
ターンロス測定方法及びその装置に関する。
たレーザ光を被測定物に入射する際に生じる反射光を光
検出器で受光して被測定物のリターンロスを測定するリ
ターンロス測定方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば光分波器や光分配器等の光学部品
にレーザ光源からレーザ光を入射すると、光学部品でレ
ーザ光の一部が反射して損失（リターンロス）となる。
にレーザ光源からレーザ光を入射すると、光学部品でレ
ーザ光の一部が反射して損失（リターンロス）となる。
【０００３】図５はリターンロスを測定する測定方法の
従来例を示す図である。
従来例を示す図である。
【０００４】同図において例えばレーザダイオードから
なるレーザ光源（以下「ＬＤ光源」という。）１から出
射したレーザ光はカプラ２の入力側カプラ端２ａに入射
する。レーザ光はカプラ２の出力側カプラ端２ｂから被
測定物側３に入射するが、一部のレーザ光はカプラ２で
分岐されて出力側カプラ端２ｃからＬＤ光源１の光出力
の変化量を検出する光検出器４へ入射する。
なるレーザ光源（以下「ＬＤ光源」という。）１から出
射したレーザ光はカプラ２の入力側カプラ端２ａに入射
する。レーザ光はカプラ２の出力側カプラ端２ｂから被
測定物側３に入射するが、一部のレーザ光はカプラ２で
分岐されて出力側カプラ端２ｃからＬＤ光源１の光出力
の変化量を検出する光検出器４へ入射する。
【０００５】被測定物３に入射したレーザ光は被測定物
３でその一部が反射される。被測定物３で反射したレー
ザ光は、カプラ２で分岐され一部はＬＤ光源１側へ戻
り、残りの反射光は入力側カプラ端２ｄからリターンロ
スを検出する光検出器５へ入射する。尚、光検出器４で
はＬＤ光源１の光出力変化量を検出し、リターンロス測
定値を補正する。これによりリターンロス測定の精度を
高めている。
３でその一部が反射される。被測定物３で反射したレー
ザ光は、カプラ２で分岐され一部はＬＤ光源１側へ戻
り、残りの反射光は入力側カプラ端２ｄからリターンロ
スを検出する光検出器５へ入射する。尚、光検出器４で
はＬＤ光源１の光出力変化量を検出し、リターンロス測
定値を補正する。これによりリターンロス測定の精度を
高めている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来例のようにＬＤ光源を用いてリターンロス測定を
行うと、レーザ光の干渉性が高いために微小な反射光間
の干渉によってリターンロス測定値が２〜３ｄＢ変動す
る。このため測定精度及び再現性が劣化する。
た従来例のようにＬＤ光源を用いてリターンロス測定を
行うと、レーザ光の干渉性が高いために微小な反射光間
の干渉によってリターンロス測定値が２〜３ｄＢ変動す
る。このため測定精度及び再現性が劣化する。
【０００７】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、測定精度が高く再現性のよいリターンロス測定方法
及びその装置を提供することにある。
し、測定精度が高く再現性のよいリターンロス測定方法
及びその装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、レーザ光源から出射したレーザ光を被測定
物に入射する際に生じる反射光を光検出器で受光して被
測定物のリターンロスを測定するリターンロス測定方法
において、レーザ光源から出射したレーザ光を無偏光化
手段で無偏光化した後被測定物に入射させるものであ
る。
に本発明は、レーザ光源から出射したレーザ光を被測定
物に入射する際に生じる反射光を光検出器で受光して被
測定物のリターンロスを測定するリターンロス測定方法
において、レーザ光源から出射したレーザ光を無偏光化
手段で無偏光化した後被測定物に入射させるものであ
る。
【０００９】本発明は、レーザ光源と、一方の入力側カ
プラ端がこのレーザ光源に接続され出力側カプラ端が被
測定物に接続されたカプラと、このカプラの他方の入力
側カプラ端に接続され被測定物からの反射光を受光して
被測定物のリターンロスを測定するための光検出器とを
備えたリターンロス測定装置において、レーザ光源とカ
プラとの間に無偏光化手段を設けたものである。
プラ端がこのレーザ光源に接続され出力側カプラ端が被
測定物に接続されたカプラと、このカプラの他方の入力
側カプラ端に接続され被測定物からの反射光を受光して
被測定物のリターンロスを測定するための光検出器とを
備えたリターンロス測定装置において、レーザ光源とカ
プラとの間に無偏光化手段を設けたものである。
【００１０】上記構成に加え本発明は、無偏光化手段
を、長さの比が１対２の２本の偏波面保存光ファイバを
一方の主軸に対して略４５度傾けて接続した偏波面保存
光ファイバで構成してもよい。
を、長さの比が１対２の２本の偏波面保存光ファイバを
一方の主軸に対して略４５度傾けて接続した偏波面保存
光ファイバで構成してもよい。
【００１１】上記構成に加え本発明は、無偏光化手段を
レーザ光源の出射ポートに設けられ６００ｒｐｍ以上で
回転するλ／２板で構成してもよい。
レーザ光源の出射ポートに設けられ６００ｒｐｍ以上で
回転するλ／２板で構成してもよい。
【００１２】上記構成に加え本発明は、無偏光化手段を
レーザ光源の出射ポートに設けられそれぞれ６００ｒｐ
ｍ以上で回転するλ／２板及びλ／４板で構成してもよ
い。
レーザ光源の出射ポートに設けられそれぞれ６００ｒｐ
ｍ以上で回転するλ／２板及びλ／４板で構成してもよ
い。
【００１３】
【作用】上記構成によれば、レーザ光源の出射ポートに
無偏光化手段を設けて無偏光化したレーザ光を被測定物
に入射するようにしたので、被測定物から無偏光化され
た反射光が光検出器で検出される。この反射光は干渉性
が低いため干渉によるリターンロス測定値の変動が低減
する。
無偏光化手段を設けて無偏光化したレーザ光を被測定物
に入射するようにしたので、被測定物から無偏光化され
た反射光が光検出器で検出される。この反射光は干渉性
が低いため干渉によるリターンロス測定値の変動が低減
する。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。尚、図５に示した従来例と同様の部材には
共通の符号を用いた。
て詳述する。尚、図５に示した従来例と同様の部材には
共通の符号を用いた。
【００１５】図１は本発明のリターンロス測定方法を適
用した装置の一実施例を示す図である。
用した装置の一実施例を示す図である。
【００１６】同図において、ＬＤ光源１の出射ポート１
ａに無偏光化（デポラライズ）手段としてのパンダ型の
偏波面保存光ファイバ６の一端（図では左端）が接続さ
れており、偏波面保存光ファイバ６の他端（右端）がカ
プラ２の一方の入力側カプラ端２ａに接続されている。
カプラ２の一方の出力側カプラ端２ｂは被測定物３の入
射ポート３ａに接続されている。カプラ２の他方の出力
側カプラ端２ｃには光検出器４が接続され、他方の入力
側カプラ端２ｄには光検出器５が接続されている。光検
出器４はＬＤ光源１の光出力変動をモニタし、光検出器
５はリターンロス値を測定する。尚、光検出器４はリタ
ーンロス測定値に対し、ＬＤ光源１の光出力変動分を補
正するためのものである。光検出器４，５には例えばフ
ォトトランジスタが用いられるが、これに限定されるも
のではなく、光を電気に変換できれば他の部材を用いて
もよい。
ａに無偏光化（デポラライズ）手段としてのパンダ型の
偏波面保存光ファイバ６の一端（図では左端）が接続さ
れており、偏波面保存光ファイバ６の他端（右端）がカ
プラ２の一方の入力側カプラ端２ａに接続されている。
カプラ２の一方の出力側カプラ端２ｂは被測定物３の入
射ポート３ａに接続されている。カプラ２の他方の出力
側カプラ端２ｃには光検出器４が接続され、他方の入力
側カプラ端２ｄには光検出器５が接続されている。光検
出器４はＬＤ光源１の光出力変動をモニタし、光検出器
５はリターンロス値を測定する。尚、光検出器４はリタ
ーンロス測定値に対し、ＬＤ光源１の光出力変動分を補
正するためのものである。光検出器４，５には例えばフ
ォトトランジスタが用いられるが、これに限定されるも
のではなく、光を電気に変換できれば他の部材を用いて
もよい。
【００１７】ＬＤ光源１から出射したレーザ光は、デポ
ラライズ用の偏波面保存光ファイバ６に入射するように
なっている。
ラライズ用の偏波面保存光ファイバ６に入射するように
なっている。
【００１８】ここで偏波面保存光ファイバ６は図２に示
すように長さの比が１：２（＝Ｌ1 ：Ｌ2 ）の２本の偏
波面保存光ファイバ６ａ，６ｂを同軸結合したものであ
り、その結合部６ｃは２本の偏波面保存光ファイバ６
ａ，６ｂの主軸ＡＸ1 ，ＡＸ2 が４５°傾くように接続
されている。尚、ここで主軸ＡＸ1 ，ＡＸ2 とは偏波面
保存光ファイバ６ａ，６ｂの中心及び２本のコアを横切
る径方向の軸とする。
すように長さの比が１：２（＝Ｌ1 ：Ｌ2 ）の２本の偏
波面保存光ファイバ６ａ，６ｂを同軸結合したものであ
り、その結合部６ｃは２本の偏波面保存光ファイバ６
ａ，６ｂの主軸ＡＸ1 ，ＡＸ2 が４５°傾くように接続
されている。尚、ここで主軸ＡＸ1 ，ＡＸ2 とは偏波面
保存光ファイバ６ａ，６ｂの中心及び２本のコアを横切
る径方向の軸とする。
【００１９】偏波面保存光ファイバ６から出射したレー
ザ光は、カプラの入力側カプラ端２ａに入射し出力側カ
プラ端２ｂと出力側カプラ端２ｃとから出射するように
なっている。
ザ光は、カプラの入力側カプラ端２ａに入射し出力側カ
プラ端２ｂと出力側カプラ端２ｃとから出射するように
なっている。
【００２０】次に実施例の作用を述べる。
【００２１】ＬＤ光源１の出射ポート１ａからレーザ光
が偏波面保存光ファイバ６に入射すると、レーザ光がデ
ポラライズ化されてカプラ２の入力側カプラ端２ａに入
射する。レーザ光はカプラ２で分岐され、一方が被測定
物３に入射し他方が光検出器４に入射する。被測定物３
に入射したレーザ光の一部は反射して再びカプラ２の出
力側カプラ端２ｂに入射する。カプラ２に再入射したレ
ーザ光はカプラ２で分岐されてＬＤ光源１に戻ると共に
光検出器５に入射する。光検出器５に入射したレーザ光
は無偏光化されているので干渉性が低く、リターンロス
測定値の変動が低下する。
が偏波面保存光ファイバ６に入射すると、レーザ光がデ
ポラライズ化されてカプラ２の入力側カプラ端２ａに入
射する。レーザ光はカプラ２で分岐され、一方が被測定
物３に入射し他方が光検出器４に入射する。被測定物３
に入射したレーザ光の一部は反射して再びカプラ２の出
力側カプラ端２ｂに入射する。カプラ２に再入射したレ
ーザ光はカプラ２で分岐されてＬＤ光源１に戻ると共に
光検出器５に入射する。光検出器５に入射したレーザ光
は無偏光化されているので干渉性が低く、リターンロス
測定値の変動が低下する。
【００２２】ここで、偏波面保存光ファイバ６に入射す
る前のレーザ光の偏光度は約１００％である。これに対
し偏波面保存光ファイバ６を通過した後のレーザ光の偏
光度は１０％以下である。これから偏波面保存光ファイ
バ６を通過した後のＬＤ光は干渉性が低下し、リターン
ロス測定時の変動を低減することができる。なお、偏波
面保存光ファイバ６の長さＬ（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）は数１式と
なるように設定する。
る前のレーザ光の偏光度は約１００％である。これに対
し偏波面保存光ファイバ６を通過した後のレーザ光の偏
光度は１０％以下である。これから偏波面保存光ファイ
バ６を通過した後のＬＤ光は干渉性が低下し、リターン
ロス測定時の変動を低減することができる。なお、偏波
面保存光ファイバ６の長さＬ（Ｌ1 ＋Ｌ2 ）は数１式と
なるように設定する。
【００２３】
【数１】Ｌ＞ｆｃ／（ｃ×τｐ） （但し、ｆｃは光源のコヒーレント長、ｃは光速、τｐ
は偏波モード分散） 以上において本実施例によれば、ＬＤ光源１から出射し
たレーザ光を偏波面保存光ファイバ６で無偏光化した後
被測定物３に入射させるので、レーザ光の干渉性が低下
して干渉によるリターンロス測定値の変動が低減し、測
定精度及び再現性が向上する。尚、本実施例では偏波面
保存光ファイバ６としてパンダ型の偏波面保存光ファイ
バを用いたがこれに限定されるものではなく他の種類の
偏波面保存光ファイバを用いてもよいのはいうまでもな
い。
は偏波モード分散） 以上において本実施例によれば、ＬＤ光源１から出射し
たレーザ光を偏波面保存光ファイバ６で無偏光化した後
被測定物３に入射させるので、レーザ光の干渉性が低下
して干渉によるリターンロス測定値の変動が低減し、測
定精度及び再現性が向上する。尚、本実施例では偏波面
保存光ファイバ６としてパンダ型の偏波面保存光ファイ
バを用いたがこれに限定されるものではなく他の種類の
偏波面保存光ファイバを用いてもよいのはいうまでもな
い。
【００２４】図３は本発明のリターンロス測定方法を適
用した装置の他の実施例の概念図である。
用した装置の他の実施例の概念図である。
【００２５】図１に示した実施例との相違点は、無偏光
化手段としてλ／２板を用いて回転させた点である。
化手段としてλ／２板を用いて回転させた点である。
【００２６】同図において７は略円形のλ／２板であり
モータ８で回転するようになっている。λ／２板７は、
ＬＤ光源１の出力ポート１ａと、一端が入力側カプラ端
２ａに接続された光ファイバ９の他端との間に配置さ
れ、このモータ８によって約６００ｒｐｍ（回転数は６
００ｒｐｍ以上であればよい）の高速で回転するように
なっている。尚、光ファイバ９は偏波面保持型ではなく
通常の光ファイバでよい。
モータ８で回転するようになっている。λ／２板７は、
ＬＤ光源１の出力ポート１ａと、一端が入力側カプラ端
２ａに接続された光ファイバ９の他端との間に配置さ
れ、このモータ８によって約６００ｒｐｍ（回転数は６
００ｒｐｍ以上であればよい）の高速で回転するように
なっている。尚、光ファイバ９は偏波面保持型ではなく
通常の光ファイバでよい。
【００２７】このようなリターンロス測定装置において
も、λ／２板７を高速回転させることによりＬＤ光源１
からのレーザ光を無偏光化することができるので、図１
に示したリターンロス測定装置同様、測定精度及び再現
性が高い測定を行うことができる。
も、λ／２板７を高速回転させることによりＬＤ光源１
からのレーザ光を無偏光化することができるので、図１
に示したリターンロス測定装置同様、測定精度及び再現
性が高い測定を行うことができる。
【００２８】図４は本発明のリターンロス測定方法を適
用した装置のさらに他の実施例の概念図である。
用した装置のさらに他の実施例の概念図である。
【００２９】図２に示した実施例との相違点は、λ／２
板の他にλ／４板を用いて回転させた点である。
板の他にλ／４板を用いて回転させた点である。
【００３０】同図において１０は略円形のλ／４板であ
り、λ／２板７と同様、モータ８，１１で回転するよう
になっている。λ／２板７及びλ／４板１０は、ＬＤ光
源１の出力ポート１ａと光ファイバ９の他端との間に配
置され、モータ８，１１によって約６００ｒｐｍ（回転
数は６００ｒｐｍ以上であればよい）の高速で回転する
ようになっている。
り、λ／２板７と同様、モータ８，１１で回転するよう
になっている。λ／２板７及びλ／４板１０は、ＬＤ光
源１の出力ポート１ａと光ファイバ９の他端との間に配
置され、モータ８，１１によって約６００ｒｐｍ（回転
数は６００ｒｐｍ以上であればよい）の高速で回転する
ようになっている。
【００３１】このようなリターンロス測定装置において
も、λ／４板７及びλ／２板１０を高速回転させること
により、ＬＤ光源１からのレーザ光を無偏光化すること
ができるので、図１に示したリターンロス測定装置同
様、測定精度及び再現性が高い測定を行うことができる
（図３に示した実施例よりデポラライズ効果が高い）。
尚、図４に示した実施例ではλ／４板７の右側にλ／２
板１０を配置したが、逆に配置してもよい。またλ／４
板７とλ／２板１０とをそれぞれ別々に回転させるよう
にしたがこれに限定されるものではなく、１つのモータ
で同時に回転させてもよい。
も、λ／４板７及びλ／２板１０を高速回転させること
により、ＬＤ光源１からのレーザ光を無偏光化すること
ができるので、図１に示したリターンロス測定装置同
様、測定精度及び再現性が高い測定を行うことができる
（図３に示した実施例よりデポラライズ効果が高い）。
尚、図４に示した実施例ではλ／４板７の右側にλ／２
板１０を配置したが、逆に配置してもよい。またλ／４
板７とλ／２板１０とをそれぞれ別々に回転させるよう
にしたがこれに限定されるものではなく、１つのモータ
で同時に回転させてもよい。
【００３２】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
な優れた効果を発揮する。
【００３３】レーザ光源の出射ポートに無偏光化手段を
設けて無偏光化したレーザ光を被測定物に入射するよう
にしたので、レーザ光の干渉性が低下する。このため干
渉によるリターンロス測定値の変動が低減し、測定精度
及び再現性が向上する。
設けて無偏光化したレーザ光を被測定物に入射するよう
にしたので、レーザ光の干渉性が低下する。このため干
渉によるリターンロス測定値の変動が低減し、測定精度
及び再現性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のリターンロス測定方法を適用した装置
の一実施例を示す概念図である。
の一実施例を示す概念図である。
【図２】図１に示した装置に用いられる偏波面保存光フ
ァイバの分解図である。
ァイバの分解図である。
【図３】本発明のリターンロス測定方法を適用した装置
の他の実施例の概念図である。
の他の実施例の概念図である。
【図４】本発明のリターンロス測定方法を適用した装置
のさらに他の実施例の概念図である。
のさらに他の実施例の概念図である。
【図５】リターンロスを測定する測定方法の従来例を示
す図である。
す図である。
１ レーザ光源（ＬＤ光源） ２ カプラ ３ 被測定物 ４，５ 光検出器 ６ 無偏光化手段（偏波面保存光ファイバ）
Claims (6)
- 【請求項１】 レーザ光源から出射したレーザ光を被測
定物に入射する際に生じる反射光を光検出器で受光して
被測定物のリターンロスを測定するリターンロス測定方
法において、上記レーザ光源から出射したレーザ光を無
偏光化手段で無偏光化した後被測定物に入射させること
を特徴とするリターンロス測定方法。 - 【請求項２】 レーザ光源と、一方の入力側カプラ端が
このレーザ光源に接続され出力側カプラ端が被測定物に
接続されたカプラと、このカプラの他方の入力側カプラ
端に接続され被測定物からの反射光を受光して被測定物
のリターンロスを測定するための光検出器とを備えたリ
ターンロス測定装置において、上記レーザ光源と上記カ
プラとの間に無偏光化手段を設けたことを特徴とするリ
ターンロス測定装置。 - 【請求項３】 上記無偏光化手段を、長さの比が１対２
の２本の偏波面保存光ファイバを一方の主軸に対して略
４５度傾けて接続した偏波面保存光ファイバで構成した
請求項２記載のリターンロス測定装置。 - 【請求項４】 上記偏波面保存光ファイバの長さはレー
ザ光源の偏光度が１０％以下となるように長くした請求
項２記載のリターンロス測定装置。 - 【請求項５】 上記無偏光化手段をレーザ光源の出射ポ
ート側に設けられ６００ｒｐｍ以上で回転するλ／２板
で構成した請求項２記載のリターンロス測定装置。 - 【請求項６】 上記無偏光化手段をレーザ光源の出射ポ
ートに設けられそれぞれ６００ｒｐｍ以上で回転するλ
／２板及びλ／４板で構成した請求項２記載のリターン
ロス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6310497A JPH08166322A (ja) | 1994-12-14 | 1994-12-14 | リターンロス測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6310497A JPH08166322A (ja) | 1994-12-14 | 1994-12-14 | リターンロス測定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08166322A true JPH08166322A (ja) | 1996-06-25 |
Family
ID=18005943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6310497A Pending JPH08166322A (ja) | 1994-12-14 | 1994-12-14 | リターンロス測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08166322A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008300619A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Ihi Corp | レーザアニール装置及びレーザアニール方法 |
| KR20210052786A (ko) * | 2019-10-31 | 2021-05-11 | 한국원자력연구원 | 라이다 장치 |
-
1994
- 1994-12-14 JP JP6310497A patent/JPH08166322A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008300619A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Ihi Corp | レーザアニール装置及びレーザアニール方法 |
| KR20210052786A (ko) * | 2019-10-31 | 2021-05-11 | 한국원자력연구원 | 라이다 장치 |
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