JPS6159236A - 単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器 - Google Patents
単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器Info
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- JPS6159236A JPS6159236A JP18214784A JP18214784A JPS6159236A JP S6159236 A JPS6159236 A JP S6159236A JP 18214784 A JP18214784 A JP 18214784A JP 18214784 A JP18214784 A JP 18214784A JP S6159236 A JPS6159236 A JP S6159236A
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- mode optical
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/14—Mode converters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、単一モード光ファイバ用光パルス試験器に
関し、特に、この試験器の被測定光ファイバへの励振部
の改良に関する。
関し、特に、この試験器の被測定光ファイバへの励振部
の改良に関する。
（ロ）従来技術
従来の光パルス試験器は、その送受信部が偏光分離プリ
ズムとレーザダイオードの偏光性を利用して構成されて
いる。第７図に示すように、パルス発生器ｌのパルス出
力でレーザダイオード２を変調して光パルスを発射させ
、この光パルスを光学系３、偏光分離プリズム４および
光学系５を経て被測定単一モード光ファイバ６の一端に
入射する。この被測定光ファイバ６中で発生したレーリ
後方散乱光は０反射点までの距離に比例した遅延時間後
に入射端に戻ってくる。この戻ってきた光は光学系５を
経て偏光分離プリズム４に入射され、このプリズム４に
より分離され、光学系７を経て取り出され、受光器８に
より電気信号に変換される。
ズムとレーザダイオードの偏光性を利用して構成されて
いる。第７図に示すように、パルス発生器ｌのパルス出
力でレーザダイオード２を変調して光パルスを発射させ
、この光パルスを光学系３、偏光分離プリズム４および
光学系５を経て被測定単一モード光ファイバ６の一端に
入射する。この被測定光ファイバ６中で発生したレーリ
後方散乱光は０反射点までの距離に比例した遅延時間後
に入射端に戻ってくる。この戻ってきた光は光学系５を
経て偏光分離プリズム４に入射され、このプリズム４に
より分離され、光学系７を経て取り出され、受光器８に
より電気信号に変換される。
この場合、偏光分離プリズム４とレーザダイオード２の
偏光性が利用され、レーザダイオード２から出た光は偏
光分離プリズム４を通過する際には分岐されずに被測定
単一モード光ファイバ６に入射され、光ファイバ６の入
射端で反射した光は偏光が保たれているためレーザダイ
オードｚ側に戻り受光器８側に入射しないので、受光器
８での飽和が防げるという利点がある。
偏光性が利用され、レーザダイオード２から出た光は偏
光分離プリズム４を通過する際には分岐されずに被測定
単一モード光ファイバ６に入射され、光ファイバ６の入
射端で反射した光は偏光が保たれているためレーザダイ
オードｚ側に戻り受光器８側に入射しないので、受光器
８での飽和が防げるという利点がある。
しかし、単一モード光ファイバの場合には後方散乱光も
偏光依存性があるので、このように被測定単一モード光
ファイバ６に直線偏光を入射すると、単一モード光ファ
イバ６中の偏光状態のふらつきに原因して測定値にばら
つきが生じる。そのため、従来より被測定単一モード光
ファイバ６の入射端側で光ファイバ６を揺らすとか外乱
を与えて故意に偏光状態のふらつきを生じさせ、偏光方
向の平均化を図ることも行なわれているが、再現性、安
定性に乏しく、後方散乱光から光ファイバの伝送損失を
推定するという用途には使用できない。
偏光依存性があるので、このように被測定単一モード光
ファイバ６に直線偏光を入射すると、単一モード光ファ
イバ６中の偏光状態のふらつきに原因して測定値にばら
つきが生じる。そのため、従来より被測定単一モード光
ファイバ６の入射端側で光ファイバ６を揺らすとか外乱
を与えて故意に偏光状態のふらつきを生じさせ、偏光方
向の平均化を図ることも行なわれているが、再現性、安
定性に乏しく、後方散乱光から光ファイバの伝送損失を
推定するという用途には使用できない。
（ハ）目的
この発明は、被測定単一モード光ファイバ中の偏光状態
のふらつきに起因する測定値のばらつきを解消し、安定
した測定を行なうことができる単一モード光ファイバ用
光パルス試験器を提供することを目的とする。
のふらつきに起因する測定値のばらつきを解消し、安定
した測定を行なうことができる単一モード光ファイバ用
光パルス試験器を提供することを目的とする。
（ニ）構成
この発明によれば、光パルスを偏光分離プリズムを介し
て被測定単一モード光ファイバの一端に入射し、この入
射端に戻ってきた後方散乱光を上記偏光分離プリズムに
より分離して検出する単一モード光ファイバ用光パルス
試験器において、上記偏光分離プリズムと被測定単一モ
ード光ファイバとの間に、被測定単一モード光ファイバ
に無偏光を励振する機能を有するデボライザ（偏光度減
少器）を挿入したことを特徴とする。
て被測定単一モード光ファイバの一端に入射し、この入
射端に戻ってきた後方散乱光を上記偏光分離プリズムに
より分離して検出する単一モード光ファイバ用光パルス
試験器において、上記偏光分離プリズムと被測定単一モ
ード光ファイバとの間に、被測定単一モード光ファイバ
に無偏光を励振する機能を有するデボライザ（偏光度減
少器）を挿入したことを特徴とする。
（ホ）実施例
第１図に示すように、パルス発生器１、レーザダイオー
ド２、光学系３，５．７、偏光分離プリズム４、被測定
単一モード光ファイバ５．受光器８より構成される単一
モード光ファイバ用光パルス試験器において、偏光分離
プリズム４と被測定単一モード光ファイバ６との間に光
ファイＩくデボライザ９が挿入される。 。
ド２、光学系３，５．７、偏光分離プリズム４、被測定
単一モード光ファイバ５．受光器８より構成される単一
モード光ファイバ用光パルス試験器において、偏光分離
プリズム４と被測定単一モード光ファイバ６との間に光
ファイＩくデボライザ９が挿入される。 。
デボライザは、直線偏光をインコヒーレントな無偏光に
変換するもので、方解石等の複屈折結晶を用いた構成の
ものはリオのデボライザとして知られているが、これと
同様の機能は定偏波光ファイバを用いることによっても
実現できる。この第１図の光フアイバデポライザ９は定
偏波光ファイバを用いて構成されたデボライザである。
変換するもので、方解石等の複屈折結晶を用いた構成の
ものはリオのデボライザとして知られているが、これと
同様の機能は定偏波光ファイバを用いることによっても
実現できる。この第１図の光フアイバデポライザ９は定
偏波光ファイバを用いて構成されたデボライザである。
このような光ファイバデポライザ９を挿入することによ
り、被測定単一モード光ファイバ６へ無偏光を励振でき
、後方散乱光の偏光依存性をなくすことができる。
り、被測定単一モード光ファイバ６へ無偏光を励振でき
、後方散乱光の偏光依存性をなくすことができる。
つぎに、定偏波光ファイバを用いて構成される光フアイ
バデポライザの例をいくつか説明する。
バデポライザの例をいくつか説明する。
第２図に示す光フアイバデポライザは、２本の定偏波光
ファイバ、すなわち短い方の定偏波光ファイバ２２と、
長い方の定偏波光ファイバ２３とを、第３図のようにそ
れらの主軸を互いに４５゜傾けて接続し、さらに入出射
端に被測定単一モード光ファイバとの結合の容易性を考
慮してそれぞれ単一モード光ファイバ２１．２４を融着
接続してなるものである。この定偏波光ファイバ２２．
２３の長さはレーザ光のコヒーレンス長に対し定偏波光
ファイバの固有モード間の位相差が同等かそれ以上にな
るように定められ、また、短い方の定偏波光ファイバ２
２の長さＬａと長い方の定偏波光ファイバ２３の長さＬ
ｂとの関係はＬｂ≧２Ｌａとなるようにする。このよう
にファイバ長（特にＬｂ）を十分にとることにより２つ
の偏波間の相関をなくしているのである。
ファイバ、すなわち短い方の定偏波光ファイバ２２と、
長い方の定偏波光ファイバ２３とを、第３図のようにそ
れらの主軸を互いに４５゜傾けて接続し、さらに入出射
端に被測定単一モード光ファイバとの結合の容易性を考
慮してそれぞれ単一モード光ファイバ２１．２４を融着
接続してなるものである。この定偏波光ファイバ２２．
２３の長さはレーザ光のコヒーレンス長に対し定偏波光
ファイバの固有モード間の位相差が同等かそれ以上にな
るように定められ、また、短い方の定偏波光ファイバ２
２の長さＬａと長い方の定偏波光ファイバ２３の長さＬ
ｂとの関係はＬｂ≧２Ｌａとなるようにする。このよう
にファイバ長（特にＬｂ）を十分にとることにより２つ
の偏波間の相関をなくしているのである。
第４図に示す光ファイバデポライザは多数の短尺の定偏
波光ファイバ４１を、隣り合う光フアイバ間での主軸の
なす角度がランダムになるように多数回接続したもので
ある。２つの偏波を次の定偏波光ファイバで半分づつに
分割するということを繰り返して偏波成分の平均化を行
ない、出射偏光の無偏光化を図っている。
波光ファイバ４１を、隣り合う光フアイバ間での主軸の
なす角度がランダムになるように多数回接続したもので
ある。２つの偏波を次の定偏波光ファイバで半分づつに
分割するということを繰り返して偏波成分の平均化を行
ない、出射偏光の無偏光化を図っている。
第４図の光フアイバデポライザでは、２木の定偏波光フ
ァイバ５２．５３が４５°主軸をずらして接続され、定
偏波光ファイバ５３がピエゾ効果を有する円筒５５に巻
き付けられている。また、ｉ２図と同様に被測定単一モ
ード光ファイバとの結合の容易性を考慮して、入出射端
に単一モード光ファイバ５１．５４が融着接続されてい
る０円筒５５により定偏波光ファイバ５３に振動を与え
ることによって定偏波光ファイバ５３の長さを長くした
と同等の効果を生じさせ、出射偏光の無偏光化を図って
いる。このｆｊＳＡ図の例は、ｔＪＳＺ図の例の効果を
向上させる改良と言える。
ァイバ５２．５３が４５°主軸をずらして接続され、定
偏波光ファイバ５３がピエゾ効果を有する円筒５５に巻
き付けられている。また、ｉ２図と同様に被測定単一モ
ード光ファイバとの結合の容易性を考慮して、入出射端
に単一モード光ファイバ５１．５４が融着接続されてい
る０円筒５５により定偏波光ファイバ５３に振動を与え
ることによって定偏波光ファイバ５３の長さを長くした
と同等の効果を生じさせ、出射偏光の無偏光化を図って
いる。このｆｊＳＡ図の例は、ｔＪＳＺ図の例の効果を
向上させる改良と言える。
つぎに具体的に実験を行ないデータを得たので、これに
ついて説明する。この実験では光フアイバデボライザと
して第２図に示す構成のものを用いた。すなわち、直径
１２５ ｐｍ、ビート長が波長１．３ｐｍにおいて４ｍ
ｍの定偏波光ファイバに、シリコーンゴムを外径４００
ＩＬｍに、さらにナイロンを外径０．９ｍｍに被覆した
定偏波光フアイバ心線を、長さ１５０ｍと３００ｍとに
切断して２木の定偏波光ファイバとし、これらに、それ
ぞれ長さが５ｍでコア径９ルｍ、ファイバ径１２５７Ｌ
ｍ、カットオフ波長１．２ｐｍの２本の単一モード光フ
ァイバを、第２図のように接続して光フアイバデボライ
ザを構成した。そして、被測定光ファイバとして長さ５
Ｋｍの単一モード光ファイバを用い、これに上記の光フ
アイバデボライザを第１図のようにして融着接続して測
定した。また、比較のため、上記の光フアイバデボライ
ザの代りに長さｌＫｍの通常の単一モード光ファイバを
被測定単一モード光ファイバに融着接続し測定してみた
。
ついて説明する。この実験では光フアイバデボライザと
して第２図に示す構成のものを用いた。すなわち、直径
１２５ ｐｍ、ビート長が波長１．３ｐｍにおいて４ｍ
ｍの定偏波光ファイバに、シリコーンゴムを外径４００
ＩＬｍに、さらにナイロンを外径０．９ｍｍに被覆した
定偏波光フアイバ心線を、長さ１５０ｍと３００ｍとに
切断して２木の定偏波光ファイバとし、これらに、それ
ぞれ長さが５ｍでコア径９ルｍ、ファイバ径１２５７Ｌ
ｍ、カットオフ波長１．２ｐｍの２本の単一モード光フ
ァイバを、第２図のように接続して光フアイバデボライ
ザを構成した。そして、被測定光ファイバとして長さ５
Ｋｍの単一モード光ファイバを用い、これに上記の光フ
アイバデボライザを第１図のようにして融着接続して測
定した。また、比較のため、上記の光フアイバデボライ
ザの代りに長さｌＫｍの通常の単一モード光ファイバを
被測定単一モード光ファイバに融着接続し測定してみた
。
まず、単なる単一モード光ファイバを接続した場合は、
第６図Ａのような測定結果が得られた。
第６図Ａのような測定結果が得られた。
単なるｌＫｍの単一モード光ファイバを接続しただけで
は第６図Ａの実線のように、観測される後方散乱光強度
の長さ方向変動が大きいことが分る。また、被測定単一
モード光ファイバに機械的振動を加えると改善が見られ
る（同図点線参照）ものの、観測波形にはゆらぎが残る
。なお１点ＰはｌＫｍの単一モード光ファイバと被測定
単一モード光ファイバとの接続点である。
は第６図Ａの実線のように、観測される後方散乱光強度
の長さ方向変動が大きいことが分る。また、被測定単一
モード光ファイバに機械的振動を加えると改善が見られ
る（同図点線参照）ものの、観測波形にはゆらぎが残る
。なお１点ＰはｌＫｍの単一モード光ファイバと被測定
単一モード光ファイバとの接続点である。
一方、上記の光フアイバデボライザを用いて被測定単一
モード光ファイバを励振した場合は、第６図Ｂのような
測定結果が得られ、長さ方向のゆらぎもなく、被測定単
一モード光ファイバの伝送損失の推定も可能であった。
モード光ファイバを励振した場合は、第６図Ｂのような
測定結果が得られ、長さ方向のゆらぎもなく、被測定単
一モード光ファイバの伝送損失の推定も可能であった。
これは、光フアイバデボライザを用いたことにより、被
測定単一モード光ファイバの後方散乱光の偏光依存性を
なくすことができたからであると考えられる。なお、こ
の第６図Ｂで点Ｑは光フアイバデボライザと被測定単一
モード光ファイバとの接続点である。
測定単一モード光ファイバの後方散乱光の偏光依存性を
なくすことができたからであると考えられる。なお、こ
の第６図Ｂで点Ｑは光フアイバデボライザと被測定単一
モード光ファイバとの接続点である。
（へ）効果
この発明の単一モード光ファイバ用光パルス試験器によ
れば、被測定単一モード光ファイバの後方散乱光の偏光
依存性をなくすことができ、被測定単一モード光ファイ
バ中の偏光状態のふらつきに起因する測定値のばらつき
を解消し、安定した測定を行なうことができる。
れば、被測定単一モード光ファイバの後方散乱光の偏光
依存性をなくすことができ、被測定単一モード光ファイ
バ中の偏光状態のふらつきに起因する測定値のばらつき
を解消し、安定した測定を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図は光
フアイバデボライザの一例を示す模式図、ｔ５３図は接
続部における主軸の角度を説明するための模式図、第４
図および第５図は光フアイバデボライザの他の例をそれ
ぞれ示す模式図、第６図Ａ、Ｂは測定結果を示すグラフ
、ｆｊＳ７因は従来例のブロック図である。
フアイバデボライザの一例を示す模式図、ｔ５３図は接
続部における主軸の角度を説明するための模式図、第４
図および第５図は光フアイバデボライザの他の例をそれ
ぞれ示す模式図、第６図Ａ、Ｂは測定結果を示すグラフ
、ｆｊＳ７因は従来例のブロック図である。
Claims (1)
- （１）光パルスを偏光分離プリズムを介して被測定単一
モード光ファイバの一端に入射し、この入射端に戻って
きた後方散乱光を上記偏光分離プリズムにより分離して
検出する単一モード光ファイバ用光パルス試験器におい
て、上記偏光分離プリズムと被測定単一モード光ファイ
バとの間に、被測定単一モード光ファイバに無偏光を励
振する機能を有するデポライザを挿入したことを特徴と
する単一モード光ファイバ用光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18214784A JPS6159236A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18214784A JPS6159236A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6159236A true JPS6159236A (ja) | 1986-03-26 |
| JPH0544976B2 JPH0544976B2 (ja) | 1993-07-07 |
Family
ID=16113178
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18214784A Granted JPS6159236A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 単一モ−ド光フアイバ用光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6159236A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6212830A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 光結合装置 |
| EP0315967A2 (en) * | 1987-11-09 | 1989-05-17 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Spectroscope |
| JPH01140151U (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | ||
| EP3552571B1 (en) * | 2014-05-18 | 2024-09-25 | Eximo Medical Ltd. | System for tissue ablation using pulsed laser |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6031103A (ja) * | 1983-07-31 | 1985-02-16 | Anritsu Corp | 光方向性結合装置 |
-
1984
- 1984-08-30 JP JP18214784A patent/JPS6159236A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6031103A (ja) * | 1983-07-31 | 1985-02-16 | Anritsu Corp | 光方向性結合装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6212830A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 光結合装置 |
| EP0315967A2 (en) * | 1987-11-09 | 1989-05-17 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Spectroscope |
| US4922309A (en) * | 1987-11-09 | 1990-05-01 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Spectroscope |
| JPH01140151U (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | ||
| EP3552571B1 (en) * | 2014-05-18 | 2024-09-25 | Eximo Medical Ltd. | System for tissue ablation using pulsed laser |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0544976B2 (ja) | 1993-07-07 |
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