JPH0545880A - 光重合性組成物 - Google Patents

光重合性組成物

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JPH0545880A
JPH0545880A JP3225354A JP22535491A JPH0545880A JP H0545880 A JPH0545880 A JP H0545880A JP 3225354 A JP3225354 A JP 3225354A JP 22535491 A JP22535491 A JP 22535491A JP H0545880 A JPH0545880 A JP H0545880A
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JP
Japan
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weight
carbon number
formula
group
epoxy
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JP3225354A
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English (en)
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Toru Wada
徹 和田
Kimihiro Abe
公博 阿部
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 下記の式A,式B,式Cの繰り返し単位から
なる線状共重合体化合物とエポキシ化合物とエポキシ硬
化剤、光重合性単量体、光重合開始剤から成る光重合性
組成物。 【化1】 (式A,式B,式C中のR1 ,R2 は水素、C1 〜C6
のアルキル基、又はハロゲンを表わし、R3 は水素、C
1 〜C6 のアルキル基、ハロゲン、C1 〜C6 のアミノ
アルキル基、C1 〜C6 のアルコキシ基、又はC1 〜C
6 のメルカプトアルキル基を表わし、R4 はC1 〜C10
のアルキレン基を表わす。) 【効果】 耐アルカリ性、耐薬品性、耐熱性に優れ、特
に無電解メッキ用レジスト、層間絶縁膜の材料として用
いられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント回路基板等の
電子材料の製造および保護皮膜形成、層間絶縁膜材料等
に用いられる耐アルカリ性,耐薬品性,耐熱性に優れた
光重合性組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、プリント基板の製造方法には、次
の3種の方法がある。即ち、銅張積層板上に形成された
レジスト像を保護膜として、エッチング等により所定の
回路を形成していくサブトラクティブ法、絶縁基板上に
レジスト像を形成し、無電解銅メッキを行い所定の回路
を形成していくフルアディティブ法、および両者の中間
的手法であるセミアディティブ法である。
【0003】これらの中で、現在はサブトラクティブ法
が主流をなしているが、配線の高密度化、高信頼性の要
求が高まり、それらへの対応が難しくなってきているこ
と、および高アスペクト比ホール、小径ホール等のスル
ーホールメッキが難しいという欠点、さらには製造工程
が長く複雑であるという点からフルアディティブ法、セ
ミアディティブ法が注目されてきている。
【0004】一方、これらの各々の方法に応じて多種多
様の光硬化レジスト材料の開発がなされており、印刷回
路基板製造用としての様々な特性を満たすものが提案さ
れている。そしてこれら諸特性としては、感度、解像力
といったリソグラフィー特性および耐アルカリ性、耐薬
品性、永久レジスト特性が重要であるとされている。
【0005】ところが、従来アディティブ法プロセスに
用いられる光硬化性レジストは十分な性能を有しておら
ず、無電解メッキ中にレジスト像の基板からの浮き、剥
がれが生じたり、メッキ後の長時間の保存安定性が無
く、クラックや絶縁性の低下が生じたりするという問題
があり使用に耐えられるものではなかった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、アディティ
ブ法による製造工程において求められている耐アルカリ
性、耐薬品性に優れ且つ耐熱性の良い、光硬化性レジス
トを提供することを課題とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決すべく
鋭意検討を重ねた結果、次に示す優れた耐アルカリ性、
耐薬品性、耐熱性を有する光重合性組成物を見いだし、
本発明を完成した。 即ち本発明は、(1)下記の式Aで表される繰り返し単
位を60〜90重量%、式Bで表される繰り返し単位を
5〜30重量%、式Cで表される繰り返し単位を5〜3
0重量%よりなる重量平均分子量5,000〜500,
000の線状共重合体、20〜80重量部
【0008】
【化4】
【0009】
【化5】
【0010】
【化6】 (式A,式B,式C中のR1 ,R2 ,R4 は水素、C1
〜C6 のアルキル基又はハロゲンを表わし、R3 は水
素、C1 〜C6 のアルキル基、ハロゲン、C1 〜C6
アミノアルキル基、C1 〜C6 のアルコキシ基又はC1
〜C6 のメルカプトアルキル基を表わし、R5 はC1
10のアルキレン基を表わす。) (2)エポキシ化合物とエポキシ硬化剤、5〜40重量
部 (3)光重合性単量体、5〜40重量部 (4)光重合開始剤、0.01〜30重量部 を含有して成ることを特徴とする光重合性組成物であ
る。
【0011】本発明で用いられる式A,式B,式Cを繰
り返し単位とする線状共重合体は、ラジカル重合などに
より得られ、重量平均分子量は5,000〜500,0
00であり、好ましくは、20,000〜300,00
0の範囲である。重量平均分子量が5,000以下では
所望の耐アルカリ性を得ることは難しく、また、50
0,000以上では他の組成物との相溶性の低下や現像
性の低下がある。
【0012】また線状共重合体中の式Aで表される繰り
返し単位は60〜90重量%、式Bで表される繰り返し
単位は5〜30重量%、式Cで表される繰り返し単位は
5〜30重量%の比率であり、式Aで表される繰り返し
単位の増加は光硬化画像の現像液耐性を低下させ、また
式B,式Cで表される繰り返し単位の増加は現像液溶解
性を低下させる。
【0013】線状共重合体の繰り返し単位である式Aの
相当するビニルモノマーの例としては、スチレン、α−
メチルスチレン、ビニルトルエン等が用いられ、好まし
くはスチレンが挙げられる。
【0014】線状共重合体の繰り返し単位である式Bの
相当するビニルモノマーの例としては、アクリロニトリ
ル、メタクリロニトリル、2−エチルアクリロニトリ
ル、2−プロピルアクリロニトリル、2−イソブチルア
クリロニトリル、2−イソプロピルアクリロニトリル、
2−クロロアクリロニトリル、2−アミノメチルアクリ
ロニトリル、2−メトキシカルボニルオキシメチルアク
リロニトリル、2−クロロメチルアクリロニトリル、2
−シクロヘキシルメルカプトアクリロニトリル、2−エ
チルスルホニルアクリロニトリル等があるが、特にアク
リロニトリル、メタクリロニトリルが好ましい。
【0015】線状共重合体の繰り返し単位である式Cの
相当するビニルモノマーの例としては、グリシジル(メ
タ)アクリレート(これはメタクリレートおよびアクリ
レートを表す。以下同様。)、グリシジルプロピル(メ
タ)アクリレート、9−オキシラニルノニルアクリレー
ト等がある。また、式A,式B,式Cで表される繰り返
し単位以外の第4成分も、特性が維持される範囲内で使
用されることは可能である。例えばメチルメタクリレー
ト、ブチルメタクリレート、2−エチルヘキシルアクリ
レート、又は酢酸ビニル等があげられる。
【0016】光重合性組成物に含有される線状共重合体
の量は、20〜80重量部でなければならず、好ましく
は30〜70重量部である。線状共重合体の量が少ない
と所望の耐アルカリ性が得られず、また量が多すぎる
と、露光によって形成される硬化画像が現像工程によっ
て十分再現されないか、硬化膜がレジストとして十分な
特性を示さない。
【0017】本発明に用いられるエポキシ化合物として
は、「入門エポキシ樹脂」(室井宗一,石井秀一著:高
分子刊行会発行)第II章記載のエポキシ樹脂が用いられ
る。例えば、ノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノー
ルA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ
樹脂などのエポキシ樹脂が用いられる。その他、アリル
グリシジルエーテル、グリシジルメタクリレート、等の
エポキシ基を有する低分子化合物も用いられる。これら
は単独で用いられても良く、また2種以上混合されて用
いられても良い。エポキシ化合物を用いるときは、上述
の「入門エポキシ樹脂」第 III章記載のアミン化合物、
イミダゾール化合物、カルボン酸類、などのエポキシ硬
化剤を添加し、現像後に加熱硬化することが耐熱性に優
れた硬化物を得る方法として必須である。光重合性化合
物に含まれるエポキシ化合物とエポキシ硬化剤の量は、
5〜40重量部の範囲である。
【0018】本発明に用いられる光重合性単量体には、
特に制限はなく、一般的な光重合開始剤によって重合可
能な化合物を用いることができるが、好ましくは(メ
タ)アクリレート化合物である。具体例としては2−ヒ
ドロキシ−3−フェノキシプロピルアクリレート、フェ
ノキシテトラエチレングリコールアクリレート、1,4
−テトラメチレングリコールジ(メタ)アクリレート、
1,6−ヘキサンジオール(メタ)アクリレート、1,
4−シクロヘキサンジオール(メタ)アクリレート、オ
クタプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、グ
リセロール(メタ)アクリレート、2−ジ(p−ヒドロ
キシフェニル)プロパンジ(メタ)アクリレート、グリ
セロールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプ
ロパントリ(メタ)アクリレート、ポリオキシプロピル
トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ポ
リオキシエチルトリメチロールプロパントリ(メタ)ア
クリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)ア
クリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)ア
クリレート、トリメチロールプロパントリグリシジルエ
ーテルトリ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAジ
グリシジルエーテルジ(メタ)アクリレート、ジアリル
フタレート等があり、これらの中から1種または2種以
上を組み合わせて用いることができる。光重合性組成物
に含有されるこれら不飽和化合物の量は5〜40重量部
であり、好ましくは10〜40重量部である。
【0019】本発明により開示された光重合性組成物に
は光重合開始剤を必須成分として含んでいる。ここでの
光重合開始剤は各種の活性光線、例えば紫外線などによ
り活性化されラジカルを発生する化合物である。例え
ば、2−エチルアントラキノン、オクタメチルアントラ
キノン、1,2−ベンズアントラキノン、2,3−ベン
ズアントラキノン、2−フェニルアントラキノン、2,
3−ジフェニルアントラキノン、1−クロロアントラキ
ノン、2−クロロアントラキノン、2−メチルアントラ
キノン、1,4−ナフトキノン、9,10−フェナント
ラキノン、2−メチル1,4−ナフトキノン、2,3−
ジメチルアントラキノン、3−クロロ−2−メチルアン
トラキノンなどのキノン類がある。また例えばベンゾフ
ェノン、ミヒラーズケトン〔4,4′−ビス(ジメチル
アミノ)ベンゾフェノン〕、4,4′−ビス(ジエチル
アミノ)ベンゾフェノンなどの芳香族ケトン類がある。
【0020】また、例えばベンゾイン、ベンゾインメチ
ルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイ
ソプロピルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル、メ
チルベンゾイン、エチルベンゾインなどのベンゾインエ
ーテル類がある。また例えば、ジエチルチオキサントン
とジメチルアミノ安息香酸の組み合わせのようにチオキ
サントン系化合物と三級アミン化合物との組み合わせも
ある。
【0021】この光重合開始剤が光重合性組成物に含有
される量は0.01〜30重量%であり、好ましくは、
0.05〜10重量%である。ここで光重合開始剤が多
すぎると光重合層の活性線吸収率が高くなり、光重合層
の底面部分の硬化が不充分になる。また少なすぎると充
分な感度が出なくなる。
【0022】光重合性組成物の熱安定性、保存安定性を
向上させるため、光重合成層にラジカル重合禁止剤を含
有させることは好ましいことである。例えば、p−メト
キシフェノール、ハイドロキノン、ピロガロール、ナフ
チルアミン、tert−ブチルカテコール、塩化第一
銅、ニトロソフェニルヒドロキシアミンアルミニウム
塩、2,6−ジ−tert−ブチル−p−クレゾール、
2,2′−メチレンビス(4−エチル−6−tert−
ブチルフェノール)、2,2′−メチレンビス(4−メ
チル−6−tert−ブチルフェノール)等がある。
【0023】本発明により開示された光重合性組成物に
は、染料、顔料等の着色物質を含有してもよい。例えば
フクシン、フタロシアニンブルー、フタロシアニングリ
ーン、オーラミン塩基、チタンホワイト、チタンイエロ
ー、カルコキシドグリーンS、パラマジエンタ、クリス
タルバイオレット、メチルオレンジ、ナイルブルー2
B、ビクトリアブルー、マラカイトグリーン、ベイシッ
クブルー20、ダイヤモンドグリーン等がある。
【0024】また光硬化部分を未硬化部分と区別するた
めに、光照射により発色する発色系染料を含有してもよ
い。発色系染料としては、ロイコ染料とハロゲン化合物
の組み合わせが良く知られている。ロイコ染料として
は、例えば、トリス(4−ジメチルアミノ−2−メチル
フェニル)メタン〔ロイコクリスタルバイオレット〕、
トリス(4−ジメチルアミノ−2−メチルフェニル)メ
タン〔ロイコマラカイトグリーン〕等が挙げられる。一
方ハロゲン化合物としては臭化アミル、臭化イソアミ
ル、臭化イソブチレン、臭化エチレン、臭化ジフェニル
メチル、臭化ベンザル、臭化メチレン、トリブロモメチ
ルフェニルスルフォン、4臭化炭素、トリス(2,3−
ジブロモプロピル)ホスフェート、トリクロロアセトア
ミド、ヨウ化アミル、ヨウ化イソブチル、1,1,1−
トリクロロ−2,2−ビス(p−クロロフェニル)エタ
ン、ヘキサクロロエタン、等がある。
【0025】また前記光重合性組成物には、必要に応じ
て可塑剤としてジエチルフタレート、ジブチルフタレー
ト、ステアリル酸ブチル、p−メチルスルフォンアミ
ド、テトラエチレングリコールジメチルエーテル等、チ
キソトロピー剤としてアエロジル(日本アエロジル社
製)等、難燃剤として五酸化アンチモン等を含有しても
よい。
【0026】本発明における光重合性組成物は、溶剤に
より液状とした状態(液状レジスト)でも、また支持体
上に塗布乾燥し光重合性層を形成させた状態(ドライフ
ィルムレジスト)でも使用に供することができる。液状
レジストとして使用する場合は、上記光重合性組成物を
均一に溶解、又は分散せしめる溶剤と適当な比率で混合
する。混合比率は、必要とする粘度によりその割合を変
えることができる。
【0027】使用される溶剤の例としては、メチルセロ
ソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチル
セロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテート、
プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレン
グリコールモノメチルエーテルアセテート、ジエチレン
グリコールジメチルエーテル、ベンゼン、トルエン、エ
チルベンゼン、テトラヒドロフラン、N−メチルピロリ
ドン、メチルエチルケトン、メトキシプロパノール、ジ
オキサン、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸エチル、トリ
クロロエタン、トリクロロエチレン、ジクロロエタン、
等が挙げられる。
【0028】ドライフィルムレジストとして使用する場
合は光重合性層の支持層としては、活性光を透過する透
明なものがよい。活性光を透過する支持体としては、ポ
リエチレンテレフタレートフィルム、ポリビニルアルコ
ールフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共
重合体フィルム、ポリ塩化ビニリデンフィルム、塩化ビ
ニリデン共重合体フィルム、ポリメタクリル酸メチル共
重合体フィルム、ポリスチレンフィルム、ポリアクリロ
ニトリルフィルム、スチレン共重合体フィルム、ポリア
ミドフィルム、セルロース誘導体フィルム、などが挙げ
られる。
【0029】支持層と支持層上に積層した光重合性層の
他、光重合性層表面に必要に応じて保護層を積層する。
この保護層の重要な特性としては、光重合性層との密着
力が、支持層よりも保護層の方が充分小さく、容易に剥
離できることである。たとえばポリエチレンフィルム、
ポリプロピレンフィルム等がある。光重合性層の厚みは
用途において異なるが、印刷回路板作製用には5〜10
0μm、好ましくは、5〜70μmであり、薄いほど解
像力は向上する。また、厚いほど膜強度が向上する。
【0030】次に、本発明で開示された光重合性生成物
を用いたフルアディティブ法による印刷回路板の作製工
程を簡単に述べる。まず液状レジストとして用いる場合
は、スクリーン印刷機、ロールコーター、カーテンコー
ター、スプレーコーター等により、無電解メッキ用触媒
を塗布してある絶縁基板上にコーティングして加熱乾燥
し、画像形成用基板とする。それ以降の工程は次に述べ
るドライフィルムレジストの画像露光以降の工程と同様
である。
【0031】ドライフィルムレジストとして用いる場合
は、まず必要に応じて保護フィルムを剥離した後、光重
合性層を無電解メッキ用触媒を塗布してある絶縁基板表
面に加熱圧着し積層する。この時の加熱温度は一般的に
40〜160℃である。次に必要ならば支持層を剥離し
マスクフィルムを通して活性光により画像露光する。次
に光重合性層上に支持フィルムがある場合にはこれを除
き、続いて1,1,1−トリクロロエタン、又はトルエ
ン、キシレン、ブチルセロソルブ等の現像溶剤で未露光
部を現像除去する。次に必要に応じて、現像した基板を
60〜150℃で10〜60分加熱硬化する。続いて無
電解メッキの前処理を行い、触媒を活性化した後、無電
解メッキを70℃で20時間行い、銅の導体を形成す
る。
【0032】
【発明の効果】本発明に開示された新規な光重合性組成
物は、良好な画像形成性を有し、特に無電解メッキ工程
において優れたメッキ液耐性を示し、印刷回路板作製用
レジストとして有用である。また、耐熱性、耐溶剤性に
も優れ、ソルダーマスク、層間絶縁膜としても使用可能
である。
【0033】
【実施例】以下に実施例により具体的に実施態様を示す
が、これにより本発明を制限するものではない。また、
分子量は日本分光製ゲルパーミエーションクロマトグラ
フィー(GPC:ポンプ;TRIROTAR−V,カラ
ム:ShodexA−80M×2本直列,移動相溶媒;
THF.ポリスチレン標準サンプルによる検量線使用)
を使用し重量平均分子量(Mw)として求めた。
【0034】合成例1 モノマー溶液として、アクリロニトリル(100g)、
スチレン(260g)、グリシジルメタクリレート(4
0g)およびアゾビスバレロニトリル1.6gを混合し
て、よく攪はんする。これをA液とする。攪はん器、温
度計、還流冷却器を備えた2lのセパラブルフラスコに
600gのメチルエチルケトンを加え、内温を70℃に
保持し、窒素気流下攪はんしながら、先に掲げたA液を
滴下する。70℃で12時間攪はんを続けた。GPCか
らその重量平均分子量(Mw)は100,000であっ
た。得られたポリマーをP1とする。同様に表1のよう
にグリシジルメタクリレート成分を15%および20%
に増やし、その分スチレンの量を減らした組成も合成
し、得られたポリマーをそれぞれP2,P3とする。
【0035】実施例1 表1に示す溶液を調製し、厚さ25μmのポリエチレン
テレフタレートフィルムにバーコーターを用いて均一に
塗布し、70℃の乾燥機中で10分乾燥した。この時の
光重合性層の厚さは50μmであった。光重合性層のポ
リエチレンテレフタレートフィルムを積層していない表
面上に35μmのポリエチレンフィルムを張り合わせ積
層フィルムを得た。無電解銅メッキ用触媒(AT−10
5:上村工業製)を塗布乾燥したガラス−エポキシ基板
に、この積層フィルムのポリエチレンフィルムを剥しな
がら光重合性層をホットロールラミネーターにより10
5℃でラミネートした。
【0036】次に、光重合性層をラミネートした基板上
に100μmのライン/スペースをもつマスクフィルム
を通して、超高圧水銀灯(HMW−201KB:オーク
製作所製)により200mJ/cm2 で光重合性層を露光し
た。続いてポリエチレンテレフタレート支持フィルムを
剥離した後、18℃の1,1,1−トリクロロエタンで
120秒スプレー現像し、良好な硬化画像を得、さらに
150℃で30分加熱硬化し評価用基板を得た。この評
価用基板を無電解メッキの前処理液(AL−106:上
村工業製)で処理し、触媒を活性化した後70℃で20
時間無電解銅メッキを行った。無電解メッキ液の組成
は、次の通りである。
【0037】 純水 72.0 L UM−C(上村工業製) 9.0 L UM−A( 〃 ) 3.6 L UM−D( 〃 ) 4.5 L UM−B( 〃 ) 0.72L 35%ホルマリン 0.36L メッキ中は、メッキ液自動管理装置により、液組成は一
定に保たれる。
【0038】メッキ後レジストの状態を観察し、以下の
評価基準で無電解メッキ液耐性を判定した。その結果ラ
ンク1であった。 ランク1:全く異常なし 2:銅ライン際に、浸込み有り 3:銅ライン際に、レジストの浮きが見られる 4:銅ライン際に、レジストの剥がれが見られる 5:レジストが完全に剥がれている
【0039】また、耐溶剤テストとして、塩化メチレン
に室温で24時間浸せきし、レジストの異常の有無を観
測した。結果を表4に示すが、レジストの浮き、剥がれ
などの異常がある場合は×、異常のない場合は○と判定
した。
【0040】実施例2〜5 表1〜3に示す組成により実施例1と同様の方法で評価
を行った。評価結果を表4に示す。
【0041】比較例1〜3 表1〜3に示す組成により実施例1と同様の方法で評価
を行った。評価結果を表4に示す。
【0042】
【表1】
【0043】
【表2】
【0044】
【表3】
【0045】
【表4】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/06 6921−4E

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (1)下記式Aで表される繰り返し単位
    を60〜90重量%と、式Bで表される繰り返し単位を
    5〜30重量%と式Cで表される繰り返し単位を5〜3
    0重量%とからなる重量平均分子量5,000〜50
    0,000の線状共重合体、20〜80重量部 【化1】 【化2】 【化3】 (式A,式B,式C中のR1 ,R2 ,R4 は水素、C1
    〜C6 のアルキル基、又はハロゲンを表わし、R3 は水
    素、C1 〜C6 のアルキル基、ハロゲン、C1 〜C6
    アミノアルキル基、C1 〜C6 のアルコキシ基、又はC
    1 〜C6 のメルカプトアルキル基を表わし、R5 はC1
    〜C10のアルキレン基を表わす。) (2)エポキシ化合物とエポキシ硬化剤、5〜40重量
    部 (3)光重合性単量体、5〜40重量部 (4)光重合開始剤、0.01〜30重量部 を含有して成ることを特徴とする光重合性組成物。
JP3225354A 1991-08-12 1991-08-12 光重合性組成物 Withdrawn JPH0545880A (ja)

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JP (1) JPH0545880A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996028764A1 (fr) * 1993-09-02 1996-09-19 Goo Chemical Industries Co., Ltd. Composition de resine photosensible et couche mince de revetement, encre resist, resist de soudure et plaquette a circuits imprimes realises avec cette composition
US7282324B2 (en) 2004-01-05 2007-10-16 Microchem Corp. Photoresist compositions, hardened forms thereof, hardened patterns thereof and metal patterns formed using them

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WO1996028764A1 (fr) * 1993-09-02 1996-09-19 Goo Chemical Industries Co., Ltd. Composition de resine photosensible et couche mince de revetement, encre resist, resist de soudure et plaquette a circuits imprimes realises avec cette composition
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