JPH053923Y2 - - Google Patents

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JPH053923Y2
JPH053923Y2 JP13703387U JP13703387U JPH053923Y2 JP H053923 Y2 JPH053923 Y2 JP H053923Y2 JP 13703387 U JP13703387 U JP 13703387U JP 13703387 U JP13703387 U JP 13703387U JP H053923 Y2 JPH053923 Y2 JP H053923Y2
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JP
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chip
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microscope
angle
chips
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JP13703387U
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JPS6442404U (ja
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  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案はデイスク装置の磁気ヘツドに用いられ
ているコアチツプのような小型のチツプの端面を
検査するに好適なチツプの表面検査機に関するも
のである。
(従来の技術) 上記のようなチツプは例えば第3図に示される
ように、上面が5mm×0.3mm程度で高さが4mm程
度の扁平な形状の基板51の端面に読取用及び書
込み用のコア52を形成したものであるが、コア
52が幅0.3mm程度のチツプ端面の中央に正しく
位置するように両側面から研摩を行つている。こ
のためには4μm程度の精度でチツプ50の端面
を検査する必要がある。
従来は顕微鏡の下方に設置されたX−Y両軸方
向に位置調節できる移動テーブル上のホルダーに
チツプ50を垂直に保持させ、送りねじによつて
移動テーブルを動かしながら一枚ずつのチツプ5
0を検査していたが、チツプ50の取付け、顕微
鏡光軸との位置合わせ、取外し等に多くの時間を
必要とし、一枚当りの検査に30秒以上を必要とす
る状況にあつた。
(考案が解決しようとする問題点) 本考案は上記のような従来の問題点を解決し、
上記のようなチツプの端面を短時間で正確に検査
することができるチツプの表面検査機を目的とし
て完成されたものである。
(問題点を解決するための手段) 本考案は回転軸に対して小角度αだけ傾斜した
チツプ保持面を備えた回転テーブルを、回転軸を
垂直線に対して角度αだけ傾斜させた状態でチツ
プ表面検査用の顕微鏡の下部側方に設けたことを
特徴とするものである。
(実施例) 次に本考案を図示の実施例について詳細に説明
すると、第1図において1はベース、2はベース
1上に設置された顕微鏡、3はこの顕微鏡2の下
部側方に設けられた回転テーブルである。回転テ
ーブル3はその回転軸4に対して5〜10°程度傾
斜したチツプ保持面5をテーブルの周面上部の例
えば2個所に備えている。チツプ保持面5は第2
図に拡大して示したように、真空吸引孔6に真空
圧を作用させることによつてチツプ50をそのコ
ア52が形成されている端面を上向きとして確実
に保持することができるようにしたものである。
また第1図に明示されているように、この回転テ
ーブル3はその回転軸4を垂直線(ベース1に対
する垂直線であつて、通常は鉛直線と一致する)
に対して上記と同一の角度αだけ傾斜させた状態
でベース1上に取付けられている。回転テーブル
3はエアモータのような適宜の駆動機構7によつ
て例えば180°ずつ反転され、片側のチツプ保持面
5が外側に来たときにチツプ50が吸着され、反
対側のチツプ保持面5は顕微鏡2の光軸L上に位
置して顕微鏡2による検査が行われる構造となつ
ている。なお検査の方法は人が顕微鏡2を覗いて
判断してもよいが、CCDカメラ8等を顕微鏡2
にセツトして自動検査を行えるようにすることも
できる。
(作用) このように構成されたものは、垂直線に対して
角度αだけ傾斜させた回転軸4を持つ回転テーブ
ル3上に、この回転軸4に対して更に角度αだけ
傾斜したチツプ保持面5が形成してあるため、チ
ツプ保持面5は外側に来たときには垂直線に対し
て2αの角度傾斜することとなり、この大きい傾
斜を利用して肉薄で小型のチツプ50を倒すよう
にして容易かつ正確にチツプ保持面5に吸着させ
ることができる。また回転テーブル3を回転させ
てこのチツプ保持面5を顕微鏡2の光軸下に位置
させれば、チツプ保持面5は垂直となり、チツプ
50の端面は垂直な光軸Lを持つ顕微鏡2によつ
てその端面を正確に検査されることとなる。なお
チツプ保持面5を実施例のように回転テーブル3
の2個所に形成しておけば、一方が顕微鏡2の光
軸L上に位置している間に他方のチツプ保持面5
に対してチツプ50の供給及び取出しを行うこと
ができる。このようにして端面の検査が行われた
チツプ50はコア52の幅方向の位置ずれの程度
に応じて数段階にランク分けされ、次工程で、そ
れぞれ側面からの研摩を施されることとなる。
(考案の効果) 本考案は以上の説明からも明らかなように、極
めて肉薄で小型のチツプを正確に検査するに適し
たものであり、チツプ保持面が外側では大きく傾
斜するのでチツプの装着を容易に行うことがで
き、またチツプ保持面を光軸下に位置させたとき
にはチツプを垂直に保つて正確な検査を可能とし
たものである。このように本考案のチツプの表面
検査機を用いれば従来の移動テーブル式のものに
比較してチツプ一枚当りの検査時間を1/2以下の
約13秒にまで短縮することができた。なお本考案
は以上に説明した磁気ヘツド用のコアチツプのみ
ならず、これと同様な各種のチツプの検査にも利
用できることは言うまでもない。よつて本考案は
従来の問題点を一掃したチツプの表面検査機とし
て、その実用的価値は極めて大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例を示す正面図、第2図
はそのチツプ保持面部分の一部切欠正面図、第3
図は幅方向の寸法を誇張して示したチツプの拡大
斜視図である。 2……顕微鏡、3……回転テーブル、4……回
転軸、5……チツプ保持面。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 回転軸4に対して小角度αだけ傾斜したチツプ
    保持面5を備えた回転テーブル3を、回転軸4を
    垂直線に対して角度αだけ傾斜させた状態でチツ
    プ表面検査用の顕微鏡2の下部側方に設けたこと
    を特徴とするチツプの表面検査機。
JP13703387U 1987-09-08 1987-09-08 Expired - Lifetime JPH053923Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13703387U JPH053923Y2 (ja) 1987-09-08 1987-09-08

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13703387U JPH053923Y2 (ja) 1987-09-08 1987-09-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6442404U JPS6442404U (ja) 1989-03-14
JPH053923Y2 true JPH053923Y2 (ja) 1993-01-29

Family

ID=31398096

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JP13703387U Expired - Lifetime JPH053923Y2 (ja) 1987-09-08 1987-09-08

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JPS6442404U (ja) 1989-03-14

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