JPH05274644A - 磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体及びその製造方法Info
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- JPH05274644A JPH05274644A JP5007830A JP783093A JPH05274644A JP H05274644 A JPH05274644 A JP H05274644A JP 5007830 A JP5007830 A JP 5007830A JP 783093 A JP783093 A JP 783093A JP H05274644 A JPH05274644 A JP H05274644A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高保磁力を有し、しかも同じ大きさの保磁力
を有する従来の磁気記録媒体に比べ、電磁変換特性が著
しく改善され、高保磁力の効果が十分得られる磁気記録
媒体及びその製造方法を提供する。 【構成】 非磁性基板上に、Cr系非磁性下地層を介し
て、Coを主成分とし、Ni40原子%以下、B8原子
%以下、Cr26原子%以下及びTa10原子%以下を
含有するCo−Cr−Ni−B−Ta系合金磁性層を形
成した磁気記録媒体。非磁性基板に負のバイアス電圧を
印加した状態でCo−Cr−Ni−B−Ta系合金磁性
層をスパッタ成膜する。 【効果】 特定の元素組成のCo−Cr−Ni−B−T
a系磁性層によれば、高保磁力でしかも電磁変換特性に
優れた磁気記録媒体が得られる。Co−Cr−Ni−B
−Ta系磁性層を、基板に負のバイアス電圧を印加した
状態でスパッタ成膜により形成することにより、得られ
る磁気記録媒体の保磁力は著しく高められる。
を有する従来の磁気記録媒体に比べ、電磁変換特性が著
しく改善され、高保磁力の効果が十分得られる磁気記録
媒体及びその製造方法を提供する。 【構成】 非磁性基板上に、Cr系非磁性下地層を介し
て、Coを主成分とし、Ni40原子%以下、B8原子
%以下、Cr26原子%以下及びTa10原子%以下を
含有するCo−Cr−Ni−B−Ta系合金磁性層を形
成した磁気記録媒体。非磁性基板に負のバイアス電圧を
印加した状態でCo−Cr−Ni−B−Ta系合金磁性
層をスパッタ成膜する。 【効果】 特定の元素組成のCo−Cr−Ni−B−T
a系磁性層によれば、高保磁力でしかも電磁変換特性に
優れた磁気記録媒体が得られる。Co−Cr−Ni−B
−Ta系磁性層を、基板に負のバイアス電圧を印加した
状態でスパッタ成膜により形成することにより、得られ
る磁気記録媒体の保磁力は著しく高められる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気記録媒体及びその製
造方法に係り、特に、磁気ディスク装置、フロッピーデ
ィスク装置、磁気テープ装置等の磁気記録装置に用いら
れる磁気記録媒体であって、その磁気特性が著しく向上
された磁気記録媒体及びその製造方法に関するものであ
る。
造方法に係り、特に、磁気ディスク装置、フロッピーデ
ィスク装置、磁気テープ装置等の磁気記録装置に用いら
れる磁気記録媒体であって、その磁気特性が著しく向上
された磁気記録媒体及びその製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、磁気ディスク装置、フロッピーデ
ィスク装置、磁気テープ装置等の磁気記録装置の適用範
囲は著しく増大され、その重要性が増すと共に、これら
の装置に用いられる磁気記録媒体について、その記録密
度の著しい向上が図られつつある。
ィスク装置、磁気テープ装置等の磁気記録装置の適用範
囲は著しく増大され、その重要性が増すと共に、これら
の装置に用いられる磁気記録媒体について、その記録密
度の著しい向上が図られつつある。
【0003】これらの磁気記録媒体については、今後更
に高記録密度化を達成することが要求されており、その
ために、磁気記録層の高保磁力化と高信号対雑音比(S
N比)を達成することが必要とされている。ところで、
線記録密度、出力、及びSN比と、磁気記録媒体の特性
との間には、およそ次のような関係があることが解明さ
れている。
に高記録密度化を達成することが要求されており、その
ために、磁気記録層の高保磁力化と高信号対雑音比(S
N比)を達成することが必要とされている。ところで、
線記録密度、出力、及びSN比と、磁気記録媒体の特性
との間には、およそ次のような関係があることが解明さ
れている。
【0004】 (線記録密度) ∝ (Hc/Br・t) (出 力) ∝ (Br/t・Hc) (S N 比) ∝ (Hc/Br・t) ここで、Hcは保磁力、Brは残留磁束密度、tは膜厚
を表す。また、記号∝は左辺の特性が右辺の値と比例す
ることを示している。
を表す。また、記号∝は左辺の特性が右辺の値と比例す
ることを示している。
【0005】従って、高記録密度の磁気記録媒体の設計
においては、必要とされる出力を損なわない範囲にBr
・tを維持して、保磁力Hcを大きくすることが必要と
なる。しかして、近年、高記録密度化の観点から、金属
薄膜型の磁気記録媒体が、磁性粉及びバインダー樹脂か
らなる磁性塗料を塗布して磁性層を形成してなる塗布型
磁気記録媒体に代わって用いられ始めている。この金属
薄膜型の磁気記録媒体は、非磁性基板上に無電解めっ
き、電気めっき、スパッタ、蒸着等の方法により磁性層
が成膜されてなり、その磁性層組成としては、Co(コ
バルト)−P(リン)、Co−Ni(ニッケル)−P、
Co−Ni(ニッケル)−Cr(クロム)、Co−Ni
−Pt(プラチナ)、Co−Cr−Ta(タンタル)合
金等が実用化されている。
においては、必要とされる出力を損なわない範囲にBr
・tを維持して、保磁力Hcを大きくすることが必要と
なる。しかして、近年、高記録密度化の観点から、金属
薄膜型の磁気記録媒体が、磁性粉及びバインダー樹脂か
らなる磁性塗料を塗布して磁性層を形成してなる塗布型
磁気記録媒体に代わって用いられ始めている。この金属
薄膜型の磁気記録媒体は、非磁性基板上に無電解めっ
き、電気めっき、スパッタ、蒸着等の方法により磁性層
が成膜されてなり、その磁性層組成としては、Co(コ
バルト)−P(リン)、Co−Ni(ニッケル)−P、
Co−Ni(ニッケル)−Cr(クロム)、Co−Ni
−Pt(プラチナ)、Co−Cr−Ta(タンタル)合
金等が実用化されている。
【0006】このような金属薄膜型の磁気記録媒体にお
いて、最近、スパッタ成膜法による磁性層成膜中に、基
板に負のバイアス電圧を印加することにより、高保磁力
が得られることが報告されている(昭和63年第35回
応用物理学関係連合講演会資料29a−C−9、−10
及び電子通信学会電子部品材料研究会資料CPM88−
92、特開昭57−34324号)。
いて、最近、スパッタ成膜法による磁性層成膜中に、基
板に負のバイアス電圧を印加することにより、高保磁力
が得られることが報告されている(昭和63年第35回
応用物理学関係連合講演会資料29a−C−9、−10
及び電子通信学会電子部品材料研究会資料CPM88−
92、特開昭57−34324号)。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】一方、Crを1〜17
原子%含むCo−Cr系媒体にPtを添加することによ
り、2000Oeを超える保磁力が得られることが知ら
れている(特開昭59−88806)。また、Co−C
r−Ta系にPtを添加すると高保磁力媒体が得られる
ことは特開平1−256017より公知である。
原子%含むCo−Cr系媒体にPtを添加することによ
り、2000Oeを超える保磁力が得られることが知ら
れている(特開昭59−88806)。また、Co−C
r−Ta系にPtを添加すると高保磁力媒体が得られる
ことは特開平1−256017より公知である。
【0008】これらのCo−Cr−Pt系及びCo−C
r−Ta−Pt系磁性層を成膜した磁気記録媒体は、十
分高い保持力を比較的容易に得ることができるが、高価
なPtを用いているため実用的でない。また、特開昭6
3−18607には、Co、Ni、B(ホウ素)及び遷
移金属からなる合金磁性層を形成してなる磁気記録媒体
が報告されている。さらに、Ni40原子%以下、B8
原子%以下を含有するCo−Cr系合金磁性層を形成し
てなる磁気記録媒体を、該磁性層の形成にあたり、非磁
性基板に負のバイアス電圧を印加した状態でスパッタ法
により成膜することにより製造すると、保磁力の増加が
認められることは特開平3−49021で公知である。
r−Ta−Pt系磁性層を成膜した磁気記録媒体は、十
分高い保持力を比較的容易に得ることができるが、高価
なPtを用いているため実用的でない。また、特開昭6
3−18607には、Co、Ni、B(ホウ素)及び遷
移金属からなる合金磁性層を形成してなる磁気記録媒体
が報告されている。さらに、Ni40原子%以下、B8
原子%以下を含有するCo−Cr系合金磁性層を形成し
てなる磁気記録媒体を、該磁性層の形成にあたり、非磁
性基板に負のバイアス電圧を印加した状態でスパッタ法
により成膜することにより製造すると、保磁力の増加が
認められることは特開平3−49021で公知である。
【0009】しかしながら、上記特開昭63−1860
7および特開平3−49021の磁気記録媒体では十分
な保持力が得られていない。これら公知の磁気記録媒体
のうちCo−Cr−Ta系磁性層を成膜した磁気記録媒
体は、優れたSN比を示すことから、磁気記録媒体とし
て広く使用されているが、高い保持力を得ることが困難
であるという欠点がある。
7および特開平3−49021の磁気記録媒体では十分
な保持力が得られていない。これら公知の磁気記録媒体
のうちCo−Cr−Ta系磁性層を成膜した磁気記録媒
体は、優れたSN比を示すことから、磁気記録媒体とし
て広く使用されているが、高い保持力を得ることが困難
であるという欠点がある。
【0010】一方、Co−Cr−Pt−Ta磁性層を成
膜した磁気記録媒体では、電磁変換特性を測定すると、
Co−Cr−Ta系等のような比較的保持力の低い磁気
記録媒体と比べても、媒体ノイズが高く、保持力増加の
効果がSN比に十分反映しているとはいえず、その改善
が望まれている。本発明は上記従来の問題点を解決し、
高保磁力を有し、しかも同じ大きさの保持力を有する従
来の磁気記録媒体に比べ、電磁変換特性が著しく改善さ
れ、高保磁力の効果が十分得られる磁気記録媒体及びそ
の製造方法を提供することを目的とする。
膜した磁気記録媒体では、電磁変換特性を測定すると、
Co−Cr−Ta系等のような比較的保持力の低い磁気
記録媒体と比べても、媒体ノイズが高く、保持力増加の
効果がSN比に十分反映しているとはいえず、その改善
が望まれている。本発明は上記従来の問題点を解決し、
高保磁力を有し、しかも同じ大きさの保持力を有する従
来の磁気記録媒体に比べ、電磁変換特性が著しく改善さ
れ、高保磁力の効果が十分得られる磁気記録媒体及びそ
の製造方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1の磁気記録媒体
は、非磁性基板上に、Crを主成分とする非磁性下地層
を介してCo−Cr系合金磁性層を形成してなる磁気記
録媒体において、Co−Cr系合金磁性層がCoを主成
分とし、Niを40原子%以下、Bを8原子%以下、C
rを26原子%以下及びTaを10原子%以下含有する
ことを特徴とする。
は、非磁性基板上に、Crを主成分とする非磁性下地層
を介してCo−Cr系合金磁性層を形成してなる磁気記
録媒体において、Co−Cr系合金磁性層がCoを主成
分とし、Niを40原子%以下、Bを8原子%以下、C
rを26原子%以下及びTaを10原子%以下含有する
ことを特徴とする。
【0012】請求項2の磁気記録媒体の製造方法は、C
rを主成分とする非磁性下地層及びCo−Cr系合金磁
性層をスパッタ法により順次形成する磁気記録媒体の製
造方法において、プラズマ電位に対して非磁性基板側の
電位が相対的に低くなるようなバイアス電圧を印加した
状態で、Coを主成分とし、Niを40原子%以下、B
を8原子%以下、Crを26原子%以下及びTaを10
原子%以下含むCo−Cr系合金磁性膜を成膜すること
を特徴とする。
rを主成分とする非磁性下地層及びCo−Cr系合金磁
性層をスパッタ法により順次形成する磁気記録媒体の製
造方法において、プラズマ電位に対して非磁性基板側の
電位が相対的に低くなるようなバイアス電圧を印加した
状態で、Coを主成分とし、Niを40原子%以下、B
を8原子%以下、Crを26原子%以下及びTaを10
原子%以下含むCo−Cr系合金磁性膜を成膜すること
を特徴とする。
【0013】なお、本発明の方法において、プラズマ電
位に対して非磁性基板側の電位が相対的に低くなるよう
なバイアス電位を印加した状態とは、必ずしも接地電位
に対して基板バイアス電位を負にすることに限られず、
基板は接地電位のままとし、スパッタのプラズマ電位を
接地電位よりも高くすることにより、基板をプラズマ電
位に対して相対的に低い電位としても良い。
位に対して非磁性基板側の電位が相対的に低くなるよう
なバイアス電位を印加した状態とは、必ずしも接地電位
に対して基板バイアス電位を負にすることに限られず、
基板は接地電位のままとし、スパッタのプラズマ電位を
接地電位よりも高くすることにより、基板をプラズマ電
位に対して相対的に低い電位としても良い。
【0014】以下、本発明について詳細に説明する。本
発明において、非磁性基板としては特に制限はなく、通
常、無電解めっき法により形成したNi−P層を設けた
アルミニウム合金板が用いられるが、その他、銅、チタ
ン等の金属基板、ガラス基板、セラミック基板、炭素基
板、Si基板又は各種樹脂基板等を用いることもでき
る。
発明において、非磁性基板としては特に制限はなく、通
常、無電解めっき法により形成したNi−P層を設けた
アルミニウム合金板が用いられるが、その他、銅、チタ
ン等の金属基板、ガラス基板、セラミック基板、炭素基
板、Si基板又は各種樹脂基板等を用いることもでき
る。
【0015】ただし、基板が非導電性基板の場合は、磁
性層成膜時のバイアス電位印加方式を交流としたり、基
板は接地電位のままスパッタ時のプラズマポテンシャル
を高めるような装置的な工夫が必要である。このような
非磁性基板上に形成するCrを主成分とする非磁性下地
層(以下、「Cr系下地層」と称することがある。)
は、通常、その膜厚が100Å以上、好ましくは300
Å以上あれば良い。Cr系下地層の膜厚の上限は特に制
限はないが、生産性及び保磁力以外の磁気特性、例えば
角形性を考慮すれば、実用的には3000Å以下が好ま
しい。
性層成膜時のバイアス電位印加方式を交流としたり、基
板は接地電位のままスパッタ時のプラズマポテンシャル
を高めるような装置的な工夫が必要である。このような
非磁性基板上に形成するCrを主成分とする非磁性下地
層(以下、「Cr系下地層」と称することがある。)
は、通常、その膜厚が100Å以上、好ましくは300
Å以上あれば良い。Cr系下地層の膜厚の上限は特に制
限はないが、生産性及び保磁力以外の磁気特性、例えば
角形性を考慮すれば、実用的には3000Å以下が好ま
しい。
【0016】即ち、一般に、基板に磁性層を成膜する場
合、磁性層の保磁力を増加させるためにCr系下地層の
膜厚を1500〜3000Å程度にする必要があるが、
磁性層の好ましい成膜法として後述する、プラズマ電位
に対して非磁性基板側の電位が相対的に低くなるような
バイアス電位を印加しながらスパッタ成膜する方法にお
いては、Cr系下地層の膜厚は磁性層の磁化容易軸を面
内に配向させるのに十分な膜厚であれば良く、Cr系下
地層が薄くても高い保磁力を容易に得ることができる。
合、磁性層の保磁力を増加させるためにCr系下地層の
膜厚を1500〜3000Å程度にする必要があるが、
磁性層の好ましい成膜法として後述する、プラズマ電位
に対して非磁性基板側の電位が相対的に低くなるような
バイアス電位を印加しながらスパッタ成膜する方法にお
いては、Cr系下地層の膜厚は磁性層の磁化容易軸を面
内に配向させるのに十分な膜厚であれば良く、Cr系下
地層が薄くても高い保磁力を容易に得ることができる。
【0017】なお、このCr下地層はCrを主体とする
ものであれば良く、Crの結晶性を損なわない限りCr
以外の元素、例えばアルミニウム、銅、ケイ素等を数原
子%含んでいても良い。Cr下地層を形成するスパッタ
条件としては特に制限はなく、通常のCr下地層が形成
されるスパッタ条件を採用することができる。基板バイ
アス電位は印加しても印加しなくても良いが、印加した
場合は磁気特性が多少向上する。
ものであれば良く、Crの結晶性を損なわない限りCr
以外の元素、例えばアルミニウム、銅、ケイ素等を数原
子%含んでいても良い。Cr下地層を形成するスパッタ
条件としては特に制限はなく、通常のCr下地層が形成
されるスパッタ条件を採用することができる。基板バイ
アス電位は印加しても印加しなくても良いが、印加した
場合は磁気特性が多少向上する。
【0018】本発明において、このようなCr系下地層
上に形成する合金磁性層は、Coを主成分としてNiを
40原子%以下、好ましくは10〜35原子%、Bを8
原子%以下、好ましくは0.005〜8.0原子%、更
に好ましくは1〜4原子%、Crを26原子%以下、好
ましくは5〜26原子%、更に好ましくは6〜10原子
%、Taを10原子%以下、好ましくは0.005〜6
原子%、更に好ましくは2〜5原子%含有するCo−C
r−Ni−B−Ta系磁性膜である。
上に形成する合金磁性層は、Coを主成分としてNiを
40原子%以下、好ましくは10〜35原子%、Bを8
原子%以下、好ましくは0.005〜8.0原子%、更
に好ましくは1〜4原子%、Crを26原子%以下、好
ましくは5〜26原子%、更に好ましくは6〜10原子
%、Taを10原子%以下、好ましくは0.005〜6
原子%、更に好ましくは2〜5原子%含有するCo−C
r−Ni−B−Ta系磁性膜である。
【0019】この磁性層組成において、Niの含有量が
40原子%までは、その含有量が多くなる程、得られる
磁気記録媒体の保磁力は増加する傾向にあるが、40原
子%を超えると保磁力の低下が認められる。Bも保磁力
の増加に有効であるが、その含有量が8原子%を超える
と保磁力増加効果がなくなる。Crの含有量が26原子
%を超えると、得られる磁気記録媒体の飽和磁束密度が
小さくなり、あまり実用的でなく、6原子%未満では保
磁力増加効果が小さい。Taは含有量が微量でも得られ
る磁気記録媒体の保磁力の増加、SN比の向上が認めら
れるが、含有量が5原子%を超えると保磁力が飽和し始
める。更に、Taの含有量が10原子%を超えると磁気
記録媒体の飽和磁束密度が小さくなり、実用性を失う。
従って、Taの含有量は10原子%以下が望ましく、ま
た必要な効果の得られる範囲内でできるだけ少ない方が
良い。
40原子%までは、その含有量が多くなる程、得られる
磁気記録媒体の保磁力は増加する傾向にあるが、40原
子%を超えると保磁力の低下が認められる。Bも保磁力
の増加に有効であるが、その含有量が8原子%を超える
と保磁力増加効果がなくなる。Crの含有量が26原子
%を超えると、得られる磁気記録媒体の飽和磁束密度が
小さくなり、あまり実用的でなく、6原子%未満では保
磁力増加効果が小さい。Taは含有量が微量でも得られ
る磁気記録媒体の保磁力の増加、SN比の向上が認めら
れるが、含有量が5原子%を超えると保磁力が飽和し始
める。更に、Taの含有量が10原子%を超えると磁気
記録媒体の飽和磁束密度が小さくなり、実用性を失う。
従って、Taの含有量は10原子%以下が望ましく、ま
た必要な効果の得られる範囲内でできるだけ少ない方が
良い。
【0020】本発明の合金磁性層は、高クロム濃度領域
によって低クロム濃度領域が区画化された偏析構造をし
ており、その区画化された低クロム濃度領域の径が10
〜500Åの範囲であり、かつ、区画化された低クロム
濃度領域の個数が600〜100,000個/μm2の
偏析構造である。本発明において、このような磁性層の
膜厚は、磁気記録媒体として要求される特性により適宜
決定すれば良く、特に制限されないが、通常の場合、3
00〜1500Å、好ましくは200〜800Åとする
のがよい。
によって低クロム濃度領域が区画化された偏析構造をし
ており、その区画化された低クロム濃度領域の径が10
〜500Åの範囲であり、かつ、区画化された低クロム
濃度領域の個数が600〜100,000個/μm2の
偏析構造である。本発明において、このような磁性層の
膜厚は、磁気記録媒体として要求される特性により適宜
決定すれば良く、特に制限されないが、通常の場合、3
00〜1500Å、好ましくは200〜800Åとする
のがよい。
【0021】なお、磁性層の成膜をアルゴン雰囲気にて
実施した場合、後述のように基板に負のバイアス電圧を
印加しながらスパッタ成膜を行うと、バイアス効果によ
り不可避的に磁性層中にアルゴンが混入される。その量
は約0.2〜1.5原子%程度と、基板にバイアス電位
を印加しない通常のスパッタ成膜の場合よりも多い。こ
のような本発明の磁気記録媒体は、スパッタ法により非
磁性基板上にCr系下地層及びCo−Cr−Ni−B−
Ta系磁性層を成膜することにより容易に製造される。
実施した場合、後述のように基板に負のバイアス電圧を
印加しながらスパッタ成膜を行うと、バイアス効果によ
り不可避的に磁性層中にアルゴンが混入される。その量
は約0.2〜1.5原子%程度と、基板にバイアス電位
を印加しない通常のスパッタ成膜の場合よりも多い。こ
のような本発明の磁気記録媒体は、スパッタ法により非
磁性基板上にCr系下地層及びCo−Cr−Ni−B−
Ta系磁性層を成膜することにより容易に製造される。
【0022】ここで、スパッタ法は、直流マグネトロン
スパッタ法、高周波マグネトロンスパッタ法のいずれで
も良いが、基板が非導電性基板の場合には高周波マグネ
トロンスパッタ法が好ましい。また、本発明のCo−C
r−Ni−B−Ta系合金磁性層は、プラズマ電位に対
して非磁性基板側の電位が相対的に低くなるようなバイ
アス電位を印加した状態でスパッタ法により成膜するこ
とが、得られる磁気記録媒体の保持力が著しく高められ
るという点で好ましい。
スパッタ法、高周波マグネトロンスパッタ法のいずれで
も良いが、基板が非導電性基板の場合には高周波マグネ
トロンスパッタ法が好ましい。また、本発明のCo−C
r−Ni−B−Ta系合金磁性層は、プラズマ電位に対
して非磁性基板側の電位が相対的に低くなるようなバイ
アス電位を印加した状態でスパッタ法により成膜するこ
とが、得られる磁気記録媒体の保持力が著しく高められ
るという点で好ましい。
【0023】このような本発明の方法において、スパッ
タ法による磁性層の成膜に際し、得られる磁気記録媒体
の保磁力は、成膜時に基板に印加する負のバイアス電位
の影響を顕著に受ける。高周波スパッタリング法を用い
た場合、負の基板バイアス電位が−40Vを超えると得
られる磁気記録媒体の保磁力が著しく増加する。ただ
し、負の基板バイアス電位が大き過ぎると、成膜された
磁性層の再スパッタリングが多くなると共に磁気特性も
低下するため、負の基板バイアス電位は約−40〜−2
50Vとするのが好ましい。
タ法による磁性層の成膜に際し、得られる磁気記録媒体
の保磁力は、成膜時に基板に印加する負のバイアス電位
の影響を顕著に受ける。高周波スパッタリング法を用い
た場合、負の基板バイアス電位が−40Vを超えると得
られる磁気記録媒体の保磁力が著しく増加する。ただ
し、負の基板バイアス電位が大き過ぎると、成膜された
磁性層の再スパッタリングが多くなると共に磁気特性も
低下するため、負の基板バイアス電位は約−40〜−2
50Vとするのが好ましい。
【0024】一方、直流スパッタリング法を用いた場合
は、負の基板バイアス電位は約−40〜−500Vが好
ましい範囲である。また、非磁性基板は接地電位のま
ま、プラズマ電位を接地電位より高くする方法による場
合には、ターゲット近傍に中間電極を設け、該中間電極
に非磁性基板ならびにスパッタ装置本体の接地部に対し
て、例えば1000V以下、中でも50〜500Vの正
の電位を印加するのが好ましい。
は、負の基板バイアス電位は約−40〜−500Vが好
ましい範囲である。また、非磁性基板は接地電位のま
ま、プラズマ電位を接地電位より高くする方法による場
合には、ターゲット近傍に中間電極を設け、該中間電極
に非磁性基板ならびにスパッタ装置本体の接地部に対し
て、例えば1000V以下、中でも50〜500Vの正
の電位を印加するのが好ましい。
【0025】なお、スパッタ法による成膜時のプラズマ
電位及びバイアス電位印加効果は、スパッタ装置の寸
法、形状等の幾何学的影響を受けるので、基板バイアス
電位値は絶対的な値ではなく、装置により最適範囲は異
なる。本発明の方法において、得られる磁気記録媒体の
保磁力は、スパッタ成膜時の非磁性基板温度の影響を顕
著に受ける。基板温度が150℃以上になると著しい保
磁力の増加が認められ、1000Oeを超える高保磁力
が得られる。従って、成膜時の基板温度としては、15
0℃以上であることが望ましい。なお、成膜時の基板温
度の上限に関しては一概に規定することは困難である
が、例えば、無電解Ni−Pめっきを施したアルミニウ
ム合金基板の場合には、表面平滑性の維持及びNi−P
めっきの磁化防止のため、通常は、300℃以下とする
のが好ましい。
電位及びバイアス電位印加効果は、スパッタ装置の寸
法、形状等の幾何学的影響を受けるので、基板バイアス
電位値は絶対的な値ではなく、装置により最適範囲は異
なる。本発明の方法において、得られる磁気記録媒体の
保磁力は、スパッタ成膜時の非磁性基板温度の影響を顕
著に受ける。基板温度が150℃以上になると著しい保
磁力の増加が認められ、1000Oeを超える高保磁力
が得られる。従って、成膜時の基板温度としては、15
0℃以上であることが望ましい。なお、成膜時の基板温
度の上限に関しては一概に規定することは困難である
が、例えば、無電解Ni−Pめっきを施したアルミニウ
ム合金基板の場合には、表面平滑性の維持及びNi−P
めっきの磁化防止のため、通常は、300℃以下とする
のが好ましい。
【0026】また、スパッタ成膜時の圧力は、高真空の
方が、原子、イオン等の平均自由行程が増すため好まし
いが、1×10-3Torrを超える高真空においては、
通常のスパッタ装置では安定したプラズマ状態が維持し
難いため、実用的な範囲としては、1×10-3〜20×
10-3Torrが好ましい。このような本発明の方法に
より得られる本発明の磁気記録媒体は、磁性層の上に更
に必要に応じて炭素等の保護層及び/又は適宜の潤滑剤
よりなる潤滑層等を形成してなるものであっても良い。
方が、原子、イオン等の平均自由行程が増すため好まし
いが、1×10-3Torrを超える高真空においては、
通常のスパッタ装置では安定したプラズマ状態が維持し
難いため、実用的な範囲としては、1×10-3〜20×
10-3Torrが好ましい。このような本発明の方法に
より得られる本発明の磁気記録媒体は、磁性層の上に更
に必要に応じて炭素等の保護層及び/又は適宜の潤滑剤
よりなる潤滑層等を形成してなるものであっても良い。
【0027】
【作用】本発明に係る特定の元素組成のCo−Cr−N
i−B−Ta系磁性層によれば、高保磁力でしかも電磁
変換特性に優れた磁気記録媒体が得られる。
i−B−Ta系磁性層によれば、高保磁力でしかも電磁
変換特性に優れた磁気記録媒体が得られる。
【0028】
【実施例】以下に実施例及び比較例を挙げて本発明をよ
り具体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない限
り、以下の実施例に限定されるものではない。 実施例1〜4,比較例1〜5 内径25mm、外径95mmのアルミニウム合金ディス
ク基板表面に、無電解めっきにより非磁性Ni−P層を
25μm厚さに成膜し、その表面を鏡面研磨してRa
(中心線平均粗さ)20〜30Åに仕上げた。この非磁
性基板を高周波(13.56MHz)マグネトロンスパ
ッタ装置に挿着し、1×10-6Torrまで真空排気し
た後、基板温度を250℃まで昇温し、アルゴン分圧5
×10-3Torrにて、基板に直流−100Vのバイア
ス電圧を印加しながら、Cr下地層を約1000Åの厚
さに成膜した。そして引続き、Co59.5原子%−C
r7.5原子%−Ni30原子%−B3原子%の組成の
ターゲットにTaチップを数枚のせたターゲットを用い
て直流−100Vの基板バイアス電圧を印加しながら成
膜を行って表1のIに示す組成の磁性層を形成すること
により、残留磁化量Br・tが200〜600gaus
s・μmの範囲の試料を作製した(実施例1〜4)。
り具体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない限
り、以下の実施例に限定されるものではない。 実施例1〜4,比較例1〜5 内径25mm、外径95mmのアルミニウム合金ディス
ク基板表面に、無電解めっきにより非磁性Ni−P層を
25μm厚さに成膜し、その表面を鏡面研磨してRa
(中心線平均粗さ)20〜30Åに仕上げた。この非磁
性基板を高周波(13.56MHz)マグネトロンスパ
ッタ装置に挿着し、1×10-6Torrまで真空排気し
た後、基板温度を250℃まで昇温し、アルゴン分圧5
×10-3Torrにて、基板に直流−100Vのバイア
ス電圧を印加しながら、Cr下地層を約1000Åの厚
さに成膜した。そして引続き、Co59.5原子%−C
r7.5原子%−Ni30原子%−B3原子%の組成の
ターゲットにTaチップを数枚のせたターゲットを用い
て直流−100Vの基板バイアス電圧を印加しながら成
膜を行って表1のIに示す組成の磁性層を形成すること
により、残留磁化量Br・tが200〜600gaus
s・μmの範囲の試料を作製した(実施例1〜4)。
【0029】また、ターゲット上のTaチップをすべて
撤去してCo62.5原子%−Cr7.5原子%−Ni
30原子%−B3原子%の組成のターゲットのみを用い
て表1のIIに示す組成の磁性層を形成したこと以外
は、上記と全く同じ条件で試料を作製した(比較例1〜
4)。さらに、Co65原子%−Ni30原子%−B3
原子%−Ta2原子%の組成のターゲットを用いて磁性
層を形成したこと以外は、比較例1〜4と同じ条件で試
料を作製した(比較例5)。
撤去してCo62.5原子%−Cr7.5原子%−Ni
30原子%−B3原子%の組成のターゲットのみを用い
て表1のIIに示す組成の磁性層を形成したこと以外
は、上記と全く同じ条件で試料を作製した(比較例1〜
4)。さらに、Co65原子%−Ni30原子%−B3
原子%−Ta2原子%の組成のターゲットを用いて磁性
層を形成したこと以外は、比較例1〜4と同じ条件で試
料を作製した(比較例5)。
【0030】こうして得られた各磁気記録媒体の保磁力
Hcを測定し、結果をその残留磁化の関数として第1図
に示した。また、各磁気記録媒体の残留磁化量と保磁力
を表2に示した。なお、保磁力Hcの測定は、試料振動
式磁力計で行い、また、磁性層の膜組成の分析は、化学
分析で行った。
Hcを測定し、結果をその残留磁化の関数として第1図
に示した。また、各磁気記録媒体の残留磁化量と保磁力
を表2に示した。なお、保磁力Hcの測定は、試料振動
式磁力計で行い、また、磁性層の膜組成の分析は、化学
分析で行った。
【0031】表2及び第1図より、TaおよびCrの添
加により保磁力が100〜200Oe上昇したことが認
められる。
加により保磁力が100〜200Oe上昇したことが認
められる。
【0032】
【表1】
【0033】
【表2】 実施例5〜10,比較例6〜9 実施例1〜4及び比較例1〜4とそれぞれ同様にして、
組成I又は組成IIの磁性層を形成して製造した各磁気
記録媒体について、各々、磁性層上に、更に、厚さ28
0ÅのC(炭素)保護膜をスパッタリング法で成膜し、
その上にF(弗素)系の潤滑剤を約20Å厚さに塗布し
た。得られた各磁気ディスクについて電磁変換特性を測
定した。
組成I又は組成IIの磁性層を形成して製造した各磁気
記録媒体について、各々、磁性層上に、更に、厚さ28
0ÅのC(炭素)保護膜をスパッタリング法で成膜し、
その上にF(弗素)系の潤滑剤を約20Å厚さに塗布し
た。得られた各磁気ディスクについて電磁変換特性を測
定した。
【0034】なお、測定はハードディスク用両MIG
(メタル−イン−ギャップ)ヘッドを用いて行った。使
用したヘッドの仕様を表3に示す。また、測定の条件を
表4に示す。
(メタル−イン−ギャップ)ヘッドを用いて行った。使
用したヘッドの仕様を表3に示す。また、測定の条件を
表4に示す。
【0035】
【表3】
【0036】
【表4】
【0037】結果を表5に示す。また、第2図に再生出
力と、磁気記録媒体の信号/雑音比(SN比)との関係
を、第3図に再生出力に対する各磁気記録媒体の媒体ノ
イズの関係を、また、第4図に再生出力と出力が半減す
る書き込み周波数(D50)との関係をそれぞれ示し
た。
力と、磁気記録媒体の信号/雑音比(SN比)との関係
を、第3図に再生出力に対する各磁気記録媒体の媒体ノ
イズの関係を、また、第4図に再生出力と出力が半減す
る書き込み周波数(D50)との関係をそれぞれ示し
た。
【0038】第2図より、明らかにTaを添加した磁気
記録媒体の方がSN特性に優れている。また、第3図よ
り、Taの添加によって媒体ノイズが大幅に低減されて
いることが明らかである。更に、第4図より、D50に
おいてもTaを添加した磁気記録媒体の方が優れた特性
を示していることが認められる。
記録媒体の方がSN特性に優れている。また、第3図よ
り、Taの添加によって媒体ノイズが大幅に低減されて
いることが明らかである。更に、第4図より、D50に
おいてもTaを添加した磁気記録媒体の方が優れた特性
を示していることが認められる。
【0039】
【表5】
【0040】実施例11〜14,比較例10〜13 スパッタ装置として直流マグネトロンスパッタ装置を用
い、基板バイアス電圧を−200Vとしたこと以外は実
施例5〜10及び比較例6〜9と同様にして組成I又は
組成IIの磁性層を形成し、得られた磁気記録媒体につ
いて、各特性の測定を行った。その結果を表6及び第5
図、第6図に示す。
い、基板バイアス電圧を−200Vとしたこと以外は実
施例5〜10及び比較例6〜9と同様にして組成I又は
組成IIの磁性層を形成し、得られた磁気記録媒体につ
いて、各特性の測定を行った。その結果を表6及び第5
図、第6図に示す。
【0041】第5図より、直流スパッタリング法で成膜
した場合にもTa添加による保磁力の増加が認められ
た。また、第6図より明らかなように、直流スパッタリ
ング法で成膜した場合にもTa添加によりSN比が改善
された。
した場合にもTa添加による保磁力の増加が認められ
た。また、第6図より明らかなように、直流スパッタリ
ング法で成膜した場合にもTa添加によりSN比が改善
された。
【0042】
【表6】
【0043】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明の磁気記録媒
体及びその製造方法によれば、著しく高い保磁力を有
し、かつ、著しく優れた電磁変換特性を示し、高密度記
録に極めて適した磁気記録媒体が提供される。
体及びその製造方法によれば、著しく高い保磁力を有
し、かつ、著しく優れた電磁変換特性を示し、高密度記
録に極めて適した磁気記録媒体が提供される。
【図1】第1図は実施例1〜4及び比較例1〜4で得ら
れた、残留磁化量と保磁力との関係を示すグラフであ
る。
れた、残留磁化量と保磁力との関係を示すグラフであ
る。
【図2】第2図は実施例5〜10及び比較例6〜9で得
られた、再生出力とSN比との関係を示すグラフであ
る。
られた、再生出力とSN比との関係を示すグラフであ
る。
【図3】第3図は実施例5〜10及び比較例6〜9で得
られた、再生出力と媒体ノイズとの関係を示すグラフで
ある。
られた、再生出力と媒体ノイズとの関係を示すグラフで
ある。
【図4】第4図は実施例5〜10及び比較例6,7,9
で得られた、再生出力とD50との関係を示すグラフで
ある。
で得られた、再生出力とD50との関係を示すグラフで
ある。
【図5】第5図は実施例11〜13及び比較例10〜1
3で得られた、残留磁化量と保磁力との関係を示すグラ
フである。
3で得られた、残留磁化量と保磁力との関係を示すグラ
フである。
【図6】第6図は実施例11〜14及び比較例10〜1
3で得られた、再生出力とSN比との関係を示すグラフ
である。
3で得られた、再生出力とSN比との関係を示すグラフ
である。
Claims (2)
- 【請求項1】 非磁性基板上に、クロムを主成分とする
非磁性下地層を介してコバルト−クロム系合金磁性層を
形成してなる磁気記録媒体において、該コバルト−クロ
ム系合金磁性層がコバルトを主成分とし、ニッケルを4
0原子%以下、ホウ素を8原子%以下、クロムを26原
子%以下及びタンタルを10原子%以下含有することを
特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項2】 非磁性基板上に、クロムを主成分とする
非磁性下地層及びコバルト−クロム系合金磁性層をスパ
ッタ法により順次形成する磁気記録媒体の製造方法にお
いて、プラズマ電位に対して、該非磁性基板側の電位が
相対的に低くなるようなバイアス電圧を印加した状態
で、コバルトを主成分とし、ニッケルを40原子%以
下、ホウ素を8原子%以下、クロムを26原子%以下及
びタンタルを10原子%以下含むコバルト−クロム系合
金磁性膜を成膜することを特徴とする磁気記録媒体の製
造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1388992 | 1992-01-29 | ||
JP4-13889 | 1992-01-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05274644A true JPH05274644A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=11845764
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5007830A Pending JPH05274644A (ja) | 1992-01-29 | 1993-01-20 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5494722A (ja) |
JP (1) | JPH05274644A (ja) |
Cited By (3)
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US7291409B2 (en) | 2002-03-18 | 2007-11-06 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium using magnetic powder having a core portion and an outer layer portion including a rare earth element and magnetic recording cassette |
US7510790B2 (en) | 2002-09-20 | 2009-03-31 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic powder, method for producing the same and magnetic recording medium comprising the same |
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US6077603A (en) * | 1996-07-03 | 2000-06-20 | Seagate Technology, Inc. | Seeded underlayer in magnetic thin films |
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US6022609A (en) * | 1996-10-02 | 2000-02-08 | Seagate Technology, Inc. | Magnetic recording medium with substantially uniform sub-micron-scale morphology |
JP3799168B2 (ja) * | 1998-08-20 | 2006-07-19 | 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ | 磁気記録再生装置 |
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US6183832B1 (en) | 1998-10-14 | 2001-02-06 | International Business Machines Corporation | CoCrPtB alloys with increased boron content and method of producing same |
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US6709774B2 (en) | 2001-09-18 | 2004-03-23 | International Business Machines Corporation | Magnetic thin film disks with a nonuniform composition |
TWI287318B (en) * | 2005-12-07 | 2007-09-21 | Ind Tech Res Inst | Radio frequency identification (RFID) antenna and fabricating method thereof |
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-
1993
- 1993-01-20 JP JP5007830A patent/JPH05274644A/ja active Pending
- 1993-01-26 US US08/009,002 patent/US5494722A/en not_active Expired - Lifetime
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US7700204B2 (en) | 2003-02-19 | 2010-04-20 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium containing particles with a core containing a FE16N2 phase |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5494722A (en) | 1996-02-27 |
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