JPH05251480A - 電荷電圧変換装置 - Google Patents
電荷電圧変換装置Info
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- JPH05251480A JPH05251480A JP4082707A JP8270792A JPH05251480A JP H05251480 A JPH05251480 A JP H05251480A JP 4082707 A JP4082707 A JP 4082707A JP 8270792 A JP8270792 A JP 8270792A JP H05251480 A JPH05251480 A JP H05251480A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 52
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76816—Output structures
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
- G11C19/282—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements with charge storage in a depletion layer, i.e. charge coupled devices [CCD]
- G11C19/285—Peripheral circuits, e.g. for writing into the first stage; for reading-out of the last stage
Abstract
(57)【要約】
【目的】 変換部のダイナミックレンジを大きくとり、
微量な電荷から多量な電荷まで対応可能とした電荷電圧
変換装置を提供する。 【構成】 フローティングディフュージョン(FD)1
を、MOSトランジスタQ1 によって拡散領域6と結合
させるようにし、MOSトランジスタQ1 の切換えによ
ってフローティングディフュージョン1の容量値を変化
させ、変換部の電荷電圧変換効率を可変とする。
微量な電荷から多量な電荷まで対応可能とした電荷電圧
変換装置を提供する。 【構成】 フローティングディフュージョン(FD)1
を、MOSトランジスタQ1 によって拡散領域6と結合
させるようにし、MOSトランジスタQ1 の切換えによ
ってフローティングディフュージョン1の容量値を変化
させ、変換部の電荷電圧変換効率を可変とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電荷転送部によって転
送されてきた信号電荷を信号電圧に変換する電荷電圧変
換装置に関し、特にフローティングディフュージョン出
力形式やフローティングゲート出力形式の電荷電圧変換
装置に関する。
送されてきた信号電荷を信号電圧に変換する電荷電圧変
換装置に関し、特にフローティングディフュージョン出
力形式やフローティングゲート出力形式の電荷電圧変換
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】CCDイメージャの水平電荷転送部やC
CD遅延素子等において、電荷転送部によって転送され
てきた信号電荷を検出して信号電圧に変換する出力部と
して、フローティングディフュージョン出力形式やフロ
ーティングゲート出力形式の電荷電圧変換装置が用いら
れている。
CD遅延素子等において、電荷転送部によって転送され
てきた信号電荷を検出して信号電圧に変換する出力部と
して、フローティングディフュージョン出力形式やフロ
ーティングゲート出力形式の電荷電圧変換装置が用いら
れている。
【0003】フローティングディフュージョン出力形式
の従来の電荷電圧変換装置では、図5に示すように、プ
リチャージゲート7に正のパルスを印加することによ
り、当該ゲート7を閉じてFD(フローティング拡散)
領域1の電位を、PD(プリチャージドレイン)領域2
に印加されているプリチャージ電圧Vpdにし、次にプリ
チャージゲート7をオフにした状態において、CCD転
送部3によって転送されてきた信号電荷を出力ゲートO
Gを介してFD領域1に注入し、この信号電位の変化を
検出することによって信号電圧を取り出す構成となって
いる。
の従来の電荷電圧変換装置では、図5に示すように、プ
リチャージゲート7に正のパルスを印加することによ
り、当該ゲート7を閉じてFD(フローティング拡散)
領域1の電位を、PD(プリチャージドレイン)領域2
に印加されているプリチャージ電圧Vpdにし、次にプリ
チャージゲート7をオフにした状態において、CCD転
送部3によって転送されてきた信号電荷を出力ゲートO
Gを介してFD領域1に注入し、この信号電位の変化を
検出することによって信号電圧を取り出す構成となって
いる。
【0004】一方、フローティングゲート出力形式の従
来の電荷電圧変換装置では、図6に示すように、CCD
転送部3の転送電極下の基板側にFG(フローティング
ゲート)4を設けるとともに、所定周期のリセットクロ
ックφreset によってMOSトランジスタ5をスイッチ
ング制御することにより、FG4をリセット電圧Vrese
t に周期的にリセットするようにし、FG4下のチャネ
ルを通過する信号電荷の大きさでFG4の電位変化が生
じることを利用して信号電圧を取り出す構成となってい
る。
来の電荷電圧変換装置では、図6に示すように、CCD
転送部3の転送電極下の基板側にFG(フローティング
ゲート)4を設けるとともに、所定周期のリセットクロ
ックφreset によってMOSトランジスタ5をスイッチ
ング制御することにより、FG4をリセット電圧Vrese
t に周期的にリセットするようにし、FG4下のチャネ
ルを通過する信号電荷の大きさでFG4の電位変化が生
じることを利用して信号電圧を取り出す構成となってい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た各従来技術では、変換部の容量が固定となっており、
電荷電圧変換効率の変更ができないので、変換効率を大
きく設計してしまうと、多くの信号電荷が注入された場
合、変換された電圧の振幅が大きくなり過ぎて変換部の
許容最大振幅を越えてしまい、忠実な電荷電圧変換が実
行されず、結果的に、変換部のダイナミックレンジを大
きくとれないという欠点があった。
た各従来技術では、変換部の容量が固定となっており、
電荷電圧変換効率の変更ができないので、変換効率を大
きく設計してしまうと、多くの信号電荷が注入された場
合、変換された電圧の振幅が大きくなり過ぎて変換部の
許容最大振幅を越えてしまい、忠実な電荷電圧変換が実
行されず、結果的に、変換部のダイナミックレンジを大
きくとれないという欠点があった。
【0006】また、多くの信号電荷にも対応できるよう
にするために、変換部の変換効率を小さく設計すると、
逆に信号電荷が少ないときに、変換された電圧の振幅が
小さくなり過ぎてノイズの影響を受け易くなることか
ら、実用上問題となり、この場合にも、変換部のダイナ
ミックレンジを大きくとれないという欠点があった。
にするために、変換部の変換効率を小さく設計すると、
逆に信号電荷が少ないときに、変換された電圧の振幅が
小さくなり過ぎてノイズの影響を受け易くなることか
ら、実用上問題となり、この場合にも、変換部のダイナ
ミックレンジを大きくとれないという欠点があった。
【0007】そこで、本発明は、電荷電圧変換部のダイ
ナミックレンジを大きくとり、微量な電荷から多量な電
荷まで対応可能な電荷電圧変換装置を提供することを目
的とする。
ナミックレンジを大きくとり、微量な電荷から多量な電
荷まで対応可能な電荷電圧変換装置を提供することを目
的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による電荷電圧変
換装置は、電荷転送部によって転送されてきた信号電荷
を出力ゲートを介してフローティング拡散領域に注入
し、信号電圧として取り出すフローティングディフュー
ジョン出力形式のものであって、フローティング拡散領
域に対してチャネル領域を挟んで隣接して形成された少
なくとも1つの拡散領域と、この少なくとも1つの拡散
領域に対してチャネル領域を挟んで隣接して形成されて
リセット電圧が印加されたプリチャージドレイン領域
と、フローティング拡散領域と少なくとも1つの拡散領
域とプリチャージドレイン領域の各領域間のチャネル領
域上に形成された複数のゲート電極とを具備した構成と
なっている。
換装置は、電荷転送部によって転送されてきた信号電荷
を出力ゲートを介してフローティング拡散領域に注入
し、信号電圧として取り出すフローティングディフュー
ジョン出力形式のものであって、フローティング拡散領
域に対してチャネル領域を挟んで隣接して形成された少
なくとも1つの拡散領域と、この少なくとも1つの拡散
領域に対してチャネル領域を挟んで隣接して形成されて
リセット電圧が印加されたプリチャージドレイン領域
と、フローティング拡散領域と少なくとも1つの拡散領
域とプリチャージドレイン領域の各領域間のチャネル領
域上に形成された複数のゲート電極とを具備した構成と
なっている。
【0009】また、本発明による電荷電圧変換装置は、
電荷転送部の転送電極下の基板側に設けられたフローテ
ィングゲートの電位変化を検出することにより、電荷転
送部によって転送されてきた信号電荷を信号電圧として
取り出すフローティングゲート出力形式のものであっ
て、チャネル領域を挟んで互いに隣接して形成されその
一端の領域がフローティングゲートに結合されかつ他端
の領域にリセット電圧が印加された複数の拡散領域と、
これら複数の拡散領域間のチャネル領域上に形成された
複数のゲート電極とを具備した構成となっている。
電荷転送部の転送電極下の基板側に設けられたフローテ
ィングゲートの電位変化を検出することにより、電荷転
送部によって転送されてきた信号電荷を信号電圧として
取り出すフローティングゲート出力形式のものであっ
て、チャネル領域を挟んで互いに隣接して形成されその
一端の領域がフローティングゲートに結合されかつ他端
の領域にリセット電圧が印加された複数の拡散領域と、
これら複数の拡散領域間のチャネル領域上に形成された
複数のゲート電極とを具備した構成となっている。
【0010】
【作用】フローティングディフュージョン出力形式やフ
ローティングゲート出力形式の電荷電圧変換装置におい
て、フローティングディフュージョンやフローティング
ゲートを、単一もしくは複数のスイッチ素子によって単
一もしくは複数の拡散領域と結合させ、少ない電荷が注
入されるときには、電荷電圧変換効率が大きくなるよう
にスイッチ素子を切り換えて、大きな電圧振幅が得られ
るようにし、また多くの電荷が注入されるときには、電
荷電圧変換効率が小さくなるようにスイッチ素子を切り
換えて、最大許容範囲を越えないように電圧振幅を小さ
く抑えるようにする。その結果、変換部のダイナミック
レンジを大きくとれることになるため、微量な電荷から
多量な電荷まで対応可能となる。
ローティングゲート出力形式の電荷電圧変換装置におい
て、フローティングディフュージョンやフローティング
ゲートを、単一もしくは複数のスイッチ素子によって単
一もしくは複数の拡散領域と結合させ、少ない電荷が注
入されるときには、電荷電圧変換効率が大きくなるよう
にスイッチ素子を切り換えて、大きな電圧振幅が得られ
るようにし、また多くの電荷が注入されるときには、電
荷電圧変換効率が小さくなるようにスイッチ素子を切り
換えて、最大許容範囲を越えないように電圧振幅を小さ
く抑えるようにする。その結果、変換部のダイナミック
レンジを大きくとれることになるため、微量な電荷から
多量な電荷まで対応可能となる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1は、フローティングディフュージョン
出力形式のものに適用した本発明の第1の実施例を示す
構成図であり、図(a)は上から見たパターン図、図
(b)はその断面図、図(c)はその等価回路である。
本実施例では、FD領域1に対してチャネル領域を介し
て隣接して拡散領域6が、さらにこの拡散領域6に対し
てチャネル領域を介して隣接してプリチャージドレイン
(PD)領域2がそれぞれ形成され、これら拡散領域
1,6,2間のチャネル領域上に2個のプリチャージゲ
ート7,8が形成されて2個のMOSトランジスタ(ス
イッチ素子)Q1 ,Q2 を構成している。
に説明する。図1は、フローティングディフュージョン
出力形式のものに適用した本発明の第1の実施例を示す
構成図であり、図(a)は上から見たパターン図、図
(b)はその断面図、図(c)はその等価回路である。
本実施例では、FD領域1に対してチャネル領域を介し
て隣接して拡散領域6が、さらにこの拡散領域6に対し
てチャネル領域を介して隣接してプリチャージドレイン
(PD)領域2がそれぞれ形成され、これら拡散領域
1,6,2間のチャネル領域上に2個のプリチャージゲ
ート7,8が形成されて2個のMOSトランジスタ(ス
イッチ素子)Q1 ,Q2 を構成している。
【0012】この2個のMOSトランジスタQ1 ,Q2
をゲートパルスPG1,PG2に基づいて適宜オン/オ
フ制御することにより、変換部の電荷電圧変換効率を切
り換えることができる。すなわち、 最も変換効率を高めたい場合 Q1 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG1でオン/オフ駆動する。 Q2 :常時、オン状態に設定する。 変換効率を低くしたい場合 Q1 :常時、オン状態に設定する。 Q2 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG2でオン/オフ駆動する。
をゲートパルスPG1,PG2に基づいて適宜オン/オ
フ制御することにより、変換部の電荷電圧変換効率を切
り換えることができる。すなわち、 最も変換効率を高めたい場合 Q1 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG1でオン/オフ駆動する。 Q2 :常時、オン状態に設定する。 変換効率を低くしたい場合 Q1 :常時、オン状態に設定する。 Q2 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG2でオン/オフ駆動する。
【0013】2個のMOSトランジスタQ1 ,Q2 を以
上のように設定することにより、変換効率を以下のよう
に切り換えることが可能となる。 最も変換効率を高めたい場合 信号電荷量をQとすると、FD領域1における信号振幅
vH は、
上のように設定することにより、変換効率を以下のよう
に切り換えることが可能となる。 最も変換効率を高めたい場合 信号電荷量をQとすると、FD領域1における信号振幅
vH は、
【数1】vH =Q/C1=Ne- /C1 ここで、Nは電子の数、e- は素電荷(≒1.6×10
-19[C] )、C1はFD領域1の容量である。従って、
変換効率ηH 、即ち、電子1個がFD領域1に入力した
ときに得られる信号振幅は、
-19[C] )、C1はFD領域1の容量である。従って、
変換効率ηH 、即ち、電子1個がFD領域1に入力した
ときに得られる信号振幅は、
【数2】ηH =v/N=e- /C1 となる。
【0014】変換効率を低くしたい場合 上記の場合と同様に考えると、FD領域1における信
号振幅vL は、
号振幅vL は、
【数3】 vL =Q/(C1+C2)=Ne- /(C1+C2) ここで、C2は拡散領域6の容量である。また、変換効
率ηL は、
率ηL は、
【数4】ηL =v/N=e- /(C1+C2) となる。
【0015】以上の説明から明らかなように、
【数5】ηH >ηL となり、外部からプリチャージゲート7,8の端子電圧
PG1,PG2を制御して、2個のMOSトランジスタ
Q1 ,Q2 を適宜オン/オフ制御することにより、2種
類の変換効率を選択することが可能となる。
PG1,PG2を制御して、2個のMOSトランジスタ
Q1 ,Q2 を適宜オン/オフ制御することにより、2種
類の変換効率を選択することが可能となる。
【0016】図2は、フローティングディフュージョン
出力形式のものに適用した本発明の第2の実施例を示す
構成図であり、図(a)は上から見たパターン図、図
(b)はその断面図、図(c)はその等価回路である。
本実施例では、FD領域1に対して2つの拡散領域6,
9がそれぞれチャネル領域を介して隣接して形成され、
さらに外側の拡散領域9に対してチャネル領域を介して
PD領域2が隣接して形成され、これら拡散領域1,
6,9,2間のチャネル領域上に3個のプリチャージゲ
ート7,8,10が形成されて3個のMOSトランジス
タQ1 ,Q2 ,Q3を構成している。
出力形式のものに適用した本発明の第2の実施例を示す
構成図であり、図(a)は上から見たパターン図、図
(b)はその断面図、図(c)はその等価回路である。
本実施例では、FD領域1に対して2つの拡散領域6,
9がそれぞれチャネル領域を介して隣接して形成され、
さらに外側の拡散領域9に対してチャネル領域を介して
PD領域2が隣接して形成され、これら拡散領域1,
6,9,2間のチャネル領域上に3個のプリチャージゲ
ート7,8,10が形成されて3個のMOSトランジス
タQ1 ,Q2 ,Q3を構成している。
【0017】この3個のMOSトランジスタQ1 ,
Q2 ,Q3 をゲートパルスPG1,PG2,PG3に基
づいて適宜オン/オフ制御することにより、変換部の電
荷電圧変換効率を切り換えることができる。すなわち、 最も変換効率を高めたい場合 Q1 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG1でオン/オフ駆動する。 Q2 :常時、オン状態に設定する。 Q3 :常時、オン状態に設定する。 変換効率を中間にしたい場合 Q1 :常時、オン状態に設定する。 Q2 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG2でオン/オフ駆動する。 Q3 :常時、オン状態に設定する。 最も変換効率を低くしたい場合 Q1 :常時、オン状態に設定する。 Q2 :常時、オン状態に設定する。 Q3 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG3でオン/オフ駆動する。
Q2 ,Q3 をゲートパルスPG1,PG2,PG3に基
づいて適宜オン/オフ制御することにより、変換部の電
荷電圧変換効率を切り換えることができる。すなわち、 最も変換効率を高めたい場合 Q1 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG1でオン/オフ駆動する。 Q2 :常時、オン状態に設定する。 Q3 :常時、オン状態に設定する。 変換効率を中間にしたい場合 Q1 :常時、オン状態に設定する。 Q2 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG2でオン/オフ駆動する。 Q3 :常時、オン状態に設定する。 最も変換効率を低くしたい場合 Q1 :常時、オン状態に設定する。 Q2 :常時、オン状態に設定する。 Q3 :従来のゲートパルスPGと全く同じゲートパルス
PG3でオン/オフ駆動する。
【0018】以上のように設定することにより、変換効
率を以下のように切り換えることができる。 最も変換効率を高めたい場合
率を以下のように切り換えることができる。 最も変換効率を高めたい場合
【数6】 vH =Ne- /C1 ηH =e- /C1 変換効率を中間にしたい場合
【数7】 vM =Ne- /(C1+C2) ηM =e- /(C1+C2) 最も変換効率を低くしたい場合
【数8】 vL =Ne- /(C1+C2+C3) ηL =e- /(C1+C2+C3) ここで、C3は拡散領域9の容量である。
【0019】なお、図5に示した従来の構造の場合、先
述したように、変換部の電荷電圧変換効率は切換えが不
可能であり、以下のように一意に決まる。
述したように、変換部の電荷電圧変換効率は切換えが不
可能であり、以下のように一意に決まる。
【数9】 v=Ne- /C η=e- /C ここで、CはFD領域1の容量である。
【0020】図3は、フローティングゲート出力形式の
ものに適用した本発明の第3の実施例を示す構成図であ
り、図(a)は上から見たパターン図、図(b)はその
等価回路である。本実施例では、FG4を所定の周期
(φreset)でリセット電圧Vreset にリセットするため
のスイッチ素子が、チャネル領域を挟んで互いに隣接し
て形成された3個の拡散領域11〜13と、これら拡散
領域11〜13間のチャネル領域上に形成された2個の
ゲート電極14,15とからなり、一端の拡散領域11
がFG4に接続されかつ他端の拡散領域13にリセット
電圧Vreset が印加された2個のMOSトランジスタQ
11,Q12によって構成されている。
ものに適用した本発明の第3の実施例を示す構成図であ
り、図(a)は上から見たパターン図、図(b)はその
等価回路である。本実施例では、FG4を所定の周期
(φreset)でリセット電圧Vreset にリセットするため
のスイッチ素子が、チャネル領域を挟んで互いに隣接し
て形成された3個の拡散領域11〜13と、これら拡散
領域11〜13間のチャネル領域上に形成された2個の
ゲート電極14,15とからなり、一端の拡散領域11
がFG4に接続されかつ他端の拡散領域13にリセット
電圧Vreset が印加された2個のMOSトランジスタQ
11,Q12によって構成されている。
【0021】この2個のMOSトランジスタQ11,Q12
をゲートパルスφreset1,φreset2に基づいて適宜オン
/オフ制御することにより、変換部の電荷電圧変換効率
を切り換えることができる。すなわち、 最も変換効率を高めたい場合 Q11:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset1でオン/オフ駆動する。 Q12:常時、オン状態に設定する。 変換効率を低くしたい場合 Q11:常時、オン状態に設定する。 Q12:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスゲートパルスφresertでオン/オフ駆動する。
をゲートパルスφreset1,φreset2に基づいて適宜オン
/オフ制御することにより、変換部の電荷電圧変換効率
を切り換えることができる。すなわち、 最も変換効率を高めたい場合 Q11:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset1でオン/オフ駆動する。 Q12:常時、オン状態に設定する。 変換効率を低くしたい場合 Q11:常時、オン状態に設定する。 Q12:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスゲートパルスφresertでオン/オフ駆動する。
【0022】2個のMOSトランジスタQ11,Q12を以
上のように設定することにより、変換効率を以下のよう
に切り換えることが可能となる。なお、以下の計算で
は、チャネル容量Cchの値が小さいため無視している
が、この値が大きい場合でも本質的には全く変わりがな
い。 変換効率を高めたい場合 信号電荷量をQとすると、FD領域1における信号振幅
vH は、
上のように設定することにより、変換効率を以下のよう
に切り換えることが可能となる。なお、以下の計算で
は、チャネル容量Cchの値が小さいため無視している
が、この値が大きい場合でも本質的には全く変わりがな
い。 変換効率を高めたい場合 信号電荷量をQとすると、FD領域1における信号振幅
vH は、
【数10】 vH =Q/C11=Ne- /C11 ηH ==e- /C11 となる。ここで、C11は拡散領域11の容量である。 変換効率を低くしたい場合
【数11】 vL =Q/(C11+C12)=Ne- /(C11+C12) ηL =e- /(C11+C12) となる。ここで、C12は拡散領域12の容量である。
【0023】図4は、フローティングゲート出力形式の
ものに適用した本発明の第4の実施例を示す構成図であ
り、図(a)は上から見たパターン図、図(b)はその
等価回路である。本実施例では、第3の実施例の構造に
対して拡散領域16及びゲート電極17を追加すること
によってMOSトランジスタを1個増やし、FG4を所
定の周期(φreset)でリセット電圧Vreset にリセット
するためのスイッチ素子を、3個のMOSトランジスタ
Q11,Q12,Q13によって構成している。
ものに適用した本発明の第4の実施例を示す構成図であ
り、図(a)は上から見たパターン図、図(b)はその
等価回路である。本実施例では、第3の実施例の構造に
対して拡散領域16及びゲート電極17を追加すること
によってMOSトランジスタを1個増やし、FG4を所
定の周期(φreset)でリセット電圧Vreset にリセット
するためのスイッチ素子を、3個のMOSトランジスタ
Q11,Q12,Q13によって構成している。
【0024】この3個のMOSトランジスタQ11,
Q12,Q13をゲートパルスφreset1,φreset2,φrese
t3に基づいて適宜オン/オフ制御することにより、変換
部の電荷電圧変換効率を切り換えることができる。すな
わち、 変換効率を最も高めたい場合 Q11:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset1でオン/オフ駆動する。 Q12:常時、オン状態に設定する。 Q13:常時、オン状態に設定する。 変換効率を中間にしたい場合 Q11:常時、オン状態に設定する。 Q12:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset2でオン/オフ駆動する。 Q13:常時、オン状態に設定する。 変換効率を最も低くしたい場合 Q11:常時、オン状態に設定する。 Q12:常時、オン状態に設定する。 Q13:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset3でオン/オフ駆動する。
Q12,Q13をゲートパルスφreset1,φreset2,φrese
t3に基づいて適宜オン/オフ制御することにより、変換
部の電荷電圧変換効率を切り換えることができる。すな
わち、 変換効率を最も高めたい場合 Q11:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset1でオン/オフ駆動する。 Q12:常時、オン状態に設定する。 Q13:常時、オン状態に設定する。 変換効率を中間にしたい場合 Q11:常時、オン状態に設定する。 Q12:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset2でオン/オフ駆動する。 Q13:常時、オン状態に設定する。 変換効率を最も低くしたい場合 Q11:常時、オン状態に設定する。 Q12:常時、オン状態に設定する。 Q13:従来のゲートパルスφreset と全く同じゲートパ
ルスφreset3でオン/オフ駆動する。
【0025】以上のように設定することにより、変換効
率を以下のように切り換えることができる。なお、以下
の計算では、チャネル容量Cchの値が小さいため無視し
ているが、この値が大きい場合でも本質的には全く変わ
りない。 変換効率を最も高めたい場合
率を以下のように切り換えることができる。なお、以下
の計算では、チャネル容量Cchの値が小さいため無視し
ているが、この値が大きい場合でも本質的には全く変わ
りない。 変換効率を最も高めたい場合
【数12】 vH =Ne- /C11 ηH =e- /C11 変換効率を中間にしたい場合
【数13】 vM =Ne- /(C11+C12) ηM =e- /(C11+C12) 変換効率を最も低くしたい場合
【数14】 vL =Ne- /(C11+C12+C13) ηL =e- /(C11+C12+C13) ここで、C13は拡散領域16の容量である。
【0026】なお、図6に示した従来の構造の場合、先
述したように、変換部の電荷電圧変換効率は切換えが不
可能であり、以下のように一意に決まる。
述したように、変換部の電荷電圧変換効率は切換えが不
可能であり、以下のように一意に決まる。
【数15】 v=Ne- /C η=e- /C ここで、CはFD領域11の容量である。
【0027】なお、上記各実施例においては、従来の構
造に対して拡散領域を1個又は2個追加してMOSトラ
ンジスタを1個又は2個増やした構成の場合について説
明したが、これに限定されるものではなく、拡散領域を
3個以上追加してMOSトランジスタをさらに増やすよ
うにした構成であっても良いことは勿論である。
造に対して拡散領域を1個又は2個追加してMOSトラ
ンジスタを1個又は2個増やした構成の場合について説
明したが、これに限定されるものではなく、拡散領域を
3個以上追加してMOSトランジスタをさらに増やすよ
うにした構成であっても良いことは勿論である。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
フローティングディフュージョンやフローティングゲー
トを、MOSトランジスタ等からなる単一もしくは複数
のスイッチ素子によって単一もしくは複数の拡散領域と
結合させ、これらのスイッチ素子を適宜切り換えること
で、フローティングディフュージョンやフローティング
ゲートの容量値を変化させる構成としたことにより、変
換部の電荷電圧変換効率が可変となるので、変換部のダ
イナミックレンジを大きくとれ、例えばCCDイメージ
ャに適用した場合には、微弱な光量から非常に強い光量
まで対応可能となる効果がある。
フローティングディフュージョンやフローティングゲー
トを、MOSトランジスタ等からなる単一もしくは複数
のスイッチ素子によって単一もしくは複数の拡散領域と
結合させ、これらのスイッチ素子を適宜切り換えること
で、フローティングディフュージョンやフローティング
ゲートの容量値を変化させる構成としたことにより、変
換部の電荷電圧変換効率が可変となるので、変換部のダ
イナミックレンジを大きくとれ、例えばCCDイメージ
ャに適用した場合には、微弱な光量から非常に強い光量
まで対応可能となる効果がある。
【図1】フローティングディフュージョン出力形式に適
用した本発明の第1の実施例を示す構成図であり、図
(a)は上から見たパターン図、図(b)はその断面
図、図(c)はその等価回路である。
用した本発明の第1の実施例を示す構成図であり、図
(a)は上から見たパターン図、図(b)はその断面
図、図(c)はその等価回路である。
【図2】フローティングディフュージョン出力形式に適
用した本発明の第2の実施例を示す構成図であり、図
(a)は上から見たパターン図、図(b)はその断面
図、図(c)はその等価回路である。
用した本発明の第2の実施例を示す構成図であり、図
(a)は上から見たパターン図、図(b)はその断面
図、図(c)はその等価回路である。
【図3】フローティングゲート出力形式に適用した本発
明の第3の実施例を示す構成図であり、図(a)は上か
ら見たパターン図、図(b)はその等価回路である。
明の第3の実施例を示す構成図であり、図(a)は上か
ら見たパターン図、図(b)はその等価回路である。
【図4】フローティングゲート出力形式に適用した本発
明の第4の実施例を示す構成図であり、図(a)は上か
ら見たパターン図、図(b)はその等価回路である。
明の第4の実施例を示す構成図であり、図(a)は上か
ら見たパターン図、図(b)はその等価回路である。
【図5】フローティングディフュージョン出力形式での
従来例を示す構成図であり、図(a)は上から見たパタ
ーン図、図(b)はその断面図、図(c)はその等価回
路である。
従来例を示す構成図であり、図(a)は上から見たパタ
ーン図、図(b)はその断面図、図(c)はその等価回
路である。
【図6】フローティングゲート出力形式での従来例を示
す構成図であり、図(a)は上から見たパターン図、図
(b)はその等価回路である。
す構成図であり、図(a)は上から見たパターン図、図
(b)はその等価回路である。
1 フローティング拡散(FD)領域 2 プリチャージドレイン(PD)領域 3 CCD転送部 4 フローティングゲート(FG)
Claims (3)
- 【請求項1】 電荷転送部によって転送されてきた信号
電荷を出力ゲートを介してフローティング拡散領域に注
入し、信号電圧として取り出すフローティングディフュ
ージョン出力形式の電荷電圧変換装置であって、 前記フローティング拡散領域に対してチャネル領域を挟
んで隣接して形成された少なくとも1つの拡散領域と、 前記少なくとも1つの拡散領域に対してチャネル領域を
挟んで隣接して形成されリセット電圧が印加されたプリ
チャージドレイン領域と、 前記フローティング拡散領域と前記少なくとも1つの拡
散領域と前記プリチャージドレイン領域の各領域間のチ
ャネル領域上に形成された複数のゲート電極とを具備し
たことを特徴とする電荷電圧変換装置。 - 【請求項2】 電荷転送部によって転送されてきた信号
電荷を出力ゲートを介してフローティング拡散領域に注
入し、信号電圧として取り出すフローティングディフュ
ージョン出力形式の電荷電圧変換装置において、 前記フローティング拡散領域に対して少なくとも1つの
容量素子を選択的に並列接続するようにしたことを特徴
とする電荷電圧変換装置。 - 【請求項3】 電荷転送部の転送電極下の基板側に設け
られたフローティングゲートの電位変化を検出すること
により、前記電荷転送部によって転送されてきた信号電
荷を信号電圧として取り出すフローティングゲート出力
形式の電荷電圧変換装置であって、 チャネル領域を挟んで互いに隣接して形成されその一端
の領域が前記フローティングゲートに結合されかつ他端
の領域にリセット電圧が印加された複数の拡散領域と、 前記複数の拡散領域間のチャネル領域上に形成された複
数のゲート電極とを具備したことを特徴とする電荷電圧
変換装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4082707A JPH05251480A (ja) | 1992-03-04 | 1992-03-04 | 電荷電圧変換装置 |
DE69333390T DE69333390T2 (de) | 1992-03-04 | 1993-03-02 | Ladungsspannungsumsetzer |
EP93103320A EP0559155B1 (en) | 1992-03-04 | 1993-03-02 | Charge-to-voltage converter |
US08/789,519 US6310369B1 (en) | 1992-03-04 | 1997-01-27 | Charge-to-voltage converter with adjustable conversion factor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4082707A JPH05251480A (ja) | 1992-03-04 | 1992-03-04 | 電荷電圧変換装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05251480A true JPH05251480A (ja) | 1993-09-28 |
Family
ID=13781880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4082707A Pending JPH05251480A (ja) | 1992-03-04 | 1992-03-04 | 電荷電圧変換装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6310369B1 (ja) |
EP (1) | EP0559155B1 (ja) |
JP (1) | JPH05251480A (ja) |
DE (1) | DE69333390T2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009505498A (ja) * | 2005-08-10 | 2009-02-05 | マイクロン テクノロジー, インク. | 二重変換利得ゲートを介してリセットされるイメージピクセル |
JP2009147067A (ja) * | 2007-12-13 | 2009-07-02 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子及び撮像装置 |
US7772627B2 (en) | 2003-07-15 | 2010-08-10 | Aptina Imaging Corporation | Image sensor with floating diffusion gate capacitor |
JP2012510198A (ja) * | 2008-11-24 | 2012-04-26 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | X線検出器 |
US9338374B2 (en) | 2013-05-13 | 2016-05-10 | Sony Corporation | Solid-state image sensor, method for driving solid-state image sensor, and electronic device |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5736757A (en) * | 1994-07-07 | 1998-04-07 | Massachusetts Institute Of Technology | Charge-domain generation and replication devices |
JPH11150685A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Sony Corp | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びにカメラ |
US6724426B1 (en) * | 1999-03-08 | 2004-04-20 | Micron Technology, Inc. | Multi junction APS with dual simultaneous integration |
JP4686830B2 (ja) * | 2000-08-28 | 2011-05-25 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子及びその駆動方法 |
JP4130307B2 (ja) * | 2001-01-15 | 2008-08-06 | Necエレクトロニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
JP2003014691A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-15 | Horiba Ltd | Ccdセンサ |
JP3711072B2 (ja) * | 2001-12-27 | 2005-10-26 | 富士写真フイルム株式会社 | 撮像装置 |
US7091531B2 (en) * | 2004-04-07 | 2006-08-15 | Micron Technology, Inc. | High dynamic range pixel amplifier |
US8279315B2 (en) | 2005-04-12 | 2012-10-02 | Planmeca Oy | CCD sensor and method for expanding dynamic range of CCD sensor |
US20070285547A1 (en) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Milligan Edward S | CMOS image sensor array optimization for both bright and low light conditions |
US8159585B2 (en) | 2007-05-01 | 2012-04-17 | Omnivision Technologies, Inc. | Image sensor pixel with gain control |
US20110074996A1 (en) * | 2009-09-29 | 2011-03-31 | Shen Wang | Ccd image sensors with variable output gains in an output circuit |
DE102011076635B3 (de) * | 2011-05-27 | 2012-10-18 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Detektor zur Detektion elektromagnetischer Strahlung mit Transfersteuerelektrode und Abflusssteuerelektrode |
US10805567B2 (en) * | 2018-09-13 | 2020-10-13 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imaging pixels with non-destructive readout capabilities |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1116398A (en) | 1964-10-14 | 1968-06-06 | Simplex Wire & Cable Company | Solid dielectric composition |
JPS5946424B2 (ja) * | 1979-08-31 | 1984-11-12 | 松下電器産業株式会社 | 電荷転送素子 |
JPS58130564A (ja) * | 1982-01-29 | 1983-08-04 | Toshiba Corp | コンパレ−タ |
US4435730A (en) * | 1982-03-08 | 1984-03-06 | Rca Corporation | Low noise CCD output |
JPS5952877A (ja) | 1982-09-20 | 1984-03-27 | Fujitsu Ltd | 電荷結合装置 |
JPS6050671A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Nec Corp | 磁気テ−プ処理方式 |
JPS61187368A (ja) * | 1985-02-15 | 1986-08-21 | Toshiba Corp | 電荷転送装置 |
JPS6249653A (ja) * | 1985-08-29 | 1987-03-04 | Toshiba Corp | 電荷転送装置 |
JPH0714048B2 (ja) * | 1986-04-17 | 1995-02-15 | 日本電気株式会社 | 電荷転送素子およびその駆動方法 |
JP2508668B2 (ja) * | 1986-11-10 | 1996-06-19 | ソニー株式会社 | 電荷転送装置 |
JPH084136B2 (ja) * | 1987-12-22 | 1996-01-17 | 日本電気株式会社 | 電荷転送装置 |
US5306932A (en) * | 1989-07-21 | 1994-04-26 | Nec Corporation | Charge transfer device provided with improved output structure |
-
1992
- 1992-03-04 JP JP4082707A patent/JPH05251480A/ja active Pending
-
1993
- 1993-03-02 EP EP93103320A patent/EP0559155B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-03-02 DE DE69333390T patent/DE69333390T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-01-27 US US08/789,519 patent/US6310369B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7772627B2 (en) | 2003-07-15 | 2010-08-10 | Aptina Imaging Corporation | Image sensor with floating diffusion gate capacitor |
JP2009505498A (ja) * | 2005-08-10 | 2009-02-05 | マイクロン テクノロジー, インク. | 二重変換利得ゲートを介してリセットされるイメージピクセル |
JP2009147067A (ja) * | 2007-12-13 | 2009-07-02 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子及び撮像装置 |
JP2012510198A (ja) * | 2008-11-24 | 2012-04-26 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | X線検出器 |
US9338374B2 (en) | 2013-05-13 | 2016-05-10 | Sony Corporation | Solid-state image sensor, method for driving solid-state image sensor, and electronic device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69333390T2 (de) | 2004-11-25 |
US6310369B1 (en) | 2001-10-30 |
DE69333390D1 (de) | 2004-02-26 |
EP0559155B1 (en) | 2004-01-21 |
EP0559155A1 (en) | 1993-09-08 |
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