JPH0521867Y2 - - Google Patents
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- JPH0521867Y2 JPH0521867Y2 JP11740687U JP11740687U JPH0521867Y2 JP H0521867 Y2 JPH0521867 Y2 JP H0521867Y2 JP 11740687 U JP11740687 U JP 11740687U JP 11740687 U JP11740687 U JP 11740687U JP H0521867 Y2 JPH0521867 Y2 JP H0521867Y2
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- JP
- Japan
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- chamber
- wafer
- work coil
- reaction chamber
- susceptor
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- Expired - Lifetime
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- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 18
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 15
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 36
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 5
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は半導体工業におけるCVD装置に係り、
特に反応室構造を縦型のコールドウオール型と
し、かつ高温まで加熱可能な誘導加熱方式を利用
した枚葉式の減圧CVD装置に関する。
特に反応室構造を縦型のコールドウオール型と
し、かつ高温まで加熱可能な誘導加熱方式を利用
した枚葉式の減圧CVD装置に関する。
従来、半導体工業におけるCVD装置の加熱源
としては抵抗加熱、ランプ加熱、誘導加熱方式の
ものが用いられている。
としては抵抗加熱、ランプ加熱、誘導加熱方式の
ものが用いられている。
近年、ウエーハの大口径化に伴いCVD装置は
高品質のCVD膜を生成可能とし期待されている
ウエーハを一枚ずつ処理する枚葉式のCVD装置
へと移行しつつある。
高品質のCVD膜を生成可能とし期待されている
ウエーハを一枚ずつ処理する枚葉式のCVD装置
へと移行しつつある。
ここで高温(600〜1200℃)まで加熱可能でか
つ反応副生成物が反応室内壁に付着しにくいコー
ルドウオール型反応室が要求される場合、抵抗加
熱方式では、このような反応室を提供することが
非常に困難である。
つ反応副生成物が反応室内壁に付着しにくいコー
ルドウオール型反応室が要求される場合、抵抗加
熱方式では、このような反応室を提供することが
非常に困難である。
また、ランプ加熱の場合は光透過用の石英窓に
CVD膜が堆積するため、ウエーハの温度制御が
困難であり、反応室を減圧下にすると熱応力と、
応力が加わるため、コールドウオールを必要とす
る反応室構造では、石英窓の破損と高温までの加
熱ができない等の問題点がある。
CVD膜が堆積するため、ウエーハの温度制御が
困難であり、反応室を減圧下にすると熱応力と、
応力が加わるため、コールドウオールを必要とす
る反応室構造では、石英窓の破損と高温までの加
熱ができない等の問題点がある。
また、誘導加熱方式では、サセプタ延いてはウ
エーハを加熱するため反応室内にワークコイルを
設置し、このワークコイルに高周波電流を流す
と、放電現象が発生するという問題点がある。
エーハを加熱するため反応室内にワークコイルを
設置し、このワークコイルに高周波電流を流す
と、放電現象が発生するという問題点がある。
本考案は誘導加熱方式を採用し、縦型チヤンバ
内をカバーによつて反応室とワークコイル室に2
分し、この反応室をコールドウオール型構造と
し、ワークコイル室を放電を起こさない約数十
Torr〜100Torrの圧力または約10-5Torr以下に
排気し、反応室を数Torr以下の圧力に排気せし
めてワークコイルに通電することにより、放電現
象を防止し反応室内のウエーハを一枚ずつ600℃
以上の高温に加熱してウエーハ表面にCVD膜を
均一に生成することができ、またウエーハをカセ
ツトからカセツトへ自動搬送することが可能な枚
葉式CVD装置を提供しようとするものである。
内をカバーによつて反応室とワークコイル室に2
分し、この反応室をコールドウオール型構造と
し、ワークコイル室を放電を起こさない約数十
Torr〜100Torrの圧力または約10-5Torr以下に
排気し、反応室を数Torr以下の圧力に排気せし
めてワークコイルに通電することにより、放電現
象を防止し反応室内のウエーハを一枚ずつ600℃
以上の高温に加熱してウエーハ表面にCVD膜を
均一に生成することができ、またウエーハをカセ
ツトからカセツトへ自動搬送することが可能な枚
葉式CVD装置を提供しようとするものである。
即ち、本考案装置は第1図示のように、水冷さ
れた縦型チヤンバ15内に石英ワークコイルカバ
ー2を設けて反応室18とワークコイル室19を
形成し、反応室18内をインナベルジヤ6で覆
い、この反応室18を形成するワークコイルカバ
ー2の直上にウエーハ3を載置したサセプタ4を
配置し、ワークコイル室19内にはウエーハ加熱
用のワークコイル1を設けると共に、ワークコイ
ル室19、この室19を形成するワークコイルカ
バー2及びサセプタ4の中心部を貫通しサセプタ
4上のウエーハ3の押上げを図るプツシユプルロ
ツド10を設け、かつ、サセプタ4を回転可能と
した構成としたものである。
れた縦型チヤンバ15内に石英ワークコイルカバ
ー2を設けて反応室18とワークコイル室19を
形成し、反応室18内をインナベルジヤ6で覆
い、この反応室18を形成するワークコイルカバ
ー2の直上にウエーハ3を載置したサセプタ4を
配置し、ワークコイル室19内にはウエーハ加熱
用のワークコイル1を設けると共に、ワークコイ
ル室19、この室19を形成するワークコイルカ
バー2及びサセプタ4の中心部を貫通しサセプタ
4上のウエーハ3の押上げを図るプツシユプルロ
ツド10を設け、かつ、サセプタ4を回転可能と
した構成としたものである。
反応室18を所定の圧力に排気口14より排気
する一方、ワークコイル室19を規定の圧力に排
気口20より排気し、当該圧力に保持する。しか
る後、反応室18内のサセプタ4上のウエーハ3
に平行にガスノズル5より反応ガスを供給しつつ
排気口14より排気し、ワークコイル1に通電す
ることによりサセプタ4を、誘導加熱することに
よりウエーハ3を間接加熱してウエーハ3の表面
にCVD膜を生成する。この場合、サセプタ4を
回転することによりウエーハ3はサセプタ4と共
に回転され均一に加熱されるので、均一なCVD
膜が得られる。また、反応室18は、高純度の石
英インナベルジヤ6で覆われているので、高品質
のCVD膜を得ることができる。
する一方、ワークコイル室19を規定の圧力に排
気口20より排気し、当該圧力に保持する。しか
る後、反応室18内のサセプタ4上のウエーハ3
に平行にガスノズル5より反応ガスを供給しつつ
排気口14より排気し、ワークコイル1に通電す
ることによりサセプタ4を、誘導加熱することに
よりウエーハ3を間接加熱してウエーハ3の表面
にCVD膜を生成する。この場合、サセプタ4を
回転することによりウエーハ3はサセプタ4と共
に回転され均一に加熱されるので、均一なCVD
膜が得られる。また、反応室18は、高純度の石
英インナベルジヤ6で覆われているので、高品質
のCVD膜を得ることができる。
このCVD膜が生成されたウエーハ3を取り出
すには、まず、ワークコイル1への通電を止めウ
エーハを冷却する。次に反応室18内にガスノズ
ル5よりパージガスを供給し、排気口14と9よ
り排気した後、アンローダ室のゲートバルブ17
を開け、次にプツシユプルロツド10を仮想線の
搬送位置まで上昇させてウエーハ3を押し上げ、
しかる後、石英搬送アーム11に移し替えて反応
室18外に搬送する。
すには、まず、ワークコイル1への通電を止めウ
エーハを冷却する。次に反応室18内にガスノズ
ル5よりパージガスを供給し、排気口14と9よ
り排気した後、アンローダ室のゲートバルブ17
を開け、次にプツシユプルロツド10を仮想線の
搬送位置まで上昇させてウエーハ3を押し上げ、
しかる後、石英搬送アーム11に移し替えて反応
室18外に搬送する。
以下図面により本考案の実施例を説明する。
第1図は本考案装置の一実施例を示す簡略縦断
面図である。水冷された縦型チヤンバ(水冷チヤ
ンバ)15内に石英ワークコイルカバー2を設け
て反応室18とワークコイル室19を形成する。
8は石英プレートで、反応室18の一部を形成す
る。反応室18の一部を形成するワークコイルカ
バー2の直上にウエーハ3を載置したサセプタ4
を配置する。7は反応室18の上部に設けられた
覗窓である。反応室18内は石英インナベルジヤ
6により覆われている。
面図である。水冷された縦型チヤンバ(水冷チヤ
ンバ)15内に石英ワークコイルカバー2を設け
て反応室18とワークコイル室19を形成する。
8は石英プレートで、反応室18の一部を形成す
る。反応室18の一部を形成するワークコイルカ
バー2の直上にウエーハ3を載置したサセプタ4
を配置する。7は反応室18の上部に設けられた
覗窓である。反応室18内は石英インナベルジヤ
6により覆われている。
ワークコイル室19内にはウエーハ加熱用の渦
巻き状のワークコイル1をカバー2の上面直下に
設けると共に、ワークコイル室19、この室19
を形成するワークコイルカバー2及び回転可能な
サセプタ4の中心部を貫通しウエーハ3の押上げ
を図るプツシユプルロツド10を設ける。
巻き状のワークコイル1をカバー2の上面直下に
設けると共に、ワークコイル室19、この室19
を形成するワークコイルカバー2及び回転可能な
サセプタ4の中心部を貫通しウエーハ3の押上げ
を図るプツシユプルロツド10を設ける。
5は反応室18内にウエーハ3と平行に反応ガ
スを供給する石英ガスノズル、14と9はこのガ
スノズル5とは反対側に設けられた排気口、20
はワークコイル室19内を排気する排気口であ
る。排気口9は石英プレート8により仕切られた
反応室18下部を排気するためのものである。
スを供給する石英ガスノズル、14と9はこのガ
スノズル5とは反対側に設けられた排気口、20
はワークコイル室19内を排気する排気口であ
る。排気口9は石英プレート8により仕切られた
反応室18下部を排気するためのものである。
上記の構成において反応室18を数Torr以下
の圧力に排気口9と14より排気する一方、ワー
クコイル室19を約十Torrの圧力に排気口20
より排気し、当該圧力に保持する。しかる後、反
応室18内のサセプタ4上のウエーハ3に平行に
ガスノズル5より反応ガスを供給しつつ排気口9
と14より排気し、ワークコイル1に高周波電流
を通電することによりサセプタ4を誘導加熱して
ウエーハ3の表面にCVD膜を生成する。この場
合、サセプタ4を回転することによりウエーハ3
はサセプタ4と共に回転され均一に加熱されるの
で、均一なCVD膜が得られる。また、反応室1
8は、高純度の石英インナベルジヤ6で覆われて
いるので、高品質のCVD膜を得ることができる。
の圧力に排気口9と14より排気する一方、ワー
クコイル室19を約十Torrの圧力に排気口20
より排気し、当該圧力に保持する。しかる後、反
応室18内のサセプタ4上のウエーハ3に平行に
ガスノズル5より反応ガスを供給しつつ排気口9
と14より排気し、ワークコイル1に高周波電流
を通電することによりサセプタ4を誘導加熱して
ウエーハ3の表面にCVD膜を生成する。この場
合、サセプタ4を回転することによりウエーハ3
はサセプタ4と共に回転され均一に加熱されるの
で、均一なCVD膜が得られる。また、反応室1
8は、高純度の石英インナベルジヤ6で覆われて
いるので、高品質のCVD膜を得ることができる。
このCVD膜が生成されたウエーハ3を取り出
すには、まず、ワークコイル1への通電を止めウ
エーハを冷却する。次に反応室18内にガスノズ
ル5よりパージガスを供給し、排気口14と9よ
り排気した後、アンローダ室のゲートバルブ17
を開け、次にプツシユプルロツド10を仮想線の
搬送位置まで上昇させてウエーハ3を押し上げ、
しかる後、石英搬送アーム11に移し替えて反応
室18外に搬送する。
すには、まず、ワークコイル1への通電を止めウ
エーハを冷却する。次に反応室18内にガスノズ
ル5よりパージガスを供給し、排気口14と9よ
り排気した後、アンローダ室のゲートバルブ17
を開け、次にプツシユプルロツド10を仮想線の
搬送位置まで上昇させてウエーハ3を押し上げ、
しかる後、石英搬送アーム11に移し替えて反応
室18外に搬送する。
第2図は本考案装置とローダ室、アンローダ室
との位置関係を示す簡略平面図である。
との位置関係を示す簡略平面図である。
この第2図を用いてウエーハ3の本考案装置に
おける反応室18への搬入と、反応室18よりの
搬出について説明する。
おける反応室18への搬入と、反応室18よりの
搬出について説明する。
まず、反応室18内を排気口14より排気し、
ローダ室12内も排気する。次にローダ側のゲー
トバルブ16を開き、ローダ室12内のカセツト
より取り出したウエーハ3を石英アーム11に載
せて反応室18内に搬入し、プツシユプルロツド
10を上昇させてこのロツド10上に移し、当該
ロツド10を下降させてウエーハ3をサセプタ4
上に移す。
ローダ室12内も排気する。次にローダ側のゲー
トバルブ16を開き、ローダ室12内のカセツト
より取り出したウエーハ3を石英アーム11に載
せて反応室18内に搬入し、プツシユプルロツド
10を上昇させてこのロツド10上に移し、当該
ロツド10を下降させてウエーハ3をサセプタ4
上に移す。
上記のようにウエーハ3の表面にCVD膜を生
成した後、反応室18内のサセプタ4上のウエー
ハ3をプツシユプルロツド10の上昇でこのロツ
ド10上に移す一方、アンローダ側のゲートバル
ブ17を開き、ロツド10上のウエーハ3をアー
ム11に移してアンローダ室13内のカセツトに
収納する。
成した後、反応室18内のサセプタ4上のウエー
ハ3をプツシユプルロツド10の上昇でこのロツ
ド10上に移す一方、アンローダ側のゲートバル
ブ17を開き、ロツド10上のウエーハ3をアー
ム11に移してアンローダ室13内のカセツトに
収納する。
上述のように本考案によれば、水冷された縦型
チヤンバ15内を石英ワークコイルカバー2で反
応室18とワークコイル室19に分離し、各室1
8,19を別々に排気し、ワークコイル室19内
の圧力を放電を起こさない圧力に設定することが
できるので、石英ワークコイルカバー2を破損す
ることなく、被加熱物(サセプタ4とウエーハ
3)のみを高温まで均一に誘導加熱することがで
き、コールドウオール型の反応室とすることがで
きる。
チヤンバ15内を石英ワークコイルカバー2で反
応室18とワークコイル室19に分離し、各室1
8,19を別々に排気し、ワークコイル室19内
の圧力を放電を起こさない圧力に設定することが
できるので、石英ワークコイルカバー2を破損す
ることなく、被加熱物(サセプタ4とウエーハ
3)のみを高温まで均一に誘導加熱することがで
き、コールドウオール型の反応室とすることがで
きる。
また、サセプタ4を回転させることができるの
で、均一なCVD膜を得ることができ、かつこの
プツシユプルロツド10の上昇でウエーハ3を押
し上げることができるので、カセツトからカセツ
トへのウエーハ搬送が可能になるばかりでなく、
反応室18内が高純度の石英インナベルジヤ6等
により覆われているため、高品質のCVD膜を得
ることができる。
で、均一なCVD膜を得ることができ、かつこの
プツシユプルロツド10の上昇でウエーハ3を押
し上げることができるので、カセツトからカセツ
トへのウエーハ搬送が可能になるばかりでなく、
反応室18内が高純度の石英インナベルジヤ6等
により覆われているため、高品質のCVD膜を得
ることができる。
第1図は本考案装置の一実施例を示す簡略縦断
面図、第2図は本考案装置とローダ室、アンロー
ダ室との位置関係を示す簡略平面図である。 1……ワークコイル、2……石英ワークコイル
カバー、3……ウエーハ、4……サセプタ、6…
…石英インナベルジヤ、10……プツシユプルロ
ツド、15……縦型チヤンバ(水冷チヤンバ)、
18……反応室、19……ワークコイル室。
面図、第2図は本考案装置とローダ室、アンロー
ダ室との位置関係を示す簡略平面図である。 1……ワークコイル、2……石英ワークコイル
カバー、3……ウエーハ、4……サセプタ、6…
…石英インナベルジヤ、10……プツシユプルロ
ツド、15……縦型チヤンバ(水冷チヤンバ)、
18……反応室、19……ワークコイル室。
Claims (1)
- 水冷された縦型チヤンバ15内に石英ワークコ
イルカバー2を設けて反応室18とワークコイル
室19を形成し、反応室18内をインナベルジヤ
6で覆い、この反応室18を形成するワークコイ
ルカバー2の直上にウエーハ3を載置したサセプ
タ4を配置し、ワークコイル室19内にはウエー
ハ加熱用のワークコイル1を設けると共に、ワー
クコイル室19、この室19を形成するワークコ
イルカバー2及びサセプタ4の中心部を貫通しサ
セプタ4上のウエーハ3の押上げを図るプツシユ
プルロツド10を設け、かつ、サセプタ4を回転
可能とした枚葉式CVD装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11740687U JPH0521867Y2 (ja) | 1987-07-29 | 1987-07-29 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11740687U JPH0521867Y2 (ja) | 1987-07-29 | 1987-07-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6422025U JPS6422025U (ja) | 1989-02-03 |
JPH0521867Y2 true JPH0521867Y2 (ja) | 1993-06-04 |
Family
ID=31360840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11740687U Expired - Lifetime JPH0521867Y2 (ja) | 1987-07-29 | 1987-07-29 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0521867Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3611780B2 (ja) * | 1992-09-07 | 2005-01-19 | 三菱電機株式会社 | 半導体製造装置 |
JP4232279B2 (ja) * | 1999-07-06 | 2009-03-04 | ソニー株式会社 | 気相成長装置 |
-
1987
- 1987-07-29 JP JP11740687U patent/JPH0521867Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6422025U (ja) | 1989-02-03 |
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