JPH0520502B2 - - Google Patents
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- JPH0520502B2 JPH0520502B2 JP58090296A JP9029683A JPH0520502B2 JP H0520502 B2 JPH0520502 B2 JP H0520502B2 JP 58090296 A JP58090296 A JP 58090296A JP 9029683 A JP9029683 A JP 9029683A JP H0520502 B2 JPH0520502 B2 JP H0520502B2
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Landscapes
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- Silicon Compounds (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、反応室内にSiを含む原料ガスを導入
するとともに原料ガスを分解することにより被成
膜体(導電性基体)上にアモルフアスシリコン膜
を成膜するアモルフアスシリコン成膜装置の改良
に関する。
するとともに原料ガスを分解することにより被成
膜体(導電性基体)上にアモルフアスシリコン膜
を成膜するアモルフアスシリコン成膜装置の改良
に関する。
アモルフアスシリコン(a−Si:H)はその耐
摩耗性、高感度性、無公害性、耐熱性の面で他の
Se,ZnO,CdS等に比べ優れているため、近年電
子写真用感光体として注目を浴びて来た。
摩耗性、高感度性、無公害性、耐熱性の面で他の
Se,ZnO,CdS等に比べ優れているため、近年電
子写真用感光体として注目を浴びて来た。
従来の電子写真用感光体用のアモルフアスシリ
コン成膜装置は第1図に示す構成となつている。
コン成膜装置は第1図に示す構成となつている。
図中1はベースで、このベース1の上面には反
応室2を形成する真空反応容器3が設置されてい
る。さらに、上記真空反応容器3内には円筒状の
対向電極兼用ガス噴出管4が設けられている。
応室2を形成する真空反応容器3が設置されてい
る。さらに、上記真空反応容器3内には円筒状の
対向電極兼用ガス噴出管4が設けられている。
また、上記ベース1上にはモータ5を駆動源と
する歯車機構6を介して所定の速度で回転するタ
ーンテーブル7が設けられ、このターンテーブル
7上には受台8を介して加熱ヒータ9およびこの
加熱ヒータ9に外嵌される状態で被成膜体として
のAl等の導電性のドラム状基体10が載置され
るように構成されている。
する歯車機構6を介して所定の速度で回転するタ
ーンテーブル7が設けられ、このターンテーブル
7上には受台8を介して加熱ヒータ9およびこの
加熱ヒータ9に外嵌される状態で被成膜体として
のAl等の導電性のドラム状基体10が載置され
るように構成されている。
また、上記対向電極兼用ガス噴出管4には高周
波電源などの放電生起用電源11が接続された状
態となつている。
波電源などの放電生起用電源11が接続された状
態となつている。
また、上記対向電極兼用ガス噴出管4のガス通
路4aの下端側に対向する部分にはバルブ12を
備えたガス導入管13が接続されている。さらに
真空反応容器3内はターンテーブル7に穿たれた
排気孔7a……およびベース1に穿たれたガス排
気口1aを介して拡散ポンプ、回転ポンプ等を備
えた高真空排気係(図示しない)が接続されてい
るとともにメカニカルブースターポンプ14a、
回転ポンプ14b等の排気装置14を備えた大流
量排気系15が接続されている。
路4aの下端側に対向する部分にはバルブ12を
備えたガス導入管13が接続されている。さらに
真空反応容器3内はターンテーブル7に穿たれた
排気孔7a……およびベース1に穿たれたガス排
気口1aを介して拡散ポンプ、回転ポンプ等を備
えた高真空排気係(図示しない)が接続されてい
るとともにメカニカルブースターポンプ14a、
回転ポンプ14b等の排気装置14を備えた大流
量排気系15が接続されている。
さらに、大流量排気系15の排気系路16中、
かつ排気装置14よりも上流側に金網17を備え
た活性種捕捉用のダストトラツプ18が設けられ
ている。
かつ排気装置14よりも上流側に金網17を備え
た活性種捕捉用のダストトラツプ18が設けられ
ている。
しかして、予め真空反応容器3内を図示しない
拡散ポンプ、回転ポンプ等の高真空排気系(図示
せず)を用いて10-6torr程度の真空に引く。この
時ドラム状基体10を加熱ヒータ9により150〜
250℃の間の所定の温度に昇温しておく。
拡散ポンプ、回転ポンプ等の高真空排気系(図示
せず)を用いて10-6torr程度の真空に引く。この
時ドラム状基体10を加熱ヒータ9により150〜
250℃の間の所定の温度に昇温しておく。
また円周方向の均一成膜、均一温度を目的とし
て、導電性ドラム状基体10は、所定の周速で回
転運動を行なつている。
て、導電性ドラム状基体10は、所定の周速で回
転運動を行なつている。
ついで、ガスバルブ12を開いて原料ガスとし
てSiH4又はSi2H6等のSiを含むガスあるいはSiを
含むガスと必要に応じてB2H6又はPH3等のガス
混合ガス、あるいは、Siを含むガスとCを含むガ
ス、Nを含むガス、Oを含むガスの混合ガスを真
空反応容器3内の対向電極兼用ガス噴出管4のガ
ス通路4a内へ導入する。そして、同時に図示し
ないバルブ類を切換えて排気系を図示しない拡散
ポンプ、回転ポンプ等を備えた高真空排気系(図
示せず)からメカニカルブースターポンプ14
a、回転ポンプ14b等の排気装置14を備えた
大流量排気系15に切換える。
てSiH4又はSi2H6等のSiを含むガスあるいはSiを
含むガスと必要に応じてB2H6又はPH3等のガス
混合ガス、あるいは、Siを含むガスとCを含むガ
ス、Nを含むガス、Oを含むガスの混合ガスを真
空反応容器3内の対向電極兼用ガス噴出管4のガ
ス通路4a内へ導入する。そして、同時に図示し
ないバルブ類を切換えて排気系を図示しない拡散
ポンプ、回転ポンプ等を備えた高真空排気系(図
示せず)からメカニカルブースターポンプ14
a、回転ポンプ14b等の排気装置14を備えた
大流量排気系15に切換える。
つぎに、図示しない流量コントローラによつて
Siを含むガス又はその他のドーピングガスは所定
の流量になる様調整するとともにメカニカルブー
スターポンプ14aに接続されているバルブ(図
示せず)の開閉によつて、真空反応容器3内の圧
力が0.1〜1torrの間の所定の値になる様設定す
る。
Siを含むガス又はその他のドーピングガスは所定
の流量になる様調整するとともにメカニカルブー
スターポンプ14aに接続されているバルブ(図
示せず)の開閉によつて、真空反応容器3内の圧
力が0.1〜1torrの間の所定の値になる様設定す
る。
一方、対向電極兼用ガス噴出管4のガス通路4
a内に導入されたガスは対向電極兼用ガス噴出管
4の内周面側に形成されたガス噴出口4b……よ
りドラム状基体10に向つて噴き出される。
a内に導入されたガスは対向電極兼用ガス噴出管
4の内周面側に形成されたガス噴出口4b……よ
りドラム状基体10に向つて噴き出される。
そして、こののち高周波電源などの放電生起用
電源11から周波数13.56MHzの高周波電力を
10W〜1KWの間の所定の値で対向電極兼用ガス
噴出管4に印加され、ドラム状基体10と対向電
極兼用ガス噴出管4の間にグロー放電を生起させ
る。
電源11から周波数13.56MHzの高周波電力を
10W〜1KWの間の所定の値で対向電極兼用ガス
噴出管4に印加され、ドラム状基体10と対向電
極兼用ガス噴出管4の間にグロー放電を生起させ
る。
対向電極兼用ガス噴出管4は絶縁リング19に
よつて電気的に絶縁されていて、導電性ドラム状
基体10及び反応容器3等は接地されている。
よつて電気的に絶縁されていて、導電性ドラム状
基体10及び反応容器3等は接地されている。
しかして、Siを含むガス又はSiを含むガスとの
混合ガスのプラズマを生起し、ドラム状基体10
上にアモルフアスシリコン(a−Si:H)の堆積
が開始する。
混合ガスのプラズマを生起し、ドラム状基体10
上にアモルフアスシリコン(a−Si:H)の堆積
が開始する。
なお、この時成膜に寄与しなかつたSiを含むガ
ス又はその他のガスのラジカルは、図示しないメ
カニカルブースターポンプ、回転ポンプ、を備え
た大流量排気系15を介して排出されたのち燃焼
塔、水スクラバーを通過の後、無害化されて大気
中へ廃気される。
ス又はその他のガスのラジカルは、図示しないメ
カニカルブースターポンプ、回転ポンプ、を備え
た大流量排気系15を介して排出されたのち燃焼
塔、水スクラバーを通過の後、無害化されて大気
中へ廃気される。
このような成膜方式でa−Si:H感光体の成膜
を行なう場合、成膜中にSiを含むガスのグロー放
電分解によつて生成した活性種の気相中での反応
はさけられず、粉末状のa−Si:Hが生成する。
を行なう場合、成膜中にSiを含むガスのグロー放
電分解によつて生成した活性種の気相中での反応
はさけられず、粉末状のa−Si:Hが生成する。
a−Si:H感光体ドラムの製造後に、真空反応
容器3中からこれらの粉末状a−Si:Hを除去す
ることなしに、次のa−Si:H感光体ドラムの製
造工程を開始すると、真空反応容器3内を減圧す
る時に、粉末状a−Si:Hが真空反応容器3中に
舞い上がり、導電性ドラム状基体表面に付着す
る。
容器3中からこれらの粉末状a−Si:Hを除去す
ることなしに、次のa−Si:H感光体ドラムの製
造工程を開始すると、真空反応容器3内を減圧す
る時に、粉末状a−Si:Hが真空反応容器3中に
舞い上がり、導電性ドラム状基体表面に付着す
る。
この粉末状a−Si:Hの付着は、a−Si:H感
光体膜のピンホールの原因になり、このようなa
−Si:H感光体を使用した電子写真装置による被
写工程を行うと、ピンホール部分にはコロナ放電
により電荷の蓄積がされず、画像形成が行なわれ
ないいわゆる白抜けが起こる。
光体膜のピンホールの原因になり、このようなa
−Si:H感光体を使用した電子写真装置による被
写工程を行うと、ピンホール部分にはコロナ放電
により電荷の蓄積がされず、画像形成が行なわれ
ないいわゆる白抜けが起こる。
またこのような成膜方式でa−Si:H感光体の
成膜を行なう場合、a−Si:H膜は導電性ドラム
状基体10の表面だけではなく、対向電極兼用ガ
ス噴出管4の表面にも堆積する。この対向電極兼
用ガス噴出管4に堆積したa−Si:Hを除去する
ことなしに次のa−Si:H感光体ドラムの製造工
程を開始すると、a−Si:H感光体の成膜中に、
対向電極兼用ガス噴出管4に堆積したa−Si:H
が剥離し、導電性ドラム状基体10上に付着す
る。
成膜を行なう場合、a−Si:H膜は導電性ドラム
状基体10の表面だけではなく、対向電極兼用ガ
ス噴出管4の表面にも堆積する。この対向電極兼
用ガス噴出管4に堆積したa−Si:Hを除去する
ことなしに次のa−Si:H感光体ドラムの製造工
程を開始すると、a−Si:H感光体の成膜中に、
対向電極兼用ガス噴出管4に堆積したa−Si:H
が剥離し、導電性ドラム状基体10上に付着す
る。
この付着も粉末状a−Si:Hの付着と同様にa
−Si:H感光体膜のピンホールを作り、白抜けの
原因となるといつた問題があつた。
−Si:H感光体膜のピンホールを作り、白抜けの
原因となるといつた問題があつた。
本発明は以上の様な不具合点を改良するために
なされたもので、特性の良好な、たとえば電子写
真用のアモルフアスシリコン感光体ドラムを効率
良く、連続的に製造するための新規なアモルフア
スシリコン成膜装置を提供する事を目的とする。
なされたもので、特性の良好な、たとえば電子写
真用のアモルフアスシリコン感光体ドラムを効率
良く、連続的に製造するための新規なアモルフア
スシリコン成膜装置を提供する事を目的とする。
本発明は、かかる目的を達成するために、真空
条件下においてSiを含む原料ガスを分解して加熱
された被成膜体上にアモルフアスシリコン膜を成
膜するアモルフアスシリコン成膜装置であつて、
環状部材と、この環状部材に取外し可能に重合さ
れた有底円筒状の有底円筒状部材と、この有底円
筒状部材と前記環状部材とで構成される真空反応
容器の内部反応室の気密を保持すべく前記有底円
筒状部材と環状部材との間に設けられたシール部
材と、前記被成膜体を加熱する加熱手段および電
圧を印加することにより前記Siを含む原料ガスを
分解する対向電極を兼用するガス噴出管を備える
とともに前記シール部材を境として前記有底円筒
状部材を取外した状態において前記反応室に対し
挿脱自在な内部ユニツトと、前記有底円筒状部材
と前記環状部材との間に設けられた前記シール部
材を貫通して内部ユニツトの前記ガス噴出管に連
通し前記反応室内に前記Siを含む原料ガスを導入
するガス導入手段と、このガス導入手段を前記内
部ユニツトに対して切離し可能に接続する継手部
材とを具備してなる構成としたものである。
条件下においてSiを含む原料ガスを分解して加熱
された被成膜体上にアモルフアスシリコン膜を成
膜するアモルフアスシリコン成膜装置であつて、
環状部材と、この環状部材に取外し可能に重合さ
れた有底円筒状の有底円筒状部材と、この有底円
筒状部材と前記環状部材とで構成される真空反応
容器の内部反応室の気密を保持すべく前記有底円
筒状部材と環状部材との間に設けられたシール部
材と、前記被成膜体を加熱する加熱手段および電
圧を印加することにより前記Siを含む原料ガスを
分解する対向電極を兼用するガス噴出管を備える
とともに前記シール部材を境として前記有底円筒
状部材を取外した状態において前記反応室に対し
挿脱自在な内部ユニツトと、前記有底円筒状部材
と前記環状部材との間に設けられた前記シール部
材を貫通して内部ユニツトの前記ガス噴出管に連
通し前記反応室内に前記Siを含む原料ガスを導入
するガス導入手段と、このガス導入手段を前記内
部ユニツトに対して切離し可能に接続する継手部
材とを具備してなる構成としたものである。
以下、本発明を第2図および第3図に示す一実
施例を参照して説明する。なお、前述の従来例と
同一部分は同一の符号を付して説明を省略する。
図中3′は真空反応容器であり、この真空反応容
器3′はシール部材としてのOリング20を境と
して環状の下部材3a′と有底筒状の上部材3bと
に2分割された構成となつていて、必要に応じて
上部材3b′を取外すことができるようになつてい
る。
施例を参照して説明する。なお、前述の従来例と
同一部分は同一の符号を付して説明を省略する。
図中3′は真空反応容器であり、この真空反応容
器3′はシール部材としてのOリング20を境と
して環状の下部材3a′と有底筒状の上部材3bと
に2分割された構成となつていて、必要に応じて
上部材3b′を取外すことができるようになつてい
る。
また、第3図に示すように対向電極兼用ガス噴
出管4、加熱ヒータ9、受台8、ターンテーブル
7等の内部ユニツト24は、反応室2内に対して
着脱自在な構成となつている。
出管4、加熱ヒータ9、受台8、ターンテーブル
7等の内部ユニツト24は、反応室2内に対して
着脱自在な構成となつている。
しかして、成膜時においては、まず、被成膜体
である導電性ドラム状基体10を受台8上にセツ
トしたのち、対向電極兼用ガス噴出管4の下端周
縁部を絶縁リング19′の切欠段部19a′に嵌合
させるとともにターンテーブル7の歯部7bにモ
ータ5によつて駆動される歯車2を噛合せる。つ
いで、対向電極兼用ガス噴出管4のガス取入口4
cとガス導入管13とを継手部材である接続ナツ
ト22を介して接続する。
である導電性ドラム状基体10を受台8上にセツ
トしたのち、対向電極兼用ガス噴出管4の下端周
縁部を絶縁リング19′の切欠段部19a′に嵌合
させるとともにターンテーブル7の歯部7bにモ
ータ5によつて駆動される歯車2を噛合せる。つ
いで、対向電極兼用ガス噴出管4のガス取入口4
cとガス導入管13とを継手部材である接続ナツ
ト22を介して接続する。
つぎに、真空反応容器3′の上部材3b′を下部
材3a′上に載置し、第2図に示す状態とする。
材3a′上に載置し、第2図に示す状態とする。
そして、前述の従来例で説明したときと同様の
手順により導電性ドラム状基体10上にa−Si:
H膜を形成させる。
手順により導電性ドラム状基体10上にa−Si:
H膜を形成させる。
導電性ドラム状基体10上にa−Si:H膜が
5μm〜25μm堆積した後でガス導入管13のバル
ブ12を閉じてガスの導入を停止し、図示しない
N2ガス導入部よりN2ガスを導入し真空反応容器
3′内の圧力を1気圧にもどし、Oリング部20
で真空反応容器3′上部材3b′を分解し、第3図
に示すように内部ユニツト24を取り出す。
5μm〜25μm堆積した後でガス導入管13のバル
ブ12を閉じてガスの導入を停止し、図示しない
N2ガス導入部よりN2ガスを導入し真空反応容器
3′内の圧力を1気圧にもどし、Oリング部20
で真空反応容器3′上部材3b′を分解し、第3図
に示すように内部ユニツト24を取り出す。
続いて、内部ユニツト24からa−Si:Hが堆
積された感光体ドラム10を取りはずした後、対
向電極兼用ガス噴出管4の表面に堆積したa−
Si:Hを除去し、また真空反応容器3′内の粉末
状a−Si:Hを除去、清掃する。
積された感光体ドラム10を取りはずした後、対
向電極兼用ガス噴出管4の表面に堆積したa−
Si:Hを除去し、また真空反応容器3′内の粉末
状a−Si:Hを除去、清掃する。
真空反応容器3′と、内部ユニツト24を分離
することにより対向電極兼用ガス噴出管4の表面
に付着したa−Si:H膜と、反応容器3′内で生
成した粉末状a−Si:Hの除去が短時間に効率よ
く完全に行えるので、ピンホールのない良質の感
光体を得ることができる。
することにより対向電極兼用ガス噴出管4の表面
に付着したa−Si:H膜と、反応容器3′内で生
成した粉末状a−Si:Hの除去が短時間に効率よ
く完全に行えるので、ピンホールのない良質の感
光体を得ることができる。
内部ユニツト24を複数個用いることにより、
真空反応容器3′内に生成した粉末状a−Si:H
の除去は短時間に容易に行なえるのでメインテナ
ンス時間を必要とせずに、連続的にa−Si:H感
光体ドラムを製造することができ、単位時間当り
の生産量が増加することになる。
真空反応容器3′内に生成した粉末状a−Si:H
の除去は短時間に容易に行なえるのでメインテナ
ンス時間を必要とせずに、連続的にa−Si:H感
光体ドラムを製造することができ、単位時間当り
の生産量が増加することになる。
なお、本発明は上記実施例に限るものでない。
すなわち、電子写真感光体の成膜用に適用したも
のについて説明したが、これに限らず、たとえば
光電変換部材、太陽電池、薄膜トランジスタ等の
成膜用に適用してもよいことは勿論である。
すなわち、電子写真感光体の成膜用に適用したも
のについて説明したが、これに限らず、たとえば
光電変換部材、太陽電池、薄膜トランジスタ等の
成膜用に適用してもよいことは勿論である。
その他、本発明は本発明の要旨を変えない範囲
で種々変形実施可能なことは勿論である。
で種々変形実施可能なことは勿論である。
本発明は、以上説明したように、本発明によれ
ば、内部が反応室となる真空反応容器の構成部材
である有底円筒状部材をシール部材を境として退
けることで反応室を開放でき、しかも、反応室内
に収容されている内部ユニツトに連通されている
ガス導入手段を継手部材の箇所で内部ユニツトに
対して切離すことで、反応室から内部ユニツトを
極めて容易かつ短時間で取り出すことができる。
ば、内部が反応室となる真空反応容器の構成部材
である有底円筒状部材をシール部材を境として退
けることで反応室を開放でき、しかも、反応室内
に収容されている内部ユニツトに連通されている
ガス導入手段を継手部材の箇所で内部ユニツトに
対して切離すことで、反応室から内部ユニツトを
極めて容易かつ短時間で取り出すことができる。
これにより、真空反応容器の構成部材である有
底円筒状部材や環状部材、および内部ユニツトの
構成部材である電極等に堆積した粉末状アモルフ
アスシリコンの清掃を容易かつ短時間で行うこと
ができ、特性の良好な例えば電子写真用のアモル
フアスシリコン感光体を効率良く、連続的に製造
する事ができるといつた効果を奏する。
底円筒状部材や環状部材、および内部ユニツトの
構成部材である電極等に堆積した粉末状アモルフ
アスシリコンの清掃を容易かつ短時間で行うこと
ができ、特性の良好な例えば電子写真用のアモル
フアスシリコン感光体を効率良く、連続的に製造
する事ができるといつた効果を奏する。
第1図は従来装置の概略的縦断側面図、第2図
は本発明の一実施例を示す概略的縦断側面図、第
3図は同じく、分解状態を示す概略的な縦断側面
図である。 3′……真空反応容器、2……反応室、4……
対向電極兼用ガス噴出管、9……加熱ヒータ、1
0……被成膜体。
は本発明の一実施例を示す概略的縦断側面図、第
3図は同じく、分解状態を示す概略的な縦断側面
図である。 3′……真空反応容器、2……反応室、4……
対向電極兼用ガス噴出管、9……加熱ヒータ、1
0……被成膜体。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 真空条件下においてSiを含む原料ガスを分解
して加熱された被成膜体上にアモルフアスシリコ
ン膜を成膜するアモルフアスシリコン成膜装置で
あつて、 環状部材と、 この環状部材に取外し可能に重合された有底円
筒状部材と、 この有底円筒状部材と前記環状部材とで構成さ
れる真空反応容器の内部反応室の気密を保持すべ
く前記有底円筒状部材と環状部材との間に設けら
れたシール部材と、 前記被成膜体を加熱する加熱手段および電圧を
印加することにより前記Siを含む原料ガスを分解
する対向電極を兼用するガス噴出管を備えるとと
もに前記シール部材を境として前記有底円筒状部
材を取外した状態において前記反応室に対し挿脱
自在な内部ユニツトと、 前記有底円筒状部材と前記環状部材との間に設
けられた前記シール部材を貫通して内部ユニツト
の前記ガス噴出管に連通し前記反応室内に前記Si
を含む原料ガスを導入するガス導入手段と、 このガス導入手段を前記内部ユニツトに対して
切離し可能に接続する継手部材と、 を具備してなることを特徴とするアモルフアスシ
リコン成膜装置。 2 被成膜体が電子写真用感光体の基体であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のアモ
ルフアスシリコン成膜装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9029683A JPS59217615A (ja) | 1983-05-23 | 1983-05-23 | アモルフアスシリコン成膜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9029683A JPS59217615A (ja) | 1983-05-23 | 1983-05-23 | アモルフアスシリコン成膜装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59217615A JPS59217615A (ja) | 1984-12-07 |
JPH0520502B2 true JPH0520502B2 (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=13994569
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9029683A Granted JPS59217615A (ja) | 1983-05-23 | 1983-05-23 | アモルフアスシリコン成膜装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59217615A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2641193B2 (ja) * | 1986-03-20 | 1997-08-13 | キヤノン株式会社 | 堆積膜製造装置 |
CN111465714B (zh) | 2017-12-22 | 2022-06-28 | 株式会社村田制作所 | 成膜装置 |
WO2019124098A1 (ja) | 2017-12-22 | 2019-06-27 | 株式会社村田製作所 | 成膜装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57192258A (en) * | 1981-05-19 | 1982-11-26 | Oki Electric Ind Co Ltd | Film forming apparatus using glow discharge |
JPS5953672A (ja) * | 1982-09-21 | 1984-03-28 | Canon Inc | プラズマcvd装置 |
-
1983
- 1983-05-23 JP JP9029683A patent/JPS59217615A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57192258A (en) * | 1981-05-19 | 1982-11-26 | Oki Electric Ind Co Ltd | Film forming apparatus using glow discharge |
JPS5953672A (ja) * | 1982-09-21 | 1984-03-28 | Canon Inc | プラズマcvd装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59217615A (ja) | 1984-12-07 |
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