JPH05146954A - 薄板状被加工物の側面測定用治具 - Google Patents
薄板状被加工物の側面測定用治具Info
- Publication number
- JPH05146954A JPH05146954A JP3339716A JP33971691A JPH05146954A JP H05146954 A JPH05146954 A JP H05146954A JP 3339716 A JP3339716 A JP 3339716A JP 33971691 A JP33971691 A JP 33971691A JP H05146954 A JPH05146954 A JP H05146954A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpiece
- measurement
- face
- jig
- thin plate
- Prior art date
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- Pending
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- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 研削盤のテーブル上に載置された薄板状被加
工物の側面の測定を正確に、かつ短時間で行う。 【構成】 矩形板状の治具本体１の一方の面に被加工物
３の上面と接触可能な第１基準面４を形成すると共に、
被加工物３の厚さより低く治具本体１の−側縁に沿って
一方の面に設けた突条５の内側に第１基準面４と直交す
る第２基準面６を形成し、かつ治具本体１の一側縁に沿
って他方の面の一側縁付近に立設した測定壁８の外側に
第２基準面６と同一平面上に存する測定面９を形成して
なり、治具本体を被加工物に載せてその上面に第１基準
面を接触させ、かつ突条を被加工物に押し付けてその側
面に第２基準面を接触させることにより、測定面が被加
工物の側面と同一平面上に存する。
工物の側面の測定を正確に、かつ短時間で行う。 【構成】 矩形板状の治具本体１の一方の面に被加工物
３の上面と接触可能な第１基準面４を形成すると共に、
被加工物３の厚さより低く治具本体１の−側縁に沿って
一方の面に設けた突条５の内側に第１基準面４と直交す
る第２基準面６を形成し、かつ治具本体１の一側縁に沿
って他方の面の一側縁付近に立設した測定壁８の外側に
第２基準面６と同一平面上に存する測定面９を形成して
なり、治具本体を被加工物に載せてその上面に第１基準
面を接触させ、かつ突条を被加工物に押し付けてその側
面に第２基準面を接触させることにより、測定面が被加
工物の側面と同一平面上に存する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、グラインディングセン
タ等の研削盤のテーブル上に載置された薄板状被加工物
の位置出しや測長のためにその側面を測定する際に用い
られる治具に関する。
タ等の研削盤のテーブル上に載置された薄板状被加工物
の位置出しや測長のためにその側面を測定する際に用い
られる治具に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、研削盤のテーブル上に載置された
薄板状被加工物の側面をダイヤルゲージ等の測定機器で
測定する際に、被加工物が測定機器で直接測定できない
程薄い場合には、図３に示すように、研削盤のテーブル
１１上に載置された被加工物１２上に高精度のブロック
ゲージ１３を載置し、被加工物１２の側面とブロックゲ
ージ１３の測定面を均一に合わせ、ブロックゲージ１３
の測定面にダイヤルゲージ等の測定子１４を当接して測
定していた。
薄板状被加工物の側面をダイヤルゲージ等の測定機器で
測定する際に、被加工物が測定機器で直接測定できない
程薄い場合には、図３に示すように、研削盤のテーブル
１１上に載置された被加工物１２上に高精度のブロック
ゲージ１３を載置し、被加工物１２の側面とブロックゲ
ージ１３の測定面を均一に合わせ、ブロックゲージ１３
の測定面にダイヤルゲージ等の測定子１４を当接して測
定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の技術においては、被加工物の側面と被加工物に載置
したブロックゲージの測定面とのずれによる測定誤差の
発生を避けることができない。又、被加工物上の所要位
置にブロックゲージをセットするのに時間がかかる問題
がある。そこで、本発明は、側面の測定を正確に、かつ
短時間でなし得る薄板状被加工物の側面測定用治具の提
供を目的とする。
来の技術においては、被加工物の側面と被加工物に載置
したブロックゲージの測定面とのずれによる測定誤差の
発生を避けることができない。又、被加工物上の所要位
置にブロックゲージをセットするのに時間がかかる問題
がある。そこで、本発明は、側面の測定を正確に、かつ
短時間でなし得る薄板状被加工物の側面測定用治具の提
供を目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明の薄板状被加工物の側面測定用治具は、研削
盤のテーブル上に載置された薄板状被加工物の側面を測
定する際に用いる治具であって、矩形板状の治具本体の
一方の面に被加工物の上面と接触可能な第１基準面を形
成すると共に、被加工物の厚さより低く治具本体の一側
縁に沿って一方の面に設けた突条の内側に第１基準面と
直交する第２基準面を形成し、かつ治具本体の一側縁に
沿って他方の面の一側縁付近に立設した測定壁の外側に
第２基準面と同一平面上に存する測定面を形成してなる
ものである。
め、本発明の薄板状被加工物の側面測定用治具は、研削
盤のテーブル上に載置された薄板状被加工物の側面を測
定する際に用いる治具であって、矩形板状の治具本体の
一方の面に被加工物の上面と接触可能な第１基準面を形
成すると共に、被加工物の厚さより低く治具本体の一側
縁に沿って一方の面に設けた突条の内側に第１基準面と
直交する第２基準面を形成し、かつ治具本体の一側縁に
沿って他方の面の一側縁付近に立設した測定壁の外側に
第２基準面と同一平面上に存する測定面を形成してなる
ものである。
【０００５】
【作用】上記手段においては、治具本体を被加工物に載
せてその上面に第１基準面を接触させ、かつ突条を被加
工物に押し付けてその側面に第２基準面を接触させるこ
とにより、測定面が被加工物の側面と同一平面上に存す
る。第１基準面と第２基準面の交差部には、両面の加工
を容易にする逃げを形成することが好ましい。
せてその上面に第１基準面を接触させ、かつ突条を被加
工物に押し付けてその側面に第２基準面を接触させるこ
とにより、測定面が被加工物の側面と同一平面上に存す
る。第１基準面と第２基準面の交差部には、両面の加工
を容易にする逃げを形成することが好ましい。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図１、図２は本発明の一実施例の薄板状被
加工物の側面測定用治具の斜視図、使用状態の正面図で
ある。
て説明する。図１、図２は本発明の一実施例の薄板状被
加工物の側面測定用治具の斜視図、使用状態の正面図で
ある。
【０００７】図中１は矩形板状の治具本体で、その一方
の面（両図においては下面）には、グラインディングセ
ンタ等の研削盤のテーブル２上に載置された薄板状被加
工物３の上面と接触可能な第１基準面４が形成されてい
る。治具本体１の一側縁（図２においては左側縁）に沿
った一方の面には、被加工物３の厚さより低い突条５が
設けられており、この突条５の内側には、第１基準面４
と直交する第２基準面６が形成されている。第１基準面
４と第２基準面６の交差部には、両基準面４，６の研削
加工を容易にするため逃げ７が形成されている。又、治
具本体１の一側縁に沿った他方の面（両図においては上
面）の一側縁付近には、矩形板状の測定壁８が立設され
ており、この測定壁８の外側（図２においては左側）に
は、第２基準面６と同一平面上に存する測定面９が形成
されている。測定壁８は、ダイヤルゲージ等の測定子１
０の当接を可能とする所要高さを有している。
の面（両図においては下面）には、グラインディングセ
ンタ等の研削盤のテーブル２上に載置された薄板状被加
工物３の上面と接触可能な第１基準面４が形成されてい
る。治具本体１の一側縁（図２においては左側縁）に沿
った一方の面には、被加工物３の厚さより低い突条５が
設けられており、この突条５の内側には、第１基準面４
と直交する第２基準面６が形成されている。第１基準面
４と第２基準面６の交差部には、両基準面４，６の研削
加工を容易にするため逃げ７が形成されている。又、治
具本体１の一側縁に沿った他方の面（両図においては上
面）の一側縁付近には、矩形板状の測定壁８が立設され
ており、この測定壁８の外側（図２においては左側）に
は、第２基準面６と同一平面上に存する測定面９が形成
されている。測定壁８は、ダイヤルゲージ等の測定子１
０の当接を可能とする所要高さを有している。
【０００８】上記構成の薄板状被加工物の側面測定用治
具を用い、研削盤のテーブル２上に載置された被加工物
３の側面を測定するには、まず、治具本体１を被加工物
３に載せてその上面に第１基準面４を接触させ、かつ突
条５を被加工物３に押し付けてその側面に第２基準面６
を接触させる。これらの接触により、測定面９が被加工
物３の側面と同一平面上に存するので、ついで、測定面
９に測定子１０を当接して被加工物３の側面の測定を行
う。この測定によって被加工物３の位置出しや測長が可
能となる。
具を用い、研削盤のテーブル２上に載置された被加工物
３の側面を測定するには、まず、治具本体１を被加工物
３に載せてその上面に第１基準面４を接触させ、かつ突
条５を被加工物３に押し付けてその側面に第２基準面６
を接触させる。これらの接触により、測定面９が被加工
物３の側面と同一平面上に存するので、ついで、測定面
９に測定子１０を当接して被加工物３の側面の測定を行
う。この測定によって被加工物３の位置出しや測長が可
能となる。
【０００９】ここで、上述した薄板状被加工物の側面測
定用治具を用いて被加工物の側面の測定に要した時間
は、５分程度で従来のブロックゲージを用いた場合（１
５分程度）の約１／３であり、かつ測定精度も良好であ
った。
定用治具を用いて被加工物の側面の測定に要した時間
は、５分程度で従来のブロックゲージを用いた場合（１
５分程度）の約１／３であり、かつ測定精度も良好であ
った。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、治
具本体を被加工物に載せてその上面に第１基準面を接触
させ、かつ突条を被加工物に押し付けてその側面に第２
基準面を接触させることにより、測定面が被加工物の側
面と同一平面上に存するので、従来技術に比して薄板状
被加工物の側面の測定を正確に、かつ短時間に行うこと
ができる。
具本体を被加工物に載せてその上面に第１基準面を接触
させ、かつ突条を被加工物に押し付けてその側面に第２
基準面を接触させることにより、測定面が被加工物の側
面と同一平面上に存するので、従来技術に比して薄板状
被加工物の側面の測定を正確に、かつ短時間に行うこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の薄板状被加工物の側面測定
用治具の斜視図である。
用治具の斜視図である。
【図２】本発明の一実施例の薄板状被加工物の側面測定
用治具の使用状態の正面図である。
用治具の使用状態の正面図である。
【図３】従来の薄板状被加工物の側面測定手段の説明図
である。
である。
【符号の説明】 １ 治具本体 ４ 第１基準面 ５ 突条 ６ 第２基準面 ８ 測定壁 ９ 測定面
Claims (1)
- 【請求項１】 研削盤のテーブル上に載置された薄板状
被加工物の側面を測定する際に用いる治具であって、矩
形板状の治具本体の一方の面に被加工物の上面と接触可
能な第１基準面を形成すると共に、被加工物の厚さより
低く治具本体の−側縁に沿って一方の面に設けた突条の
内側に第１基準面と直交する第２基準面を形成し、かつ
治具本体の一側縁に沿って他方の面の一側縁付近に立設
した測定壁の外側に第２基準面と同一平面上に存する測
定面を形成してなることを特徴とする薄板状被加工物の
側面測定用治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3339716A JPH05146954A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 薄板状被加工物の側面測定用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3339716A JPH05146954A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 薄板状被加工物の側面測定用治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05146954A true JPH05146954A (ja) | 1993-06-15 |
Family
ID=18330137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3339716A Pending JPH05146954A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 薄板状被加工物の側面測定用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05146954A (ja) |
-
1991
- 1991-11-28 JP JP3339716A patent/JPH05146954A/ja active Pending
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