JPH0119524B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0119524B2 JPH0119524B2 JP679782A JP679782A JPH0119524B2 JP H0119524 B2 JPH0119524 B2 JP H0119524B2 JP 679782 A JP679782 A JP 679782A JP 679782 A JP679782 A JP 679782A JP H0119524 B2 JPH0119524 B2 JP H0119524B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- stage
- scale
- measurement
- micrometer
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 6
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 14
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 3
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
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- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、シーム缶接着層、はんだ缶ラツプ
シツクネスやその他この種の厚みを簡単に測定で
きる厚さ測定装置に関するものである。
シツクネスやその他この種の厚みを簡単に測定で
きる厚さ測定装置に関するものである。
従来のこの種の測定法として、第１図ａ，ｂ，
ｃに示す如く、まず缶胴Ｐの厚さ測定部の測定試
料２′をモデリングシリコンパウンドやエポキシ
樹脂３′に埋込み、固化した後にＡ−Ａ線で切断
し、この切断した測定試料（第１図ｂ）を研摩し
て、その研摩面を投影機にて拡大投影した後、ア
ウトサイド側接着層厚x1（第１図ｃ）を測定する
断面法があるが、手間がかかり、測定時間も長時
間必要で非能率であるばかりか、標本作製の誤差
が生じ易く測定した缶は一部を切断するため製品
として使用できず、コスト高の原因となつてい
た。また、別な測定方法として、第１図に示す測
定位置Ｂを目視で見つけ、たとえば、第２図に示
すアウトサイド側接着層厚x1を求める場合、ポイ
ントマイクロメータのスピンドル４′とアンビル
５′間にアウトサイド側トータル厚みX1を挾み測
定し、その後同マイクロメータで缶胴板厚ｔを測
定して、x1＝X1−2tを計算してx1を測定するポ
イントマイクロメータを用いた測定法があるが、
測定位置決めなどにおいて、不安定要素が多く、
測定誤差を生じ易いために、正確に接着層厚など
を測定することが困難であつた。
ｃに示す如く、まず缶胴Ｐの厚さ測定部の測定試
料２′をモデリングシリコンパウンドやエポキシ
樹脂３′に埋込み、固化した後にＡ−Ａ線で切断
し、この切断した測定試料（第１図ｂ）を研摩し
て、その研摩面を投影機にて拡大投影した後、ア
ウトサイド側接着層厚x1（第１図ｃ）を測定する
断面法があるが、手間がかかり、測定時間も長時
間必要で非能率であるばかりか、標本作製の誤差
が生じ易く測定した缶は一部を切断するため製品
として使用できず、コスト高の原因となつてい
た。また、別な測定方法として、第１図に示す測
定位置Ｂを目視で見つけ、たとえば、第２図に示
すアウトサイド側接着層厚x1を求める場合、ポイ
ントマイクロメータのスピンドル４′とアンビル
５′間にアウトサイド側トータル厚みX1を挾み測
定し、その後同マイクロメータで缶胴板厚ｔを測
定して、x1＝X1−2tを計算してx1を測定するポ
イントマイクロメータを用いた測定法があるが、
測定位置決めなどにおいて、不安定要素が多く、
測定誤差を生じ易いために、正確に接着層厚など
を測定することが困難であつた。
この発明は、基準線が設けられたスケールルー
ペとメカニカルステージにトツププレートを介し
て固定された円弧状の切欠溝が設けられたトツプ
ホルダと該メカニカルステージを左右に駆動する
マイクロメータと２個のスタイラスの先端部がト
ツププレートの孔より突出するように配置された
厚みを測定する電気マイクロメータから構成され
た厚さ測定装置によつて上記の欠点を解決したも
のである。
ペとメカニカルステージにトツププレートを介し
て固定された円弧状の切欠溝が設けられたトツプ
ホルダと該メカニカルステージを左右に駆動する
マイクロメータと２個のスタイラスの先端部がト
ツププレートの孔より突出するように配置された
厚みを測定する電気マイクロメータから構成され
た厚さ測定装置によつて上記の欠点を解決したも
のである。
この発明の図面にもとずいて詳細に説明する。
第４図に示す如く、アングル１の上部にはスケー
ルルーペ取り付け部材２を介して軸３を中心に
90゜実線位置から仮想線位置に回動できるように
スケールルーペ４が取り付けられている。該スケ
ールルーペ４には第３図に示す如く基準線５が設
けられている。アングル１の下部はボルト６によ
つてトツププレート７に固着されている。該トツ
ププレート７上には円弧状の切欠溝８が設けられ
た缶胴Ｐの内径よりわずかに小径のトツプホルダ
９が固着され、一方２個の電気マイクロメータ１
０，１０のそれぞれの先端部に取り付けられたス
タイラス１１，１１がトツププレート７上に突出
するのをさまたげないようにトツププレート７に
孔１２が設けられている。またトツププレート７
はメカニカルステージ１３に固着され、該メカニ
カルステージ１３はマイクロメータ１４によつて
左右に駆動できるように構成されている。上記の
電気マイクロメータ１０、は電気コード１５、に
よつて図示されていない演算機能を有する情報処
理装置と厚さ表示装置などに電気的に接続されて
いる。また、１６は缶胴Ｐの接着層部で、１７，
１８はそれぞれインサイドエツチ及びアウトサイ
ドエツチである。
第４図に示す如く、アングル１の上部にはスケー
ルルーペ取り付け部材２を介して軸３を中心に
90゜実線位置から仮想線位置に回動できるように
スケールルーペ４が取り付けられている。該スケ
ールルーペ４には第３図に示す如く基準線５が設
けられている。アングル１の下部はボルト６によ
つてトツププレート７に固着されている。該トツ
ププレート７上には円弧状の切欠溝８が設けられ
た缶胴Ｐの内径よりわずかに小径のトツプホルダ
９が固着され、一方２個の電気マイクロメータ１
０，１０のそれぞれの先端部に取り付けられたス
タイラス１１，１１がトツププレート７上に突出
するのをさまたげないようにトツププレート７に
孔１２が設けられている。またトツププレート７
はメカニカルステージ１３に固着され、該メカニ
カルステージ１３はマイクロメータ１４によつて
左右に駆動できるように構成されている。上記の
電気マイクロメータ１０、は電気コード１５、に
よつて図示されていない演算機能を有する情報処
理装置と厚さ表示装置などに電気的に接続されて
いる。また、１６は缶胴Ｐの接着層部で、１７，
１８はそれぞれインサイドエツチ及びアウトサイ
ドエツチである。
次にこの発明の厚さ測定装置を使用する測定方
法について述べると、まず、トツプホルダ９に缶
胴１をセツトするがこの際、スケールルーペ４を
第４図の仮想線で示した如く、90゜回動し、缶胴
Ｐの接着層部１６をトツプホルダ９の円弧状の切
欠溝８の中心部に合わせつつ、上方から缶胴Ｐを
トツプホルダ９にセツトする。その後スケールル
ーペ４を90゜回動して元の位置に戻し、上からの
ぞいてスケールルーペ４に設けられた基準線５に
インサイドエツヂ１７が正確に合うように缶胴Ｐ
を回動することによつて缶胴１の初期位置決めを
行なう。また、スケールルーペ基準線５はあらか
じめスタイラス１１，１１の中心よ2.5mm左にず
らしてあるので、この状態でスタイラス１１，１
１は接着層部１６の幅が５mmであるから接着層部
１６の中央部に位置していることになる。
法について述べると、まず、トツプホルダ９に缶
胴１をセツトするがこの際、スケールルーペ４を
第４図の仮想線で示した如く、90゜回動し、缶胴
Ｐの接着層部１６をトツプホルダ９の円弧状の切
欠溝８の中心部に合わせつつ、上方から缶胴Ｐを
トツプホルダ９にセツトする。その後スケールル
ーペ４を90゜回動して元の位置に戻し、上からの
ぞいてスケールルーペ４に設けられた基準線５に
インサイドエツヂ１７が正確に合うように缶胴Ｐ
を回動することによつて缶胴１の初期位置決めを
行なう。また、スケールルーペ基準線５はあらか
じめスタイラス１１，１１の中心よ2.5mm左にず
らしてあるので、この状態でスタイラス１１，１
１は接着層部１６の幅が５mmであるから接着層部
１６の中央部に位置していることになる。
次にマイクロメータ１４の目盛を読みながら、
左又は右に２mm、メカニカルステージ１３を駆動
すると缶胴円周方向測定位置（インサイド又はア
ウトサイドエツヂ１７，１８より0.5mm）がスタ
イラス１１，１１の位置に来ることになり、測定
点の位置決めが完了する。この測定点での電気マ
イクロメータ１０の測定値は電気コード１５に電
気的に接続された演算機能を有する情報処理装置
で演算されてシーム缶などの接着層厚さを迅速に
表示する。
左又は右に２mm、メカニカルステージ１３を駆動
すると缶胴円周方向測定位置（インサイド又はア
ウトサイドエツヂ１７，１８より0.5mm）がスタ
イラス１１，１１の位置に来ることになり、測定
点の位置決めが完了する。この測定点での電気マ
イクロメータ１０の測定値は電気コード１５に電
気的に接続された演算機能を有する情報処理装置
で演算されてシーム缶などの接着層厚さを迅速に
表示する。
この発明の厚さ測定装置は下記の特有な効果を
奏する。
奏する。
(1) ２個のスタイラスを有する電気マイクロメー
タを使用したので缶胴プラグダイアのバラツキ
などに起因する缶胴の接着層部位置の変化や接
着層部と板厚測定部との位置の変化にも簡単に
対応できる。
タを使用したので缶胴プラグダイアのバラツキ
などに起因する缶胴の接着層部位置の変化や接
着層部と板厚測定部との位置の変化にも簡単に
対応できる。
(2) 缶胴の任意の位置の測定をしたり、サイドシ
ーム幅５mmの範囲での最大値、最小値を簡単に
測定することができる。
ーム幅５mmの範囲での最大値、最小値を簡単に
測定することができる。
(3) 上下位置（缶胴軸方向）についても電気マイ
クロメータの設置高さを変えることにより任意
の位置を測定できる。
クロメータの設置高さを変えることにより任意
の位置を測定できる。
(4) 演算機能を有する情報処理装置を設けたこと
によつて接着層厚を換算表などを使用すること
なく簡単に求めることができる。
によつて接着層厚を換算表などを使用すること
なく簡単に求めることができる。
(5) 電気マイクロメータのスタイラスの測定圧は
非常に低いためにポイントマイクロメータに比
べより直値に近い測定ができる。
非常に低いためにポイントマイクロメータに比
べより直値に近い測定ができる。
(6) この発明の厚さ測定装置を使用することによ
つて簡便で正確に測定できるばかりでなく、非
破壊検査のため測定した缶などを製品として使
用できるのでコストダウンが期待できる。
つて簡便で正確に測定できるばかりでなく、非
破壊検査のため測定した缶などを製品として使
用できるのでコストダウンが期待できる。
(7) トツプホルダに円弧状の切欠溝を設け、トツ
ププレートに孔を設けたので電気マイクロメー
タのスタイラスが缶胴や他の部材に接触するこ
となく容易に缶胴の接着層厚を測定できる。
ププレートに孔を設けたので電気マイクロメー
タのスタイラスが缶胴や他の部材に接触するこ
となく容易に缶胴の接着層厚を測定できる。
第１図ａは缶胴の斜視図、第１図ｂは測定試料
の拡大斜視図、第１図ｃは第２図のＡ−Ａ断面拡
大矢視図、第２図はポイントマイクロメータを使
用して厚さを測定する概略図、第３図はスケール
ルーペの概略平面図、第４図はこの発明の装置の
正面図、第５図は第４図の平面図、図中の符号
１：アングル、２：スケールルーペ取り付け部
材、３：軸、４：スケールルーペ、５：基準線、
６：ボルト、７：トツププレート、８：円弧状の
切欠溝、９：トツプホルダ、１０：電気マイクロ
メータ、１１：スタイラス、１２：孔、１３：メ
カニカルステージ、１４：マイクロメータ、１
５：電気コード、１６：接着層部、１７：インサ
イドエツヂ、１８：アウトサイドエツヂである。
の拡大斜視図、第１図ｃは第２図のＡ−Ａ断面拡
大矢視図、第２図はポイントマイクロメータを使
用して厚さを測定する概略図、第３図はスケール
ルーペの概略平面図、第４図はこの発明の装置の
正面図、第５図は第４図の平面図、図中の符号
１：アングル、２：スケールルーペ取り付け部
材、３：軸、４：スケールルーペ、５：基準線、
６：ボルト、７：トツププレート、８：円弧状の
切欠溝、９：トツプホルダ、１０：電気マイクロ
メータ、１１：スタイラス、１２：孔、１３：メ
カニカルステージ、１４：マイクロメータ、１
５：電気コード、１６：接着層部、１７：インサ
イドエツヂ、１８：アウトサイドエツヂである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 測定部の位置合せのための基準線が設けられ
たスケールルーペ、被測定物を嵌合保持するトツ
プホルダを有するステージ、厚み測定用の２個の
スタイラスを有する電気マイクロメータからな
り、前記２個のスタイラスは上記ステージの測定
部位に設けられた孔からステージ面上に突出しか
つ上記トツプホルダに設けられた切欠溝側に位置
し、前記スケールルーペは被測定物を挟んで前記
スタイラスに対面する側に配置されていることを
特徴とする缶胴等の厚さ測定装置。 ２ 上記ステージがメカニカルステージである特
許請求の範囲第１項の缶胴等の厚さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP679782A JPS58124901A (ja) | 1982-01-21 | 1982-01-21 | 缶胴等の厚さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP679782A JPS58124901A (ja) | 1982-01-21 | 1982-01-21 | 缶胴等の厚さ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58124901A JPS58124901A (ja) | 1983-07-25 |
| JPH0119524B2 true JPH0119524B2 (ja) | 1989-04-12 |
Family
ID=11648162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP679782A Granted JPS58124901A (ja) | 1982-01-21 | 1982-01-21 | 缶胴等の厚さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58124901A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108775855B (zh) * | 2018-07-16 | 2021-02-12 | 哈尔滨工业大学 | 一种静态破碎过程中通孔环向应变的测量装置 |
-
1982
- 1982-01-21 JP JP679782A patent/JPS58124901A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58124901A (ja) | 1983-07-25 |
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