JPH05302802A - マイクロメータ - Google Patents

マイクロメータ

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Publication number
JPH05302802A
JPH05302802A JP13617792A JP13617792A JPH05302802A JP H05302802 A JPH05302802 A JP H05302802A JP 13617792 A JP13617792 A JP 13617792A JP 13617792 A JP13617792 A JP 13617792A JP H05302802 A JPH05302802 A JP H05302802A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
micrometer
probe
measured
contact
side wall
Prior art date
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Pending
Application number
JP13617792A
Other languages
English (en)
Inventor
Kyoichi Yamanaka
恭一 山中
Kenro Kimata
賢朗 木俣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP13617792A priority Critical patent/JPH05302802A/ja
Publication of JPH05302802A publication Critical patent/JPH05302802A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定物の表面に当接傷を生じることがな
く,測定作業性に優れた,マイクロメータを提供するこ
と。 【構成】 マイクロメータは,測定子1において,その
側壁13に対して直角な接触平面11を有し,接触平面
11と側壁13との間には曲面状の弧状部12を有して
なる。これにより,接触平面11が被測定物の表面に対
して斜めに位置し,接触しても,測定子1の角部分は弧
状部12を有するので,当接傷を生じることがない。ま
た,接触平面11の面積が小さいため,被測定物の寸法
測定が容易でかつ正確な測定を行うことができるため,
測定作業性に優れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,被測定物に当接傷を生
じることがなく,測定作業性に優れた,マイクロメータ
に関する。
【0002】
【従来技術】図5に示すごとく,マイクロメータ9は,
スピンドル94とアンビル95との間に,各種被測定物
を挟着させて寸法測定を行う,比較的小型の測定器であ
る。測定に当たっては,本体92の内部に配設したネジ
921のピッチ移動をつまみ922の回動により行い,
スピンドル94を移動させる。被測定物としては,図
6,図7に示すプリント配線板8,或いはモジュール基
板(図示略)などがある。プリント配線板8は,端部8
1において,各種金属メッキなどの金属被膜端子部81
1を有する。
【0003】プリント配線板8においては,上記マイク
ロメータ9を用いて,上記金属被膜端子部811の膜厚
みが測定される。そして,その膜厚み精度の良否判定に
より,製品の合否選別が行われる。一方,図4に示すご
とく,上記スピンドル94及びアンビル95の測定子
は,その側壁942,952と接触平面943,953
とが直角状を呈し,両者の間には直角状の角部91を有
する。
【0004】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来技術
には,次の問題点がある。即ち,図4に示すごとく,上
記金属被膜端子部811は,一定の厚みを有する,比較
的軟らかい金属メッキにより形成されている。また,該
金属被膜端子部811の表面にマイクロメータ9の接触
平面943,953を接触させる際に,図4に示すごと
く,該金属被膜端子部811の表面に対して,マイクロ
メータ9の角部91が斜めに当接する場合がある。
【0005】その結果,図8に示すごとく,金属被膜端
子部811の表面に,上記角部91による引っ掻き傷9
8及び三日月状の当接傷99を生じる場合がある。その
理由は,マイクロメータ9により上記表面を挟んだ時に
こじったり,次の測定表面へマイクロメータ9を移す時
に引っ掻く場合を生ずるからである。
【0006】また,上記接触平面943,953が測定
表面に直角に接触しないため,寸法測定のやり直しを生
じ,測定回数が多くなる場合がある。そのため,測定作
業性に優れず,また正確な測定作業を迅速に行うことが
困難である。本発明は,かかる従来の問題点に鑑みてな
されたもので,被測定物の表面に当接傷を生じることが
なく,測定作業性に優れた,マイクロメータを提供しよ
うとするものである。
【0007】
【課題の解決手段】本発明は,マイクロメータの測定子
において,上記測定子はその側壁に対して直角な接触平
面を有し,該接触平面と上記側壁との間には曲面状の弧
状部を有することを特徴とするマイクロメータにある。
本発明において最も注目すべきことは,測定子は側壁に
対して直角な接触平面を有し,接触平面と側壁との間に
曲面状の弧状部を有することである。
【0008】上記接触平面は,測定子の先端部にあり,
被測定物と直接に接触する平面部分である。上記曲面状
の弧状部は,上記接触平面の端部より側壁に連続して延
在する,丸味を帯びた曲面テーパ面である。
【0009】上記測定子としては,マイクロメータの測
定用フレームに配設した,アンビル及びこれと対面する
スピンドル(図5参照)がある。そして,両測定子によ
り被測定物を挟着し,厚み等の寸法測定を行う。上記側
壁とは,上記測定子の外周側面のことである。
【0010】
【作用及び効果】本発明のマイクロメータにおいては,
測定子が接触平面と側壁との間に曲面状の弧状部を有す
る。そのため,測定子が被測定物の測定表面に斜めに接
触しても,被測定物に当接傷を生じることがない。
【0011】また,上記測定子は,上述のごとく弧状部
を有するため,測定子の先端部の接触平面の面積が小さ
くなっている。そのため,被測定物の測定表面に対して
接触平面が斜めに接触しても両測定子によって挟む力に
より被測定物の表面に接触平面が直角に当接する。その
結果,測定操作のやり直しが少なくなり,測定回数が少
なくて済み,測定作業性が向上する。それ故,本発明に
よれば,被測定物の表面に当接傷を生じることがなく,
測定作業性に優れた,マイクロメータを提供することが
できる。
【0012】
【実施例】本発明の実施例にかかるマイクロメータにつ
き,図1〜図3を用いて説明する。本例のマイクロメー
タは,図1,図2に示すごとく,測定子1において,そ
の側壁13に対して直角な接触平面11を有し,接触平
面11と側壁13との間には曲面状の弧状部12を有し
てなる。
【0013】上記接触平面11は,図1に示すごとく,
本体14に設けた測定子1の先端部にあり,被測定物8
(図3参照)と接触する平面部分である。上記弧状部1
2は,図1に示すごとく,上記接触平面11の端部より
側壁13に連続して延在する,丸味を有するテーパ面で
ある。
【0014】上記測定子1は,図3に示すごとく,アン
ビル111及びこれと対面するスピンドル112であ
る。上記側壁13は,上記測定子1の外周側面のことで
ある。次に,作用効果につき説明する。即ち,プリント
配線板8の金属被膜端子部811の膜厚みを測定するに
当たっては,図3に示すごとく,アンビル111とスピ
ンドル112との間に,上記金属被膜端子部811を挟
着する。
【0015】次に,マイクロメータ本体の端部にあるつ
まみ922(図5参照)を回動する。これにより,上記
スピンドル112が矢印方向へ移動する。そして,接触
平面11が上記金属被膜端子部811の測定表面に垂直
に当接する。これにより,容易迅速に,プリント配線板
8の厚み寸法測定を行うことができる。
【0016】上記プリント配線板8は,人手又はホルダ
ーにより固定した状態で,その寸法測定を行う。この
時,プリント配線板8を若干揺動できる状態で保持して
おき,両側から測定子によってプリント配線板8の金属
被膜端子部811を挟着することもできる。これによ
り,接触平面11がプリント配線板8の測定表面におい
て,直角に当接し易い。
【0017】本例のマイクロメータにおいては,測定子
1は,上記接触平面11と側壁13との間に,弧状部1
2を有する。そのため,図3に示すごとく,プリント配
線板8における金属被膜端子部811の測定表面に対し
て,上記弧状部12が斜めに接触しても,金属被膜端子
部811の表面に当接傷を生じることがない。
【0018】また,上記接触平面11は側壁13に対し
て直角で比較的面積が小さくなっている。そのため,上
記接触平面11は,被測定物の測定表面に直角に当接し
易くなる。その結果,測定回数が少なくて済み,測定作
業性に優れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例にかかるマイクロメータの測定子先端部
の斜視図。
【図2】実施例にかかるマイクロメータの測定子先端部
の正面図。
【図3】実施例にかかるマイクロメータの使用状態を示
す側面図。
【図4】従来のマイクロメータの使用状態を示す側面
図。
【図5】従来のマイクロメータの側面図。
【図6】プリント配線板の端部における,寸法測定しよ
うとする金属被膜端子部の平面図。
【図7】上記金属被膜端子部の拡大図。
【図8】上記金属被膜端子部に当接傷が生じた状態を示
す説明図。
【符号の説明】
1...測定子, 11...接触平面, 12...弧状部, 13...側壁, 8...プリント配線板, 811...金属被膜端子部,

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロメータの測定子において,上記
    測定子はその側壁に対して直角な接触平面を有し,該接
    触平面と上記側壁との間には曲面状の弧状部を有するこ
    とを特徴とするマイクロメータ。
JP13617792A 1992-04-27 1992-04-27 マイクロメータ Pending JPH05302802A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13617792A JPH05302802A (ja) 1992-04-27 1992-04-27 マイクロメータ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13617792A JPH05302802A (ja) 1992-04-27 1992-04-27 マイクロメータ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05302802A true JPH05302802A (ja) 1993-11-16

Family

ID=15169134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13617792A Pending JPH05302802A (ja) 1992-04-27 1992-04-27 マイクロメータ

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JP (1) JPH05302802A (ja)

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