JPH05134891A - テスト用プログラムモニタ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】複数のハ−ドウェア入出力装置に対する共通の
処理手順は１つにまとめて行うなどの処理変更を施すこ
とにより、他の処理に影響を与えないように保守性を良
くしたテスト用プログラムモニタ装置を提供する。 【構成】テスト用プログラムを複数の入出力装置に共通
する共通処理ステップと、個別の入出力装置に用いられ
る個別処理ステップとに分割し、各処理ステップはヘッ
ダテ−ブルを参照しながら実行するよう指示するテスト
用プログラム管理手段を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は計算機におけるハ−ドウ
ェア入出力装置を試験するために用いられるテスト用プ
ログラム（以下、「ＴＰ」という）の実行状態を監視す
るテスト用プログラムモニタ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図６は従来のモニタ装置におけるテスト
用プログラムの処理手順を示したフロ−チャ−トであ
る。

【０００３】従来のプログラム処理では、まず各種ハ−
ドウェア入出力装置に付随するパラメ−タ設定処理が行
われる（ステップ６１）。ついでハ−ドウェアの初期化
処理（ステップ６２）、実際にハ−ドウェアを試験する
試験処理（ステップ６３）、ハ−ドウェアの状態を元に
戻す終了処理（ステップ６４）が行われる。そして、こ
のようなステップ６１からステップ６４までの処理手順
が個々のハ−ドウェア入出力装置について各々実行され
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図６に
示す一連のプログラム処理手順では、ハ−ドウェアの試
験自身に仕様変更があった場合に、複数のハ−ドウェア
入出力装置に対して複数のＴＰが存在するため同様の各
処理手順を複数回実行する必要があった。このためプロ
グラムソ−スコ−ドも膨大となり、しかも各処理手順に
追加変更が生じた場合には他の処理手順に対しても変更
が生じるなどの保守性が悪いという欠点があった。

【０００５】本発明は複数のハ−ドウェア入出力装置に
対する共通の処理手順は１つにまとめて行う等の処理変
更を施すことにより、他の処理に影響を与えないように
保守性を良くしたテスト用プログラムモニタ装置を提供
することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明のモニタ装置は、
テスト用プログララムを複数の入出力装置に共通する共
通処理ステップと、個別の入出力装置に用いられる個別
処理ステップとに分割し、前記各処理ステップはヘッダ
テ−ブルを参照しながら実行するよう指示するテスト用
プログラム管理手段を設けたものである。

【０００７】

【作用】本発明ではＴＰの処理構成が標準化され、その
標準構成として標準ヘッダテ−ブルが設けられている。
テスト用プログラム管理手段はこの標準ヘッダテ−ブル
を参照しながら各テスト用プログラムを入出力装置に対
して実行していく。

【０００８】

【実施例】図４は本発明にかかるテスト用プログラムモ
ニタ装置が機能するハ−ドウェア装置の全体構成を示し
たブロック図である。中央処理（プログラムの実行）機
能を持つプロセッサ４１にディスク４２、ディスプレイ
４３、キ−ボ−ド４４、メモリ４５、タ−ゲット入出力
装置４６がバス４７を介して接続された構成となってい
る。

【０００９】ディスク４２はプログラムやデ−タ等を格
納する外部記憶機能を持っている。またディスプレイ４
３はプログラムの実行処理を表示する機能を有してい
る。キ−ボ−ド４４はデ−タの入力機能を、またメモリ
４５はプログラムや各種の演算処理結果を格納する主記
憶機能を持っている。タ−ゲット入出力（Ｉ／Ｏ）装置
４６は、テスト用プログラムによってテストされる入出
力装置である。

【００１０】図５はタ−ゲット入出力装置に対する試験
形態を説明する図で、各々の試験処理単位を示してい
る。試験の処理単位としては、装置を試験する最小単位
の各テスト５１と各テスト５１の任意の集合体としてフ
ェ−ズ５２との２種類で構成される。

【００１１】図１はＴＰの動作する本発明の一実施例に
かかるＴＰ専用モニタの概略構成を示したブロック図で
ある。ＴＰ専用モニタ１０は外部に設けられるディスク
７０、ディスプレイ８０およびキ−ボ−ド９０とそれぞ
れデ−タの授受を行うように構成される。ＴＰ専用モニ
タ１０は、ス−パバイザ１１、ファイル管理部１２、フ
ァイルドライバ１３、コマンドインタプリタ１４、コン
ソ−ル管理部１５、コンソ−ルドライバ１６、プログラ
ム管理部１７、ＴＰ管理部１８から構成されている。

【００１２】ス−パバイザ１１はタスクの生成／管理／
削除およびハ−ドウェア資源管理機能を有している。フ
ァイル管理部１２は任意のファイルフォ−マツトの情報
管理機能を有する。ファイルドライバ１３は、ディスク
７０との間でプログラムやデ−タ等の書き込みおよび読
みだしを実行する。コマンドインタプリタ１４は各種コ
マンドの解析及び実行を行う。コンソ−ル管理部１５は
入力あるいは出力デ−タのチェックを行う。コンソ−ル
ドライバ１６はディスプレイ８０およびキ−ボ−ド９０
との間でデ−タの入出力動作を行う。プログラム管理部
１７は各プログラム処理の状態情報を管理する。ＴＰ管
理部１８は本発明により設けられたもので、後述するＴ
Ｐの実行管理を行う。

【００１３】図２は図１に示すＴＰ管理部１８とＴＰと
のインタフェ−スおよびＴＰ独自の標準構成を示した図
である。ＴＰ管理部１８はＴＰの標準構成２０を参照し
ながら各種処理ステップを実行する。ＴＰの標準構成２
０は標準ヘッダテ−ブル２１、パラメ−タ入力処理２
２、フェ−ズ内共通／フェ−ズ内個別／テスト個別の各
入力処理を行うパラメ−タ入力処理２２、ハ−ドウェア
入出力装置の初期化処理を行うイニシエ−タ処理２３、
ハ−ドウェア入出力装置の終了処理を行うタ−ミネ−タ
処理２４および実際の試験処理２５から構成される。

【００１４】図３は標準ヘッダテ−ブルの構成を示した
図で、図５に示す試験形態、図２に示すＴＰ独自の標準
構成および図１に示すＴＰ管理部１８が処理するための
情報等に伴うテ−ブルの構成を示している。標準ヘッダ
テ−ブルはＴＰ管理部１８が制御の受渡しを行うための
ポインタ（アドレス）情報を持っており、ＴＰ実行時に
ＴＰ管理部１８がその情報を全て写し取り、ＴＰの管理
情報とする。最上部のヘッダテ−ブル３１はフェ−ズ定
義ポインタテ−ブルのポインタおよびＴＰのメモリマッ
プ用のマップテ−ブルポインタおよびＴＰの現状のバ−
ジョン番号を格納している。

【００１５】フェ−ズ定義ポインタテ−ブル３２はフェ
−ズの数および各フェ−ズ定数テ−ブルポインタをそれ
ぞれ格納している。さらにフェ−ズ定義テ−ブル３３は
フェ−ズ数だけ存在し、テスト数、共通パラメ−タ入力
処理ポインタおよび各テスト定義テ−ブルのポインタデ
−タを持つ。テスト定義テ−ブル３４は、テストのポイ
ンタおよびパラメ−タ有無の定義、個別パラメ−タの入
力処理ポインタ、会話有無定義、前会話デ−タテ−ブル
ポインタ、後会話デ−タテ−ブルポインタを有してい
る。マップテ−ブル３５はＴＰ処理タスクポインタ、Ｔ
Ｐ処理タスクＩＤのデ−タを有している。

【００１６】なおヘッダテ−ブル３１内のバ−ジョン番
号がＴＰ実行開始時にディスプレイに表示されるバ−ジ
ョンデ−タとして使われる。さらにテスト定義テ−ブル
２４中の前／後会話デ−タテ−ブルはＴＰ実行開始／終
了時のＴＰ操作員に対する確認のための会話デ−タであ
る。マップテ−ブル３５中のＴＰ処理タスクポインタは
ＴＰ実行時のＴＰのメモリ上の割付けアドレスが格納さ
れる領域である。またＴＰ処理タスクＩＤはＴＰ実行時
のＴＰ管理番号である。

【００１７】次にＴＰの動作を説明する。まず図４に示
すディスク４２から図１に示すＴＰ専用モニタ１０が読
みだされ、メモリ４５上に展開される。図４のキ−ボ−
ド４４からＴＰの実行命令が入力されると、図１に示す
コンソ−ルドライバ１６、コンソ−ル管理部１５、コマ
ンドインタプリタ１４、ス−パバイザ１１およびプログ
ラム管理部１７により実行命令が解析され、ＴＰ管理部
１８にＴＰの実行指示を促す。

【００１８】ＴＰ管理部１８は図２に示すＴＰの標準構
成２０の全ての情報を読みだす。さらに、実行指示に従
い図３のヘッダテ−ブル３１、フェ−ズ定義ポインタテ
−ブル３２、フェ−ズ定義テ−ブル３３、テスト定義テ
−ブル３４およびマップテ−ブル３５の情報を参照して
ＴＰの標準構成２０中のパラメ−タ入力処理２２、イニ
シエ−タ処理２３、タ−ミネ−タ処理２４および試験処
理２５を必要に応じて実行する。

【００１９】図５に示すタ−ゲット入出力装置へのフェ
−ズ５２の実行を行う場合には、図３のヘッダテ−ブル
３１中のフェ−ズテ−ブルポインタからフェ−ズ定義ポ
インタテ−ブル３２を参照し、このフェ−ズ定義ポイン
タテ−ブル３２により指定されたフェ−ズ定義ポインタ
を参照して、フェ−ズ定義テ−ブル３３中の共通パラメ
−タ入力処理ポインタやテスト定義ポインタ等を参照
し、さらにテスト定義テ−ブル３４中のテストポインタ
等を参照しながら実際のプログラムを処理する。

【００２０】これら一連の処理は全て図１に示すＴＰ管
理部１８が図２に示すＴＰの標準構成２０とのソフトウ
エア割込みにより実行及び終了の指示および応答を行っ
ている。このように全てのＴＰの処理が図３に示すテ−
ブル３１〜３４を参照することにより行われている。

【００２１】

【発明の効果】以上実施例に基づいて詳細に説明したよ
うに、本発明では各種ＴＰの各処理の実行管理を一つの
ＴＰ専用モニタの機能で実現したため、各ＴＰ毎にＴＰ
の各処理を実行する処理がなくなった。このためＴＰの
プログラムソ−スコ−ドを縮小することが可能となる。
またＴＰ用にプログラム構成やデ−タ処理テ−ブルを標
準化し、かつ各ＴＰ処理時間およびＴＰ処理とＴＰ専用
モニタ間の独立化を実現したためＴＰの処理変更があっ
ても他の処理の変更が不要となるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例にかかるＴＰ専用モニタの概
略構成を示すブロック図。

【図２】本発明のＴＰ管理部とＴＰとのインタフェ−ス
およびＴＰ独自の標準構成を示す図。

【図３】本発明にかかる標準ヘッダテ−ブルの構成を示
す図。

【図４】本発明が機能するハ−ドウェアの全体構成を示
すブロック図。

【図５】タ−ゲット入出力装置に対する試験形態を示す
図。

【図６】従来の装置におけるテスト用プログラムの処理
手順を示すフロ−チャ−ト。

【符号の説明】

１０ ＴＰ専用モニタ １７ プログラム管理部 １８ ＴＰ管理部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】入出力装置の試験を行うためのテスト用プ
   ログラムの実行状態を監視するテスト用プログラムモニ
   タ装置において、 前記テスト用プログラムを複数の入出力装置に共通する
   共通処理ステップと、個別の入出力装置に用いられる個
   別処理ステップとに分割し、 前記各処理ステップはヘッダテ−ブルを参照しながら実
   行するよう指示するテスト用プログラム管理手段を設け
   たことを特徴とするテスト用プログラムモニタ装置。