JPH05120741A - 情報処理装置 - Google Patents

情報処理装置

Info

Publication number
JPH05120741A
JPH05120741A JP30387591A JP30387591A JPH05120741A JP H05120741 A JPH05120741 A JP H05120741A JP 30387591 A JP30387591 A JP 30387591A JP 30387591 A JP30387591 A JP 30387591A JP H05120741 A JPH05120741 A JP H05120741A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recording
scanning
recording medium
information
reproducing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP30387591A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3044417B2 (ja
Inventor
Akihiko Yamano
明彦 山野
Kunihiro Sakai
邦裕 酒井
Takahiro Oguchi
高弘 小口
Shunichi Shito
俊一 紫藤
Katsunori Hatanaka
勝則 畑中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP3303875A priority Critical patent/JP3044417B2/ja
Publication of JPH05120741A publication Critical patent/JPH05120741A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3044417B2 publication Critical patent/JP3044417B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 STMの原理を応用した情報処理装置におい
て、情報を記録再生する際の精度の向上、S/Nの向
上、装置としての簡略化を達成することにある。 【構成】 記録媒体とプローブ電極を相対的に移動する
移動手段及び該移動を制御する制御手段とを少なくとも
有する情報処理装置において、プローブ電極と記録媒体
の間隔を制御する制御手段のサンプルタイミングが、プ
ローブ電極と記録媒体との間における記録媒体面方向の
相対走査手段の制御クロックと同期制御される回路を有
し、かつ該走査に対応した所定期間のみの信号情報から
記録媒体の傾き情報を算出する演算回路を有する情報処
理装置、を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば走査型トンネル
顕微鏡等の技術を応用した情報処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、メモリ材料の用途は、コンピュー
タ及びその関連機器、ビデオディスク、デジタルオーデ
ィオディスク等のエレクトロニクス産業の中核をなすも
のであり、その材料開発も極めて活発に進んでいる。か
かるメモリ材料に要求される性能は用途により異なる
が、記録再生の応答速度が早いことは必要不可欠であ
る。
【0003】従来までは、磁性体や半導体を素材とした
半導体メモリや磁気メモリが主であったが、近年レーザ
ー技術の進展に伴い、有機色素、フォトポリマーなどの
有機薄膜を用いた光メモリによる安価で高密度な記録媒
体が登場してきた。
【0004】一方、最近、導体の表面面原子の電子構造
を直接観察できる走査型トンネル顕微鏡(以後、STM
と略す)が開発され[G.Binnig et.a
l.,Phys.Rev.Lett,49,57(19
82)]、単結晶、非晶質を問わず実空間像の高い分解
能の測定ができるようになり、しかも電流による損傷を
試料に与えることなく低電力で観測できる利点も有し、
更に大気中でも動作し種々の材料に対して用いることが
できるため、広範囲な応用が期待されている。
【0005】このSTMは、金属の探針(プローブ電
極)と導電性物質間に電圧を加えて1nm程度の距離ま
で近づけるとトンネル電流が流れることを利用してい
る。この電流は両者の距離変化に指数関数的に応答する
ため非常に敏感である。トンネル電流を一定に保つよう
に探針を走査することにより、実空間の全電子雲に関す
る種々の情報をも読み取ることができる。この際、面内
方向の分解能は0.1nm程度である。
【0006】したがって、STMの原理を応用すれば十
分に原子オーダー(サブ・ナノメートル)での高密度記
録再生を行うことが可能である。例えば、特開昭61−
80536号公報に開示されている情報処理装置では、
電子ビーム等によって媒体表面に吸着した原子粒子を取
り除き書き込みを行い、STMによりこのデータを再生
している。また米国特許第4,575,822号明細書
に開示されているように、記録媒体表面とプローブ電極
との間に流れるトンネル電流を用いて、媒体表面に形成
された誘電体層に電荷を注入し記録する。あるいは、レ
ーザー光、電子ビーム、粒子線等を用いて媒体表面の物
理的な崩壊によって記録する方法が提案されている。記
録層として電圧電流のスイッチング特性に対してメモリ
効果を持つ材料、例えば共役π電子系有機化合物やカル
コゲン化合物類の薄膜層を用いて、記録・再生をSTM
で行う方法が提案されている[特開昭63−16155
2号公報、特開昭63−161553号公報]。この方
法によれば、記録のビットサイズを10nmとすれば、
1012bit/cm2 もの大容量記録再生が可能であ
る。これらの情報処理装置でのプローブ電極と記録媒体
の距離制御に関しては、特開平2−5339号公報等に
開示されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】情報処理装置ではプロ
ーブ電極と記録媒体の間に電流が流れるまでの距離に両
者を近接させ、その電流の流れた状態を保ったままでプ
ローブ電極を記録媒体面内方向に走査し、記録媒体表面
の凹凸および電子状態の変動に伴う電流量の増減に対応
して距離制御している。
【0008】従来の発明では、記録媒体とプローブ電極
の間隔を図4のブロック図で表わされる様な回路が使用
され、電流信号の低周波成分を抽出しその情報を記録媒
体の傾き情報として制御し、電極と記録媒体の距離を制
御している。このような制御では、図5のようにエリア
走査によって情報の記録再生を行う場合には全走査期間
の信号を低周波通過フィルターを通して傾き情報として
いるため、X軸走査信号図6に対して記録媒体傾き情報
は図7の様になる。図中の補助線に示すように走査の端
点付近では実際の基盤傾きからの誤差が大きくなり(斜
線部分)プローブ記録媒体間の距離制御の精度が劣化し
ていた。
【0009】また、記録情報の低周波成分が傾き情報に
影響するため、記録の変調方式にNRZ方式等を選択す
るなどの配慮が必要となり、装置の応用面を狭める原因
となっていた。
【0010】すなわち、本発明の目的とするところは、
情報等を記録再生する際の精度の向上を図ると共に、装
置としての簡略化をも達成し得る情報処理装置を提供す
ることにある。
【0011】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するための本発明の構成は、記録媒体とプローブを相対
的に移動する移動手段及び該移動を制御する制御手段と
を少なくとも有する情報処理装置において、プローブと
記録媒体の間隔を制御する制御手段のサンプルタイミン
グが、プローブと記録媒体との間における記録媒体面方
向の相対走査手段の制御と同期制御され、かつ該走査に
対応した所定期間のみの信号情報から記録媒体の傾き情
報を算出する演算回路を有する情報処理装置、としてい
る点にある。
【0012】
【実施例】以下の実施例では傾き検出に用いるトンネル
電流信号をX方向走査の向きごとに区別して使用し、ま
た走査端付近での比較的周波数の高い信号成分を除去す
ることで走査領域全般にわたって精度の高いプローブ記
録媒体間距離制御を行えるものである。
【0013】本発明の記録媒体に用いる記録層は、プロ
ーブ電極と記録媒体の間の電流電圧特性に対してメモリ
効果を有するものであれば良い。例えば、表面に凹凸を
形成し記録するものではHOPG(Highly−Or
iented−Pyrolithic−Graphit
e)劈開基板、Siウエハー、真空蒸着またはエピタキ
シャル成長させたAu,Ag,Pt,Mo,Cuなどの
金属薄膜、Rh25Zr75、Co35Tb65などの
ガラス金属が挙げられる。表面の電子状態により記録す
るものではアモルファスSi,π電子系有機化合物やカ
ルコゲン化合物類の薄膜層等が挙げられる。
【0014】以下、本発明を実施例にて具体的に説明す
る。
【0015】(実施例1)図1に示すのは、本発明に係
る情報処理装置の構成ブロック図である。本図中、10
1はステージ、102は下部電極層、103は記録層、
104は記録媒体表面に形成されたトラック溝、105
はプローブ電極、106は円筒型のPZTアクチュエー
タで、プローブ電極105を記録媒体上のデータ列に沿
って走査するためのもので、X、Y、及びZ方向にそれ
ぞれ2μmまで移動できる。
【0016】プローブ電極105は電流アンプ107に
接続される。電流アンプ107の出力はコンパレータ1
08、高域通過フィルター110、誤差増幅器112に
接続される。誤差増幅器の出力は傾き情報演算装置11
1に入力される。傾き情報演算装置の出力はサンプルホ
ールド回路109を介して円筒型PZTのΔZ駆動電極
と減衰器VR2を通じてコンパレータ113とに入力さ
れる。高域通過フィルターの出力はコンパレータ113
のもう一方の入力に接続される。さらに、コンパレータ
113の出力はデータ変復調部114のデータ復調器に
入力される。データ変復調部のデータ変調出力はパルス
発生器115に接続され、DCバイアス電圧VB1と合
成して記録媒体電極に接続される。
【0017】プローブ電極と記録媒体表面との距離の制
御は、トンネル電流の電圧変換した値を誤差増幅器11
2により基準電圧VB2と比較し、傾き情報演算装置1
11によって傾き情報のみを算出し円筒型PZTをΔZ
駆動する。実際には図2中A線に示す様な検出電流信号
の走査端付近のデータを切り捨てた図2中a点からb点
の間のデータから傾き情報図2中B線を得る。そしてそ
のB線に示す様な、位置に応じて増加あるいは減少する
信号を次のラインの走査時にZ方向のPZTの制御信号
に加算する。
【0018】この制御により、プローブ電極は記録媒体
の傾きに追従するように走査しながら記録又は再生動作
をする。これを交互に繰り返す。即ち第1回目の走査で
傾き検出し、第2回目の走査で上記追従を行なわせなが
ら記録又は再生を行なう、という2段階走査を繰り返
す。傾き情報演算装置は入力をA/D変換しデジタルシ
グナルプロセッサ(DSP)で傾き情報を演算し出力時
にD/A変換している。
【0019】次に、再生時における動作を説明する。プ
ローブ電極により検出されたトンネル電流は107の電
流アンプにより増幅された後、高域通過フィルターによ
り高域周波数成分すなわちデータ情報成分を抽出し、コ
ンパレータ113によりデータ列のエンベロープ信号を
適当に減衰した電圧をスライスレベルとして2値化デー
タを得る。
【0020】続いて、記録時における動作を用いて説明
する。サンプルホールド制御信号をデータ書込みクロッ
クに同期してホールド状態とし、サンプルホールド回路
109を通過するZ方向の制御信号が記録電圧印加時に
のみ、定値となる様にした状態でパルス発生器115よ
り書込みパルスを発生させる。その為記録電圧印加時に
はプローブ電極のZ方向の移動が停止する。このサンプ
ルホールド回路は再生時にはスルー状態となる。
【0021】記録再生時にはエッジ検出信号はアップダ
ウンカウンタを強制的にアップカウント動作に切換え
る。さらに、一定カウント値アップカウントした後、再
びダウンカウントに切換える。
【0022】トラッキング制御部116はアップダウン
カウンタ117及び、D/Aコンバータ118を介して
円筒型PZTアクチュエータ106を駆動する。アップ
ダウンカウンタ117のアップ入力にはエッジ検出用の
コンパレータ113の出力とトラッキング制御部からの
トラック移動STATUS信号とのAND出力をトラキ
ング制御部からのアップ制御信号とのORをとり接続す
る。
【0023】一方、アップダウンカウンタ117のダウ
ン入力にはトラッキング制御部のダウン制御信号を接続
する。アップダウンカウンタのカウント出力はD/A変
換器118によりアナログ電圧に変換され往復運動が行
なわれる様に円筒型PZTをΔX駆動する。さらに、D
/A変換器118の出力は走査方位制御信号で制御され
る可変抵抗VR1と抵抗R1を介してトラッキング制御
部からのウォブリング信号と合成され、円筒型PZTを
往復運動が行なわれる様にΔY駆動する。これによっ
て、例えば図5に示される様な走査が行なわれる。前述
の1回目の傾き検出用走査と2回目の追従走査はこのΔ
X往復運動中の同じ方向の走査として行なわれる。これ
は往復動の往動で傾き検出をして復動で追従と記録又は
再生を行なう様にしても良い。この場合制御信号に加算
される信号はB線とは左右逆になる。
【0024】トンネル電圧信号はエッジ検出用コンパレ
ータによりスレッショルド電圧VB1と比較しトンネル
電圧信号がVB1を下回った時をプローブ電極がトラッ
ク溝の凹エッジに接近した時として、プローブ電極がエ
ッジに接近するのを検出する。
【0025】プローブ電極の走査方位は走査方位制御信
号により可変抵抗VR1を変化させ円筒型PZTアクチ
ュエータ106のΔX/ΔYの駆動比を変えて行う。ま
た適正走査方位の検出は、ウォブリング電圧をΔY駆動
し、このときのトンネル電圧のエンベロープ信号をモニ
ターして判断する。
【0026】本実施例の様に記録、再生の為の走査中に
傾き検出を行なう事で、走査領域中の部分的な傾きにも
充分に対応できるという効果がある。
【0027】(実施例2)構成は実施例1と同一で、プ
ローブ電極と記録媒体表面との距離の制御時に図3中A
線に示す様な検出電流信号の走査端付近のデータと信号
の記録再生領域の再生信号とを切り捨てた図3中a点か
らb点及びc点からd点の間のデータから、傾き情報図
3中B線を得て次のラインの走査時に出力する。
【0028】本実施例の傾き補正方法を用いると、記録
操作時に表面形状の変化を起こさない記録層、たとえば
電圧電流のスイッチング特性に対してメモリ効果を持つ
π電子系有機化合物やカルコゲン化合物類の薄膜層を用
いた場合に、媒体上の記録信号による傾き補正量への誤
差をなくすることができる。また、再生信号のDC成分
の選択の自由度が上がるため記録情報の変調方式がNR
Z方式等に制限されないので、装置の応用範囲を広げる
ことが可能となった。
【0029】又この実施例では、前の走査によって得ら
れた傾き情報に基づく追従走査をb、c間で行ない、次
の走査の為の傾き情報検出をa、b間、c、d間で行な
うという様に同一走査中で傾き検出走査と追従走査が行
なえる。
【0030】
【発明の効果】以上述べたように本発明の情報処理装置
によれば、記録再生領域全般にわたって精度の高いプロ
ーブ記録媒体間距離制御が行えるため、記録時の誤りが
少なく、S/Nがよく走査速度の高い情報処理装置を実
現することができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による情報処理装置の実施例の構成図で
ある。
【図2】実施例1における情報処理装置の傾き補正方法
の説明図である。
【図3】実施例2における情報処理装置の傾き補正方法
の説明図である。
【図4】従来のプローブ電極と記録媒体の距離制御に用
いていた回路系のブロック図である。
【図5】従来例におけるエリア走査の説明図である。
【図6】従来例におけるX軸走査信号波形である。
【図7】従来例における走査時の記録媒体傾き情報であ
る。
【符号の説明】
101 ステージ 102 記録媒体の下部電極 103 記録層 104 トラック溝 105 プローブ電極 106 円筒型ピエゾアクチュエータ 107 電流アンプ 108 コンパレータ 109 サンプルホールド回路 110 高域通過フィルタ 111 傾き情報演算装置 112 誤差増幅器 113 データ検出用コンパレータ 114 データ変復調部 115 データ書き込み用パルス発生器 116 トラッキング制御部 117 アップダウンカウンタ 118 D/Aコンバータ 119 ステージ制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 紫藤 俊一 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 畑中 勝則 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 記録媒体とプローブを相対的に移動する
    移動手段及び該移動を制御する制御手段とを少なくとも
    有する情報処理装置において、 プローブと記録媒体の間隔を制御する制御手段のサンプ
    ルタイミングが、プローブと記録媒体との間における記
    録媒体面方向の相対走査手段の制御と同期制御され、か
    つ該走査に対応した所定期間のみの信号情報から記録媒
    体の傾き情報を算出する演算回路を有することを特徴と
    する情報処理装置。
JP3303875A 1991-10-24 1991-10-24 情報処理装置 Expired - Fee Related JP3044417B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3303875A JP3044417B2 (ja) 1991-10-24 1991-10-24 情報処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3303875A JP3044417B2 (ja) 1991-10-24 1991-10-24 情報処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05120741A true JPH05120741A (ja) 1993-05-18
JP3044417B2 JP3044417B2 (ja) 2000-05-22

Family

ID=17926327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3303875A Expired - Fee Related JP3044417B2 (ja) 1991-10-24 1991-10-24 情報処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3044417B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010160161A (ja) * 2000-03-10 2010-07-22 Fujitsu Semiconductor Ltd 不純物濃度測定方法、stm測定方法及びsts測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010160161A (ja) * 2000-03-10 2010-07-22 Fujitsu Semiconductor Ltd 不純物濃度測定方法、stm測定方法及びsts測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3044417B2 (ja) 2000-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2743213B2 (ja) 記録及び/又は再生を行なう装置および方法
JP2930447B2 (ja) 情報処理装置
JP2783646B2 (ja) 情報記録再生装置
JP3029143B2 (ja) 情報再生方法
EP0716417A2 (en) Information processing apparatus provided with mechanism for controlling position of probe
JP3044417B2 (ja) 情報処理装置
EP0640963B1 (en) Recording and reproducing method and apparatus using a scanning probe
JP2930449B2 (ja) トラッキング方法
JP3095915B2 (ja) 情報処理装置
JP2942013B2 (ja) 記録及び/又は再生装置
JP3053142B2 (ja) 情報処理装置
JP2961451B2 (ja) 平滑電極基板及びその製造方法、記録媒体及びその製造方法、及び情報処理装置
JP3217493B2 (ja) 情報記録再生装置
JP3093946B2 (ja) 記録媒体
JP3078141B2 (ja) 記録装置および記録再生装置
JP2872659B2 (ja) 情報記録再生装置
JP4079397B2 (ja) 記録再生装置のトラッキング機構及びトラッキング方法
JP3004823B2 (ja) 情報処理装置
JP3056901B2 (ja) 記録再生装置
JP3039725B2 (ja) 情報処理装置
JP2968613B2 (ja) 情報再生装置
JPH05342773A (ja) 記録再生方法および記録再生装置
JPH04168641A (ja) 情報読取および/または入力装置
JPH05210875A (ja) カンチレバー型プローブを用いた情報処理装置
JPH06267120A (ja) マルチプローブヘッド及びこれを具備する記録再生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000208

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees