JP3029143B2 - 情報再生方法 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B9/00—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
- G11B9/12—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
- G11B9/14—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/849—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S977/86—Scanning probe structure
- Y10S977/861—Scanning tunneling probe
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S977/881—Microscopy or spectroscopy, e.g. sem, tem
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Traffic Control Systems (AREA)
- Transition And Organic Metals Composition Catalysts For Addition Polymerization (AREA)
- Signal Processing Not Specific To The Method Of Recording And Reproducing (AREA)
- Indexing, Searching, Synchronizing, And The Amount Of Synchronization Travel Of Record Carriers (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えばSTMの原理を用
いた高密度・大容量のメモリ装置の技術分野に関する。
いた高密度・大容量のメモリ装置の技術分野に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、メモリとしては磁性体や半導体を
素材とした半導体メモリや磁気メモリが主であったが、
近年レーザー技術の進展にともない、有機色素、フォト
ポリマーなどの有機薄膜を用いた光メモリによる安価で
高密度な記録媒体が登場してきた。
素材とした半導体メモリや磁気メモリが主であったが、
近年レーザー技術の進展にともない、有機色素、フォト
ポリマーなどの有機薄膜を用いた光メモリによる安価で
高密度な記録媒体が登場してきた。
【0003】又、最近、導体の表面原子の電子構造を直
接観察できる走査型トンネル顕微鏡(以後、STMと略
す)が開発され [G.Binnig et al. Phys. Rev. Lett, 4
9,57(1982)]、単結晶、非晶質を問わず実空間像の高い
分解能の測定ができるようになり、しかも試料に電流に
よる損傷を与えずに低電力で観測できる利点も有し、更
に大気中でも動作し、種々の材料に対して用いることが
できるため広範囲な応用が期待されている。STMは金
属の探針(プローブ電極)と導電性物質間に電圧を加え
て1nm程度の距離まで近ずけるとトンネル電流が流れ
ることを利用している。この電流は両者の距離変化に非
常に敏感である。トンネル電流を一定に保つように探針
を走査することにより実空間の全電子雲に関する種々の
情報をも読み取ることができる。この際、面内方向の分
解能は0.1nm程度である。
接観察できる走査型トンネル顕微鏡(以後、STMと略
す)が開発され [G.Binnig et al. Phys. Rev. Lett, 4
9,57(1982)]、単結晶、非晶質を問わず実空間像の高い
分解能の測定ができるようになり、しかも試料に電流に
よる損傷を与えずに低電力で観測できる利点も有し、更
に大気中でも動作し、種々の材料に対して用いることが
できるため広範囲な応用が期待されている。STMは金
属の探針(プローブ電極)と導電性物質間に電圧を加え
て1nm程度の距離まで近ずけるとトンネル電流が流れ
ることを利用している。この電流は両者の距離変化に非
常に敏感である。トンネル電流を一定に保つように探針
を走査することにより実空間の全電子雲に関する種々の
情報をも読み取ることができる。この際、面内方向の分
解能は0.1nm程度である。
【0004】したがってSTMの原理を応用すれば十分
に原子オーダー(サブ・ナノメートル)での高密度デー
タ記録再生を行なうことが可能である。例えば、特開昭
61−80536号に開示されている記録再生装置で
は、電子ビーム等によって媒体表面に吸着した原子粒子
を取り除き書き込みを行ない、STMによりこのデータ
を再生している。
に原子オーダー(サブ・ナノメートル)での高密度デー
タ記録再生を行なうことが可能である。例えば、特開昭
61−80536号に開示されている記録再生装置で
は、電子ビーム等によって媒体表面に吸着した原子粒子
を取り除き書き込みを行ない、STMによりこのデータ
を再生している。
【0005】記録層として電圧電流のスイッチング特性
に対してメモリ効果を持つ材料、例えばπ電子系有機化
合物やカルコゲン化合物類の薄膜層を用いて、記録・再
生をSTMで行なう方法が、特開昭63−161552
号公報、特開昭63−161553号公報等に開示され
ている。この方法によれば、記録のビットサイズを10
nmとすれば、1012bit/cm2もの大容量記録再
生が可能である。
に対してメモリ効果を持つ材料、例えばπ電子系有機化
合物やカルコゲン化合物類の薄膜層を用いて、記録・再
生をSTMで行なう方法が、特開昭63−161552
号公報、特開昭63−161553号公報等に開示され
ている。この方法によれば、記録のビットサイズを10
nmとすれば、1012bit/cm2もの大容量記録再
生が可能である。
【0006】このような記録再生方法を用いた場合に、
記録ビットが非常に小さいためS/N良く再生するため
には記録された信号列に対してフィードバック制御しな
がらプローブ電極を沿わせる、所謂トラッキング制御が
一般に必要である。一例としてV字型の溝を記録媒体表
面に予め形成し、プローブ電極が常にこの溝の中央に位
置するように制御する方式が例えば特開平1−1073
41号公報に提案されている。これに対してトラッキン
グを不要とする手法も提案されている。例えば特開平2
−50333号公報には、トラッキングを行なわずに再
生時には記録密度よりも高い密度でプローブ電極を走査
して情報を読み込み、パターン認識の技術を用いて記録
された情報の再生を行なう方法が開示されている。
記録ビットが非常に小さいためS/N良く再生するため
には記録された信号列に対してフィードバック制御しな
がらプローブ電極を沿わせる、所謂トラッキング制御が
一般に必要である。一例としてV字型の溝を記録媒体表
面に予め形成し、プローブ電極が常にこの溝の中央に位
置するように制御する方式が例えば特開平1−1073
41号公報に提案されている。これに対してトラッキン
グを不要とする手法も提案されている。例えば特開平2
−50333号公報には、トラッキングを行なわずに再
生時には記録密度よりも高い密度でプローブ電極を走査
して情報を読み込み、パターン認識の技術を用いて記録
された情報の再生を行なう方法が開示されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記ト
ラッキングを用いた方法は制御が複雑で、又、トラッキ
ングを行なわずにパターン認識を用いた上記方法の場合
も、パターン認識という複雑で処理時間を有する工程が
必要であった。
ラッキングを用いた方法は制御が複雑で、又、トラッキ
ングを行なわずにパターン認識を用いた上記方法の場合
も、パターン認識という複雑で処理時間を有する工程が
必要であった。
【0008】本発明は、トラッキング無しに容易な方法
で情報の再生を行なうことのできる手法の提供を目的と
する。
で情報の再生を行なうことのできる手法の提供を目的と
する。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明は、再生時には記録密度よりも高い密度でプローブを
走査して情報を再生する方式において、各記録ライン毎
に読み出された複数のデータの論理和を取り、それを各
記録ラインの再生信号として用いることで、情報処理時
の種々の要因による記録媒体制御機構の位置的誤差によ
って生じるS/Nなどの劣化を防ぐことができる。
明は、再生時には記録密度よりも高い密度でプローブを
走査して情報を再生する方式において、各記録ライン毎
に読み出された複数のデータの論理和を取り、それを各
記録ラインの再生信号として用いることで、情報処理時
の種々の要因による記録媒体制御機構の位置的誤差によ
って生じるS/Nなどの劣化を防ぐことができる。
【0010】
【実施例】図1は本発明の実施例で用いる情報記録再生
装置の全体構成を示すブロック構成図である。同図にお
いて1はプローブ電極であり、先端は記録及び/又は再
生の分解能を挙げるために、タングステン針の先端を機
械的研磨、電解研磨等で尖鋭に加工したものを用いてい
る。なおプローブ電極の材料はPt−Ir,Pt等でも
良く、加工法もなんらこれに限定されるものではない。
2は記録媒体であって導電率の異なる状態間を遷移する
特性を有する材質、すなわち電流−電圧特性においてメ
モリ・スイッチング特性を有する材質のものである。本
実施例ではSOAZ(スクアリリウム−ビス−6−オク
チルアズレン)をグラファイト基板上にLB法を用いて
8層累積したものを用いた。3はプローブ電極に流れる
電流(トンネル電流)を電圧に変換して増幅する電流増
幅器である。4は円筒型の圧電素子を有する微動機構で
あり、プローブ電極1を記録媒体2の面内方向(X、Y
方向)及び記録媒体2とプローブ電極1の間隔方向(Z
方向)へ微動させる。5は粗動機構であって主に弾性ヒ
ンジを用いた平行バネを有し、記録媒体2をX、Y方向
に粗動させる。6は微動機構4及び粗動機構5へ制御電
圧を与えてコントロールするXYZコントローラであ
り、7は各機構を制御してデータの変復調を行なう制御
演算回路である。8は電圧印加回路であってプローブ電
極1と記録媒体2の間に−10V〜+10Vの任意の電
圧を印加することができる。記録/消去時には記録値に
応じた電圧値のパルス状の電圧を与え、再生時には一定
のバイアス電圧を与える。9は再生時の読出したデータ
を一時保存するフィールドメモリ、10はフィールドメ
モリ9の中の情報の論理演算を行なう演算回路である。
装置の全体構成を示すブロック構成図である。同図にお
いて1はプローブ電極であり、先端は記録及び/又は再
生の分解能を挙げるために、タングステン針の先端を機
械的研磨、電解研磨等で尖鋭に加工したものを用いてい
る。なおプローブ電極の材料はPt−Ir,Pt等でも
良く、加工法もなんらこれに限定されるものではない。
2は記録媒体であって導電率の異なる状態間を遷移する
特性を有する材質、すなわち電流−電圧特性においてメ
モリ・スイッチング特性を有する材質のものである。本
実施例ではSOAZ(スクアリリウム−ビス−6−オク
チルアズレン)をグラファイト基板上にLB法を用いて
8層累積したものを用いた。3はプローブ電極に流れる
電流(トンネル電流)を電圧に変換して増幅する電流増
幅器である。4は円筒型の圧電素子を有する微動機構で
あり、プローブ電極1を記録媒体2の面内方向(X、Y
方向)及び記録媒体2とプローブ電極1の間隔方向(Z
方向)へ微動させる。5は粗動機構であって主に弾性ヒ
ンジを用いた平行バネを有し、記録媒体2をX、Y方向
に粗動させる。6は微動機構4及び粗動機構5へ制御電
圧を与えてコントロールするXYZコントローラであ
り、7は各機構を制御してデータの変復調を行なう制御
演算回路である。8は電圧印加回路であってプローブ電
極1と記録媒体2の間に−10V〜+10Vの任意の電
圧を印加することができる。記録/消去時には記録値に
応じた電圧値のパルス状の電圧を与え、再生時には一定
のバイアス電圧を与える。9は再生時の読出したデータ
を一時保存するフィールドメモリ、10はフィールドメ
モリ9の中の情報の論理演算を行なう演算回路である。
【0011】実施例1 上記構成の装置を用いた第1の実施例として、0(OF
F)、1(ON)の2値による記録再生を行なった場合
を示す。図2は記録媒体上の基準位置パターンと記録さ
れた信号領域を示す模式図である。図中、(1)は第1
の記録ライン、(2)は第2の記録ラインであり、各記
録ライン上にはそれぞれ5個の記録ビットが形成されて
いる。点線のビットは0(OFF)状態、実線のビット
は1(ON)状態を表わす。
F)、1(ON)の2値による記録再生を行なった場合
を示す。図2は記録媒体上の基準位置パターンと記録さ
れた信号領域を示す模式図である。図中、(1)は第1
の記録ライン、(2)は第2の記録ラインであり、各記
録ライン上にはそれぞれ5個の記録ビットが形成されて
いる。点線のビットは0(OFF)状態、実線のビット
は1(ON)状態を表わす。
【0012】図1の構成の装置による情報の記録時に
は、プローブ電極1を駆動する微動機構4が有する圧電
素子の精度の影響によってライン間のクロストークが起
こらないようにしなければならない。そこで再生時に想
定される最大角度誤差θと1ラインの長さLに対して、
各ライン(1)(2)の間隔Dが、D>2×L/tan
θ の条件を満たすようにして、ライン(1)(2)に
沿ってプローブ電極1を走査しながら記録を行なう。
は、プローブ電極1を駆動する微動機構4が有する圧電
素子の精度の影響によってライン間のクロストークが起
こらないようにしなければならない。そこで再生時に想
定される最大角度誤差θと1ラインの長さLに対して、
各ライン(1)(2)の間隔Dが、D>2×L/tan
θ の条件を満たすようにして、ライン(1)(2)に
沿ってプローブ電極1を走査しながら記録を行なう。
【0013】記録にあたっては先ず記録媒体2とプロー
ブ電極1の間に流れる電流が1pA程度となるように両
者の間隔をフィードバック制御する。その状態を保ちな
がら微動機構4を用いてプローブ電極1を走査して、1
の情報を記録すべき所定のXY座標の位置でフィードバ
ック制御を停止してZ方向の位置を固定する。記録媒体
2とプローブ電極1の距離が固定されたら、図4に示す
波形を有する三角波パルス状の電圧(書込パルス電圧)
を印加して記録を行なう。又、記録すべき情報が0であ
る場合には、図5に示す波形の三角波パルス状の電圧
(消去パルス電圧)を印加して消去(0記録)を行な
う。この動作を各記録位置に対して行ない記録動作は終
了する。
ブ電極1の間に流れる電流が1pA程度となるように両
者の間隔をフィードバック制御する。その状態を保ちな
がら微動機構4を用いてプローブ電極1を走査して、1
の情報を記録すべき所定のXY座標の位置でフィードバ
ック制御を停止してZ方向の位置を固定する。記録媒体
2とプローブ電極1の距離が固定されたら、図4に示す
波形を有する三角波パルス状の電圧(書込パルス電圧)
を印加して記録を行なう。又、記録すべき情報が0であ
る場合には、図5に示す波形の三角波パルス状の電圧
(消去パルス電圧)を印加して消去(0記録)を行な
う。この動作を各記録位置に対して行ない記録動作は終
了する。
【0014】次に、上記のようにして記録された媒体上
の情報を再生する際の動作を説明する。記録媒体上には
各記録セグメントで導電率の違いとしてデータが記録さ
れている。よってこの導電率の違いを捕らえてOFFか
ONかを判断する。具体的には図1において、微動機構
4によってプローブ電極を走査しながら、記憶プローブ
電極1と記録媒体の間に一定のバイアス電圧を印加し、
各セグメント位置で導電率に応じて流れるトンネル電流
値によってデータの読出しを行なう。
の情報を再生する際の動作を説明する。記録媒体上には
各記録セグメントで導電率の違いとしてデータが記録さ
れている。よってこの導電率の違いを捕らえてOFFか
ONかを判断する。具体的には図1において、微動機構
4によってプローブ電極を走査しながら、記憶プローブ
電極1と記録媒体の間に一定のバイアス電圧を印加し、
各セグメント位置で導電率に応じて流れるトンネル電流
値によってデータの読出しを行なう。
【0015】本発明では書込み時の記録密度より高い密
度で各ラインの情報のみを再生すべく、記録ビットの大
きさよりも小さい間隔、本実施例では半分の間隔で、図
2のように1ライン分の情報が記録された領域を網羅す
るように走査する。1ラインの記録情報に対して、図2
のAn,Bn,Cn,Dn,En,Fn (n=1,2,・・・・)に示
されるように6本の走査が行なわれる。図2は記録ライ
ン(1)(2)に対して再生の走査が角度θだけ傾いて
いる状態を示している。
度で各ラインの情報のみを再生すべく、記録ビットの大
きさよりも小さい間隔、本実施例では半分の間隔で、図
2のように1ライン分の情報が記録された領域を網羅す
るように走査する。1ラインの記録情報に対して、図2
のAn,Bn,Cn,Dn,En,Fn (n=1,2,・・・・)に示
されるように6本の走査が行なわれる。図2は記録ライ
ン(1)(2)に対して再生の走査が角度θだけ傾いて
いる状態を示している。
【0016】図3のAn,Bn,Cn,Dn,En,Fn の各ビッ
トは6本の各走査において読出されるデータの状態を表
わす。前記傾き角度θによってこの内容は異なるが、A
n 〜Fn のデータ中の図中縦方向の各ビットのいずれか
には記録された1(ON)が含まれている。全てが0
(OFF)であればそのビットの内容は0(OFF)で
ある。よってAn 〜Fn の縦方向の各ビットの論理和を
演算することで、図3のGn のように記録情報を再生す
ことができる。これは、読出された各データが一旦フィ
ールドメモリ9に保持され、論理演算回路10において
各ビットのそれぞれの論理和を演算することによって行
なわれる。
トは6本の各走査において読出されるデータの状態を表
わす。前記傾き角度θによってこの内容は異なるが、A
n 〜Fn のデータ中の図中縦方向の各ビットのいずれか
には記録された1(ON)が含まれている。全てが0
(OFF)であればそのビットの内容は0(OFF)で
ある。よってAn 〜Fn の縦方向の各ビットの論理和を
演算することで、図3のGn のように記録情報を再生す
ことができる。これは、読出された各データが一旦フィ
ールドメモリ9に保持され、論理演算回路10において
各ビットのそれぞれの論理和を演算することによって行
なわれる。
【0017】実施例2 上記構成の装置を用いた第2の実施例として、3値以上
の多値データによる記録再生、ここでは0、1、2の3
値による記録再生を行なった場合を図6、図7を用いて
説明する。なお記録再生を行なう装置構成は図1と同様
である。図6は記録媒体上の基準位置パターンと記録さ
れた信号領域を示す模式図である。図中(1)は第1の
記録ライン、(2)は第2の記録ラインであり、各記録
ライン上にはそれぞれ5個の記録ビットが形成されてい
る。点線で示すビットは0の状態、実線のビットは1の
状態、斜線を引いたビットは2の状態を表わす。記録時
には上記実施例と同様にプローブ電極の位置を制御し、
記録すべき情報が0の場合は図5に示すパルス波形で電
圧値は6V、記録すべき情報が1の場合は図5に示す波
形で電圧値は3ボルト、記録すべき情報が2の場合は図
4に示す波形のパルス電圧を印加する。このようにして
3値による記録動作が行なわれる。
の多値データによる記録再生、ここでは0、1、2の3
値による記録再生を行なった場合を図6、図7を用いて
説明する。なお記録再生を行なう装置構成は図1と同様
である。図6は記録媒体上の基準位置パターンと記録さ
れた信号領域を示す模式図である。図中(1)は第1の
記録ライン、(2)は第2の記録ラインであり、各記録
ライン上にはそれぞれ5個の記録ビットが形成されてい
る。点線で示すビットは0の状態、実線のビットは1の
状態、斜線を引いたビットは2の状態を表わす。記録時
には上記実施例と同様にプローブ電極の位置を制御し、
記録すべき情報が0の場合は図5に示すパルス波形で電
圧値は6V、記録すべき情報が1の場合は図5に示す波
形で電圧値は3ボルト、記録すべき情報が2の場合は図
4に示す波形のパルス電圧を印加する。このようにして
3値による記録動作が行なわれる。
【0018】再生時には、多値の記録情報に応じて流れ
るトンネル電流量が異なるため、3値化するように復調
し図7に示すデータが得られる。従って実施例1と同様
にして、An 〜Fn の縦方向の各ビットの論理和を演算
することで図7のGn に示す情報を再生することができ
る。なお、4値以上の多値データを扱う場合にも同様の
処理によって記録再生が可能である。
るトンネル電流量が異なるため、3値化するように復調
し図7に示すデータが得られる。従って実施例1と同様
にして、An 〜Fn の縦方向の各ビットの論理和を演算
することで図7のGn に示す情報を再生することができ
る。なお、4値以上の多値データを扱う場合にも同様の
処理によって記録再生が可能である。
【0019】
【発明の効果】本発明によれば、記録時あるいは再生時
のプローブの位置精度の許容度を広げることができ、こ
れによりフィードバック制御による位置決め(トラッキ
ング)を行なわずとも確実に情報を再生することができ
る。
のプローブの位置精度の許容度を広げることができ、こ
れによりフィードバック制御による位置決め(トラッキ
ング)を行なわずとも確実に情報を再生することができ
る。
【図1】本発明の実施例の記録再生装置の全体図であ
る。
る。
【図2】記録信号に対する読取系の走査方法を示す説明
図である。
図である。
【図3】実施例の装置の走査により得られた再生情報の
説明図である。
説明図である。
【図4】書込パルス電圧の波形を示す図である。
【図5】消去パルス電圧の波形を示す図である。
【図6】第2実施例で記録信号に対する読取系の走査方
法を示す説明図である。
法を示す説明図である。
【図7】第2実施例で実施例の装置の走査により得られ
た再生情報の説明図である。
た再生情報の説明図である。
1 プローブ電極 2 記録媒体 3 電流増幅器 4 微動機構 5 粗動機構 6 XYZコントローラ 7 制御演算装回路 8 電圧印加回路 9 フィールドメモリ 10 演算回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 紫藤 俊一 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 畑中 勝則 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤ ノン株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−50333(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 9/14
Claims (3)
- 【請求項1】 複数の記録ラインが設けられた媒体上を
プローブで相対走査して情報を読み出す情報再生方法に
おいて、 各記録ライン上を他の記録ラインに跨ることなしに複数
回走査し、各記録ラインからデータを複数回読み出すス
テップと、 記録ライン毎に、前記読み出された複数のデータの論理
和を演算し、再生情報を生成するステップとを有するこ
とを特徴とする情報再生方法。 - 【請求項2】 再生の際に前記プローブと媒体との間に
電圧を印加し、その際に流れる電流によってデータの読
み出しを行う請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 前記電流がトンネル電流である請求項2
記載の方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3139093A JP3029143B2 (ja) | 1991-06-11 | 1991-06-11 | 情報再生方法 |
US07/893,043 US5282191A (en) | 1991-06-11 | 1992-06-03 | Information reproducing method and information reproducing apparatus which uses the method |
DE69227282T DE69227282T2 (de) | 1991-06-11 | 1992-06-05 | Informationswiedergabemethode und Gerät welches die Methode verwendet |
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