JP2930447B2 - 情報処理装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B9/00—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
- G11B9/12—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
- G11B9/14—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
- G11B9/1418—Disposition or mounting of heads or record carriers
- G11B9/1427—Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement
- G11B9/1436—Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other
- G11B9/1445—Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other switching at least one head in operating function; Controlling the relative spacing to keep the head operative, e.g. for allowing a tunnel current flow
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q80/00—Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/849—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
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- Y10S977/947—Information storage or retrieval using nanostructure with scanning probe instrument
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、走査型トンネル顕微鏡
等の技術を応用した情報処理装置に関するものである。
等の技術を応用した情報処理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、メモリ材料の用途はコンピュータ
とその関連機器、ビデオ、オーディオディスク等のエレ
クトロニクス産業の中核を成すものであり、その材料開
発も極めて活発に行われている。従来では、磁性体、半
導体を素材とした磁気メモリ、半導体メモリが主であっ
たが、レーザー技術の進展に伴い有機色素、フォトポリ
マ等の有機薄膜を用いた安価でかつ高密度記録可能な光
メモリが登場しつつある。
とその関連機器、ビデオ、オーディオディスク等のエレ
クトロニクス産業の中核を成すものであり、その材料開
発も極めて活発に行われている。従来では、磁性体、半
導体を素材とした磁気メモリ、半導体メモリが主であっ
たが、レーザー技術の進展に伴い有機色素、フォトポリ
マ等の有機薄膜を用いた安価でかつ高密度記録可能な光
メモリが登場しつつある。
【0003】一方で、最近では物質表面及び表面近傍の
電子構造を直接観察できる走査型トンネル顕微鏡(以下
STMという)が開発され[G.Binniget al.,Helvetic
-aPhysica Acta,55,726(1982) ]、単結晶、非結晶を問
わず高分解能で実空間像の観測ができるようになり、し
かも試料物質に電流による損傷を殆ど与えずに低電力で
測定できる利点をも有し、更には超高真空中のみならず
大気中、溶液中でも動作し、種々の材料に対して適用で
きるため広汎な応用が期待されている。
電子構造を直接観察できる走査型トンネル顕微鏡(以下
STMという)が開発され[G.Binniget al.,Helvetic
-aPhysica Acta,55,726(1982) ]、単結晶、非結晶を問
わず高分解能で実空間像の観測ができるようになり、し
かも試料物質に電流による損傷を殆ど与えずに低電力で
測定できる利点をも有し、更には超高真空中のみならず
大気中、溶液中でも動作し、種々の材料に対して適用で
きるため広汎な応用が期待されている。
【0004】STMは金属の探針と導電性試料との間に
電圧を印加して約1nm程度の距離まで近付けると、ト
ンネル電流が発生する現象を利用している。このトンネ
ル電流は両者間の距離変化に非常に敏感で指数関数的に
応答するため、トンネル電流を一定に保持して探針を試
料上で走査すれば、試料表面の実空間形状を面内方向の
分解能0.1nm程度まで得ることができる。
電圧を印加して約1nm程度の距離まで近付けると、ト
ンネル電流が発生する現象を利用している。このトンネ
ル電流は両者間の距離変化に非常に敏感で指数関数的に
応答するため、トンネル電流を一定に保持して探針を試
料上で走査すれば、試料表面の実空間形状を面内方向の
分解能0.1nm程度まで得ることができる。
【0005】このSTMの原理を応用すれば、原子オー
ダ(サブ・ナノメートル)での記録再生が可能となるた
め、この原理を応用した超高密度記録用の情報の記録・
再生・消去の少なくとも何れかを行う情報処理装置が種
々提案されている。例えば、特開昭61−80536号
公報に開示されるものでは、記録媒体表面に吸着した原
子粒子を電子ビームで除去して書込みを行っており、そ
の他にレーザービーム、電子ビーム、粒子ビーム等を用
いて記録媒体の表面を物理的、或いは磁性的に崩壊させ
て書込みを行う方法も提案されている。
ダ(サブ・ナノメートル)での記録再生が可能となるた
め、この原理を応用した超高密度記録用の情報の記録・
再生・消去の少なくとも何れかを行う情報処理装置が種
々提案されている。例えば、特開昭61−80536号
公報に開示されるものでは、記録媒体表面に吸着した原
子粒子を電子ビームで除去して書込みを行っており、そ
の他にレーザービーム、電子ビーム、粒子ビーム等を用
いて記録媒体の表面を物理的、或いは磁性的に崩壊させ
て書込みを行う方法も提案されている。
【0006】また、米国特許第4,575,822 号公報に開示
されるものでは、記録媒体表面に形成された誘電体層に
トンネル電流によって電荷を注入して記録を行ってお
り、何れの場合にもSTMで記録再生が行われる。或い
は、特開昭63−161552号公報、同161553
号公報に開示されるように、電圧電流のスイッチング特
性に対してメモリ効果を持つ材料、例えばπ電子系有機
化合物、カルコゲン化合物類の薄膜層を記録層として用
いて、STMにより記録再生を行う方法も提案され、こ
の方法によれば記録ビットサイズを10nmとして、1
012ビット/cm2 の大容量記録再生が可能となる。
されるものでは、記録媒体表面に形成された誘電体層に
トンネル電流によって電荷を注入して記録を行ってお
り、何れの場合にもSTMで記録再生が行われる。或い
は、特開昭63−161552号公報、同161553
号公報に開示されるように、電圧電流のスイッチング特
性に対してメモリ効果を持つ材料、例えばπ電子系有機
化合物、カルコゲン化合物類の薄膜層を記録層として用
いて、STMにより記録再生を行う方法も提案され、こ
の方法によれば記録ビットサイズを10nmとして、1
012ビット/cm2 の大容量記録再生が可能となる。
【0007】これらの情報処理装置においては、探針、
記録媒体間に流れるトンネル電流の平均値を一定に保持
して走査することが重要であり、その制御方法は例えば
特開平1−53363号公報、同133239号公報等
に開示されるものに提案されている。
記録媒体間に流れるトンネル電流の平均値を一定に保持
して走査することが重要であり、その制御方法は例えば
特開平1−53363号公報、同133239号公報等
に開示されるものに提案されている。
【0008】図5は1従来例の探針、記録媒体間距離の
制御回路を示し、プローブ電極1、記録媒体2間に流れ
るトンネル電流は電流増幅器3で増幅され、低域通過型
フィルタ4によって抽出した帯域成分は、位相補償回路
5、誤差増幅器6、サンプルホールド回路7を介し、プ
ローブ電極1に取り付けられた円筒型ピエゾアクチュエ
ータ8の動作電圧にフィードバックが掛けられており、
トンネル電流の平均値が一定となるように制御されてい
る。また、高域通過型フィルタ9によって抽出された帯
域成分は、信号処理回路10に入力されてそこで情報の
再生が行われる。なお、記録信号入力時には、サンプル
ホールド回路7を用いてプローブ電極1の制御出力信号
を一定に保つように制御している。
制御回路を示し、プローブ電極1、記録媒体2間に流れ
るトンネル電流は電流増幅器3で増幅され、低域通過型
フィルタ4によって抽出した帯域成分は、位相補償回路
5、誤差増幅器6、サンプルホールド回路7を介し、プ
ローブ電極1に取り付けられた円筒型ピエゾアクチュエ
ータ8の動作電圧にフィードバックが掛けられており、
トンネル電流の平均値が一定となるように制御されてい
る。また、高域通過型フィルタ9によって抽出された帯
域成分は、信号処理回路10に入力されてそこで情報の
再生が行われる。なお、記録信号入力時には、サンプル
ホールド回路7を用いてプローブ電極1の制御出力信号
を一定に保つように制御している。
【0009】この制御方法は図6に示す回路でも実現可
能である。即ち、プローブ電極1、記録媒体2間に流れ
る電流は、電流増幅器3、対数増幅器11、低域通過型
フィルタ4を経た後に、増幅器12、位相補償回路5、
誤差増幅器6、サンプルホールド回路7を介して円筒型
ピエゾアクチュエータ8の動作電圧にフィードバックが
掛けられ、低域通過型フィルタ4の出力は信号処理回路
10で情報再生される。なお、記録信号入力時にはプロ
ーブ電極1は図5の回路と同様に動作させる。
能である。即ち、プローブ電極1、記録媒体2間に流れ
る電流は、電流増幅器3、対数増幅器11、低域通過型
フィルタ4を経た後に、増幅器12、位相補償回路5、
誤差増幅器6、サンプルホールド回路7を介して円筒型
ピエゾアクチュエータ8の動作電圧にフィードバックが
掛けられ、低域通過型フィルタ4の出力は信号処理回路
10で情報再生される。なお、記録信号入力時にはプロ
ーブ電極1は図5の回路と同様に動作させる。
【0010】ところで情報処理装置においては、記録媒
体2にアクセスする際にプローブ電極1の位置決めを行
う必要がある。この種の高密度メモリの場合には、一般
的に予め記録媒体2に位置決め用のエッジ部を刻設して
おいて、エッジ検出後にそのエッジに沿ってプローブ電
極1をアクセス位置まで移動する所謂トラッキング方法
が採用されている。従って、実際のアクセス時にはトラ
ックから次のトラックに移動するトラック移動が頻繁に
行われる。このトラック移動には、プローブ電極1の駆
動走査機構の駆動電圧にオフセットを与えたり、或いは
粗動機構自体を動かす等の方法が採られる。
体2にアクセスする際にプローブ電極1の位置決めを行
う必要がある。この種の高密度メモリの場合には、一般
的に予め記録媒体2に位置決め用のエッジ部を刻設して
おいて、エッジ検出後にそのエッジに沿ってプローブ電
極1をアクセス位置まで移動する所謂トラッキング方法
が採用されている。従って、実際のアクセス時にはトラ
ックから次のトラックに移動するトラック移動が頻繁に
行われる。このトラック移動には、プローブ電極1の駆
動走査機構の駆動電圧にオフセットを与えたり、或いは
粗動機構自体を動かす等の方法が採られる。
【0011】前述したように従来の情報処理装置では、
トンネル電流の平均値をほぼ一定に保持して、プローブ
電極1を記録媒体2の面内方向に走査するため、プロー
ブ電極1が図7に示すような凹部のトラック溝Tを横切
る際には、プローブ電極1の先端の軌跡はトラック溝の
形状に沿って図中に点線で示すようになる。
トンネル電流の平均値をほぼ一定に保持して、プローブ
電極1を記録媒体2の面内方向に走査するため、プロー
ブ電極1が図7に示すような凹部のトラック溝Tを横切
る際には、プローブ電極1の先端の軌跡はトラック溝の
形状に沿って図中に点線で示すようになる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】一般に、プローブ電極
1の先端は非常に尖鋭であるから、プローブ電極1と記
録媒体2の接触は回避しなくてはならない。しかしなが
ら上述の従来例において、記録媒体2上の凹部からプロ
ーブ電極1が抜け出る際にプローブ電極1が記録媒体2
に衝突することを回避するために、フィードバック制御
が追従可能な走査速度でプローブ電極1が走査されてい
る。この走査速度がフィードバック制御の追従能力で制
限されるという事実は、装置の高速なアクセス速度が要
求されている分野への応用に制限を加える結果となって
いる。
1の先端は非常に尖鋭であるから、プローブ電極1と記
録媒体2の接触は回避しなくてはならない。しかしなが
ら上述の従来例において、記録媒体2上の凹部からプロ
ーブ電極1が抜け出る際にプローブ電極1が記録媒体2
に衝突することを回避するために、フィードバック制御
が追従可能な走査速度でプローブ電極1が走査されてい
る。この走査速度がフィードバック制御の追従能力で制
限されるという事実は、装置の高速なアクセス速度が要
求されている分野への応用に制限を加える結果となって
いる。
【0013】本発明の目的は、上述の従来例の問題点を
解消しデータへのアクセス速度が速く、そのため用途が
広い情報処理装置を提供することにある。
解消しデータへのアクセス速度が速く、そのため用途が
広い情報処理装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る情報処理装置は、記録媒体からの信号
を検出するプローブの位置をフィードバック制御するプ
ローブ駆動手段と、前記記録媒体上の所定のエッジを検
出するエッジ検出手段と、該エッジ検出手段からの出力
信号に基づいて前記プローブ駆動手段の制御をホールド
するホールド手段とを有することを特徴とするものであ
る。
めの本発明に係る情報処理装置は、記録媒体からの信号
を検出するプローブの位置をフィードバック制御するプ
ローブ駆動手段と、前記記録媒体上の所定のエッジを検
出するエッジ検出手段と、該エッジ検出手段からの出力
信号に基づいて前記プローブ駆動手段の制御をホールド
するホールド手段とを有することを特徴とするものであ
る。
【0015】
【作用】上述の構成を有する情報処理装置は、例えばト
ンネル電流検出手段によって検出されるトンネル電流の
平均値がほぼ一定となるように、プローブの位置をフィ
ードバック制御するが、記録媒体上でエッジを検出した
際にはプローブの制御がホールドされる。
ンネル電流検出手段によって検出されるトンネル電流の
平均値がほぼ一定となるように、プローブの位置をフィ
ードバック制御するが、記録媒体上でエッジを検出した
際にはプローブの制御がホールドされる。
【0016】
【実施例】本発明を図1〜図4に図示の実施例の基づい
て詳細に説明する。図1は構成図を示し、図5と同一符
号は同一部材を示している。ステージ13上には下地電
極14を取り付けた記録媒体2が載置され、円筒型ピエ
ゾアクチュエータ8を取り付けられたプローブ電極1
が、記録媒体2に対向して下向きに設けられている。ト
ンネル電流検出のために、プローブ電極1には電流増幅
器3が接続され、電流増幅器3の出力は電極制御用比較
器15、サンプルホールド回路16に接続されており、
サンプルホールド回路16の出力は誤差増幅器6、低域
通過型フィルタ4、高域通過型フィルタ9に接続されて
いる。誤差増幅器6の出力は円筒型ピエゾアクチュエー
タ8のz方向駆動電極8aに接続され、低域通過型フィ
ルタ4の出力はデータ変復調部17、可変抵抗VR2 を介
してデータ検出用比較器18に接続され、高域通過型フ
ィルタ9の出力はデータ検出用比較器18に接続され、
データ検出用比較器18の出力はデータ変復調部17に
接続されている。また、電極制御用比較器15の出力は
トラッキング制御部19からの出力と共にオア回路2
0、アンド回路21に接続されている。オア回路20に
はトラッキング制御部19の出力も入力され、オア回路
20の出力はサンプルホールド回路16に接続されてい
る。アンド回路21にはトラッキング制御部19からの
出力が入力され、アンド回路21の出力はオア回路22
に接続され、オア回路22の出力はトラッキング制御部
19からの出力と共にアップダウンカウンタ23に接続
され、アップダウンカウンタ23の出力はD/A変換器
24に、D/A変換器24の出力は増幅器25に、増幅
器25の出力は円筒型ピエゾアクチュエータ8のx方向
駆動電極8bに接続されている。また、D/A変換器2
4の出力は、トラッキング制御部19からの出力と共
に、可変抵抗VR1 、抵抗R1を介して増幅器26に接続さ
れ、増幅器26は円筒型ピエゾアクチュエータ8のy方
向駆動電極8cに接続されている。一方、ステージ制御
部27の出力は増幅器28a、28b、28cに接続さ
れ、増幅器28a、28b、28cの出力はステージ1
3に接続されて、ステージ13上に載置された記録媒体
2の三次元移動が可能とされている。データ変復調部1
7の出力は、パルス発生器29に接続され、更にDCバ
イアス電圧VB1 と合成され下地電極14に接続されてい
る。なお、円筒型ピエゾアクチュエータ8はプローブ電
極1を三次元方向にそれぞれ最大2μm移動することが
可能とされている。
て詳細に説明する。図1は構成図を示し、図5と同一符
号は同一部材を示している。ステージ13上には下地電
極14を取り付けた記録媒体2が載置され、円筒型ピエ
ゾアクチュエータ8を取り付けられたプローブ電極1
が、記録媒体2に対向して下向きに設けられている。ト
ンネル電流検出のために、プローブ電極1には電流増幅
器3が接続され、電流増幅器3の出力は電極制御用比較
器15、サンプルホールド回路16に接続されており、
サンプルホールド回路16の出力は誤差増幅器6、低域
通過型フィルタ4、高域通過型フィルタ9に接続されて
いる。誤差増幅器6の出力は円筒型ピエゾアクチュエー
タ8のz方向駆動電極8aに接続され、低域通過型フィ
ルタ4の出力はデータ変復調部17、可変抵抗VR2 を介
してデータ検出用比較器18に接続され、高域通過型フ
ィルタ9の出力はデータ検出用比較器18に接続され、
データ検出用比較器18の出力はデータ変復調部17に
接続されている。また、電極制御用比較器15の出力は
トラッキング制御部19からの出力と共にオア回路2
0、アンド回路21に接続されている。オア回路20に
はトラッキング制御部19の出力も入力され、オア回路
20の出力はサンプルホールド回路16に接続されてい
る。アンド回路21にはトラッキング制御部19からの
出力が入力され、アンド回路21の出力はオア回路22
に接続され、オア回路22の出力はトラッキング制御部
19からの出力と共にアップダウンカウンタ23に接続
され、アップダウンカウンタ23の出力はD/A変換器
24に、D/A変換器24の出力は増幅器25に、増幅
器25の出力は円筒型ピエゾアクチュエータ8のx方向
駆動電極8bに接続されている。また、D/A変換器2
4の出力は、トラッキング制御部19からの出力と共
に、可変抵抗VR1 、抵抗R1を介して増幅器26に接続さ
れ、増幅器26は円筒型ピエゾアクチュエータ8のy方
向駆動電極8cに接続されている。一方、ステージ制御
部27の出力は増幅器28a、28b、28cに接続さ
れ、増幅器28a、28b、28cの出力はステージ1
3に接続されて、ステージ13上に載置された記録媒体
2の三次元移動が可能とされている。データ変復調部1
7の出力は、パルス発生器29に接続され、更にDCバ
イアス電圧VB1 と合成され下地電極14に接続されてい
る。なお、円筒型ピエゾアクチュエータ8はプローブ電
極1を三次元方向にそれぞれ最大2μm移動することが
可能とされている。
【0017】データは記録媒体2上のデータ列上に記録
され、データ列間にはトラック溝が設けられていて、プ
ローブ電極1の位置決めに利用される。データ再生時に
は、サンプルホールド回路16をスルー状態に従って、
後述する方法でこのデータ列上を走査する。プローブ電
極1、記録媒体2間に流れるトンネル電流は、電流増幅
器3で増幅され、サンプルホールド回路16を経た後に
誤差増幅器6で基準電圧VB2 と比較され、その誤差電圧
がフィードバックされてz方向駆動電極8aに印加され
るので、プローブ電極1は記録媒体2上のデータ列の凸
部分、又は電子状態の変化に追従するように走査され
る。
され、データ列間にはトラック溝が設けられていて、プ
ローブ電極1の位置決めに利用される。データ再生時に
は、サンプルホールド回路16をスルー状態に従って、
後述する方法でこのデータ列上を走査する。プローブ電
極1、記録媒体2間に流れるトンネル電流は、電流増幅
器3で増幅され、サンプルホールド回路16を経た後に
誤差増幅器6で基準電圧VB2 と比較され、その誤差電圧
がフィードバックされてz方向駆動電極8aに印加され
るので、プローブ電極1は記録媒体2上のデータ列の凸
部分、又は電子状態の変化に追従するように走査され
る。
【0018】一方で、サンプルホールド回路16からの
出力は、低域通過型フィルタ4、高域通過型フィルタ9
に入力されており、低域通過型フィルタ4で積分したエ
ンベロープ信号を抵抗VR2 によって適当に減衰した電圧
と、高域通過型フィルタ9からの出力とがデータ検出用
比較器18で比較され、2値化データとしてデータ変復
調部17に出力される。なお、可変抵抗VR2 はデータ列
による出力電圧よりも大きく設定されているものとす
る。
出力は、低域通過型フィルタ4、高域通過型フィルタ9
に入力されており、低域通過型フィルタ4で積分したエ
ンベロープ信号を抵抗VR2 によって適当に減衰した電圧
と、高域通過型フィルタ9からの出力とがデータ検出用
比較器18で比較され、2値化データとしてデータ変復
調部17に出力される。なお、可変抵抗VR2 はデータ列
による出力電圧よりも大きく設定されているものとす
る。
【0019】トラック移動時においては、電流増幅器3
の出力は電極制御用比較器15に入力されており、図2
に示すようにトラック溝TのエッジA点にプローブ電極
1が到達すると、電極制御用比較器15でエッジ検出が
行われる。その出力はオア回路20を経てサンプルホー
ルド回路16に入力され、プローブ電極1のz軸方向の
動きがホールドされる。プローブ電極1がトラック溝T
を越えてエッジB点に到達して再びトンネル電流が流れ
始めると、オア回路20の出力がオフになり、プローブ
電極1のフィードバック制御が開始される。従って、プ
ローブ電極1の先端軌跡は図2の点線で示すようにな
る。トラック移動時に、複数のトラック溝Tを横切る場
合には、プローブ電極1がトラック溝Tを検出した時点
でプローブ電極1のz軸方向の動きをホールドし、この
動作を繰り返す。なお、トラック間移動以外でプローブ
電極1のz軸方向の動きをホールドする場合には、オア
回路20にオン信号を入力すればよい。
の出力は電極制御用比較器15に入力されており、図2
に示すようにトラック溝TのエッジA点にプローブ電極
1が到達すると、電極制御用比較器15でエッジ検出が
行われる。その出力はオア回路20を経てサンプルホー
ルド回路16に入力され、プローブ電極1のz軸方向の
動きがホールドされる。プローブ電極1がトラック溝T
を越えてエッジB点に到達して再びトンネル電流が流れ
始めると、オア回路20の出力がオフになり、プローブ
電極1のフィードバック制御が開始される。従って、プ
ローブ電極1の先端軌跡は図2の点線で示すようにな
る。トラック移動時に、複数のトラック溝Tを横切る場
合には、プローブ電極1がトラック溝Tを検出した時点
でプローブ電極1のz軸方向の動きをホールドし、この
動作を繰り返す。なお、トラック間移動以外でプローブ
電極1のz軸方向の動きをホールドする場合には、オア
回路20にオン信号を入力すればよい。
【0020】次に、プローブ電極1の走査においては、
電極制御用比較器15によって検出されるエッジ検出信
号は、アンド回路21、オア回路22を介してアップダ
ウンカウンタ23へのアップ入力となっており、トラッ
キング制御部19からアンド回路21に入力されるトラ
ック移動信号との論理積出力が取られ、次にオア回路2
2に入力されるアップ制御信号との論理和出力がとられ
ている。電極制御用比較器15がエッジを検出をして、
アップダウンカウンタ23がアップに切換わるとアップ
カウントが始まるが、一定数の計数後にトラッキング制
御部19からダウン制御信号が入力されて、再びダウン
カウントに変わる。
電極制御用比較器15によって検出されるエッジ検出信
号は、アンド回路21、オア回路22を介してアップダ
ウンカウンタ23へのアップ入力となっており、トラッ
キング制御部19からアンド回路21に入力されるトラ
ック移動信号との論理積出力が取られ、次にオア回路2
2に入力されるアップ制御信号との論理和出力がとられ
ている。電極制御用比較器15がエッジを検出をして、
アップダウンカウンタ23がアップに切換わるとアップ
カウントが始まるが、一定数の計数後にトラッキング制
御部19からダウン制御信号が入力されて、再びダウン
カウントに変わる。
【0021】一方で、アップダウンカウンタ23の出力
はD/A変換器24、増幅器26を介してx方向駆動電
極8bに接続されているので、円筒型ピエゾアクチュエ
ータ8によって、プローブ電極1がx軸方向に駆動され
る。アップダウンカウンタ23の出力信号は、トラッキ
ング制御部19からの出力方向制御信号によって制御さ
れる可変抵抗VR2 、抵抗R1を介して、トラッキング制御
部19からのウォブリング信号と合成されy方向駆動電
極8cに入力され、円筒型ピエゾアクチュエータ8によ
ってプローブ電極1をy軸方向にも駆動するようになっ
ている。従って、トラックの移動前に電極制御用比較器
15がエッジ検出をして、トラッキング制御部19から
トラック移動信号が入力されると、アップダウンカウン
タ23がアップに切換わり、そのトラックに沿ってプロ
ーブ電極が往復移動して走査が行われることになる。
はD/A変換器24、増幅器26を介してx方向駆動電
極8bに接続されているので、円筒型ピエゾアクチュエ
ータ8によって、プローブ電極1がx軸方向に駆動され
る。アップダウンカウンタ23の出力信号は、トラッキ
ング制御部19からの出力方向制御信号によって制御さ
れる可変抵抗VR2 、抵抗R1を介して、トラッキング制御
部19からのウォブリング信号と合成されy方向駆動電
極8cに入力され、円筒型ピエゾアクチュエータ8によ
ってプローブ電極1をy軸方向にも駆動するようになっ
ている。従って、トラックの移動前に電極制御用比較器
15がエッジ検出をして、トラッキング制御部19から
トラック移動信号が入力されると、アップダウンカウン
タ23がアップに切換わり、そのトラックに沿ってプロ
ーブ電極が往復移動して走査が行われることになる。
【0022】このプローブ電極1の走査方位は、可変抵
抗VR2 を調整し、x軸方向とy軸方向の駆動比を変える
ことによって制御することが可能であり、適正走査方位
はウォブリング電圧を変化してプローブ電極1をy軸方
向で移動し、この際のトンネル電流のエンベロープ信号
をモニタして調整する。なお、トラッキング制御部19
からアンド回路21に入力される信号は、トラック移動
時にはオフになっているのでプローブ電極1の走査方向
が反転することはない。
抗VR2 を調整し、x軸方向とy軸方向の駆動比を変える
ことによって制御することが可能であり、適正走査方位
はウォブリング電圧を変化してプローブ電極1をy軸方
向で移動し、この際のトンネル電流のエンベロープ信号
をモニタして調整する。なお、トラッキング制御部19
からアンド回路21に入力される信号は、トラック移動
時にはオフになっているのでプローブ電極1の走査方向
が反転することはない。
【0023】データ記録時には、プローブ電極1を記録
媒体2のデータ列に沿って走査し、データ書き込みクロ
ックに同期してサンプルホールド回路16をホールド状
態として、データ変復調部17から出力されるデータ信
号に従ってパルス発生器29より書込みパルスを発生す
る。
媒体2のデータ列に沿って走査し、データ書き込みクロ
ックに同期してサンプルホールド回路16をホールド状
態として、データ変復調部17から出力されるデータ信
号に従ってパルス発生器29より書込みパルスを発生す
る。
【0024】図3は第2の実施例の構成図を示し、この
実施例においては電極制御用比較器15の出力はサンプ
ルホールド回路16、アンド回路21、オフセット増幅
回路30に接続され、更に誤差増幅器6の出力がオフセ
ット増幅回路30に接続され、オフセット増幅回路30
の出力はz方向駆動電極8aに接続されている。また、
トラッキング制御部19はサンプルホールド回路16、
オフセット増幅回路30に接続されており、他の構成は
第1の実施例と同様である。
実施例においては電極制御用比較器15の出力はサンプ
ルホールド回路16、アンド回路21、オフセット増幅
回路30に接続され、更に誤差増幅器6の出力がオフセ
ット増幅回路30に接続され、オフセット増幅回路30
の出力はz方向駆動電極8aに接続されている。また、
トラッキング制御部19はサンプルホールド回路16、
オフセット増幅回路30に接続されており、他の構成は
第1の実施例と同様である。
【0025】この実施例では、電極制御用比較器15に
よってトラック溝Tが検出された後に、プローブ電極1
をホールドする動作が第1の実施例と異なっている。エ
ッジ検出信号が電極制御用比較器15からサンプルホー
ルド回路16、オフセット増幅回路30に入力される
と、プローブ電極1がホールドされるが、更にオフセッ
ト増幅回路30からz方向駆動電極8aに一定のオフセ
ット電圧が加えられるため、プローブ電極1は記録媒体
2から一定距離だけ離される。一定時間が経過すると、
トラッキング制御部19からサンプルホールド回路1
6、オフセット増幅回路30に信号が出力されて、ホー
ルド状態が解除され、再びプローブ電極1のフィードバ
ック制御が開始される。
よってトラック溝Tが検出された後に、プローブ電極1
をホールドする動作が第1の実施例と異なっている。エ
ッジ検出信号が電極制御用比較器15からサンプルホー
ルド回路16、オフセット増幅回路30に入力される
と、プローブ電極1がホールドされるが、更にオフセッ
ト増幅回路30からz方向駆動電極8aに一定のオフセ
ット電圧が加えられるため、プローブ電極1は記録媒体
2から一定距離だけ離される。一定時間が経過すると、
トラッキング制御部19からサンプルホールド回路1
6、オフセット増幅回路30に信号が出力されて、ホー
ルド状態が解除され、再びプローブ電極1のフィードバ
ック制御が開始される。
【0026】従って、プローブ電極1の先端の軌跡は図
4の点線で示すようになる。なお、広範囲移動の際に
は、アクセス位置に到達するまではプローブ電極1を記
録媒体2から遠去けておいて、アクセス位置で降下すれ
ばよい。これは動作にも適用可能であり、プローブ電極
1、記録媒体2の衝突が回避される。
4の点線で示すようになる。なお、広範囲移動の際に
は、アクセス位置に到達するまではプローブ電極1を記
録媒体2から遠去けておいて、アクセス位置で降下すれ
ばよい。これは動作にも適用可能であり、プローブ電極
1、記録媒体2の衝突が回避される。
【0027】記録媒体2には、プローブ電極1、記録媒
体2間の電流、電圧特性に対してメモリ効果を有するも
のが使用される。記録媒体2の表面に凹凸を形成して記
録を行うものでは、HOPG(Highly Oriental Pyrolit
hic Graphite) 劈開基板、シリコンウエハ、真空蒸着又
はエピタキシャル成長させたAu、Ag、Mo、Cu等
の金属薄膜、Rh25Zx75、Co35Tb65などのガラス
金属があり、記録媒体2の表面の電子状態によって記録
を行うものでは、アモルファスシリコン、π電子系有機
化合物、カルコゲン化合物類の薄膜層などがある。
体2間の電流、電圧特性に対してメモリ効果を有するも
のが使用される。記録媒体2の表面に凹凸を形成して記
録を行うものでは、HOPG(Highly Oriental Pyrolit
hic Graphite) 劈開基板、シリコンウエハ、真空蒸着又
はエピタキシャル成長させたAu、Ag、Mo、Cu等
の金属薄膜、Rh25Zx75、Co35Tb65などのガラス
金属があり、記録媒体2の表面の電子状態によって記録
を行うものでは、アモルファスシリコン、π電子系有機
化合物、カルコゲン化合物類の薄膜層などがある。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る情報処
理装置は、記録媒体上でエッジを検出した際には、プロ
ーブ電極のホールド状態が変化されるので、記録媒体上
に設けられたトラック溝等にプローブ電極の先端が入り
込むことがなく、プローブ電極と記録媒体の接触が防止
される。従って、走査速度を速めることができ、トラッ
ク間移動、データアクセスなどが高速化されるという効
果を有する。
理装置は、記録媒体上でエッジを検出した際には、プロ
ーブ電極のホールド状態が変化されるので、記録媒体上
に設けられたトラック溝等にプローブ電極の先端が入り
込むことがなく、プローブ電極と記録媒体の接触が防止
される。従って、走査速度を速めることができ、トラッ
ク間移動、データアクセスなどが高速化されるという効
果を有する。
【図1】第1の実施例の構成図である。
【図2】プローブ電極の先端の軌跡の説明図である。
【図3】第2の実施例の構成図である。
【図4】プローブ電極の先端の軌跡の説明図である。
【図5】第1の従来例の構成図である。
【図6】第2の従来例の構成図である。
【図7】従来例のプローブ電極の先端の軌跡の説明図で
ある。
ある。
1 プローブ電極 2 記録媒体 3 電流増幅器 4 低域通過型フィルタ 6 誤差増幅器 7、16 サンプルホールド回路 8 円筒型ピエゾアクチュエータ 9 高域通過型フィルタ 10 信号処理回路 13 ステージ 15 電極制御用比較器 19 トラッキング制御部 23 アップダウンカウンタ 27 ステージ制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 酒井 邦裕 東京都大田区下丸子三丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 畑中 勝則 東京都大田区下丸子三丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−1947(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 9/00 G11B 9/04
Claims (3)
- 【請求項1】 記録媒体からの信号を検出するプローブ
の位置をフィードバック制御するプローブ駆動手段と、
前記記録媒体上の所定のエッジを検出するエッジ検出手
段と、該エッジ検出手段からの出力信号に基づいて前記
プローブ駆動手段の制御をホールドするホールド手段と
を有することを特徴とする情報処理装置。 - 【請求項2】 前記ホールド手段によるホールドはエッ
ジ検出時の前記プローブの鉛直方向の位置に前記プロー
ブを固定するようにした請求項1に記載の情報処理装
置。 - 【請求項3】 前記ホールド手段によるホールドはエッ
ジ検出時の前記プローブの鉛直方向の位置よりも前記プ
ローブ電極を前記記録媒体から離した位置に固定するよ
うにした請求項1に記載の情報処理装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3139631A JP2930447B2 (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | 情報処理装置 |
CA002068587A CA2068587C (en) | 1991-05-15 | 1992-05-13 | Information reading and recording using a scanning tunnel microscope |
US07/882,930 US5299184A (en) | 1991-05-15 | 1992-05-14 | Information processing apparatus with held distance control on track edge detection |
EP92108160A EP0513790B1 (en) | 1991-05-15 | 1992-05-14 | Information processing apparatus |
AT92108160T ATE172811T1 (de) | 1991-05-15 | 1992-05-14 | Gerät zur informationsverarbeitung |
DE69227399T DE69227399T2 (de) | 1991-05-15 | 1992-05-14 | Gerät zur Informationsverarbeitung |
US08/174,443 US5485451A (en) | 1991-05-15 | 1993-12-28 | Information processing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3139631A JP2930447B2 (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | 情報処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04339337A JPH04339337A (ja) | 1992-11-26 |
JP2930447B2 true JP2930447B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=15249780
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3139631A Expired - Fee Related JP2930447B2 (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | 情報処理装置 |
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---|---|
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EP (1) | EP0513790B1 (ja) |
JP (1) | JP2930447B2 (ja) |
AT (1) | ATE172811T1 (ja) |
CA (1) | CA2068587C (ja) |
DE (1) | DE69227399T2 (ja) |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2744359B2 (ja) * | 1991-04-24 | 1998-04-28 | キヤノン株式会社 | 情報再生及び/又は情報記録装置 |
CA2080251C (en) * | 1991-10-15 | 1997-12-02 | Shunichi Shido | Information processing apparatus with tracking mechanism |
JPH05325275A (ja) * | 1992-05-20 | 1993-12-10 | Canon Inc | 記録再生装置 |
JP3025120B2 (ja) * | 1992-12-21 | 2000-03-27 | キヤノン株式会社 | 記録再生装置 |
JP3073616B2 (ja) * | 1992-12-24 | 2000-08-07 | キヤノン株式会社 | マルチプローブを具備する情報処理装置 |
US5517128A (en) * | 1993-01-05 | 1996-05-14 | Sentech Instruments Gmbh | Method and arrangement for charge carrier profiling in semiconductor structure by means of AFM scanning |
JP3135753B2 (ja) * | 1993-08-26 | 2001-02-19 | キヤノン株式会社 | プローブを用いた記録再生方法および装置 |
US5751683A (en) * | 1995-07-24 | 1998-05-12 | General Nanotechnology, L.L.C. | Nanometer scale data storage device and associated positioning system |
US6337479B1 (en) * | 1994-07-28 | 2002-01-08 | Victor B. Kley | Object inspection and/or modification system and method |
US6339217B1 (en) * | 1995-07-28 | 2002-01-15 | General Nanotechnology Llc | Scanning probe microscope assembly and method for making spectrophotometric, near-field, and scanning probe measurements |
JP3599440B2 (ja) * | 1994-12-05 | 2004-12-08 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置の探針位置制御機構および探針位置制御方法、情報処理装置 |
JP3610108B2 (ja) * | 1995-01-13 | 2005-01-12 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置 |
JP3581421B2 (ja) * | 1995-02-23 | 2004-10-27 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置 |
US6507553B2 (en) | 1995-07-24 | 2003-01-14 | General Nanotechnology Llc | Nanometer scale data storage device and associated positioning system |
US5835477A (en) * | 1996-07-10 | 1998-11-10 | International Business Machines Corporation | Mass-storage applications of local probe arrays |
JP3679525B2 (ja) * | 1996-10-07 | 2005-08-03 | キヤノン株式会社 | 情報記録再生装置、および情報記録再生方法 |
JPH10312592A (ja) * | 1997-05-13 | 1998-11-24 | Canon Inc | 情報処理装置および情報処理方法 |
US6459088B1 (en) | 1998-01-16 | 2002-10-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive stage and scanning probe microscope and information recording/reproducing apparatus using the same |
US6752008B1 (en) | 2001-03-08 | 2004-06-22 | General Nanotechnology Llc | Method and apparatus for scanning in scanning probe microscopy and presenting results |
US6787768B1 (en) | 2001-03-08 | 2004-09-07 | General Nanotechnology Llc | Method and apparatus for tool and tip design for nanomachining and measurement |
US7196328B1 (en) | 2001-03-08 | 2007-03-27 | General Nanotechnology Llc | Nanomachining method and apparatus |
US6923044B1 (en) | 2001-03-08 | 2005-08-02 | General Nanotechnology Llc | Active cantilever for nanomachining and metrology |
US6802646B1 (en) * | 2001-04-30 | 2004-10-12 | General Nanotechnology Llc | Low-friction moving interfaces in micromachines and nanomachines |
US6506087B1 (en) * | 1998-05-01 | 2003-01-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and manufacturing an image forming apparatus having improved spacers |
DE60039562D1 (de) * | 1999-02-03 | 2008-09-04 | Koninkl Philips Electronics Nv | Optische abtastvorrichtung mit parallelgesteuerten stellantrieben |
US6448553B1 (en) | 1999-04-26 | 2002-09-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Signal detector to be used with scanning probe and atomic force microscope |
EP1196939A4 (en) * | 1999-07-01 | 2002-09-18 | Gen Nanotechnology Llc | DEVICE AND METHOD FOR EXAMINING AND / OR CHANGING OBJECT |
US6931710B2 (en) * | 2001-01-30 | 2005-08-23 | General Nanotechnology Llc | Manufacturing of micro-objects such as miniature diamond tool tips |
US7253407B1 (en) | 2001-03-08 | 2007-08-07 | General Nanotechnology Llc | Active cantilever for nanomachining and metrology |
JP2002310882A (ja) * | 2001-04-17 | 2002-10-23 | Canon Inc | 走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 |
US6714033B1 (en) * | 2001-07-11 | 2004-03-30 | Lam Research Corporation | Probe for direct wafer potential measurements |
US7053369B1 (en) * | 2001-10-19 | 2006-05-30 | Rave Llc | Scan data collection for better overall data accuracy |
US6813937B2 (en) | 2001-11-28 | 2004-11-09 | General Nanotechnology Llc | Method and apparatus for micromachines, microstructures, nanomachines and nanostructures |
US6998689B2 (en) * | 2002-09-09 | 2006-02-14 | General Nanotechnology Llc | Fluid delivery for scanning probe microscopy |
KR100552698B1 (ko) * | 2003-11-24 | 2006-02-20 | 삼성전자주식회사 | 정보 저장 장치 및 그 정보 추종 방법 |
US8302456B2 (en) * | 2006-02-23 | 2012-11-06 | Asylum Research Corporation | Active damping of high speed scanning probe microscope components |
US7486403B2 (en) * | 2006-07-20 | 2009-02-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Droplet shape measuring method and apparatus |
US8066757B2 (en) * | 2007-10-17 | 2011-11-29 | Mindframe, Inc. | Blood flow restoration and thrombus management methods |
US9383388B2 (en) | 2014-04-21 | 2016-07-05 | Oxford Instruments Asylum Research, Inc | Automated atomic force microscope and the operation thereof |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4575822A (en) * | 1983-02-15 | 1986-03-11 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Method and means for data storage using tunnel current data readout |
JPS6180536A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-24 | ゼロツクス コーポレーシヨン | 原子規模密度情報記緑および読出し装置並びに方法 |
JPS6396756A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 記憶装置 |
JPS63142527A (ja) * | 1986-12-05 | 1988-06-14 | Hitachi Ltd | 光デイスク装置のフオ−カス引込み方法 |
EP0272935B1 (en) * | 1986-12-24 | 1994-03-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording device and reproducing device |
JP2556491B2 (ja) * | 1986-12-24 | 1996-11-20 | キヤノン株式会社 | 記録装置及び記録法 |
JP2556492B2 (ja) * | 1986-12-24 | 1996-11-20 | キヤノン株式会社 | 再生装置及び再生法 |
JP2603270B2 (ja) * | 1987-08-25 | 1997-04-23 | キヤノン株式会社 | 記録装置および再生装置 |
EP0338083B1 (en) * | 1987-10-09 | 1995-02-22 | Hitachi, Ltd. | Scanning tunneling microscope with means for correcting surface data |
JP2523144B2 (ja) * | 1987-11-18 | 1996-08-07 | 株式会社日立製作所 | 情報記録再生装置および情報記録媒体 |
JP2896794B2 (ja) * | 1988-09-30 | 1999-05-31 | キヤノン株式会社 | 走査型トンネル電流検出装置,走査型トンネル顕微鏡,及び記録再生装置 |
JP2859715B2 (ja) * | 1989-08-10 | 1999-02-24 | キヤノン株式会社 | 記録媒体用基板及びその製造方法、記録媒体、記録方法、記録再生方法、記録装置、記録再生装置 |
JP2783646B2 (ja) * | 1990-04-18 | 1998-08-06 | キヤノン株式会社 | 情報記録再生装置 |
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1991
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