JPH0483301A - 薄膜サーミスタ - Google Patents
薄膜サーミスタInfo
- Publication number
- JPH0483301A JPH0483301A JP2197247A JP19724790A JPH0483301A JP H0483301 A JPH0483301 A JP H0483301A JP 2197247 A JP2197247 A JP 2197247A JP 19724790 A JP19724790 A JP 19724790A JP H0483301 A JPH0483301 A JP H0483301A
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- film
- alumina substrate
- flat alumina
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- Pending
Links
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- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 52
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 29
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000035515 penetration Effects 0.000 abstract 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は耐熱性の高い薄膜サーミスタに関するもので、
この薄膜サーミスタは電気オーブン、ガスオーブンなど
の温度センサとして利用される。
この薄膜サーミスタは電気オーブン、ガスオーブンなど
の温度センサとして利用される。
従来の技術
第3図に示される従来のfml!サーミスタは、例えば
、長井、他 ナショナルテクニカルレポート(Nati
onal Technical Report) Vo
l、29+ (1983)P、145に示されるように
、高周波スパッタ法で形成された平板状アルミナ基板1
の一方の表面に炭化ケイ素(SiC)感温抵抗体膜2と
一対の厚膜電極WA3を形成した後、この一対の厚膜電
極膜3にPt線などの一対のリード線4を接続して構成
される。
、長井、他 ナショナルテクニカルレポート(Nati
onal Technical Report) Vo
l、29+ (1983)P、145に示されるように
、高周波スパッタ法で形成された平板状アルミナ基板1
の一方の表面に炭化ケイ素(SiC)感温抵抗体膜2と
一対の厚膜電極WA3を形成した後、この一対の厚膜電
極膜3にPt線などの一対のリード線4を接続して構成
される。
発明が解決しようとする課題
前記従来例に示されているように、一対の厚膜電極膜3
にPt線などの一対のリード線4を溶接接続している。
にPt線などの一対のリード線4を溶接接続している。
SiC@膜サーミスタは耐熱性に優れ、また広い温度領
域を検出するのに適した抵抗温度特性を有するので、0
〜350’Cの温度範囲で使用される温度センサとして
オーブンなどに実用されている。従って、一対のリード
線4として、耐熱性に優れるPt線、Ni線が用いられ
、一対のリード線4は溶接法で厚膜電極1II3に接続
される方法が用いられる。このときリード線4を接続す
る部分の電極!I3上に感温抵抗体膜2が形成され無い
ように感温抵抗体膜2が形成される。これはS i C
9lなとの感温抵抗体膜2にリード線4を溶接接続でき
ないからである。このように感温抵抗体膜2を平板状ア
ルミナ基板1の一方の表面の一部分に形成しなければな
らないので、感温抵抗体H2の形成作業が複雑になり、
多くの時間を必要とするという課題があった。
域を検出するのに適した抵抗温度特性を有するので、0
〜350’Cの温度範囲で使用される温度センサとして
オーブンなどに実用されている。従って、一対のリード
線4として、耐熱性に優れるPt線、Ni線が用いられ
、一対のリード線4は溶接法で厚膜電極1II3に接続
される方法が用いられる。このときリード線4を接続す
る部分の電極!I3上に感温抵抗体膜2が形成され無い
ように感温抵抗体膜2が形成される。これはS i C
9lなとの感温抵抗体膜2にリード線4を溶接接続でき
ないからである。このように感温抵抗体膜2を平板状ア
ルミナ基板1の一方の表面の一部分に形成しなければな
らないので、感温抵抗体H2の形成作業が複雑になり、
多くの時間を必要とするという課題があった。
特に、5iCIIIl!Iを感温抵抗体膜2に用いた場
合、5iCII膜は高周波スパッタリング法により60
0〜800℃の高い基板温度で形成されるので、リード
線4を接続する部分の電極膜3上にSiC感温抵抗体膜
2が形成され無いように、アルミナなどの高耐熱性材料
でその部分をマスクする作業は多くの時間を必要として
いる。この場合、アルミナなどのマスクにより、SiC
薄膜の膜厚が不均一になるという課題もあった。この結
果、サーミスタ特性、特に、B定数がばらつく〔土(5
〜10)%〕での、歩留まりが低く、高価格になるとい
う課題も発生していた。
合、5iCII膜は高周波スパッタリング法により60
0〜800℃の高い基板温度で形成されるので、リード
線4を接続する部分の電極膜3上にSiC感温抵抗体膜
2が形成され無いように、アルミナなどの高耐熱性材料
でその部分をマスクする作業は多くの時間を必要として
いる。この場合、アルミナなどのマスクにより、SiC
薄膜の膜厚が不均一になるという課題もあった。この結
果、サーミスタ特性、特に、B定数がばらつく〔土(5
〜10)%〕での、歩留まりが低く、高価格になるとい
う課題も発生していた。
本発明は上記課題を解決するもので、新規なサーミスタ
構成により、マスク作業を不要にすることを目的にして
いる。
構成により、マスク作業を不要にすることを目的にして
いる。
課題を解決するための手段
本発明の薄膜サーミスタは上記目的を達成するために、
平板状アルミナ基板と、前記平板状アルミナ基板に設け
られた一対の貫通口と、前記平板状アルミナ基板の一方
の表面から他の表面にわたり電気的に導通するように、
前記一対の貫通口をそれぞれ貫通して配置された一対の
導電性部材と、前記平板状アルミナ基板の前記一方の表
面に前記一対の貫通口を含むように配置された一対の電
極膜と、前記一対の電極膜に積層して配置された感温抵
抗体膜とから構成される。
平板状アルミナ基板と、前記平板状アルミナ基板に設け
られた一対の貫通口と、前記平板状アルミナ基板の一方
の表面から他の表面にわたり電気的に導通するように、
前記一対の貫通口をそれぞれ貫通して配置された一対の
導電性部材と、前記平板状アルミナ基板の前記一方の表
面に前記一対の貫通口を含むように配置された一対の電
極膜と、前記一対の電極膜に積層して配置された感温抵
抗体膜とから構成される。
作用
本発明は上述したように、平板状アルミナ基板の一方の
表面から他の表面にわたり電気的に導通するように、一
対の貫通口をそれぞれ貫通して配置された一対の導電性
部材と前記平板状アルミナの一方の表面に形成された一
対の電極膜がそれぞれ電気的に導通しており、他方、前
記平板状アルミナ基板の他の表面にまで貫通している前
記一対の導電性部材にリード線を接続できる。従って、
前記平板状アルミナ基板の一方の表面に形成された電極
膜の全面にわたり感温抵抗体膜が形成されてもよいので
、マスク作業を必要としない。
表面から他の表面にわたり電気的に導通するように、一
対の貫通口をそれぞれ貫通して配置された一対の導電性
部材と前記平板状アルミナの一方の表面に形成された一
対の電極膜がそれぞれ電気的に導通しており、他方、前
記平板状アルミナ基板の他の表面にまで貫通している前
記一対の導電性部材にリード線を接続できる。従って、
前記平板状アルミナ基板の一方の表面に形成された電極
膜の全面にわたり感温抵抗体膜が形成されてもよいので
、マスク作業を必要としない。
実施例
第1図は本発明の薄膜サーミスタの一実施例を示す断面
図である。平板状アルミナ基板1の対向する位置に一対
の貫通口5を設けた。平板状アルミナ基板1の形状は、
幅2−1長さ6■、厚さ0.5閣、また貫通口5の直径
は0.5論とした。この後、平板状アルミナ基板1の一
方の表面から他の表面にわたり電気的に導通するように
、前記−対の貫通口5を貫通して導電性部材6を配置し
た。
図である。平板状アルミナ基板1の対向する位置に一対
の貫通口5を設けた。平板状アルミナ基板1の形状は、
幅2−1長さ6■、厚さ0.5閣、また貫通口5の直径
は0.5論とした。この後、平板状アルミナ基板1の一
方の表面から他の表面にわたり電気的に導通するように
、前記−対の貫通口5を貫通して導電性部材6を配置し
た。
導電性部材6は、厚膜用ペースト、例えば、Agペース
ト、Ag−Pdペースト、Au−Ptペーストなど、を
貫通口5に充填した後、これを焼結し′て形成した。
ト、Ag−Pdペースト、Au−Ptペーストなど、を
貫通口5に充填した後、これを焼結し′て形成した。
次に、平板状アルミナ基板1の一方の表面に一対のAu
−Pt厚膜電極膜3を形成した。この−対の厚膜電極1
lI3と前記一対の導電性部材6とは、前記平板状アル
ミナ基板1の前記一方の表面にまで貫通している前記一
対の導電性部材6の一対の端部61で電気的に接続され
ている。その後スパッタ法によりSiC感温抵抗体l!
!!2を前記平板状アルミナ基板1の一方の表面の全面
にわたり形成して、薄膜サーミスタ素子を構成した。こ
のように前記SiC感温抵抗体Wa2を前記平板状アル
ミナ基板1の前記一方の表面の一部分に形成する必要が
ないので、マスク作業を全く必要としない、この結果、
前記SiC感温抵抗体膜2の膜厚は均一になり、サーミ
スタ特性、特に、B定数ばらつきは、従来、±(5〜1
0)%であったものが、本発明の薄膜サーミスタ素子で
は士(2〜4)%に低減した。
−Pt厚膜電極膜3を形成した。この−対の厚膜電極1
lI3と前記一対の導電性部材6とは、前記平板状アル
ミナ基板1の前記一方の表面にまで貫通している前記一
対の導電性部材6の一対の端部61で電気的に接続され
ている。その後スパッタ法によりSiC感温抵抗体l!
!!2を前記平板状アルミナ基板1の一方の表面の全面
にわたり形成して、薄膜サーミスタ素子を構成した。こ
のように前記SiC感温抵抗体Wa2を前記平板状アル
ミナ基板1の前記一方の表面の一部分に形成する必要が
ないので、マスク作業を全く必要としない、この結果、
前記SiC感温抵抗体膜2の膜厚は均一になり、サーミ
スタ特性、特に、B定数ばらつきは、従来、±(5〜1
0)%であったものが、本発明の薄膜サーミスタ素子で
は士(2〜4)%に低減した。
リード線の接続は、前記平板状アルミナ基板1の他の表
面にまで貫通している前記一対の導電性部材6の一対の
他の端部62と一対のリード線4を導電性厚膜焼結体7
で接続して構成した。
面にまで貫通している前記一対の導電性部材6の一対の
他の端部62と一対のリード線4を導電性厚膜焼結体7
で接続して構成した。
なお、前記一対の端部62と一対のリード線4とを溶接
接続する場合、第2図に示すように、前記平板状アルミ
ナ基板1の他の表面にまで貫通している前記一対の導電
性部材6の一対の他の端部62を含んで一対のリード線
接続用電極膜8を、前記平板状アルミナ基板1の他の表
面に形成することが好ましい、溶接する場合、1m”以
上の電極膜面積が好ましいからである。
接続する場合、第2図に示すように、前記平板状アルミ
ナ基板1の他の表面にまで貫通している前記一対の導電
性部材6の一対の他の端部62を含んで一対のリード線
接続用電極膜8を、前記平板状アルミナ基板1の他の表
面に形成することが好ましい、溶接する場合、1m”以
上の電極膜面積が好ましいからである。
また、前記一対の導電性部材6は、前記平板状アルミナ
基板1の一方の表面から他の表面への導電性を付与すれ
ばよいので、前記一対の導電性部材6は、必ずしも緻密
である必要はない。例えば、前記貫通口5の内周面に沿
って、前記導電性部材6が形成されてもよいことは明ら
かであろう。
基板1の一方の表面から他の表面への導電性を付与すれ
ばよいので、前記一対の導電性部材6は、必ずしも緻密
である必要はない。例えば、前記貫通口5の内周面に沿
って、前記導電性部材6が形成されてもよいことは明ら
かであろう。
発明の効果
以上述べて来たように、本発明によれば次に示す効果が
得られる。
得られる。
(I) 感温抵抗体膜を平板状アルミナ基板の一方の
表面の一部分に形成する必要がないので、マスク作業を
全く必要としない。
表面の一部分に形成する必要がないので、マスク作業を
全く必要としない。
(2) この結果、感温抵抗体膜の膜厚は均一になり
、サーミスタ特性、特に、B定数ばらつきは、従来の比
べ1/2以下に低減できる。
、サーミスタ特性、特に、B定数ばらつきは、従来の比
べ1/2以下に低減できる。
(3)複雑なマスク作業を必要としないので、作業時間
を低減できる。
を低減できる。
第1図は本発明の一実施例を示すElllサーミスタの
断面図、第2図は本発明の他の実施例を示す薄膜サーミ
スタの断面図、第3図は従来の薄膜サーミスタの断面図
である。 1・・・・・・平板状アルミナ基板、2・・・・・・感
温抵抗体膜、3・・・・・・一対の電極膜、5・・・・
・・一対の貫通口、6・・・・・・導電性部材。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はが1名第21!1 第3!!l
断面図、第2図は本発明の他の実施例を示す薄膜サーミ
スタの断面図、第3図は従来の薄膜サーミスタの断面図
である。 1・・・・・・平板状アルミナ基板、2・・・・・・感
温抵抗体膜、3・・・・・・一対の電極膜、5・・・・
・・一対の貫通口、6・・・・・・導電性部材。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はが1名第21!1 第3!!l
Claims (4)
- (1)平板状アルミナ基板と、前記平板状アルミナ基板
に設けられた一対の貫通口と、前記平板状アルミナ基板
の一方の表面から他の表面にわたり電気的に導通するよ
うに前記貫通口を貫通して配置された導電性部材と、前
記平板状アルミナ基板の前記一方の表面に前記貫通口を
含んで配置された一対の電極膜と、前記一対の電極膜に
積層して配置された感温抵抗体膜とから構成された薄膜
サーミスタ。 - (2)平板状アルミナ基板の他の表面に貫通口を含んで
配置された一対のリード線接続用電極膜を形成した特許
請求の範囲第1項記載の薄膜サーミスタ。 - (3)導電性部材が導電性厚膜焼結体である特許請求の
範囲第1項記載の薄膜サーミスタ。 - (4) 一対の電極膜がAu−Pt厚膜もしくはPt厚
膜、感温抵抗体膜がSiCスパッタ膜である特許請求の
範囲第3項記載の薄膜サーミスタ。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2197247A JPH0483301A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 薄膜サーミスタ |
DE69117374T DE69117374T2 (de) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | SiC-Dünnschichtthermistor und Verfahren und Herstellungsverfahren. |
CA002047639A CA2047639C (en) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | Sic thin-film thermistor |
AU81292/91A AU627663B2 (en) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | Sic thin-film thermistor |
EP91112296A EP0468429B1 (en) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | SiC thin-film thermistor and method of producing it. |
US07/734,691 US5216404A (en) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | Sic thin-film thermistor |
KR1019910012766A KR960011154B1 (ko) | 1990-07-25 | 1991-07-25 | SiC 박막더어미스터 및 그 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2197247A JPH0483301A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 薄膜サーミスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0483301A true JPH0483301A (ja) | 1992-03-17 |
Family
ID=16371298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2197247A Pending JPH0483301A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 薄膜サーミスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0483301A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7109842B1 (en) * | 1998-12-07 | 2006-09-19 | Honeywell International Inc. | Robust fluid flow and property microsensor made of optimal material |
-
1990
- 1990-07-25 JP JP2197247A patent/JPH0483301A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7109842B1 (en) * | 1998-12-07 | 2006-09-19 | Honeywell International Inc. | Robust fluid flow and property microsensor made of optimal material |
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