JPH048014A - 入力回路 - Google Patents

入力回路

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JPH048014A
JPH048014A JP2108850A JP10885090A JPH048014A JP H048014 A JPH048014 A JP H048014A JP 2108850 A JP2108850 A JP 2108850A JP 10885090 A JP10885090 A JP 10885090A JP H048014 A JPH048014 A JP H048014A
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transistor
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    • H03K3/3565Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger
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    • H03K19/0944Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
    • H03K19/0948Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET using CMOS or complementary insulated gate field-effect transistors

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) この発明は半導体集積回路における入力回路に係り、特
に相補MO5トランジスタで構成された入力回路に関す
る。
(従来の技術) 1135図はCMOS半導体集積回路内で入力回路とし
て用いられる従来のインバータを示す。このインバータ
は電源電位VCCと出力端子Outとの間にPチャネル
のMOSトランジスタ71を挿入し、出力端子Outと
接地電位vs、との間にNチャネルのMOSトランジス
タフ2を挿入し、両トランジスタ71.72のゲートを
入力端子Inに接続することによって構成されている。
また、第36図はCMOS半導体集積回路内で入力回路
として用いられる従来の2人力NAND回路を示す。こ
のNAND回路は電源電位VCCと出力端子Outとの
間にPチャネルのMOSトランジスタフ3を、出力端子
Outと接地電位VSSとの間に2個のNチャネルのM
OSトランジスタ74.75を挿入し、さらに電源電位
VCCと出力端子Outとの間にPチャネルのMOSト
ランジスタ76を、出力端子Outと接地電位VSSと
の間に2個のNチャネルのMOSトランジスタフ7、7
8を挿入し、トランジスタ73.74.78の各ゲート
を第1の入力端子Inlに共通に接続し、トランジスタ
75.78.77の各ゲートを第2の入力端子In2に
共通に接続することによって構成されている。
さらに第37図は、CMOS半導体集積回路内で入力回
路として用いられる従来の2人力NOR回路を示す。こ
のNOR回路は電源電位VCCと出力端子Outどの間
に2個のPチャネルのMOSトランジスタ79. F2
Oを、出力端子Outと接地電位V5.との間にNチャ
ネルのMOSトランジスタ81を挿入し、さらに電源電
位VCCと出力端子Outとの間に2個のPチャネルの
MOSトランジスタ82゜83を、出力端子Outと接
地電位vssとの間にNチャネルのMOSトランジスタ
84を挿入し、トランジスタ79.83の各ゲートを第
2の入力端子In2に共通に接続し、トランジスタ80
.81.82.84の各ゲートを第1の入力端子1nl
に共通に接続することによって構成されている。
MOSトランジスタによって構成されたインバータ、N
AND回路及びNOR回路等の入力回路では、製造時に
MOSトランジスタのしきい値電圧がばらつくと、回路
しきい値電圧もばらつくことが知られている。そして、
入力信号としてTTLレベルの信号を受ける際には、C
MOSレベルの信号を受ける場合と比べて入力ノイズマ
ージンの規格範囲が広くなり、回路しきい値電圧のばら
つきを極力おさえるべき対策が必要となってきている。
ところで、上記従来の各入力回路の回路しきい値電圧は
、2種類のトランジスタ、即ちPチャネルとNチャネル
のMOSトランジスタのしきい値電圧が相補的にばらつ
く場合に大きく変動する。
例えば第35図のインバータにおいて、入力端子Inの
電位が回路しきい値電圧の近傍に達した時の等価回路を
第38図に示す。この場合、Pチャネル及びNチャネル
のMOSトランジスタの導通抵抗は共にRで等しいと仮
定すると、出力電位は電源電圧VCCの半分の値になる
一般に、第35図に示すようなインバータの回路しきい
値電圧v theは次の1式で表される。
ここで、 VCC+電源電位 βPDPチャネルMOSトランジスタのβ値βN ;N
チャネルMOSトランジスタのβ値Vthpl;Pチャ
ネルMO8トランジスタのしきい値電圧(絶対値) VthN;NチャネルMOSトランジスタのしきい値電
圧 上記1式において、βP−βNなる条件を加えて簡単化
すると、次の2式が得られる。
られる。
上記2式より、回路しきい値電圧は、インバータを構成
している2種類のチャネルのMOSトランジスタのしき
い値電圧が相補的に、即ちVthp l カVthN 
ヨ?) モ大、モジ<ハVthplがV thNよりも
小となるようにばらついた時に変動することが理解でき
る。換言すれば、入力電位がインバータの回路しきい値
電圧の近傍に達した時に、導通抵抗にばらつきが生じる
ことによって回路しきい値電圧に変動が生じることを意
味している。
ここで、第35図のインバータにおいて、Pチャネルの
MOSトランジスタの導通抵抗がRからR+ΔRに、N
チャネルのMOSトランジスタの導通抵抗がRからR−
ΔRにそれぞれ変化した時の等価回路を第39図に示す
。この第39図の等価回路における出力電位v out
は次の3式で与え一方、上記とは逆に、PチャネルのM
OSトランジスタの導通抵抗がRからR−ΔRに変化し
、NチャネルのMOSトランジスタの導通抵抗がRから
R+ΔRに変化した時の等価回路は第40図であり、こ
の等価回路における出力電位v outは次の4式で与
えられる。
このように従来のインバータでは、トランジスタのしき
い値電圧が変動することにより、回路しきい値電圧が変
動するという問題がある。
上記のような問題は、電源電位vccと接地電位VSS
との間にPチャネル及びNチャネルのMOSトランジス
タが直列に挿入されている第36図のNAND回路や第
37図のNOR回路等でも同様に生じる。
また、入力信号が外乱要因により影響を受けることが予
想される場合には通常、入力回路としてシュミットトリ
ガ回路が用いられる。第41図は従来のシュミットトリ
ガ回路の構成を示すものであり、この回路は、電源電位
V。CとノードNilとの間に2個のPチャネルのMo
5トランジスタ91゜92を挿入し、ノードNilと接
地電位VSSとの間に2個のNチャネルのMo5トラン
ジスタ93.94ヲ挿入し、これらトランジスタ91.
92.93.94の各ゲートに入力信号を供給し、上記
ノードNilの信号を直列接続された2個のインノく一
夕95.96で順次反転して出力信号として取り出すと
共に、さらにトランジスタ91と92の直列接続ノード
N12と接地電位VSgとの間にPチャネルのMOSト
ランジスタ97を、トランジスタ93と94の直列接続
ノードNllと電源電位VCCとの間にNチャネルのM
OSトランジスタ98をそれぞれ挿入し、両トランジス
タ97.98の各ゲートにインバータ96の出力信号、
すなわち出力端子Outの信号を供給することによって
構成されている。
次にこのシュミットトリガ回路の動作原理について簡単
に説明する。いま、入力信号が接地電位Vss(以下、
これを“L”と称する)のとき、ノードN13の電位v
bはトランジスタ98によりV。C−V thNに設定
されている。そして、入力信号の電位が上昇するにつれ
て電位vbは下降していくが、トランジスタ93が導通
し始める入力電位はVb’ +VthN  (ただし、
vb’ はトランジスタ94、98の素子定数と入力電
位に応じて定まる電位)である。ここで、仮に帰還素子
であるトランジスタ98が設けられていない場合に、ト
ランジスタ93が導通し始める入力電位はV thNで
あり、トランジスタ98を付加したことにより、入力が
“L”から電源電位Vcc(以下、これを“H′と称す
る)に上昇する時の回路しきい値電圧はvb′だけ高く
なる。
一方、入力信号が“H′のとき、ノードの電位Vaはト
ランジスタ97により1■thp 1に設定されている
。そして、入力信号の電位が下降するにつれて電位Va
は上昇していくが、トランジスタ92が導通し始める入
力電位はVa’ + l vthp(ただし、Va’ 
はトランジスタ91.97の素子定数と入力電位に応じ
て定まる電位)である。ここで、仮に帰還素子であるト
ランジスタ97が設けられていない場合に、トランジス
タ92が導通し始める入力電位はVcc−l Vthp
 lであり、トランジスタ97を付加したことにより、
入力が“H”から“Loに下降する時の回路しきい値電
圧は■。。−Va’だけ低くなる。そして、Vb’+V
thNとVcc  l Vt11p lとの電位差がヒ
ステリシス電圧幅となる。
ところで、上記従来のシュミットトリガ回路では、予め
定められた入力ノイズマージン、例えば電源電位VCC
が2vのときは最小高レベル入力電位(V IHmin
 )が1,5V、最大低レベル入力電位(V ILma
x )がQ、5 V%Vccが5vのときはV IHm
lnが3.5 V、 VILmaxが1.5Vの規格内
でシュミット特性を実現し、かつなるべくヒステリシス
電圧幅を広く設定しようとした場合、トランジスタのし
きい値電圧の変動の影響により、特に低電源電圧下では
大きな制約を受けることになる。
換言すれば、Vcoが5Vの条件のときは入力ノイズマ
ージン規格に対して余裕があるにもかかわらず、これ以
上にヒステリシス電圧幅を広く設定するとV。Cが2v
の条件のときに上記規格を守れなくなってしまう。
(発明が解決しようとする課題) 上記のようにCMOS半導体集積回路内で入力回路とし
て用いられる従来のインバータ、NAND回路、NOR
回路及びシュミットトリガ回路では、トランジスタのし
きい値電圧が変動することにより、回路しきい値電圧も
大幅に変動するという問題があり、特にシュミットトリ
ガ回路ではこの影響により、低電源電圧下におけるヒス
テリシス電圧幅を広く設定することができないという問
題が発生する。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
あり、その目的は、トランジスタのしきい値電圧の変動
に対する回路しきい値電圧の変動を従来に比べて抑制す
ることができる入力回路を提供することにある。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) この発明の入力回路は、 一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
れた第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電型の
第2のMOSトランジスタと、上記第1のMOSトラン
ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第1
の電位に接続された第2導電型の第3のMOSトランジ
スタと、一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子
に接続された第2導電型の第4のMOSトランジスタと
、 上記第4のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電型の
第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSトラン
ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第2
の電位に接続された第1導電型の第6のMOSトランジ
スタとを具備したことを特徴とする。
この発明の入力回路は、 一端が第1の電位に接続されゲートが第1の入力端子に
接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第1導
電型の第2のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の電位に接続された第2導電型
の第3のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に接
続されゲートが第2の入力端子に接続された′!s2導
電型の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端に一端がされゲー
トが第1の入力端子に接続された第2導電型の第5のM
OSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第2導
電型の第6のMOSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電型
の第7のMOSトランジスタと、一端が第1の電位に接
続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導電型
の第8のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導
電型の第9のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の電位に接続された第1導電型
の第10のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に
接続されゲートがjIllの入力端子に接続された第2
導電型の第11のMOSトランジスタと、 上記第11のMOSトランジスタの他端に一端がされ接
続ゲートが第2の入力端子に接続された第2導電型の第
12のMOSトランジスタと、上記第12のMOSトラ
ンジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第
2の入力端子に接続された第2導電型の第13のMOS
トランジスタと、 上記第12のMOSトランジスタの他端と出力端子との
間に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電
型の第14のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする。
この発明の入力回路は、 一端が第1の電位に接続されゲートが第1の入力端子に
接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第1導
電型の第2のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の電位に接続された第2導電型
の第3のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に接
続されゲートが第1の入力端子に接続された第2導電型
の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端に一端がされゲー
トが第2の入力端子に接続された第2導電型の第5のM
OSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第2導
電型の第6のMOSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電型
の第7のMOSトランジスタと、一端が第1の電位に接
続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導電型
の′1a8のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導
電型の第9のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが第1の電位に接続された第1導電型
の第10のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に
接続されゲートが第2の入力端子に接続された第2導電
型の第11のMOSトランジスタと、 上記第11のMOSトランジスタの他端に一端が接続さ
れゲートが第1の入力端子に接続された第2導電型の第
12のMOSトランジスタと、上記第12のMOSトラ
ンジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第
2の入力端子に接続された第2導電型の第13のMOS
トランジスタと、 上記第12のMOSトランジスタの他端と出力端子との
間に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電
型の第14のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする。
この発明の入力回路は、 一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
れた第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電型の
第2のMOSトランジスタと、上記第1のMOSトラン
ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第1
の電位に接続された第2導電型の第3のMOSトランジ
スタと、一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子
に接続された第2導電型の第4のMOSトランジスタと
、 上記第4のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電型の
第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSトラン
ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第2
の電位に接続された第2導電型の第6のMOSトランジ
スタと、上記第1のMOSトランジスタの他端と第2の
電位との間に接続されゲートが出力端子に接続された第
1導電型の第7のMOSトランジスタと、上記第4のM
OSトランジスタの他端と第1の電位との間に接続され
ゲートが出力端子に接続された第2導電型の第8のMO
Sトランジスタとを具備したことを特徴とする。
この発明の入力回路は、 一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
れた第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と第1のノードと
の間に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電
型の第2のMOSトランジスタと、上記第1のMOSト
ランジスタの他端と第1のノードとの間に接続されゲー
トが11の電位に接続された第2導電型の第3のMOS
トランジスタと、 一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
れた第2導電型の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端と第10ノードと
の間に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電
型の第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSト
ランジスタの他端と第1のノードとの間に接続されゲー
トが第2の電位に接続された第2導電型の第6のMOS
トランジスタと、 上記第1のノードと出力信号を得る第2のノードとの間
に直列に挿入された偶数個の反転回路と、上記第1のM
OSトランジスタの他端と第2の電位との間に接続され
ゲートが第2のノードに接続された第1導電型の第7の
MOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端とjl!1の電位
との間に接続されゲートが第2のノードに接続された第
2導電型の第8のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする。
この発明の入力回路は、 一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
れた第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と第1のノードと
の間に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電
型の第2のMOSトランジスタと、上記第1のノードと
出力信号を得る第2のノードとの間に直列に挿入された
偶数個の反転回路と、上記第1のMOSトランジスタの
他端と第1のノードとの間に接続されゲートが第2のノ
ードに接続された第2導電型の第3のMOSトランジス
タと、 一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
れた第2導電型の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端と第1のノードと
の間に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電
型の第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSト
ランジスタの他端と第1のノードとの間に接続されゲー
トが第2のノードに接続された第2導電型の′!s6の
MOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と第2の電位との
間に接続されゲートが第2のノードに接続された第1導
電型の第7のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端と第1の電位との
間に接続されゲートが第2のノードに接続された第2導
電型の第8のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする。
(作 用) 上記入力回路では、入力信号が供給される第1導電型の
MOSトランジスタに対してはゲートが第1の電位に接
続され導通可能にされた2導電型のMOSトランジスタ
を、第2導電型のMOSトランジスタに対してはゲート
が第2の電位に接続され導通可能にされた1導電型のM
OSトランジスタをそれぞれ並列に接続することにより
、第1導電型と2導電型のMOSトランジスタのしきい
値電圧が相補的にばらついた場合の並列抵抗の値を当初
の設計値に近づけることができる。これにより、トラン
ジスタのしきい値電圧が変動しても、回路しきい値電圧
の変動を抑制することができる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明を実施例により説明する
第1図はこの発明の入力回路をインバータに実施した場
合の構成を示す回路図である。電源電位VCCと出力端
子Outとの間には2個のPチャネルのMOSトランジ
スタ11.12が直列に挿入されている。また、上記出
力端子Outと接地電位VSSとの間には2個のNチャ
ネルのMOSトランジスタ13、14が直列に挿入され
ている。上記トランジスタ11.12. II、 14
の各ゲートは入力端子Inに共通に接続されている。さ
らに上記トランジスタ12に対してNチャネルのMOS
トランジスタ15が並列に接続されており、このトラン
ジスタ15のゲートは電源電位VCCに接続されている
。また、上記トランジスタ13に対してPチャネルのM
OSトランジスタ16が並列に接続されており、このト
ランジスタ16のゲートは接地電位■ssに接続されて
いる。
すなわち、上記インバータは、ゲートに入力信号が供給
されるPチャネルのMOSトランジスタ12に対し、ゲ
ートが電源電位VCCに接続され導通可能にされたNチ
ャネルのMOSトランジスタ15を並列に接続し、ゲー
トに入力信号が供給されるNチャネルのMOSトランジ
スタ13に対し、ゲートが接地電位VSSに接続され導
通可能にされたPチャネルのMOSトランジスタ16を
並列に接続したものである。
このような構成のインバータにおいて、入力端子Inの
信号が′L1のときは、Pチャネルのトランジスタ11
.12が導通するので出力端子Outの信号は“H″に
なる。一方、入力端子Inの信号が“H”のときは、N
チャネルのトランジスタ13゜14が導通するので出力
端子Outの信号は“Loになる。すなわち、この回路
は入力信号を反転するインバータとして作用する。
次に上記実施例回路において、Pチャネル及びNチャネ
ルのトランジスタのしきい値電圧が変動した場合を考え
る。前記のように、入力電位がインバータの回路しきい
値電圧の近傍に達した時に、各トランジスタの導通抵抗
にばらつきが生じることによって回路しきい値電圧に変
動が生じるのである。そこでら、入力電位がインバータ
の回路しきい値電圧の近傍に達した時のPチャネルのM
OSトランジスタの導通抵抗がそれぞれRからR+ΔR
に変化し、NチャネルのMOSトランジスタの導通抵抗
がそれぞれRからR−ΔRに変化した時の等価回路を第
2図に示す。そして、この第2図の等価回路における出
力電位V outは次の5式で与えられる。
ただし、 また、上記とは逆に、PチャネルのMOSトランジスタ
の導通抵抗がそれぞれRからR−ΔRに変化し、Nチャ
ネルのMOSトランジスタの導通抵抗がそれぞれRから
R+ΔRに変化した時の等価回路を第3図に示す。そし
て、この第3図の等価回路における出力電位V out
は次の6式で与えられる。
ここで、従来回路における前記3式、4式と上記実施例
回路における上記5式、6式とをそれぞれ比較すると、
上記実施例回路の方が従来回路よりも出力電位の変動が
抑制されていることがわかる。換言すれば、トランジス
タの導通抵抗のばらつきが抑制されており、回路しきい
値電圧のばらつきを抑制する効果が得られることがわか
る。
第4図は上記実施例によるインバータと前記第35図に
示す従来のインバータにおいて、PチャネルMO5トラ
ンジスタのしきい値電圧v thpとNチャネルMOS
トランジスタのしきい値電圧V thNとを変化させた
場合の、回路しきい値電圧V thCの変化を示す特性
図であり、特性aは上記実施例回路のものであり、特性
すは従来回路のものである。第4図に示すように、V 
thPを高くかつV thNを低く設定した場合と、v
 thpを低くかつV thNを高く設定した場合の回
路しきい値電圧の差分、すなわち回路しきい値電圧のば
らつきΔv theが、従来回路では0.6■であるの
に対し、上記実施例回路では0.41Vにすることがで
きた。
第5図は、TTL入力を受けるために回路しきい値電圧
を下げた場合の、従来回路と上記実施例回路における回
路しきい値電圧のばらつき特性を示す特性図であり、特
性aは上記実施例回路のものであり、特性すは従来回路
のものである。なお、このときの電源電位VCCは5■
である。図示のように、従来回路における回路しきい値
電圧のばらつきΔVthCが0.57Vであるのに対し
、上記実施例回路では0.43Vに抑制されている。こ
の場合のTTL回路における最小高レベル入力電位(V
l)I鳳in )は2.OV、最大低レベル入力電位(
V ILmax )は0.8Vであり、上記実施例0 
路ノ場合にΔV thCはこのVIH厘inとV IL
saxとの範囲に十分入っており、十分な電源マージン
を持っている。
第6図はこの発明の入力回路を2人力のNAND回路に
実施した場合の構成を示す回路図である。電源電位VC
Cと出力端子Outとの間には2個のPチャネルのMO
Sトランジスタ21.22が直列に挿入されている。上
記出力端子Outと接地電位VSSとの間には3個のN
チャネルのMOSトランジスタ23.24.25が直列
に挿入されている。
上記トランジスタ21.22.28及び24の各ゲート
は第1の入力端子1nlに共通に接続され、トランジス
タ25のゲートは第2の入力端子1n2に接続されてい
る。上記トランジスタ22に対してNチャネルのMOS
トランジスタ26が並列に接続されており、このトラン
ジスタ26のゲートは電源電位V。0に接続されている
。また、上記トランジスタ23に対してPチャネルのM
OSトランジスタ27が並列に接続されており、このト
ランジスタ27のゲートは接地電位VIi5に接続され
ている。さらに、電源電位VCCと出力端子Outとの
間には2個のPチャネルのMOSトランジスタ28.2
9が直列に挿入されている。上記出力端子Oυtと接地
電位V、5との間には3個のNチャネルのMOSトラン
ジスタ30.31゜32が直列に挿入されている。上記
トランジスタ28゜29、30及び31の各ゲートは第
2の入力端子In2に共通に接続され、トランジスタ3
2のゲートは第1の入力端子1nlに接続されている。
上記トランジスタ29に対してNチャネルのMOSトラ
ンジスタ33が並列に接続されており、このトランジス
タ33のゲートは電源電位V。Cに接続されている。ま
た、上記トランジスタ30に対してPチャネルのMOS
トランジスタ34が並列に接続されており、このトラン
ジスタ34のゲートは接地電位v5.に接続されている
上記実施例のNAND回路において、第1の入力端子I
nl及び第2の入力端子In2の信号が共に′″H#の
ときは、トランジスタ24.25.28が導通し、トラ
ンジスタ30.31.82が導通するため、出力端子O
utの信号はL1になる。第1の入力端子Inl及び第
2の入力端子1n2の信号のうちいずれか一方又は両方
が“Lゝのときは、トランジスタ21.22及び28.
29のいずれか1組又は両組が導通し、出力端子Out
の信号はH”になる。
ここで、Pチャネルのトランジスタ22にはNチャネル
のトランジスタ26が、Nチャネルのトランジスタ23
にはPチャネルのトランジスタ27がそれぞれ並列に接
続され、Pチャネルのトランジスタ29にはNチャネル
のトランジスタ33が、Nチャネルのトランジスタ30
にはPチャネルのトランジスタ34がそれぞれ並列に接
続されているため、上記実施例のインバータの場合と同
様に、トランジスタの導通抵抗のばらつきが抑制され、
回路しきい値電圧のばらつきを抑制させることができる
第7図はこの発明の入力回路を2人力のNAND回路に
実施した場合の構成を示す回路図である。この実施例回
路が上記第6図の実施例回路と異なる点は、前記トラン
ジスタ24のゲートを第1の入力端子1nlに接続する
代わりに第2の入力端子In2に接続し、前記トランジ
スタ25のゲートを第2の入力端子In2に接続する代
わりに第1の入力端子Inlに接続すると共に、前記ト
ランジスタ31のゲートを第2の入力端子In2に接続
する代わりに第1の入力端子1nlに接続し、前記トラ
ンジスタ31のゲートを第1の入力端子1nlに接続す
る代わりに第2の入力端子In2に接続するようにした
ことである。
この実施例回路の場合も、トランジスタ22.23゜2
9及び30に対しそれぞれ逆導電型のトランジスタ2B
、 27.33及び34が並列に接続されているので、
トランジスタの導通抵抗のばらつきが抑制され、回路し
きい値電圧のばらつきを抑制させることができる。
第8図は、TTL入力を受けるために回路しきい値電圧
を下げた場合の、前記第36図に示す従来のNAND回
路と上記両実施例のNAND回路における回路しきい値
電圧のばらつき特性を示す特性図であり、特性aは上記
両実施例回路のものであり、特性すは従来回路のもので
ある。なお、このときの電源電位VCCは5vである。
図示のように、従来回路における回路しきい値電圧のば
らツ@ ΔV the ハ1.13V テあり、TTL
回路における最小高レベル入力電位(V IHmin 
)の2.Ovと、最大低レベル入力電位(V IL■a
X )の0.8vとの範囲からずれている。これに対し
、上記両実施例回路テハΔV thCハ1.05V t
’あり、VIHmlnトVIL■aXとの間の範囲に収
まっている。
第9図はこの発明の入力回路を2人力のNOR回路に実
施した場合の構成を示す回路図である。
電源電位VCCと出力端子Outとの間には3個のPチ
ャネルのMOSトランジスタ41.42.43が直列に
挿入されている。上記出力端子Outと接地電位VSS
との間には2個のNチャネルのMOSトランジスタ44
.45が直列に挿入されている。上記トランジスタ41
のゲートは第2の入力端子1n2に接続され、トランジ
スタ42.43.44及び45の各ゲートは第1の入力
端子Inlに共通に接続されている。
上記トランジスタ48に対してNチャネルのMOSトラ
ンジスタ46が並列に接続されており、このトランジス
タ46のゲートは電源電位VCCに接続されている。ま
た、上記トランジスタ44に対してPチャネルのMOS
トランジスタ47が並列に接続されており、このトラン
ジスタ47のゲートは接地電位vssに接続されている
。さらに、電源電位VCCと出力端子Outとの間には
3個のPチャネルのMOSトランジスタ4B、 49.
50が直列に挿入されている。上記出力端子Outと接
地電位Vs5との間には2個のNチャネルのMOSトラ
ンジスタ51゜52が直列に挿入されている。上記トラ
ンジスタ48のゲートは第1の入力端子1nlに接続さ
れ、トランジスタ49.50.51及び52の各ゲート
は第2の入力端子In2に共通に接続されている。上記
トランジスタ50に対してNチャネルのMOSトランジ
スタ53が並列に接続されており、このトランジスタ5
3のゲートは電源電位■ccに接続されている。また、
上記トランジスタ51に対してPチャネルのMOSトラ
ンジスタ54が並列に接続されており、このトランジス
タ54のゲートは接地電位v5.に接続されている。
上記実施例のNOR回路において、第1の入力端子1n
l及びj@2の入力端子1n2の信号が共に“L″のと
きは、トランジスタ41.42.43が導通し、トラン
ジスタ48.49.50が導通するため、出力端子Ou
tの信号は”H”になる。第1の入力端子1nl及び第
2の入力端子1n2の信号のうちいずれか一方が“H”
のときは、トランジスタ44.45及び51.52のい
ずれか1組又は両組が導通し、出力端子Outの信号は
1L”になる。
ここで、Pチャネルのトランジスタ43にはNチャネル
のトランジスタ46が、Nチャネルのトランジスタ44
にはPチャネルのトランジスタ47がそれぞれ並列に接
続され、Pチャネルのトランジスタ50にはNチャネル
のトランジスタ53が、Nチャネルのトランジスタ51
にはPチャネルのトランジスタ54がそれぞれ並列に接
続されているため、上記実施例のインバータの場合と同
様に、トランジスタの導通抵抗のばらつきが抑制され、
回路しきい値電圧のばらつきを抑制させることができる
第10図はこの発明の入力回路を2人力のNOR回路に
実施した場合の構成を示す回路図である。この実施例回
路が上記第9図の実施例回路と異なる点は、前記トラン
ジスタ41のゲートを第2の入力端子In2に接続する
代わりに第1の入力端子1nlに接続し、前記トランジ
スタ42のゲートを第1の入力端子Inlに接続する代
わりに第2の入力端子1n2に接続すると共に、前記ト
ランジスタ48のゲートを第1の入力端子1nlに接続
する代わりに第2の入力端子In2に接続し、前記トラ
ンジスタ49のゲートを第2の入力端子In2に接続す
る代わりに第1の入力端子Inlに接続するようにした
ことである。
この実施例回路の場合も、トランジスタ43.44゜5
0及び51に対しそれぞれ逆導電型のトランジスタ4B
、 47.53及び54が並列に接続されているので、
トランジスタの導通抵抗のばらつきが抑制され、回路し
きい値電圧のばらつきを抑制させることができる。
ところで、上記第6図、第7図に示すNAND回路、上
記第9図、第10図に示すNOR回路では、第1、第2
の入力端子1nLIn2のうち、いずれか一方の信号を
“H#もしくは°L°に固定し、インバータとして使用
する場合が多々ある。
そして、このように使用される場合、NAND回路では
前記トランジスタ26と27及びトランジスタ33と3
4のうちいずれか一方を省略することができる。すなわ
ち、第1の入力端子Inlの信号を“H”に固定する場
合にはトランジスタ2Bと27を、第2の入力端子In
2の信号を′H′に固定する場合にはトランジスタ33
と34をそれぞれ省略することができる。
同様に、NOR回路でも前記トランジスタ46と47及
びトランジスタ53と54のうちいずれか一方を省略す
ることができる。すなわち、第1の入力端子Inlの信
号を“Loに固定する場合にはトランジスタ46と47
を、第2の入力端子In2の信号をL”に固定する場合
にはトランジスタ53と54をそれぞれ省略することが
できる。
第11図はこの発明の入力回路をシュミットトリガ回路
に実施した場合の構成を示す回路図である。電源電位V
CCとノードNとの間には2個のPチャネルのMOSト
ランジスタ81.82が直列に挿入されている。上記ノ
ードN1と接地電位VSSとの間には2個のNチャネル
のMOSトランジスタ83、84が直列に挿入されてい
る。上記トランジスタ81.62.8!l及び64の各
ゲートは入力端子Inに接続されている。また、上記ト
ランジスタ62に対してNチャネルのMOSトランジス
タロ5が並列に接続されており、このトランジスタ65
のゲートは電源電位VCCに接続されている。さらに、
上記トランジスタ63に対してPチャネルのMOSトラ
ンジスタ66が並列に接続されており、このトランジス
タ66のゲートは接地電位VSSに接続されている。
上記トランジスタ62と65の接続ノードN2と接地電
圧v5.との間にはPチャネルのMOSトランジスタロ
7が、上記トランジスタ63と64の接続ノードN3と
電源電位VCCとの間にはNチャネルのMOSトランジ
スタロ8がそれぞれ挿入されている。
一方、上記ノードN1はインバータ69の入力端に、さ
らにこのインバータ69の出力端はインバータ70の入
力端にそれぞれ接続されており、インバータ70の出力
端は出力端子Outに接続されている。
そして、上記両トランジスタ67、68のゲートは出力
端子Outに接続されている。
なお、上記実施例回路では、トランジスタ62゜63、
65及び6Bそれぞれの導通時の抵抗値が、トランジス
タ81.64.87.6+1ぞれそれの2倍となるよう
に素子寸法等が設定されている。
このような構成でなるシュミットトリガ回路は、前記第
41図の従来回路に対して新たにNチャネルのMOSト
ランジスタロ5とPチャネルのMOSトランジスタ6B
が追加されたものであり、Pチャネルのトランジスタ6
2が導通する際にその両端間の導通抵抗の値は、これと
並列に接続されたNチャネルのトランジスタ65の導通
抵抗との並列抵抗値となる。他方、Nチャネルのトラン
ジスタ63が導通する際にその両端間の導通抵抗の値は
、これと並列に接続されたPチャネルのトランジスタ6
6の導通抵抗との並列抗値となる。従って、製造時にN
チャネルのトランジスタとPチャネルのトランジスタの
しきい値電圧が相補的にばらついた場合でも、ノードN
1とN2及びノードN1とN3と間の抵抗値を設計値に
近づけることができ、回路しきい値電圧のばらつきが抑
制される。
次に上記実施例回路が従来回路に比べて、回路しきい値
電圧のばらつきがどの程度改善されているかについて説
明する。
前記第41図に示す従来回路において、入力端子Inの
信号が“Loから“H”へと変化する過程で、入力信号
電位が(1/2)Vccに達したときの等価回路をj@
12図に示す。このとき、前記トランジスタ91〜94
の各導通抵抗値はrであり、トランジスタ97及び98
の導通抵抗値はRであるとする。そして、この第12図
の等価回路における出力信号電位V out (1)は
次式で与えられる。
ただし、r / RはrとRの並列抵抗値を示しており
、以降記号「/」は両抵抗値の並列抵抗値を表現してい
るものとする。
また、Pチャネルのトランジスタ91.92の導通抵抗
値がrからr十Δrに変化し、Nチャネルのトランジス
タ93.94の導通抵抗値がrからr −Δrに変化し
、さらにトランジスタ97.911の導通抵抗値がRか
らR−ΔRに変化したときの等価回路を第13図に示す
。そして、この第13図の等価回路における出力信号電
位V out(2)は次式で与えられる。
VO帆(2) Δrに変化し、さらにトランジスタ97.98の導通抵
抗値がRからR+ΔRに変化したときの等価回路を第1
4図に示す。そして、この第14図の等砺回路における
出力信号電位Vout(3)は次式で与えられる。
Vout(3) ・・・9 一方、従来回路において、入力端子Inの信号が上記と
は逆に“H″から“L”へと変化する過程で、入力信号
電位が(1/2)Vccに達したときの等価回路を第1
5図に示す。そして、この場合の出力信号電位Vout
(4)は次式で与えられる。
さらに、Pチャネルのトランジスタ91.92の導通抵
抗値がrからr−Δrに変化し、Nチャネルのトランジ
スタ93.94の導通抵抗値がrからr+・・・8 また、Pチャネルのトランジスタ91.92の導通抵抗
値がrからr十Δrに変化し、Nチャネルのトランジス
タ93.94の導通抵抗値がrからr−Δrに変化し、
さらにトランジスタ97.98の導通抵抗値がRからR
+ΔRに変化したときの等価回路を第16図に示す。そ
して、この第16図の等価回路における出力信号電位V
out(5)は次式で与えられる。
さらに、Pチャネルのトランジスタ91.92の導通抵
抗値がrからr−Δ「に変化し、Nチャネルのトランジ
スタ93.94の導通抵抗値がrからr十Δrに変化し
、さらにトランジスタ97.98の導通抵抗値がRから
R−ΔRに変化したときの等価回路を117図に示す。
そして、この第17図の等価回路における出力信号電位
Vout(B)は次式で与えられる。
程で入力信号電位が(1/2)Vecに達したときの出
力信号電位は前記7式のVout(1)と同じになる。
そして、上記実施例のシュミットトリガ回路において、
Pチャネルのトランジスタ61の導通抵抗値がrからr
+Δrに、Pチャネルのトランジスタ82. Hの導通
抵抗値が2rから2(r十Δr)に、Nチャネルのトラ
ンジスタea、 85の導通抵抗値が2rから2(r−
Δr)に、Nチャネルのトランジスタ64の導通抵抗値
がrからr−Δrにそれぞれ変化し、さらにNチャネル
のトランジスタ68の導通抵抗値がRからR−ΔRに変
化したときの等価回路を第18図に示し、この等砺回路
における出力信号電位Vout(7)は次式で与えられ
る。
これに対し、上記実施例のシュミットトリガ回路におい
て、各トランジスタの導通抵抗値が設計値と等しくなる
ように製造された場合に、入力端子Inの信号が“L“
から“H”へと変化する過の関係を代入してまとめると
、次の14式が得られる。
また、上記実施例のシュミットトリガ回路において、P
チャネルのトランジスタ61の導通抵抗値がrからr−
Δ「に、Pチャネルのトランジスタ62、66の導通抵
抗値が2rから2(r−Δr)に、Nチャネルのトラン
ジスタ63.65の導通抵抗値が2rから2(「十Δr
)に、Nチャネルのトランジスタ64の導通抵抗値がr
からr十Δrにそれぞれ変化し、さらにNチャネルのト
ランジスタ68の導通抵抗値がRからR十ΔRに変化し
たときの等価回路を第19図に示し、この等価回路にお
ける出力信号電位V out(8)は次式で与えられる
関係を代入してまとめると、次の16式が得られる。
さらに、上記実施例のシュミットトリガ回路において、
各トランジスタの導通抵抗値が設計値と等しくなるよう
に製造された場合に、入力端子Inの信号が“H”がら
“Loへと変化する過程で入力信号電位が(1/2)V
ccに達したときの出力信号電位は前記10式のV o
ut (4)と同じになる。
そして、上記実施例のシュミットトリガ回路において、
Pチャネルのトランジスタ61の導通抵抗値がrからr
+Δrに、Pチャネルのトランジスタ62、 lli[
iの導通抵抗値が2rから2(r+Δr)に、Nチャネ
ルのトランジスタ83.65の導通抵抗値が2rから2
(r−Δr)に、Nチャネルのトランジスタ64の導通
抵抗値がrからr−Δrにそれぞれ変化し、さらにPチ
ャネルのトランジスタ67の導通抵抗値がRからR+Δ
Rに変化したときの等値回路を第20図に示し、この等
価回路における出力信号電位Vout(9)は次式で与
えられる。
Vout(9) またさらに、上記実施例のシュミットトリガ回路におい
て、Pチャネルのトランジスタ61の導通抵抗値がrか
らr−Δrに、Pチャネルのトランジスタ62. [i
6の導通抵抗値が2rから2(r−Δr)に、Nチャネ
ルのトランジスタ63.85の導通抵抗値が2rから2
(r+Δr)に、Nチャネルのトランジスタ64の導通
抵抗値がrから「+Δrにそれぞれ変化し、さらにPチ
ャネルのトランジスタ67の導通抵抗値がRからR−Δ
Rに変化したときの等価回路を第21図に示し、この等
価回路における出力信号電位Vout(10)は次式で
与えられる。
Vout(10) でまとめると、次の18式が得られる。
Δr2 上記19式に3r+Δr)2−の関係を代入してまとめ
ると、次の20式が得られる。
二二で従来回路において、7式を基準にして従来回路に
おける8式、9式の値との差と、上記実施例回路におけ
る14式、16式の値との差を比べた場合、上記実施例
回路の方が出力信号電位の変動が少ないことがわかる。
同様に、10式を基準にして従来回路における11式、
12式の値との差と、上記実施例回路における18式、
20式の値との差を比べた場合も、上記実施例回路の方
が出力信号電位の変動が少ないことがわかる。換言すれ
ば、上記実施例回路では導通抵抗のばらつきが抑制され
ており、回路しきい値電圧のばらつきを抑制する効果が
得られている。
[22図は、上記実施例のシュミットトリガ回路と前記
第41図に示す従来回路とを低い電源電位(Vcc−3
V)の下で動作させたときに、Pチャネルのトランジス
タのしきい値電圧v thpとNチャネルのトランジス
タのしきい値電圧V thNとを変化させた場合の回路
しきい値電圧v thcの変化を示す特性図であり、特
性a及びa′は上記実施例回路のものであり、特性す及
びb′は従来回路のものである。図示のように、低電圧
動作時の回路しきい値電圧のばらつき(ΔV th)は
従来の0.40Vに対して上記実施例では0.18Vに
抑制されており、かつヒステリシス電圧幅(V)Hmi
n)も従来の0.29Vに対して上記実施例では0.3
2Vに改善されている。同様に第23図は、上記実施例
のシュミットトリガ回路と前記第41図に示す従来回路
を高い電源電位(Vcc=5V)の下で動作させたとき
に、Pチャネルのトランジスタのしきい値電圧v th
pとNチャネルのトランジスタのしきい値電圧V th
Nとを変化させた場合の回路しきい値電圧V thCの
変化を示す特性図であり、特性a及びa′は上記実施例
回路のものであり、特性す及びb′は従来回路のもので
ある。この場合には、回路しきい値電圧のばらつき(Δ
V th)が従来の0.45Vに対して上記実施例では
0.30Vに抑制されており、かつヒステリシス電圧幅
(V Hmin)も従来の0.58Vに対して上記実施
例では0.88Vに改善されている。
第24図及び第25図はそれぞれ、上記第11図の実施
例のシュミットトリガ回路の変形例の回路図である。1
124図に示す変形例のシュミットトリガ回路は、上記
第11図の実施例回路から前記Pチャネルのトランジス
タ66を取り除くようにしたものである。この変形例回
路の場合、PチャネルのトランジスタB2に並列にNチ
ャネルのトランジスタ65が接続されているため、この
トランジスタ62における導通抵抗のばらつきが抑制さ
れ、入力信号電位が“Hoから“Loに下がるときの回
路しきい値電圧のばらつきのみが抑制される。
これに対し、第25図のものではNチャネルのトランジ
スタ85が取り除かれており、Nチャネルのトランジス
タB3に並列にPチャネルのトランジスタ6Bが接続さ
れている。このため、トランジスタB3における導通抵
抗のばらつきが抑制され、入力信号電位が“L”から“
H”に上昇するときの回路しきい値電圧のばらつきが抑
制される。
第26図はこの発明の入力回路をシュミットトリガ回路
に実施した場合の他の例を示す回路図である。この実施
例回路では前記第11図の実施例回路におけるNチャネ
ル及びPチャネルのトランジスタ85.68の両ゲート
を電源電位VCCs接地電位VSSにそれぞれ接続する
代わりに、両ゲートを出力端子Outに共に接続するよ
うにしたものである。すなわち、Pチャネルのトランジ
スタ62が導通するときには入力信号電位は“L2であ
り、ノードN1は”Ho、インバータ70の出力端であ
る出力端子Outの電位は“H”であるため、Nチャネ
ルのトランジスタ65は導通し、ノードN2とN1との
間の抵抗値は両トランジスタ62.65の並列抵抗値と
なる。一方、Nチャネルのトランジスタ63が導通する
ときにはPチャネルのトランジスタ66が導通し、ノー
ドN1とN3との間の抵抗値は両トランジスタ83. 
[i8の並列抵抗値となる。
第27図及び第28図はそれぞれ、上記第26図の実施
例のシュミットトリガ回路の変形例の回路図である。第
27図に示す変形例回路は、上記第24図の変形例と同
様に、上記第26図の実施例回路から前記Pチャネルの
トランジスタ66を取り除くことにより、入力信号電位
がH5からL′に下がるときの回路しきい値電圧のばら
つきのみを抑制するようにしたものであり、第28図の
ものでは上記第25図の変形例と同様に、Nチャネルの
トランジスタ65を取り除くことにより、入力信号電位
が“Loから“H″に上昇するときの回路しきい値電圧
のばらつきを抑制するようにしたものである。
第29図はこの発明の入力回路をシュミットトリガ回路
に実施した場合のさらに他の例を示す回路図である。こ
の実施例回路では、前記第11図の実施例回路における
2個のインバータ89.70ヲ取り除き、ノードN1を
出力端子Outに直接接続するようにしたものである。
また、第30図及び第31図はそれぞれ、この第29図
の実施例のシュミットトリガ回路の変形例の回路図であ
り、第30図の変形例回路は上記第24図の変形例と同
様に、この第29図の実施例回路からPチャネルのトラ
ンジスタ6Bを取り除いたものであり、第31図の変形
例回路は上記第25図の変形例と同様に、この第29図
の実施例回路からNチャネルのトランジスタB5を取り
除いたものである。
第32図はこの発明の入力回路をシュミットトリガ回路
に実施した場合の上記とは異なる実施例を示す回路図で
ある。この実施例では前記第26図の実施例回路におけ
る2個のインバータ69.70を取り除き、ノードN1
を出力端子Outに直接接続するようにしたものである
。また、第33図及び第34図はそれぞれ、この第32
図の実施例のシュミットトリガ回路の変形例の回路図で
あり、第33図の変形例回路は第32図の実施例回路か
らPチャネルのトランジスタ66を取り除いたものであ
り、第34図の変形例回路は第32図の実施例回路から
Nチャネルのトランジスタ65を取り除いたものである
[発明の効果] 以上、説明したように、この発明によればトランジスタ
のしきい値電圧の変動に対する回路しきい値電圧の変動
を従来に比べて抑制することができる入力回路を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明をインバータに実施した場合の構成を
示す回路図、第2図及び第3図はそれぞれ上記実施例回
路の等価回路図、第4図及び第5図はそれぞれ上記実施
例回路を説明するための特性図、第6図及び第7図はそ
れぞれこの発明をNAND回路に実施した場合の構成を
示す回路図、第8図は上記第6図及び第7図の実施例回
路を説明するための特性図、第9図及び第10図はそれ
ぞれこの発明をNOR回路に実施した場合の構成を示す
回路図、第11図はこの発明をシュミットトリガ回路に
実施した場合の構成を示す回路図、第12図、第13図
、第14図、第15図、第16図、第17図、第18図
、第19図、第20図及び第21図はそれぞれ上記第1
1図の実施例回路を説明するための等価回路図、第22
図及び第23図はそれぞれ上記第11図の実施例回路を
説明するための特性図、第24図及び第25図はそれぞ
れ上記第11図の実施例回路の変形例の回路図、!26
図はこの発明をシュミットトリガ回路に実施した他の例
の構成を示す回路図、第27図及び第28図はそれぞれ
上記第26図の実施例回路の変形例の回路図、第29図
はこの発明をシュミットトリガ回路に実施したさらに他
の例の構成を示す回路図、第30図及び第31図はそれ
ぞれ上記第29図の実施例回路の変形例の回路図、第3
2図はこの発明をシュミットトリガ回路に実施した別の
例の構成を示す回路図、第33図及び第34図はそれぞ
れ上記第32図の実施例回路の変形例の回路図、第35
図は従来のインバータの回路図、第36図は従来のNA
ND回路の回路図、第37図は従来のNOR回路の回路
図、第38図、第39図及び第40図はそれぞれ上記従
来のインバータの等価回路図、第41図は従来のシュミ
ットトリガ回路の回路図である。 11、12.15.21.22.27.28.29.3
4.41.42゜43、47.4g、 49.54.8
1.62.66、67・・・PチャネルのMOSトラン
ジスタ、13.14.1B、 23.24゜25、26
.30.31.32.33.44.45.4[i、 5
1.52゜53゜ 63゜ 64゜ 65゜ 68・・・NチャネルのMOS トラン ジスタ、 69゜ 70・・・イ ンバータ。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子に
    接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電型の
    第2のMOSトランジスタと、上記第1のMOSトラン
    ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第1
    の電位に接続された第2導電型の第3のMOSトランジ
    スタと、一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子
    に接続された第2導電型の第4のMOSトランジスタと
    、 上記第4のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電型の
    第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSトラン
    ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第2
    の電位に接続された第1導電型の第6のMOSトランジ
    スタとを具備したことを特徴とする入力回路。
  2. (2)一端が第1の電位に接続されゲートが第1の入力
    端子に接続された第1導電型の第1のMOSトランジス
    タと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第1導
    電型の第2のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の電位に接続された第2導電型
    の第3のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に接
    続されゲートが第2の入力端子に接続された第2導電型
    の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端に一端がされゲー
    トが第1の入力端子に接続された第2導電型の第5のM
    OSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第2導
    電型の第6のMOSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電型
    の第7のMOSトランジスタと、一端が第1の電位に接
    続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導電型
    の第8のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導
    電型の第9のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の電位に接続された第1導電型
    の第10のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に
    接続されゲートが第1の入力端子に接続された第2導電
    型の第11のMOSトランジスタと、 上記第11のMOSトランジスタの他端に一端がされ接
    続ゲートが第2の入力端子に接続された第2導電型の第
    12のMOSトランジスタと、上記第12のMOSトラ
    ンジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第
    2の入力端子に接続された第2導電型の第13のMOS
    トランジスタと、 上記第12のMOSトランジスタの他端と出力端子との
    間に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電
    型の第14のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする入力回路。
  3. (3)前記第1、第2、第5、第6及び第11のMOS
    トランジスタそれぞれのゲートを前記第1の入力端子に
    接続する代わりに高論理レベル信号もしくは低論理レベ
    ル信号を固定的に接続すると共に、前記第3及び第7の
    MOSトランジスタを除去するように構成したことを特
    徴とする請求項2記載の入力回路。
  4. (4)前記第4、第8、第9、第12及び第13のMO
    Sトランジスタそれぞれのゲートを前記第2の入力端子
    に接続する代わりに高論理レベル信号もしくは低論理レ
    ベル信号を固定的に接続すると共に、前記第10及び第
    14のMOSトランジスタを除去するように構成したこ
    とを特徴とする請求項2記載の入力回路。
  5. (5)一端が第1の電位に接続されゲートが第1の入力
    端子に接続された第1導電型の第1のMOSトランジス
    タと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第1導
    電型の第2のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の電位に接続された第2導電型
    の第3のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に接
    続されゲートが第1の入力端子に接続された第2導電型
    の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端に一端がされゲー
    トが第2の入力端子に接続された第2導電型の第5のM
    OSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の入力端子に接続された第2導
    電型の第6のMOSトランジスタと、 上記第5のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電型
    の第7のMOSトランジスタと、一端が第1の電位に接
    続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導電型
    の第8のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第2の入力端子に接続された第1導
    電型の第9のMOSトランジスタと、 上記第8のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが第1の電位に接続された第1導電型
    の第10のMOSトランジスタと、一端が第2の電位に
    接続されゲートが第2の入力端子に接続された第2導電
    型の第11のMOSトランジスタと、 上記第11のMOSトランジスタの他端に一端が接続さ
    れゲートが第1の入力端子に接続された第2導電型の第
    12のMOSトランジスタと、上記第12のMOSトラ
    ンジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第
    2の入力端子に接続された第2導電型の第13のMOS
    トランジスタと、 上記第12のMOSトランジスタの他端と出力端子との
    間に接続されゲートが第2の電位に接続された第2導電
    型の第14のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする入力回路。
  6. (6)前記第1、第2、第4、第6及び第12のMOS
    トランジスタそれぞれのゲートを前記第1の入力端子に
    接続する代わりに高論理レベル信号もしくは低論理レベ
    ル信号を固定的に接続すると共に、前記第3及び第7の
    MOSトランジスタを除去するように構成したことを特
    徴とする請求項5記載の入力回路。
  7. (7)前記第5、第8、第9、第11及び第13のMO
    Sトランジスタそれぞれのゲートを前記第2の入力端子
    に接続する代わりに高論理レベル信号もしくは低論理レ
    ベル信号を固定的に接続すると共に、前記第10及び第
    14のMOSトランジスタを除去するように構成したこ
    とを特徴とする請求項5記載の入力回路。
  8. (8)一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子に
    接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電型の
    第2のMOSトランジスタと、上記第1のMOSトラン
    ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第1
    の電位に接続された第2導電型の第3のMOSトランジ
    スタと、一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子
    に接続された第2導電型の第4のMOSトランジスタと
    、 上記第4のMOSトランジスタの他端と出力端子との間
    に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電型の
    第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSトラン
    ジスタの他端と出力端子との間に接続されゲートが第2
    の電位に接続された第2導電型の第6のMOSトランジ
    スタと、上記第1のMOSトランジスタの他端と第2の
    電位との間に接続されゲートが出力端子に接続された第
    1導電型の第7のMOSトランジスタと、上記第4のM
    OSトランジスタの他端と第1の電位との間に接続され
    ゲートが出力端子に接続された第2導電型の第8のMO
    Sトランジスタとを具備したことを特徴とする入力回路
  9. (9)前記第3及び第6のMOSトランジスタのいずれ
    か一方を除去するように構成したことを特徴とする請求
    項8記載の入力回路。
  10. (10)一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子
    に接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと
    、 上記第1のMOSトランジスタの他端と第1のノードと
    の間に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電
    型の第2のMOSトランジスタと、上記第1のMOSト
    ランジスタの他端と第1のノードとの間に接続されゲー
    トが第1の電位に接続された第2導電型の第3のMOS
    トランジスタと、 一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
    れた第2導電型の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端と第1のノードと
    の間に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電
    型の第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSト
    ランジスタの他端と第1のノードとの間に接続されゲー
    トが第2の電位に接続された第2導電型の第6のMOS
    トランジスタと、 上記第1のノードと出力信号を得る第2のノードとの間
    に直列に挿入された偶数個の反転回路と、上記第1のM
    OSトランジスタの他端と第2の電位との間に接続され
    ゲートが第2のノードに接続された第1導電型の第7の
    MOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端と第1の電位との
    間に接続されゲートが第2のノードに接続された第2導
    電型の第8のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする入力回路。
  11. (11)前記第3及び第6のMOSトランジスタのいず
    れか一方を除去するように構成したことを特徴とする請
    求項10記載の入力回路。
  12. (12)一端が第1の電位に接続されゲートが入力端子
    に接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと
    、 上記第1のMOSトランジスタの他端と第1のノードと
    の間に接続されゲートが入力端子に接続された第1導電
    型の第2のMOSトランジスタと、上記第1のノードと
    出力信号を得る第2のノードとの間に直列に挿入された
    偶数個の反転回路と、上記第1のMOSトランジスタの
    他端と第1のノードとの間に接続されゲートが第2のノ
    ードに接続された第2導電型の第3のMOSトランジス
    タと、 一端が第2の電位に接続されゲートが入力端子に接続さ
    れた第2導電型の第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端と第1のノードと
    の間に接続されゲートが入力端子に接続された第2導電
    型の第5のMOSトランジスタと、上記第4のMOSト
    ランジスタの他端と第1のノードとの間に接続されゲー
    トが第2のノードに接続された第2導電型の第6のMO
    Sトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタの他端と第2の電位との
    間に接続されゲートが第2のノードに接続された第1導
    電型の第7のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタの他端と第1の電位との
    間に接続されゲートが第2のノードに接続された第2導
    電型の第8のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする入力回路。
  13. (13)前記第3及び第6のMOSトランジスタのいず
    れか一方を除去するように構成したことを特徴とする請
    求項12記載の入力回路。
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