JPH0477966B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0477966B2 JPH0477966B2 JP9780283A JP9780283A JPH0477966B2 JP H0477966 B2 JPH0477966 B2 JP H0477966B2 JP 9780283 A JP9780283 A JP 9780283A JP 9780283 A JP9780283 A JP 9780283A JP H0477966 B2 JPH0477966 B2 JP H0477966B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axis
- adjustment
- holder
- photodetector
- axis direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
Landscapes
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は光検出器の高精度位置調整機構に関
し、特に平面上に多数配置された光検出器につい
て２軸位置調整する際、一軸方向でより高精度の
位置調整が要求される場合に好適な高精度位置調
整機構に関する。
し、特に平面上に多数配置された光検出器につい
て２軸位置調整する際、一軸方向でより高精度の
位置調整が要求される場合に好適な高精度位置調
整機構に関する。
従来、光検出器の平面上での２軸位置調整機構
は、一般的に２軸とも同等の調整精度であり、調
整精度優位軸を有していない。そのため、調整精
度に限界があり、また調整作業に長時間を要して
いる。
は、一般的に２軸とも同等の調整精度であり、調
整精度優位軸を有していない。そのため、調整精
度に限界があり、また調整作業に長時間を要して
いる。
第１図および第２図に従来の２軸位置調整機構
を示す。
を示す。
第１図は締付ネジ３が１本の場合、第２図は２
本の場合を示している。
本の場合を示している。
第１図において、光検出器１はホルダ２に支持
され、これらは調整枠５に微調整可能な隙間をと
つて挿入されている。調整枠５には締付ネジ３、
調整ネジ４およびホルダ２に設けられたガイド６
を案内するためのガイド穴が設けられている。
され、これらは調整枠５に微調整可能な隙間をと
つて挿入されている。調整枠５には締付ネジ３、
調整ネジ４およびホルダ２に設けられたガイド６
を案内するためのガイド穴が設けられている。
第２図の２軸位置調整機構が第１図のそれと異
なる点は、第２図においては、締付ネジ３が２本
であり、調整枠５にはガイド穴ではなくガイド溝
が設けられている点である。
なる点は、第２図においては、締付ネジ３が２本
であり、調整枠５にはガイド穴ではなくガイド溝
が設けられている点である。
次に、２軸位置調整方法について、第１図、第
２図をまとめて説明する。
２図をまとめて説明する。
ホルダ２は予め締付ネジ３で締付けられている
が、ホルダ２と締付ネジ３との間に弾性体（図示
省略）を介在させることにより、調整ネジ４によ
る微動を可能にしている。そこで、調整ネジ４で
各軸方向の位置調整を行うわけであるが、各軸の
調整作用点のスパンＡが短く、かつ各軸のスパン
比率が１に近く、さらにガイド抱束も短いため、
各軸の調整作用力が相互に影響しあつて、安定し
た位置調整ができない。すなわち、Ｘ軸方向の微
調整を行うとＹ軸方向にずれが生じ、Ｙ軸方向の
微調整を行うとＸ軸方向にずれが生じてしまう。
が、ホルダ２と締付ネジ３との間に弾性体（図示
省略）を介在させることにより、調整ネジ４によ
る微動を可能にしている。そこで、調整ネジ４で
各軸方向の位置調整を行うわけであるが、各軸の
調整作用点のスパンＡが短く、かつ各軸のスパン
比率が１に近く、さらにガイド抱束も短いため、
各軸の調整作用力が相互に影響しあつて、安定し
た位置調整ができない。すなわち、Ｘ軸方向の微
調整を行うとＹ軸方向にずれが生じ、Ｙ軸方向の
微調整を行うとＸ軸方向にずれが生じてしまう。
ところで、２軸位置調整において、一軸を他軸
よりも、より高精度に調整したい場合がある。た
とえば、光デイスク装置における光ヘツド位置調
整は、光デイスクのビツトが幅方向で約0.4μｍ、
長さ方向で0.6〜5μｍであるため、トラツク長さ
方向よりもトラツク幅方向でより高精度の位置調
整が要求される。このような場合に、調整精度優
位軸を設けることは、装置仕様を満足する高精度
位置調整機構を安価に実現するうえで有効であ
る。
よりも、より高精度に調整したい場合がある。た
とえば、光デイスク装置における光ヘツド位置調
整は、光デイスクのビツトが幅方向で約0.4μｍ、
長さ方向で0.6〜5μｍであるため、トラツク長さ
方向よりもトラツク幅方向でより高精度の位置調
整が要求される。このような場合に、調整精度優
位軸を設けることは、装置仕様を満足する高精度
位置調整機構を安価に実現するうえで有効であ
る。
本発明の目的は、上記のような従来技術の欠点
を改善し、調整精度優位軸を有し、各軸の調整作
用力が相互に影響することのない光検出器の高精
度位置調整機構を提供することにある。
を改善し、調整精度優位軸を有し、各軸の調整作
用力が相互に影響することのない光検出器の高精
度位置調整機構を提供することにある。
本発明の２軸位置調整機構は、光検出器を支持
する矩形のホルダと、平面上に前記ホルダを加圧
ポイントにより加圧して、前記平面内の２軸方向
に調整可能に固定する加圧固定機構とを有し、前
記加圧固定機構による加圧ポイントの間隔が前記
２軸方向で異なるようにし、前記ホルダを囲む調
整ハンドにより該調整ハンドの変位力を前記ホル
ダに前記２軸方向で異なるように作用させる構造
とし、各軸の調整作用力が相互に影響しないよう
にしたことを特徴とする。
する矩形のホルダと、平面上に前記ホルダを加圧
ポイントにより加圧して、前記平面内の２軸方向
に調整可能に固定する加圧固定機構とを有し、前
記加圧固定機構による加圧ポイントの間隔が前記
２軸方向で異なるようにし、前記ホルダを囲む調
整ハンドにより該調整ハンドの変位力を前記ホル
ダに前記２軸方向で異なるように作用させる構造
とし、各軸の調整作用力が相互に影響しないよう
にしたことを特徴とする。
以下、本発明の一実施例を説明するが、その前
に光検出器の実施例を示しておく。
に光検出器の実施例を示しておく。
第３図は光デイスク装置の光ピツクアツプにお
ける光検出器の実施例を示したもので、ａは正面
図、ｂ，ｃは両側面図である。１は光検出器であ
る。２，３，７は光検出器１をその摩擦固定面１
０に固定するための部品であり、それぞれホル
ダ、締付ネジ、加圧固定機構である。１１は光デ
イスク１７上にレーザガン１２から発光されるレ
ーザ１６を集光させるための自動焦点機構であ
る。１３はビームスプリツタ、１４はプリズム、
１５は凸レンズである。
ける光検出器の実施例を示したもので、ａは正面
図、ｂ，ｃは両側面図である。１は光検出器であ
る。２，３，７は光検出器１をその摩擦固定面１
０に固定するための部品であり、それぞれホル
ダ、締付ネジ、加圧固定機構である。１１は光デ
イスク１７上にレーザガン１２から発光されるレ
ーザ１６を集光させるための自動焦点機構であ
る。１３はビームスプリツタ、１４はプリズム、
１５は凸レンズである。
レーザガン１２から発光されたレーザ１６は光
デイスク１７に集光され、光デイスク１７上のピ
ツトの状態により変調されて反射し、ビームスプ
リツタ１３により複数個の光検出器１に入射され
る。この時、もしも光検出器１の位置がビームス
プリツタ１３からの光軸に対してずれていると、
光検出器１は光デイスク１７からの情報を正確に
読取ることができず、装置の信頼性が損なわれ
る。したがつて、光ピツクアツプの組立時に、光
検出器１を目標光軸位置へ正確にセツトしておく
必要がある。
デイスク１７に集光され、光デイスク１７上のピ
ツトの状態により変調されて反射し、ビームスプ
リツタ１３により複数個の光検出器１に入射され
る。この時、もしも光検出器１の位置がビームス
プリツタ１３からの光軸に対してずれていると、
光検出器１は光デイスク１７からの情報を正確に
読取ることができず、装置の信頼性が損なわれ
る。したがつて、光ピツクアツプの組立時に、光
検出器１を目標光軸位置へ正確にセツトしておく
必要がある。
第４図は本発明の一実施例による光検出器の高
精度位置調整機構の正面図、第５図および第６図
は第４図の側面断面図である。
精度位置調整機構の正面図、第５図および第６図
は第４図の側面断面図である。
光検出器１はホルダ２の内部底面に固定されて
いる。ホルダ２には遊びのあるネジ穴が設けてあ
り、このネジ穴と締付ネジ３を螺合して板バネ状
の加圧固定機構７の４ケ所の加圧ポイント９を締
付けることにより、ホルダ２をその摩擦固定面
（光学基準面）１０に固定している。締付ネジ３
と螺合するネジ穴には遊びが設けてあるため、ホ
ルダ２は微動できることになる。調整ハンド８
は、加圧固定機構７の摩擦力に抗してホルダ２を
摩擦固定面１０上で調整微動させるため、ホルダ
２のＸ・Ｙ軸の調整作用点に接触している。
いる。ホルダ２には遊びのあるネジ穴が設けてあ
り、このネジ穴と締付ネジ３を螺合して板バネ状
の加圧固定機構７の４ケ所の加圧ポイント９を締
付けることにより、ホルダ２をその摩擦固定面
（光学基準面）１０に固定している。締付ネジ３
と螺合するネジ穴には遊びが設けてあるため、ホ
ルダ２は微動できることになる。調整ハンド８
は、加圧固定機構７の摩擦力に抗してホルダ２を
摩擦固定面１０上で調整微動させるため、ホルダ
２のＸ・Ｙ軸の調整作用点に接触している。
本実施例では調整作用力は調整ハンド８を介し
てホルダ２に作用するが、第４図に示したよう
に、その作用点スパンは光検出器１の検出径ｄに
対して、Ｙ軸側の作用点では 光検出径比＝Ｙ軸スパン／検出径ｄ＝３ ……(1) と３倍になつており、Ｙ軸側の誤差に対し光検出
器１としてはその比率で誤差が縮少される。Ｘ軸
側の作用点では、 光検出径比＝Ｘ軸スパン／検出径比≒1.2……(2) と1.2倍になつており、Ｘ軸側の1.2の誤差に対し
光検出器１は１の割合で誤差が生じ、誤差率が縮
少される。
てホルダ２に作用するが、第４図に示したよう
に、その作用点スパンは光検出器１の検出径ｄに
対して、Ｙ軸側の作用点では 光検出径比＝Ｙ軸スパン／検出径ｄ＝３ ……(1) と３倍になつており、Ｙ軸側の誤差に対し光検出
器１としてはその比率で誤差が縮少される。Ｘ軸
側の作用点では、 光検出径比＝Ｘ軸スパン／検出径比≒1.2……(2) と1.2倍になつており、Ｘ軸側の1.2の誤差に対し
光検出器１は１の割合で誤差が生じ、誤差率が縮
少される。
また、第４図に示すように、ホルダ２の作用点
スパンＢのＹ軸スパン／Ｘ軸スパン比率は2B／
Ｂ＝２倍、加圧固定機構７の加圧ポイント９によ
る作用点スパンＡのＹ軸スパン／Ｘ軸比率は
2A／Ａ＝２倍となるように設定してある。
スパンＢのＹ軸スパン／Ｘ軸スパン比率は2B／
Ｂ＝２倍、加圧固定機構７の加圧ポイント９によ
る作用点スパンＡのＹ軸スパン／Ｘ軸比率は
2A／Ａ＝２倍となるように設定してある。
従つて、Ｘ軸側の相乗スパンSXとＹ軸側の相
乗スパンSYとの比率は SX／SY≒1.2d／3d×Ｂ／2B ×Ａ／2A≒１／10 ……(3) となるため、Ｙ軸方向の誤差はＸ軸方向の誤差に
対して約1/10に縮少することができる。また、相
乗スパン比率に対応するガイド効果が各軸側に作
用する。
乗スパンSYとの比率は SX／SY≒1.2d／3d×Ｂ／2B ×Ａ／2A≒１／10 ……(3) となるため、Ｙ軸方向の誤差はＸ軸方向の誤差に
対して約1/10に縮少することができる。また、相
乗スパン比率に対応するガイド効果が各軸側に作
用する。
第５図、第６図に示すように、調整ハンド８の
ハンド部のコンプライアンス（やわらかさ）は、
その断面係数Ｉの比が短ハンド部（Ｘ軸）／長ハ
ンド（Ｙ軸）で10となる構造であるので、調整力
に対してＹ軸方向の設定位置へクランプガイド維
持しつつＸ軸方向へ調整力を付加できる。したが
つて、Ｘ軸方向に駆動最少送り量Ｐとして0.5μｍ
レベルを付加するものとすれば、Ｙ軸方向へは通
常の5μｍレベル以下を付加すれば、Ｙ軸方向の
誤差が縮少され設定位置でガイドされた状態で、
Ｘ軸方向のミクロンオーダの調整が可能となる。
ハンド部のコンプライアンス（やわらかさ）は、
その断面係数Ｉの比が短ハンド部（Ｘ軸）／長ハ
ンド（Ｙ軸）で10となる構造であるので、調整力
に対してＹ軸方向の設定位置へクランプガイド維
持しつつＸ軸方向へ調整力を付加できる。したが
つて、Ｘ軸方向に駆動最少送り量Ｐとして0.5μｍ
レベルを付加するものとすれば、Ｙ軸方向へは通
常の5μｍレベル以下を付加すれば、Ｙ軸方向の
誤差が縮少され設定位置でガイドされた状態で、
Ｘ軸方向のミクロンオーダの調整が可能となる。
第７図に本実施例による実験データを示す。図
中、△印は本実施例による調整位置を示し、○印
は従来機構による調整位置を示している。図から
明らかなように、従来機構では５回実験して５回
ともＸ軸方向、Ｙ軸方向の両方で1μｍ以上の誤
差があつたのに対し、本実施例では５回実験し
て、Ｘ軸方向は５回とも従来の半分の0.5μｍ以下
の誤差であり、かつ、Ｙ軸方向はほぼ誤差０であ
り、あとの３回も0.5μｍ以下の誤差である。この
程度の誤差であれば仕様を十分に満足する。
中、△印は本実施例による調整位置を示し、○印
は従来機構による調整位置を示している。図から
明らかなように、従来機構では５回実験して５回
ともＸ軸方向、Ｙ軸方向の両方で1μｍ以上の誤
差があつたのに対し、本実施例では５回実験し
て、Ｘ軸方向は５回とも従来の半分の0.5μｍ以下
の誤差であり、かつ、Ｙ軸方向はほぼ誤差０であ
り、あとの３回も0.5μｍ以下の誤差である。この
程度の誤差であれば仕様を十分に満足する。
本実施例は、光学的に安定な一摩擦平面上で一
方向を優位に作用させる機構であるので、両軸相
互間の影響をなくすことができ、かつ、設定位置
でガイドされるので、ミクロンオーダの高精度調
整作業を容易に行うことができる。また、ガイド
面など複雑な機構を要せず、一固定面への簡単な
摩擦力固定機構により高精度位置調整機構を実現
することができる。さらに、目標光軸に直交する
一つの平面上で調整され、光路長さ、光軸方向角
度などに光学的一様性を維持できるので、多数個
の光検出器を同じレベルで調整することができ
る。
方向を優位に作用させる機構であるので、両軸相
互間の影響をなくすことができ、かつ、設定位置
でガイドされるので、ミクロンオーダの高精度調
整作業を容易に行うことができる。また、ガイド
面など複雑な機構を要せず、一固定面への簡単な
摩擦力固定機構により高精度位置調整機構を実現
することができる。さらに、目標光軸に直交する
一つの平面上で調整され、光路長さ、光軸方向角
度などに光学的一様性を維持できるので、多数個
の光検出器を同じレベルで調整することができ
る。
以上説明したように、本発明によれば、Ｙ軸方
向の調整ハンドのクランプガイド作用、ホルダと
加圧固定機構の加圧ポイントスパンによる抱束ガ
イド作用、各スパン比率の相乗効果による誤差縮
少作用によりＹ軸方向変位は１桁小さくなるた
め、調整作用力は相互に影響することなく、かつ
Ｙ軸方向位置はガイドとなるのでＸ軸方向が調整
精度優位軸となる。
向の調整ハンドのクランプガイド作用、ホルダと
加圧固定機構の加圧ポイントスパンによる抱束ガ
イド作用、各スパン比率の相乗効果による誤差縮
少作用によりＹ軸方向変位は１桁小さくなるた
め、調整作用力は相互に影響することなく、かつ
Ｙ軸方向位置はガイドとなるのでＸ軸方向が調整
精度優位軸となる。
第１図、第２図は従来の光検出器の高精度位置
調整機構を示す図、第３図は光検出器の実施例を
示す図、第４図〜第６図は本発明の一実施例を示
す正面図、両側面図、第７図は位置調整の実験デ
ータを示す図である。 １：光検出器、２：ホルダ、３：締付ネジ、
７：加圧固定機構、８：調整ハンド、９：加圧ポ
イント、１０：摩擦固定面。
調整機構を示す図、第３図は光検出器の実施例を
示す図、第４図〜第６図は本発明の一実施例を示
す正面図、両側面図、第７図は位置調整の実験デ
ータを示す図である。 １：光検出器、２：ホルダ、３：締付ネジ、
７：加圧固定機構、８：調整ハンド、９：加圧ポ
イント、１０：摩擦固定面。
Claims (1)
- １ 光検出器を支持する矩形のホルダと、平面上
に前記ホルダを加圧ポイントにより加圧して、前
記平面内の２軸方向に調整可能に固定する加圧固
定機構とを有し、前記加圧固定機構による加圧ポ
イントの間隔が前記２軸方向で異なるようにし、
前記ホルダを囲む調整ハンドにより該調整ハンド
の変位力を前記ホルダに前記２軸方向で異なるよ
うに作用させる構造としたことを特徴とする光検
出器の２軸位置調整機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9780283A JPS59223951A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 光検出器の２軸位置調整機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9780283A JPS59223951A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 光検出器の２軸位置調整機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59223951A JPS59223951A (ja) | 1984-12-15 |
| JPH0477966B2 true JPH0477966B2 (ja) | 1992-12-09 |
Family
ID=14201910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9780283A Granted JPS59223951A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 光検出器の２軸位置調整機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59223951A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63268130A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-04 | Mitsubishi Electric Corp | 光検知器の位置調整装置 |
| JPH04167232A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-15 | Toshiba Corp | フォトディテクタ装置 |
| EP0727649B1 (en) * | 1995-02-17 | 1998-04-08 | Hewlett-Packard GmbH | Optical system having temperature compensated optical sensor mounting |
-
1983
- 1983-06-03 JP JP9780283A patent/JPS59223951A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59223951A (ja) | 1984-12-15 |
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