JPS59223951A - 光検出器の２軸位置調整機構 - Google Patents
光検出器の２軸位置調整機構Info
- Publication number
- JPS59223951A JPS59223951A JP9780283A JP9780283A JPS59223951A JP S59223951 A JPS59223951 A JP S59223951A JP 9780283 A JP9780283 A JP 9780283A JP 9780283 A JP9780283 A JP 9780283A JP S59223951 A JPS59223951 A JP S59223951A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holder
- photodetector
- adjustment
- axis
- adjusting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
Landscapes
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は光検出器の高精度位置調整機構に関し、特に平
面上に多数配置された光検出器について２軸位置調整す
る際、−軸方向でより高精度の位置調整が要求される場
合に好適な高精度位置調整機構に関する。
面上に多数配置された光検出器について２軸位置調整す
る際、−軸方向でより高精度の位置調整が要求される場
合に好適な高精度位置調整機構に関する。
従来、光検出器の平面上での２軸位置調整機構は、一般
的に２軸とも同等の調整精度であり、調整精度優位軸を
有していない。そのため、調整精度に限界があり、また
調整作業に長時間を要している。
的に２軸とも同等の調整精度であり、調整精度優位軸を
有していない。そのため、調整精度に限界があり、また
調整作業に長時間を要している。
第１図および第２図に従来の２軸位置調整機構を示す。
第１図は締付ネジ３が１本の場合、第２図は２本の場合
を示している。
を示している。
第１図において、光検出器１はホルダ２に支持され、こ
れらは調整枠５に微調整可能な隙間をとって挿入されて
いる。調整枠６には締付ネジ３、調整ネジ４およびホル
ダ２に設けられたガイド６を案内するためのガイド穴が
設けられている。
れらは調整枠５に微調整可能な隙間をとって挿入されて
いる。調整枠６には締付ネジ３、調整ネジ４およびホル
ダ２に設けられたガイド６を案内するためのガイド穴が
設けられている。
第２図の２輪位置屑整機構が第１図のそれと異なる点は
、第２図においては、締付ネジ３が２本であり、調整枠
δにはガイド穴ではなくガイド溝が設けられている点で
ある。
、第２図においては、締付ネジ３が２本であり、調整枠
δにはガイド穴ではなくガイド溝が設けられている点で
ある。
次に、２軸位置調整方法について、第１図、第２図をま
とめて説明する。
とめて説明する。
ホルダ２は予め締付ネジ３で締付けられているが、ホル
ダ２と締付ネジ３との間に弾性体（図示省略）を介在さ
せることにより、調整ネジ４による微動を可能にしてい
る。そこで、調整ネジ４で各軸方向の位置調整を行うわ
けであるが、各軸の調整作用点のスパンＡが短く、かつ
各軸のスパン比率が１に近く、さらにガイド抱束も短い
ため、各軸の調整作用力が相互に影嘘しあって、安定し
た位置調整ができない。すなわち、Ｘ軸方向の微調整を
行うとＹ軸方向にずれが生じ、Ｙ軸方向の？Ｉｉ調整を
行うとＸ軸方向にずれが生じてしまう。
ダ２と締付ネジ３との間に弾性体（図示省略）を介在さ
せることにより、調整ネジ４による微動を可能にしてい
る。そこで、調整ネジ４で各軸方向の位置調整を行うわ
けであるが、各軸の調整作用点のスパンＡが短く、かつ
各軸のスパン比率が１に近く、さらにガイド抱束も短い
ため、各軸の調整作用力が相互に影嘘しあって、安定し
た位置調整ができない。すなわち、Ｘ軸方向の微調整を
行うとＹ軸方向にずれが生じ、Ｙ軸方向の？Ｉｉ調整を
行うとＸ軸方向にずれが生じてしまう。
ところで、２軸位置調整において、−軸を他軸よりも、
より高精度に調整したい場合がある。たとえば、光デイ
スク装置における光ヘツド位置調整は、光ディスクのビ
ットが幅方向で約０．４μｍ１長さ方向で０．６〜５μ
ｍであるため、トラック長さ方向よりもトラック幅方向
でより高精度の位ｆｌ調整が要求される。このような場
合に、調整精度優位軸を設けることは、装置仕様を満足
する高精度位置調整機構を安価に実現するうえで有効で
ある。
より高精度に調整したい場合がある。たとえば、光デイ
スク装置における光ヘツド位置調整は、光ディスクのビ
ットが幅方向で約０．４μｍ１長さ方向で０．６〜５μ
ｍであるため、トラック長さ方向よりもトラック幅方向
でより高精度の位ｆｌ調整が要求される。このような場
合に、調整精度優位軸を設けることは、装置仕様を満足
する高精度位置調整機構を安価に実現するうえで有効で
ある。
本発明の目的は、上記のような従来技術の欠点を改善し
、調整精度優位軸を有し、各軸の調整作用力が相互に影
餐することのない光検出器の高精度位置調整機構を提供
することにある。
、調整精度優位軸を有し、各軸の調整作用力が相互に影
餐することのない光検出器の高精度位置調整機構を提供
することにある。
上記目的を達成するため、本発明は、平面」二に配置さ
れた光検出器の２軸位置調整機構において、前記光検出
器を支持するホルダ艙前記平面上に加圧固定機構により
固定し、前記ホルダを調虹ハンドにて囲み該調整ハンド
の変位力紮前記ホルダに作用させる構造とし、その作用
点の間隔、前記加圧固定機構の前記ホルダに対する加圧
ポイントおよび前記調整ハンドの調整力反作用コンプラ
イアンスが各軸方向で異なることを特徴とする。
れた光検出器の２軸位置調整機構において、前記光検出
器を支持するホルダ艙前記平面上に加圧固定機構により
固定し、前記ホルダを調虹ハンドにて囲み該調整ハンド
の変位力紮前記ホルダに作用させる構造とし、その作用
点の間隔、前記加圧固定機構の前記ホルダに対する加圧
ポイントおよび前記調整ハンドの調整力反作用コンプラ
イアンスが各軸方向で異なることを特徴とする。
以下、本発明の一実施例を説明するが、その前に光検出
器の実装例を示しておく。
器の実装例を示しておく。
第３図は光デイスク装置の光ピツクアップにおける光検
出器の実装例を示したもので、（ａ）は正面図、（ｂ）
、 （ｃｌ）は両側面図である。１は光検出器である
。２．３．７は光検出器１をその摩擦固定面１０に固定
するための部品であり、それぞれホルダ。
出器の実装例を示したもので、（ａ）は正面図、（ｂ）
、 （ｃｌ）は両側面図である。１は光検出器である
。２．３．７は光検出器１をその摩擦固定面１０に固定
するための部品であり、それぞれホルダ。
締付ネジ、加圧固定機構である。１１は光デイスク１７
上にレーザガン１２から発光されるレーザ１６を集光さ
せるための自動無点ｍ ４ｍである。１３はビームスプ
リッタ、１４はプリズム、１５は凸レンズである。
上にレーザガン１２から発光されるレーザ１６を集光さ
せるための自動無点ｍ ４ｍである。１３はビームスプ
リッタ、１４はプリズム、１５は凸レンズである。
レーザガン１２から発光されたレーザ１６は光ディスク
１７に集光され、光デイスク１７上のビットの状態によ
り変調されて反射し、ビームスプリッタ１３により複数
個の光検出器１に入射される。この時、もしも光検出器
ｌの位置がビームスプリッタ１３からの光軸に対してず
れていると、光検出器１は光ディスク１７からの情報を
正確に読取ることができず、装置の信頼性が損なわれる
。
１７に集光され、光デイスク１７上のビットの状態によ
り変調されて反射し、ビームスプリッタ１３により複数
個の光検出器１に入射される。この時、もしも光検出器
ｌの位置がビームスプリッタ１３からの光軸に対してず
れていると、光検出器１は光ディスク１７からの情報を
正確に読取ることができず、装置の信頼性が損なわれる
。
したがって、光ピツクアップの組立時に、光検出器ｌを
目標光軸位置へ正確にセットしておく必要がある。
目標光軸位置へ正確にセットしておく必要がある。
第４図は本発明の一実施例による光検出器の高精度位置
調整機構の正面図、第５図および第６図は第４図の側面
断面図である。
調整機構の正面図、第５図および第６図は第４図の側面
断面図である。
ツＣ検出器１はホルダ２の内部底面に固定されている。
ホルダ２には遊びのあるネジ穴が設けてあり、このネジ
穴と締イ」ネジ３を螺合して板バネ状の加圧固定機構７
のΦケ所の加圧ポイント９を締付けることにより、ホル
ダ２をその摩擦固定面（光学基準面）１０に固定してい
る。＃１７付ネジ３と螺合するネジ穴には遊びが設゛け
であるため、ホルダ２は微動できることになる。調整ハ
ンド８は、加圧固定機構７の本州力に抗してホルダ２を
ｒ＝擦固定面１０上で調整微動させるため、ホルダ２の
“Ｘ−Ｙ軸の８４１作用点に接触している。
穴と締イ」ネジ３を螺合して板バネ状の加圧固定機構７
のΦケ所の加圧ポイント９を締付けることにより、ホル
ダ２をその摩擦固定面（光学基準面）１０に固定してい
る。＃１７付ネジ３と螺合するネジ穴には遊びが設゛け
であるため、ホルダ２は微動できることになる。調整ハ
ンド８は、加圧固定機構７の本州力に抗してホルダ２を
ｒ＝擦固定面１０上で調整微動させるため、ホルダ２の
“Ｘ−Ｙ軸の８４１作用点に接触している。
本実施例では調整作用力は調整ハンド８を介し。
てホルダ２に作用するか、第４図に示したように、゛そ
の作用点スパンは光検出器１の検出径ｄに対し・て、Ｙ
軸側の作用点では 光検出径比−Ｙ軸スパン／検出径ａ−３・・・・・（１
）と３倍になっており、ＹＩｌｑｌｌ側の誤差に対し光
検出器１としてはその比率で誤差が縮少される。Ｘ軸側
の作用点では、 光検出径比−Ｘ＠スパン／検出径比ｄ″？ｌ、２・・・
・・■と１．２倍になっており、Ｘ＠側の１．２の誤差
に対し光検出器ｌはｌの割合で誤差が生じ、誤差率が縮
少される。
の作用点スパンは光検出器１の検出径ｄに対し・て、Ｙ
軸側の作用点では 光検出径比−Ｙ軸スパン／検出径ａ−３・・・・・（１
）と３倍になっており、ＹＩｌｑｌｌ側の誤差に対し光
検出器１としてはその比率で誤差が縮少される。Ｘ軸側
の作用点では、 光検出径比−Ｘ＠スパン／検出径比ｄ″？ｌ、２・・・
・・■と１．２倍になっており、Ｘ＠側の１．２の誤差
に対し光検出器ｌはｌの割合で誤差が生じ、誤差率が縮
少される。
また、第４図に示すよう番ご、ホルダ２の作用点スパン
ＢのＹ軸スパン／ Ｘ Ｉ＋スパン比率は２倍、加圧固
定機構７の加圧ポイント９による作用点スパンＡのＹ軸
スパン／Ｘ軸スパン比率は２倍となるように設定しであ
る。
ＢのＹ軸スパン／ Ｘ Ｉ＋スパン比率は２倍、加圧固
定機構７の加圧ポイント９による作用点スパンＡのＹ軸
スパン／Ｘ軸スパン比率は２倍となるように設定しであ
る。
従って、ＸＩｉ！ｌ側の相乗スパンＳＸ とＹ軸側の
相乗スパンＳＹ との比率は Ｓｘ／ＳＹ’、 １．２ａ／３ａ Ｘ Ｂ／２Ｂ ＸＡ
／２Ａ″−、ｌ／１Ｏ−（３）となるため、Ｙ軸方向の
誤差はＸ軸方向の誤差に対して約１／１０に縮少するこ
とができる。また、相乗スパン比率に対応するガイド効
果が各軸側に作用する。
相乗スパンＳＹ との比率は Ｓｘ／ＳＹ’、 １．２ａ／３ａ Ｘ Ｂ／２Ｂ ＸＡ
／２Ａ″−、ｌ／１Ｏ−（３）となるため、Ｙ軸方向の
誤差はＸ軸方向の誤差に対して約１／１０に縮少するこ
とができる。また、相乗スパン比率に対応するガイド効
果が各軸側に作用する。
第δ図、第６図に示すように、調整ハンド８のハンド部
のコンプライアンス（やわらかさ）は、その断面係数工
の比が短ハンド部（Ｘ軸）／長ハンド部（Ｙ軸）で１０
となる構造であるので、調整力に対してＹ軸方向の設定
位置ヘクランプガイド維持しつつＸ軸方向へ調整力を付
加できる。したがって、Ｘ軸方向に駆動最少送り量Ｐと
して０．５μｍレベルを付加するものとすれば、Ｙ軸方
向へは通常の５μｍレベル以下を付加すれば、Ｙ軸方向
の誤差が縮少され設定位置でガイドされた状態で、Ｘ軸
方向のミクロンオーダの調整が可能となる。
のコンプライアンス（やわらかさ）は、その断面係数工
の比が短ハンド部（Ｘ軸）／長ハンド部（Ｙ軸）で１０
となる構造であるので、調整力に対してＹ軸方向の設定
位置ヘクランプガイド維持しつつＸ軸方向へ調整力を付
加できる。したがって、Ｘ軸方向に駆動最少送り量Ｐと
して０．５μｍレベルを付加するものとすれば、Ｙ軸方
向へは通常の５μｍレベル以下を付加すれば、Ｙ軸方向
の誤差が縮少され設定位置でガイドされた状態で、Ｘ軸
方向のミクロンオーダの調整が可能となる。
第７図に本実施例による実験データを示す。図中、Δ印
は本実施例による調整位置を示し、Ｏ印は従来機構によ
る調整位置を示している。図から明らかなように、従来
機構では５＠実験して５＠ともＸ軸方向、Ｙ軸方向の両
方で１μｍ以上の誤差があったのに対し、本実施例では
５回実験して、Ｘ軸方向は５＠とも従来の半分の０．５
μｍ以下の誤差であり、かつ、Ｙ軸方向はほぼ誤差０で
あり、あとの３＠も０．５ｐｍ以下の誤差である。この
程度の誤差であれば仕様を十分に満足する。
は本実施例による調整位置を示し、Ｏ印は従来機構によ
る調整位置を示している。図から明らかなように、従来
機構では５＠実験して５＠ともＸ軸方向、Ｙ軸方向の両
方で１μｍ以上の誤差があったのに対し、本実施例では
５回実験して、Ｘ軸方向は５＠とも従来の半分の０．５
μｍ以下の誤差であり、かつ、Ｙ軸方向はほぼ誤差０で
あり、あとの３＠も０．５ｐｍ以下の誤差である。この
程度の誤差であれば仕様を十分に満足する。
本実施例は、光学的に安定な一摩擦平面上で一方向を優
位に作用させる機構であるので、両軸相互間の影春をな
くすことができ、かつ、設定位置でガイドされるので、
ミクロンオーダの高精度調整作業を容易に行うことがで
きる。また、ガイド面など複雑な機構を要せず、−固定
面への簡単な摩擦力固定機構により高精度位置調整機構
を実現することができる。さらに、目標光軸に直交する
一つの平面上で調整され、光路長さ、光軸方向角度など
に光学的一様性を維持できるので、多数個の光検出器を
同じレベルで調整することができる。
位に作用させる機構であるので、両軸相互間の影春をな
くすことができ、かつ、設定位置でガイドされるので、
ミクロンオーダの高精度調整作業を容易に行うことがで
きる。また、ガイド面など複雑な機構を要せず、−固定
面への簡単な摩擦力固定機構により高精度位置調整機構
を実現することができる。さらに、目標光軸に直交する
一つの平面上で調整され、光路長さ、光軸方向角度など
に光学的一様性を維持できるので、多数個の光検出器を
同じレベルで調整することができる。
以上説明したように、本発明によれば、Ｙ軸方向の調整
ハンドのクランプガイド作用、ホルダと加圧固定機構の
加圧ポイントスパンによる抱束ガイド作用、各スパン比
率の相乗効果による誤差縮少作用によりＹ軸方向変位は
１桁小さくなるため、調整作用力は相互に影智すること
なく、かつＹ軸方向位置はガイドとなるのでＸ軸方向が
調整精度優位軸となる。
ハンドのクランプガイド作用、ホルダと加圧固定機構の
加圧ポイントスパンによる抱束ガイド作用、各スパン比
率の相乗効果による誤差縮少作用によりＹ軸方向変位は
１桁小さくなるため、調整作用力は相互に影智すること
なく、かつＹ軸方向位置はガイドとなるのでＸ軸方向が
調整精度優位軸となる。
第１図、第２図は従来の光検出器の高精度位置調整機構
を示す図、第３図は光検出器の実施例を示す図、第養図
〜第６図は本発明の一実施例を示す正面図９両側面図、
第７図は位置調整の実験データを示す図である。 １：光検出器、２：ホルダ、３＝締付ネジ、７：加圧固
定機構、８：調整ハンド、９：加圧ポイント、ｌＯ：摩
擦固定面。 第３図 （ａ） 第７図
を示す図、第３図は光検出器の実施例を示す図、第養図
〜第６図は本発明の一実施例を示す正面図９両側面図、
第７図は位置調整の実験データを示す図である。 １：光検出器、２：ホルダ、３＝締付ネジ、７：加圧固
定機構、８：調整ハンド、９：加圧ポイント、ｌＯ：摩
擦固定面。 第３図 （ａ） 第７図
Claims (1)
- α）平面上に配置された光検出器の２軸位置調整機構に
おいて、前記光検出器を支持するホルダを加圧固定機構
により前記平面上に固定し、前記ホルダを調整ハンドに
て囲み該調整／％ンドの変位力を前記ホルダに作用させ
る構造とし、その作用点の間隔、前記加圧固定機構の前
記ホルダに対する加圧ポイント、および前記調整ハンド
の調整力反作用コンプライアンスがそれぞれ各軸方向で
異なることを特徴とする光検出器の高精度位置調整機構
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9780283A JPS59223951A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 光検出器の２軸位置調整機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9780283A JPS59223951A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 光検出器の２軸位置調整機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59223951A true JPS59223951A (ja) | 1984-12-15 |
| JPH0477966B2 JPH0477966B2 (ja) | 1992-12-09 |
Family
ID=14201910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9780283A Granted JPS59223951A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 光検出器の２軸位置調整機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59223951A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8800871A (nl) * | 1987-04-24 | 1988-11-16 | Mitsubishi Electric Corp | Fotodetectorinstelinrichting. |
| US5345432A (en) * | 1990-10-31 | 1994-09-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head |
| EP0727649A1 (en) * | 1995-02-17 | 1996-08-21 | Hewlett-Packard GmbH | Method and apparatus for temperature compensated optical sensor mounting |
-
1983
- 1983-06-03 JP JP9780283A patent/JPS59223951A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8800871A (nl) * | 1987-04-24 | 1988-11-16 | Mitsubishi Electric Corp | Fotodetectorinstelinrichting. |
| US5345432A (en) * | 1990-10-31 | 1994-09-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical head |
| EP0727649A1 (en) * | 1995-02-17 | 1996-08-21 | Hewlett-Packard GmbH | Method and apparatus for temperature compensated optical sensor mounting |
| US5750978A (en) * | 1995-02-17 | 1998-05-12 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for temperature compensated optical sensor mounting |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0477966B2 (ja) | 1992-12-09 |
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