JPH0467220B2 - - Google Patents
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- JPH0467220B2 JPH0467220B2 JP61050034A JP5003486A JPH0467220B2 JP H0467220 B2 JPH0467220 B2 JP H0467220B2 JP 61050034 A JP61050034 A JP 61050034A JP 5003486 A JP5003486 A JP 5003486A JP H0467220 B2 JPH0467220 B2 JP H0467220B2
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- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 25
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
チヤネル処理装置において、リクエスト・ポー
トの一部(又は全部)を入出力チヤネルに対して
使用不可にすると共に、使用不可にしたリクエス
ト・ポートから主記憶アクセスを発行できるよう
にしたチヤネル処理装置である。
トの一部(又は全部)を入出力チヤネルに対して
使用不可にすると共に、使用不可にしたリクエス
ト・ポートから主記憶アクセスを発行できるよう
にしたチヤネル処理装置である。
本発明は、入出力チヤネルから見た主記憶装置
の負荷を高め、入出力チヤネル又は入出力装置に
対する応答を遅く出来るようにした過負荷試験方
式に関するものである。
の負荷を高め、入出力チヤネル又は入出力装置に
対する応答を遅く出来るようにした過負荷試験方
式に関するものである。
第5図は計算機システムの概要を示す図であ
る。チヤネル処理装置3は、主記憶装置2と入出
力機器5間のデータの流れを制御するものであ
り、データ転送制御部6、入出力チヤネル7及び
オーバ・ローダ8等を有している。計算機システ
ムの試験を例えば工場内で行う場合、最大可能設
置台数の入出力機器5を使用して試験を行うこと
も考えられるが、そうすると、広い場所を要する
のみでなく、費用も嵩むので、少ない入出力機器
5を使用して試験をする事が行われてている。そ
のために従来技術では、入出力チヤネル7の一部
を削除し又は入出力チヤネル7と同レベルのオー
バ・ローダ8を付加してデータ転送制御部6の負
荷を上げていた。オーバ・ローダ8は、例えば一
定時間毎に主記憶リクエストをデータ転送制御部
6に発行するものであり、この主記憶リクエスト
によつて本来の入出力チヤネル7からのリクエス
トの処理が遅くなることを期待するものである。
る。チヤネル処理装置3は、主記憶装置2と入出
力機器5間のデータの流れを制御するものであ
り、データ転送制御部6、入出力チヤネル7及び
オーバ・ローダ8等を有している。計算機システ
ムの試験を例えば工場内で行う場合、最大可能設
置台数の入出力機器5を使用して試験を行うこと
も考えられるが、そうすると、広い場所を要する
のみでなく、費用も嵩むので、少ない入出力機器
5を使用して試験をする事が行われてている。そ
のために従来技術では、入出力チヤネル7の一部
を削除し又は入出力チヤネル7と同レベルのオー
バ・ローダ8を付加してデータ転送制御部6の負
荷を上げていた。オーバ・ローダ8は、例えば一
定時間毎に主記憶リクエストをデータ転送制御部
6に発行するものであり、この主記憶リクエスト
によつて本来の入出力チヤネル7からのリクエス
トの処理が遅くなることを期待するものである。
ところが、オーバ・ローダ8を付加すると、入
出力チヤネルの設置台数が減少したり、入出力チ
ヤネルの機能が低下するので、計算機システム自
体の性能が低下すると言う欠点がある。
出力チヤネルの設置台数が減少したり、入出力チ
ヤネルの機能が低下するので、計算機システム自
体の性能が低下すると言う欠点がある。
本発明は、上記の考察に基づくものであつて特
別なオーバ・ローダを付加することなく、チヤネ
ル処理装置の本来の機構を利用して簡単な制御で
効果的な過負荷試験を行い得るようになつたチヤ
ネル処理装置を提供することを目的としている。
別なオーバ・ローダを付加することなく、チヤネ
ル処理装置の本来の機構を利用して簡単な制御で
効果的な過負荷試験を行い得るようになつたチヤ
ネル処理装置を提供することを目的としている。
要約すると、本発明は下記のようなものであ
る。入出力チヤネルから主記憶アクセスを受付る
複数のリクエスト・ポートの一部又は全部を使用
不可にすることによつて、入出力チヤネルはリク
エスト・ポートの空きを待つことになる。この結
果、入出力機器や入出力制御装置は入出力チヤネ
ルのサービスを受け難くなる。リクエスト・ポー
トを使用不可にしただけでは、主記憶装置の負荷
は上がらないため、使用可能なリクエスト・ポー
トの処理速度は早くなり、リクエスト・ポートを
使用不可にしたほど過負荷効果は上がらない。こ
のために、更に使用不可にしたリクエスト・ポー
トから主記憶リクエストを発行することによつ
て、主記憶装置の負荷を上げることが出来、効果
的な過負荷試験をできるようにする。
る。入出力チヤネルから主記憶アクセスを受付る
複数のリクエスト・ポートの一部又は全部を使用
不可にすることによつて、入出力チヤネルはリク
エスト・ポートの空きを待つことになる。この結
果、入出力機器や入出力制御装置は入出力チヤネ
ルのサービスを受け難くなる。リクエスト・ポー
トを使用不可にしただけでは、主記憶装置の負荷
は上がらないため、使用可能なリクエスト・ポー
トの処理速度は早くなり、リクエスト・ポートを
使用不可にしたほど過負荷効果は上がらない。こ
のために、更に使用不可にしたリクエスト・ポー
トから主記憶リクエストを発行することによつ
て、主記憶装置の負荷を上げることが出来、効果
的な過負荷試験をできるようにする。
第1図は本発明の原理図である。チヤネル処理
装置は複数のリクエスト・ポート9−Aないし9
−Dを有している。リクエスト受付け制御部14
は、入出力チヤネル7から主記憶アクセス要求が
送られてきたとき、空きのリクエスト・ポート9
−X(X=A,B,C,D)を選択し、ポート・
ビジー部19にポート9−Xがビジーになつた旨
の情報を書込み、アクセス制御回路16にアクセ
ス要求を送る。なお、このアクセス要求はポート
番号を含む。入出力チヤネル7は書込みの場合に
は機能コードFC、アドレスA及びデータD0と
D1を出力し、これらが選択された空きのリクエ
スト・ポート9−Xに格納され、読出しの場合に
は入出力チヤネル7は機能コードFC及びアドレ
スAを出力し、これらが選択された空きのリクエ
スト・ポート9−Xに格納される。アクセス制御
回路16は、リクエスト・ポート9−Xのアクセ
ス要求を受理すると、リクエスト・ポート9−X
の内容をリクエスト・イン・レジスタ12に移
す。この際、発行元のリクエスト・ポートを示す
ための識別番号NOを付加する。リクエスト・イ
ン・レジスタ12の内容は主記憶装置2に送ら
れ、主記憶アクセスが行われる。読出しの場合、
読出データD0,D1及び識別番号がリクエス
ト・アウト・レジスタ13に格納され、次に読出
データD0,D1がリクエスト・ポート9−Xに
格納され、しかる後に入出力チヤネル7に送られ
る。使用不可ポート指定部21は、使用不可とす
るリクエスト・ポートを指定すると共に、過負荷
試験の起動を制御するものである。アクセス要求
発行部15は、使用不可ポート指定部21により
過負荷試験ガ起動され且つ使用不可ポートが設定
されると、アクセス制御回路16にアクセス要求
を送る。アクセス制御回路16はアクセス要求発
行部15からのアクセス要求を受理すると、使用
不可とされたリクエスト・ポート9−Y(Y=A,
B,C,Dの何れか)の内容をリクエスト・イ
ン・レジスタ12に移し,主記憶アクセスを行
う。
装置は複数のリクエスト・ポート9−Aないし9
−Dを有している。リクエスト受付け制御部14
は、入出力チヤネル7から主記憶アクセス要求が
送られてきたとき、空きのリクエスト・ポート9
−X(X=A,B,C,D)を選択し、ポート・
ビジー部19にポート9−Xがビジーになつた旨
の情報を書込み、アクセス制御回路16にアクセ
ス要求を送る。なお、このアクセス要求はポート
番号を含む。入出力チヤネル7は書込みの場合に
は機能コードFC、アドレスA及びデータD0と
D1を出力し、これらが選択された空きのリクエ
スト・ポート9−Xに格納され、読出しの場合に
は入出力チヤネル7は機能コードFC及びアドレ
スAを出力し、これらが選択された空きのリクエ
スト・ポート9−Xに格納される。アクセス制御
回路16は、リクエスト・ポート9−Xのアクセ
ス要求を受理すると、リクエスト・ポート9−X
の内容をリクエスト・イン・レジスタ12に移
す。この際、発行元のリクエスト・ポートを示す
ための識別番号NOを付加する。リクエスト・イ
ン・レジスタ12の内容は主記憶装置2に送ら
れ、主記憶アクセスが行われる。読出しの場合、
読出データD0,D1及び識別番号がリクエス
ト・アウト・レジスタ13に格納され、次に読出
データD0,D1がリクエスト・ポート9−Xに
格納され、しかる後に入出力チヤネル7に送られ
る。使用不可ポート指定部21は、使用不可とす
るリクエスト・ポートを指定すると共に、過負荷
試験の起動を制御するものである。アクセス要求
発行部15は、使用不可ポート指定部21により
過負荷試験ガ起動され且つ使用不可ポートが設定
されると、アクセス制御回路16にアクセス要求
を送る。アクセス制御回路16はアクセス要求発
行部15からのアクセス要求を受理すると、使用
不可とされたリクエスト・ポート9−Y(Y=A,
B,C,Dの何れか)の内容をリクエスト・イ
ン・レジスタ12に移し,主記憶アクセスを行
う。
いま、リクエスト・ポート9−Dが使用不可ポ
ートとされ、且つ過負荷試験モードにされたとす
る。奏すると、リクエスト受付け制御部14から
みてリクエスト・ポート9−Dは常時ビジーにな
る。使用不可ポートが指定され且つ過負荷試験モ
ードになると、アクセス要求発行部15は、リク
エスト・ポート9−Dのアクセス要求をアクセス
制御回路16に出力する。
ートとされ、且つ過負荷試験モードにされたとす
る。奏すると、リクエスト受付け制御部14から
みてリクエスト・ポート9−Dは常時ビジーにな
る。使用不可ポートが指定され且つ過負荷試験モ
ードになると、アクセス要求発行部15は、リク
エスト・ポート9−Dのアクセス要求をアクセス
制御回路16に出力する。
第2図はデータ転送制御部6を説明する図であ
る。リクエスト・ポート9−Aないし9−D、セ
レクタ10、セレクタ11及びリクエスト・イ
ン・レジスタ12は、データ転送制御部6の中に
存在する。図示の例では、2個の入出力チヤネル
7が設けられ、各入出力チヤネル7にたいして4
個のリクエスト・ポート9−Aないし9−Dより
なる組が設けられている。上側のリクエスト・ポ
ート9−Aないし9−Dの内容はセレクタ11を
介してリクエスト・イン・レジスタ12に移さ
れ、同様に下側のリクエスト・ポート9−Aない
し9−Dの内容もセレクタ11を介してリクエス
ト・イン・レジスタ12に格納される。この際
に、発行元のリクエスト・ポートを示すための識
別番号NOが付加され、識別番号NOもリクエス
ト・イン・レジスタ12に格納される。リクエス
ト・イン・レジスタ12の内容は主記憶装置2に
送られ、主記憶装置2は機能コードFCで指定さ
れた動作を行う。即ち、機能コードが書込みを指
定している場合には書込みを行い、読出しを指示
している場合には読出しを行う。主記憶装置2
は、書込みが完了した場合には識別番号NOをリ
クエスト・アウト・レジスタ13に格納し、読出
しの場合には識別番号NO及びデータD0,D1
をリクエスト・アウト・レジスタ13に格納す
る。リクエスト・アウト・レジスタ13の内容
は、完了信号と共にデータ転送制御部に送られて
来る。読出しの場合には、リクエスト・アウト・
レジスタ13のデータD0,D1が該当するリク
エスト・イン・レジスタ9−X(X=A,B,C,
D)に格納され、リクエスト・イン・レジスタ9
−Xに格納されたデータD0とD1は、セレクタ
10を介して順番に入出力チヤネル7に送られ
る。
る。リクエスト・ポート9−Aないし9−D、セ
レクタ10、セレクタ11及びリクエスト・イ
ン・レジスタ12は、データ転送制御部6の中に
存在する。図示の例では、2個の入出力チヤネル
7が設けられ、各入出力チヤネル7にたいして4
個のリクエスト・ポート9−Aないし9−Dより
なる組が設けられている。上側のリクエスト・ポ
ート9−Aないし9−Dの内容はセレクタ11を
介してリクエスト・イン・レジスタ12に移さ
れ、同様に下側のリクエスト・ポート9−Aない
し9−Dの内容もセレクタ11を介してリクエス
ト・イン・レジスタ12に格納される。この際
に、発行元のリクエスト・ポートを示すための識
別番号NOが付加され、識別番号NOもリクエス
ト・イン・レジスタ12に格納される。リクエス
ト・イン・レジスタ12の内容は主記憶装置2に
送られ、主記憶装置2は機能コードFCで指定さ
れた動作を行う。即ち、機能コードが書込みを指
定している場合には書込みを行い、読出しを指示
している場合には読出しを行う。主記憶装置2
は、書込みが完了した場合には識別番号NOをリ
クエスト・アウト・レジスタ13に格納し、読出
しの場合には識別番号NO及びデータD0,D1
をリクエスト・アウト・レジスタ13に格納す
る。リクエスト・アウト・レジスタ13の内容
は、完了信号と共にデータ転送制御部に送られて
来る。読出しの場合には、リクエスト・アウト・
レジスタ13のデータD0,D1が該当するリク
エスト・イン・レジスタ9−X(X=A,B,C,
D)に格納され、リクエスト・イン・レジスタ9
−Xに格納されたデータD0とD1は、セレクタ
10を介して順番に入出力チヤネル7に送られ
る。
第3図はフエツチ・アクセスが連続した場合の
動作を示す図である。なお、ポートAないしDは
リクエスト・ポート9−Aないし9−Dをそれぞ
れ示している。いま、ポートAないしDが空きで
あると仮定する。入出力チヤネル7が機能コード
FCを送出すると、この機能コードFCはポートA
に格納され、入出力チヤネル7が続いてアドレス
A送出すると、このアドレスAもポートAに格納
される。ポートAの機能コードFC及びアドレス
Aはリクエスト・イン・レジスタ12を介して主
記憶装置に送られ、メモリ・アクセスが行われ
る。主記憶装置2から読出されたデータD0,D
1はリクエスト・アウト・レジスタ13を介して
データ転送制御部に送られ、ポートAに格納され
る。最初のリクエストが未だ処理されない間に、
次のリクエストが入出力チヤネル7から送られて
くると、このリクエストはポートBに格納され、
リクエスト・イン・レジスタ12が空きになる
と、ポートBのリクエストがリクエスト・イン・
レジスタ12に移される。以下、図示の通りの動
作が行われる。
動作を示す図である。なお、ポートAないしDは
リクエスト・ポート9−Aないし9−Dをそれぞ
れ示している。いま、ポートAないしDが空きで
あると仮定する。入出力チヤネル7が機能コード
FCを送出すると、この機能コードFCはポートA
に格納され、入出力チヤネル7が続いてアドレス
A送出すると、このアドレスAもポートAに格納
される。ポートAの機能コードFC及びアドレス
Aはリクエスト・イン・レジスタ12を介して主
記憶装置に送られ、メモリ・アクセスが行われ
る。主記憶装置2から読出されたデータD0,D
1はリクエスト・アウト・レジスタ13を介して
データ転送制御部に送られ、ポートAに格納され
る。最初のリクエストが未だ処理されない間に、
次のリクエストが入出力チヤネル7から送られて
くると、このリクエストはポートBに格納され、
リクエスト・イン・レジスタ12が空きになる
と、ポートBのリクエストがリクエスト・イン・
レジスタ12に移される。以下、図示の通りの動
作が行われる。
第4図は本発明の1実施例のブロツク図であ
る。過負荷試験フリツプ・フロツプ17と使用不
可ポート設定フリツプ・フロツプ18−Aないし
18−Dは、使用不可ポート指定部21を構成し
ている。また、ポート・ビジー・フリツプ・フロ
ツプ19−Dないし19−Dはポート・ビジー部
19を構成している。過負荷試験を行いたい場合
には、過負荷試験フリツプ・フロツプ17に
「1」がセツトされ、4個の使用不可ポート設定
フリツプ・フロツプ18の内の何れか(又は全
部)が「1」とされる。アクセス要求発行部15
は過負荷試験フリツプ・フロツプ17及び4個の
使用不可ポート設定フリツプ・フロツプ18の中
の或るものが「1」にされると、アクセス要求を
発行する。アクセス要求発行部15の発行したア
クセス要求はアクセス制御回路16に送られ、こ
れと同時に「1」とされている使用不可ポート設
定フリツプ・フロツプ18に対応するポート・ビ
ジー・フリツプ・フロツプ19が「1」とされ
る。アクセス制御回路16は、リクエスト・ポー
ト9−Aないし9−Dに対応するレデイ・フリツ
プ・フロツプ(図示せず)を有しており、ポート
番号が付加されたアクセス要求が送られてくる
と、対応するレデイ・フリツプ・フロツプを
「1」にする。そして、アクセス要求発行部15
及びリクエスト受付け制御部14から送られて来
ているアクセス要求の中から1個を選択し、選択
されたリクエスト・ポート9の内容をリクエス
ト・イン・レジスタ12に移し、選択されたリク
エスト・ポート9に対応するポート・ビジー・フ
リツプ・フロツプ19及びレデイ・フリツプ・フ
ロツプを「0」にする。
る。過負荷試験フリツプ・フロツプ17と使用不
可ポート設定フリツプ・フロツプ18−Aないし
18−Dは、使用不可ポート指定部21を構成し
ている。また、ポート・ビジー・フリツプ・フロ
ツプ19−Dないし19−Dはポート・ビジー部
19を構成している。過負荷試験を行いたい場合
には、過負荷試験フリツプ・フロツプ17に
「1」がセツトされ、4個の使用不可ポート設定
フリツプ・フロツプ18の内の何れか(又は全
部)が「1」とされる。アクセス要求発行部15
は過負荷試験フリツプ・フロツプ17及び4個の
使用不可ポート設定フリツプ・フロツプ18の中
の或るものが「1」にされると、アクセス要求を
発行する。アクセス要求発行部15の発行したア
クセス要求はアクセス制御回路16に送られ、こ
れと同時に「1」とされている使用不可ポート設
定フリツプ・フロツプ18に対応するポート・ビ
ジー・フリツプ・フロツプ19が「1」とされ
る。アクセス制御回路16は、リクエスト・ポー
ト9−Aないし9−Dに対応するレデイ・フリツ
プ・フロツプ(図示せず)を有しており、ポート
番号が付加されたアクセス要求が送られてくる
と、対応するレデイ・フリツプ・フロツプを
「1」にする。そして、アクセス要求発行部15
及びリクエスト受付け制御部14から送られて来
ているアクセス要求の中から1個を選択し、選択
されたリクエスト・ポート9の内容をリクエス
ト・イン・レジスタ12に移し、選択されたリク
エスト・ポート9に対応するポート・ビジー・フ
リツプ・フロツプ19及びレデイ・フリツプ・フ
ロツプを「0」にする。
リクエスト受付け制御部14は、使用不可ポー
ト設定フリツプ・フロツプ18−Aないし18−
Dの内容を参照し、使用不可とされているリクエ
スト・ポート9には入出力チヤネル7からのリク
エストをセツトしない。また、ポート・ビジー・
フリツプ・フロツプ19−Aないし19−Dの内
容をも参照し、ビジーのリクエスト・ポート9に
は入出力チヤネル7から送られて来たリクエスト
をセツトしない。分配制御部20は、リクエスト
受付け部14の指示に従つて入出力チヤネル7か
らのリクエストをリクエスト・ポート9にセツト
するものである。
ト設定フリツプ・フロツプ18−Aないし18−
Dの内容を参照し、使用不可とされているリクエ
スト・ポート9には入出力チヤネル7からのリク
エストをセツトしない。また、ポート・ビジー・
フリツプ・フロツプ19−Aないし19−Dの内
容をも参照し、ビジーのリクエスト・ポート9に
は入出力チヤネル7から送られて来たリクエスト
をセツトしない。分配制御部20は、リクエスト
受付け部14の指示に従つて入出力チヤネル7か
らのリクエストをリクエスト・ポート9にセツト
するものである。
いま、過負荷試験フリツプ・フロツプ17と使
用不可ポート設定フリツプ・フロツプ18−Dが
「1」にされたと仮定する。リクエスト・ポート
9−Dを過負荷試験用ポートとして使用する場合
には、リクエスト・ポート9−Dにスキヤン・イ
ンにより予めリクエストをセツトしておく。使用
不可ポート設定フリツプ・フロツプ18−Dが
「1」になると、入出力チヤネル7からのリクエ
ストはリクエスト・ポート9−Dにセツトするこ
とが出来なくなる。アクセス要求発行部15は、
過負荷試験フリツプ・フロツプ17と使用不可ポ
ート設定フリツプ・フロツプ18−Dが「1」に
されると、ポート・ビジー・フリツプ・フロツプ
19−Dが「0」であることを条件として、アク
セス要求(ポート名を含む)をアクセス制御回路
16に送る。このアクセス要求を送ると同時にポ
ート・ビジー・フリツプ・フロツプ19−Dを
「1」とする。アクセス制御回路16がリクエス
ト・ポート9−Dのリクエストをリクエスト・イ
ン・レジスタ12に移すと、ポート・ビジー・フ
リツプ・フロツプ19−Dが「0」になり、アク
セス要求発行部15は次のアクセス要求を発行で
きるようになる。リクエスト・ポート9−Dの内
容をリクエスト・イン・レジスタ12に移してか
ら、一定時間後にポート・ビジー・フリツプ・フ
ロツプ19−Dを「0」にすることも可能であ
る。または、主記憶装置から処理終了を受け取つ
てからポート・ビジー・フリツプ・フロツプ19
−Dを「0」にすることも可能である。なお、当
然のことながら、過負荷試験を行う場合にはリク
エストの処理結果を入出力チヤネル7に返送しな
いようにしておく。
用不可ポート設定フリツプ・フロツプ18−Dが
「1」にされたと仮定する。リクエスト・ポート
9−Dを過負荷試験用ポートとして使用する場合
には、リクエスト・ポート9−Dにスキヤン・イ
ンにより予めリクエストをセツトしておく。使用
不可ポート設定フリツプ・フロツプ18−Dが
「1」になると、入出力チヤネル7からのリクエ
ストはリクエスト・ポート9−Dにセツトするこ
とが出来なくなる。アクセス要求発行部15は、
過負荷試験フリツプ・フロツプ17と使用不可ポ
ート設定フリツプ・フロツプ18−Dが「1」に
されると、ポート・ビジー・フリツプ・フロツプ
19−Dが「0」であることを条件として、アク
セス要求(ポート名を含む)をアクセス制御回路
16に送る。このアクセス要求を送ると同時にポ
ート・ビジー・フリツプ・フロツプ19−Dを
「1」とする。アクセス制御回路16がリクエス
ト・ポート9−Dのリクエストをリクエスト・イ
ン・レジスタ12に移すと、ポート・ビジー・フ
リツプ・フロツプ19−Dが「0」になり、アク
セス要求発行部15は次のアクセス要求を発行で
きるようになる。リクエスト・ポート9−Dの内
容をリクエスト・イン・レジスタ12に移してか
ら、一定時間後にポート・ビジー・フリツプ・フ
ロツプ19−Dを「0」にすることも可能であ
る。または、主記憶装置から処理終了を受け取つ
てからポート・ビジー・フリツプ・フロツプ19
−Dを「0」にすることも可能である。なお、当
然のことながら、過負荷試験を行う場合にはリク
エストの処理結果を入出力チヤネル7に返送しな
いようにしておく。
過負荷試験モード時において、使用不可ポート
設定フリツプ・フロツプ18−Cと18−Dが
「1」にされるたとする。最初はビジー・フリツ
プ・フロツプ19−Cと19−Dは「0」である
ので、アクセス要求発行部15は、先ずポート9
−Cのアクセス要求をアクセス制御回路16に送
つてポート・ビジー・フリツプ・フロツプ19−
Cを「1」にし、次にポート9−Dのアクセス要
求をアクセス制御回路16に送つてポート・ビジ
ー・フリツプ・フロツプ19−Dを「1」にす
る。その後は、アクセス要求発行部15は、ポー
ト・ビジー・フリツプ・フロツプ19−C及び1
9−Dの値を参照してアクセス要求をアクセス制
御回路16に送る。
設定フリツプ・フロツプ18−Cと18−Dが
「1」にされるたとする。最初はビジー・フリツ
プ・フロツプ19−Cと19−Dは「0」である
ので、アクセス要求発行部15は、先ずポート9
−Cのアクセス要求をアクセス制御回路16に送
つてポート・ビジー・フリツプ・フロツプ19−
Cを「1」にし、次にポート9−Dのアクセス要
求をアクセス制御回路16に送つてポート・ビジ
ー・フリツプ・フロツプ19−Dを「1」にす
る。その後は、アクセス要求発行部15は、ポー
ト・ビジー・フリツプ・フロツプ19−C及び1
9−Dの値を参照してアクセス要求をアクセス制
御回路16に送る。
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、装置試験システムにおいて最大システム構成
にすることなく小規模なシステム構成で効果的な
システム試験を行うことが出来る。また本発明に
よれば、オーバ・ローダ等の本来使用しない機構
を使用して過負荷試験を行うのではなく、通常状
態でも使用される本来の機構を利用して過負荷試
験を行うことが出来、更に過負荷試験用に選択さ
れたリクエスト・ポートの内容を変更することに
より、多様な過負荷試験を簡単に行うことが出来
る。
ば、装置試験システムにおいて最大システム構成
にすることなく小規模なシステム構成で効果的な
システム試験を行うことが出来る。また本発明に
よれば、オーバ・ローダ等の本来使用しない機構
を使用して過負荷試験を行うのではなく、通常状
態でも使用される本来の機構を利用して過負荷試
験を行うことが出来、更に過負荷試験用に選択さ
れたリクエスト・ポートの内容を変更することに
より、多様な過負荷試験を簡単に行うことが出来
る。
第1図は本発明の原理図、第2図はチヤネル処
理装置のデータ転送制御部を説明する図、第3図
はフエツチ・アクセスが連続した場合の動作を示
す図、第4図は本発明の1実施例のブロツク図、
第5図は計算機システムの概要を示す図である。 1……中央処理装置、2……主記憶装置、3…
…チヤネル処理装置、4……入出力制御装置、5
……入出力機器、6……データ転送制御部、7…
…入出力チヤネル、8……オーバ・ローダ、9−
Aないし9−D……リクエスト・ポート、10と
11……セレクタ、12……リクエスト・イン・
レジスタ、13……リクエスト・アウト・レジス
タ、14……リクエスト受付け制御部、15……
アクセス要求発行部、16……アクセス制御回
路、17……過負荷試験フリツプ・フロツプ、1
8−Aないし18−D……使用不可ポート設定フ
リツプ・フロツプ、19……ポート・ビジー部、
19−Aないし19−D……ポート・ビジー・フ
リツプ・フロツプ、20……分配制御部、21…
…使用不可ポート指定部。
理装置のデータ転送制御部を説明する図、第3図
はフエツチ・アクセスが連続した場合の動作を示
す図、第4図は本発明の1実施例のブロツク図、
第5図は計算機システムの概要を示す図である。 1……中央処理装置、2……主記憶装置、3…
…チヤネル処理装置、4……入出力制御装置、5
……入出力機器、6……データ転送制御部、7…
…入出力チヤネル、8……オーバ・ローダ、9−
Aないし9−D……リクエスト・ポート、10と
11……セレクタ、12……リクエスト・イン・
レジスタ、13……リクエスト・アウト・レジス
タ、14……リクエスト受付け制御部、15……
アクセス要求発行部、16……アクセス制御回
路、17……過負荷試験フリツプ・フロツプ、1
8−Aないし18−D……使用不可ポート設定フ
リツプ・フロツプ、19……ポート・ビジー部、
19−Aないし19−D……ポート・ビジー・フ
リツプ・フロツプ、20……分配制御部、21…
…使用不可ポート指定部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 読出し/書込みを示す機能コードFC、主記
憶アドレスAおよびデータD0,D1を格納する
リクエスト・ポートの複数個9−A,…,9−D
と、 リクエスト受付け制御部14と、 アクセス要求発行部15と、 アクセス制御回路16と、 ビジー状態のリクエスト・ポートを示す情報を
記憶するポート・ビジー部19と、 使用不可とすべきリクエスト・ポートを指定す
る使用不可ポート指定部21と、 を具備するチヤネル処理装置であつて、 リクエスト受付け制御部14は、入出力チヤネ
ル7からの要求信号を受け取つたときに、使用不
可ポート指定部21によつて使用不可とされたリ
クエスト・ポート及びビジーのリクエスト・ポー
トを除いたリクエスト・ポートの中から1個のポ
ートを選択し、選択されたリクエスト・ポート
に、入出力チヤネルから出力された読出しを示す
機能コードFCと主記憶アドレスAとより成るリ
ード要求データ又は書込みを示す機能コードFC
と主記憶アドレスAと書込データD0,D1とよ
り成るライト要求データを書き込むと共に、選択
されたリクエスト・ポートを識別するための識別
子を付加したアクセス要求をアクセス制御部16
に送るように構成され、 アクセス要求発行部15は、使用不可ポート指
定部21によつて指定されたリクエスト・ポート
がビジー状態でないことを条件として、当該リク
エスト・ポートを識別するための識別子を付加し
たアクセス要求をアクセス制御回路16に送るよ
うに構成され、 アクセス制御回路16は、リクエスト受付け制
御部14から出力されたアクセス要求およびアク
セス要求発行部15から出力されたアクセス要求
を受け付け、アクセス要求に付加されている識別
子で指定されたリクエスト・ポートの要求データ
を主記憶装置2に送るように構成されている ことを特徴とするチヤネル処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61050034A JPS62206648A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | チャネル処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61050034A JPS62206648A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | チャネル処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62206648A JPS62206648A (ja) | 1987-09-11 |
JPH0467220B2 true JPH0467220B2 (ja) | 1992-10-27 |
Family
ID=12847713
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61050034A Granted JPS62206648A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | チャネル処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62206648A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01187658A (ja) * | 1988-01-21 | 1989-07-27 | Nec Corp | バス負荷方式 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5588148A (en) * | 1978-12-27 | 1980-07-03 | Fujitsu Ltd | Test system of input-output control system |
JPS5881362A (ja) * | 1981-11-11 | 1983-05-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | フア−ムウエア化された通信処理装置の試験方式 |
JPS6083152A (ja) * | 1983-10-13 | 1985-05-11 | Fujitsu Ltd | システム性能評価用擬似負荷装置 |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP61050034A patent/JPS62206648A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5588148A (en) * | 1978-12-27 | 1980-07-03 | Fujitsu Ltd | Test system of input-output control system |
JPS5881362A (ja) * | 1981-11-11 | 1983-05-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | フア−ムウエア化された通信処理装置の試験方式 |
JPS6083152A (ja) * | 1983-10-13 | 1985-05-11 | Fujitsu Ltd | システム性能評価用擬似負荷装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62206648A (ja) | 1987-09-11 |
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