JPH0440722A - 伝送システム及び伝送路障害検出方式 - Google Patents

伝送システム及び伝送路障害検出方式

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JPH0440722A
JPH0440722A JP2147290A JP14729090A JPH0440722A JP H0440722 A JPH0440722 A JP H0440722A JP 2147290 A JP2147290 A JP 2147290A JP 14729090 A JP14729090 A JP 14729090A JP H0440722 A JPH0440722 A JP H0440722A
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JP
Japan
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line
transmission line
station
transmission
fault
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JP2147290A
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Kenichiro Oda
織田 健一郎
Seiichiro Yamamoto
征一郎 山本
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、トークンリングLAN等の伝送システムに係
り、特に、伝送路障害箇所の探索と切り離しを行うこと
が可能な伝送システム及び伝送路障害検出方式に関する
[従来の技術] 従来技術によるトークンリングLAN等の伝送システム
は、ステーションをリング伝送路から分離しようとする
場合、IEEE  802.5で規定されている集線装
置(TCU)に内蔵されている、ステーションのリング
伝送路への加入/分離機構として用いるリレーを、ステ
ーションからのファントム電流断となったことにより制
御することによってしか分離することができなかった。
また、伝送路の障害検出は、伝送路を流れるデータの正
常性(FCSエラー等のチエツク)を確認する方法、あ
るいは、全ステーションにおけるステーション分離の操
作(電源の切断等)を行い、リング伝送路から全ステー
ションを分離し、伝送路の直流抵抗、信号減衰量等を測
定する方法を用いて行われていた。
また、障害箇所の探索は、人手で伝送路を分離して(ケ
ーブル取り外し等)、前述の方法でリング伝送路から全
ステーションを分離させ、直流抵抗や信号減衰量を測定
することにより行われていた。
なお、前述のようなリング伝送システムに関する従来技
術として、例えば、特開昭62−487441号公報、
特開平1−221954号公報等に記載された技術が知
られている。
[発明が解決しようとする課M] 前記従来技術は、ステーションをリングから分離する手
段として、集線装置内蔵のステーション加入/分離用リ
レーに対するファントム電流を断にする方法しかなかっ
たために、伝送路の障害を検出する能力が不充分であり
、次のような問題点を有している。
(1)任意の伝送路区間の集線装置を一斉にステーショ
ン分離の状態にすることができず、そのため、有効な障
害検出手段である直流抵抗測定による障害検出を行うこ
とができない。
(2)信号減衰量についてもステーション間の信号減衰
量しか測定することができず、伝送路全体の信号減衰量
の測定を行うことができない(あるステーション間の伝
送路に障害がある場合にも、下流側のステーションで信
号が増幅されてしまうため、伝送路のみの信号減衰量の
測定を行うことができず、障害を検出することができな
い)。
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決し、必要
に応じて全伝送路区間、または、一部伝送路区間を分離
状態にし、伝送路の直流抵抗及び信号減衰量の測定を可
能とすることにより、確実に障害を検出し、また障害区
間をリングより切り離すことにより、正常部分の運転を
続行可能とする伝送システム及び伝送路障害検出方式を
提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明によれば前記目的は、集線装置に内蔵されてステ
ーションのリングへの加入/分離機能を実行するために
用いられているステーションからのファントム電流断に
より制御されるリレーを用いることなく、必要に応じて
全伝送路区間、または、一部伝送路区間を分離状態にし
、伝送路の直流抵抗あるいは信号減衰量の測定を可能と
することにより、また、伝送路の直流抵抗及び信号減衰
量の測定に関し、新たに測定した値と過去に測定した値
とを比較して、確実な障害検出を行い、障害区間をリン
グより切り離すことかできるようにすることにより達成
される。
すなわち、本発明は、集線装置内蔵のステーション加入
/分離機能用に用いられるステーションからのファント
ム電流断により制御されるリレーを用いることなく、伝
送路をリングから分離する手段と、前記分離手段を制御
する信号を、いもづる状に接続された各集線装置へ送る
信号線を設けて、分離指示を行う手段と、全伝送路また
は一部伝送路の直流抵抗、あるいは、信号減衰量を測定
する手段とを備えることにより前記目的を達成すること
ができる。
さらに、本発明は、全伝送路または一部伝送路の直流抵
抗、あるいは、信号減衰量を記憶する手段と、被測定伝
送路区間を選択する手段と、新たに測定した値と、過去
に測定した値とを比較して障害有無の判定を行う手段と
、障害有りと判定した場合、その障害測定区間を切り離
す手段とを備えることにより、前記目的を達成すること
ができる。
「作 用」 ステーションからのファントム電流の断により制御され
る集線装置内蔵のステーション加入/分離機能用リレー
をもちいることなく、ステーションをリングから分離す
る手段を設けることにより、ステーションからの制御と
は独立した形式で、ステーションをリングから分離させ
ることが可能とな。また、前記分離手段を制御する信号
を、いもづる状に接続された各集線装置へ送る信号線を
設けて、分離指示を行う手段を設けることにより、全伝
送路区間、または、一部伝送路区間内の全ステーション
を一斉にリングより分離させることが可能となる。
また、直流抵抗、あるいは、信号減衰量の測定値を記憶
する手段を設けることにより、過去の測定値の保存が可
能となり、伝送路の状況の経時的な変化を知ることがで
きる。
被測定伝送路区間を選択する手段を設けることにより、
リングを細分化してテストすることが可能となり、障害
検出により切離す伝送路の範囲を狭めることができる。
伝送路特性の測定値(直流抵抗、あるいは、信号減衰量
)の新たな測定値と過去の測定値とを比較して、障害の
有無を判定する手段を設けることにより、被測定伝送路
区間に、障害の要因が存在することを確実に検出するこ
とできる。
特に、半断線(線が切れかかっている状態)等の、正常
値の判定が困難であるようなわずかな直流抵抗の変化と
してしか現われないような障害の場合にも、過去の測定
値との比較を行うことにより、容易に障害を検出するこ
とが可能となる。
障害有りと判定された場合、その測定区間を切り離す手
段を設けることにより、障害判定と連動した形で構成変
更(障害伝送路区間の切り離し)を実行することができ
、速やかな障害区間の切り離しを行うことが可能となる
[実施例コ 以下、本発明による伝送システム及び伝送路障害検出方
式の一実施例を図面により詳細に説明する。
第1図は本発明をトークンリングLANに適用した一実
施例の伝送システムの構成を示すブロック図、第2図は
障害検出装置の構成を示すブロック図、第3図は集線装
置の内部構成、及び、及び集線装置相互間の接続を示す
ブロック図である。
第1図〜第3図において、1a、1bは支線、10はリ
ングケーブル、11は障害検出装置、12a、12bは
集線装置、14 a −14dはステーション、20は
マイクロプロセッサ、21はメモリ、22はパネル制御
部、23は共通バス、24はリレー制御部、25a、2
5bは支線バイパス制御リレー、26a、26bは被測
定支線選択リレー 40は抵抗測定制御部、41は測定
部選択リレー 42は直流抵抗測定回路、50a〜50
dはステーション加入/分離リレー 51a〜51dは
ステーション強制分離リレーである。
本発明の一実施例による伝送システムは、第1図に示す
ように、複数の集線装置12a、12bを接続する支線
1a、lbを収容している障害検出装置11が、相互に
リングケーブル10で接続されて構成されている。
障害検出装置11は、支線1a及び支線1bの障害検出
と、障害と判定した場合に、支線1a及び支線1bのリ
ングからの切り離しを支線毎に行うことのできる機能を
有している。
集線装置12a、12bは、ステーション14a〜14
dからのリング加入/分離指示(ファントム電流を用い
る)を受けて、ステーション毎にリングへの加入/分離
の動作を実行すると共に、障害検出装置11からのステ
ーション分離指示を受けて、該集線装置12a、12b
の配下にある全ステーション14a〜14dを一斉にリ
ングから切り離す動作を実行する。
障害検出装置11は、第2図に示すように、マイクロプ
ロセッサ20.メモリ21.パネル制御部22、リレー
制御部24、抵抗測定制御部40、測定回路42及び各
種リレーにより構成されている。以下、これらの構成回
路の機能を説明する。
マイクロプロセッサ20は、メモリ21に格納されてい
る障害処理プログラムに従って、各支線la、1bの直
流抵抗測定のためのコマンドを出力し、各支線の直流抵
抗測定を実行させる。このとき、マイクロプロセッサ2
0は、メモリ21に格納されている過去に測定された直
流抵抗値と、新たに測定した直流抵抗値とを比較し、予
め設定された所定の許容誤差を越える差異がある場合、
被測定支線に障害があると判断してパネル制御部22に
障害表示を行うと同時に、集線装置12a、12bに対
して障害と判断した支線を切り離すコマンドを出力する
共通バス23は、マイクロプロセッサ20からリレー制
御部24、抵抗測定制御部40に対するコマンド、及び
、リレー制御部24、抵抗測定制御部40からマイクロ
プロセッサ20へのレスポンスの転送に用いられる。
リレー制御部24は、マイクロプロセッサ20からのコ
マンドに従って、支線バイパス指示指号27a、27b
、及び、測定指示信号28a、28b、ステーション分
離指示信号29a、29b、被測定支線選択信号45を
生成する。
支線バイパス制御リレー25a、25bは、支線バイパ
ス指示信号27a、27bに従って、リレーをバイパス
状態または非バイパス状態に制御する。
被測定支線選択リレー26a、26bは、測定指示信号
28a、28bに従って、支線1a、1bを直流抵抗測
定回路42へ接続、または接続解除する動作を行う。
送信信号30は、ステーションに対する送信データ及び
タイミング成分を含んでいる。
受信信号31は、送信信号30が支線1aに接続されて
いる集線装置及びステーションを経由して戻ってきた信
号である。
抵抗測定制御部40は、マイクロプロセッサ20からの
コマンドに従って、直流抵抗測定指示信号43を生成し
、また、直流抵抗測定回路42からの測定値報告信号4
4を受けて、マイクロプロセッサ2oに対するレスポン
スを生成する。
また、測定部選択リレー41は、被測定支線選択信号4
3に従って、支線1a、1bの何れかを選択し、選択し
た支線を直流抵抗測定回路42へ接続する。
集線装置12a、12bは、第3図に示すように、それ
ぞれ、ステーション加入/分離リレー50a、50 b
 (50c、 50 d)及びステーション強制分離リ
レー51 a、  5 l b (51c、 51d)
を備えて構成されている。
ステーション加入/分離リレー50a〜50dは、各ス
テーション14a〜14dからのファントム電流により
、各ステーションのリングへの加入または分離の動作を
行う。そして、これらのステーション加入/分離リレー
50a〜50dは、ステーションからのファントム電流
が断になったとき、そのステーションをリングから分離
した状態にする。
ステーション強制分離リレー51’a〜51dは、ステ
ーション分離指示信号29aに従って、ステーション1
4a〜14dとステーション加入/分離リレー50a〜
50dとの間の接続を分離させる。このステーション分
離指示信号29aは、ステーション強制分離リレー51
a〜51dを共通的に制御する信号であり、該リレー5
1a〜51dにより、ステーションを一斉にリングから
分離された状態にすることができる。また、これらのリ
レー51a〜51dが、ステーションをリングから分離
した状態にすると、ステーションからのファントム電流
が遮断されることになり、ステーション加入/分離リレ
ー50a〜50dは、ステーションを分離した状態、す
なわち、支線1aをパスさせた状態とする。
次に、前述したように構成される本発明の一実施例にお
いて、集線装置12aと集線装置12bとの間のケーブ
ル支線1aに障害(完全な障害ではなく、線が切れかか
っているような障害)が発生したものとして、その場合
の動作を、第2図及び第3図を参照して説明する。
前述した障害が発生すると、ステーション間の通信の途
絶、ステーションの応答時間が遅くなる等の現象が表わ
れる。このような現象を発見したオペレータは、障害検
呂装置11のパネル制御部22のパネルを用いて、障害
処理開始のキー操作を行う。
この操作により、マイクロプロセッサ20は、メモリ2
1内の障害処理プログラムを起動し、リレー制御部24
に対して、支線1aのテスト実行を指示するコマンドを
発行する。
すlノー制御部24は、このコマンドに従って、支線バ
イパス制御リレー25aに対して、バイパス指示信号2
7aを出力し、被測定支線選択リレー−26a及び測定
部選択リレー41に対して、支線1aを直流抵抗測定回
路42へ接続する指示を出力する。また、リレー制御部
24は、支線1aに対し、ステーション分離指示信号2
9aを出力し、集線装置12a、12bにおいてステー
ションを分離するよう指示を行う。
次に、マイクロプロセッサ20は、抵抗測定制御部40
を介して、直流抵抗測定回路42に対し、直流抵抗測定
の指示を出力する。
直流抵抗測定回路42は、この指示により支線1aの直
流抵抗の測定を行い、この結果の測定抵抗値を抵抗測定
制御部40を介してマイクロプロセッサ20へ報告する
マイクロプロセッサ20は、この測定された抵抗値と、
メモリ21内に格納されている過去の測定値(抵抗値)
とを比較し、その差が、予め設定した許容誤差以上とな
っているか否かをチエツクする。この例では、集線装置
12aと集線装置12bとの間に障害があるとしたので
、支線1aの抵抗値が上昇しており、前記比較による差
は、許容誤差を越えるものとなる。このため、マイクロ
プロセッサ20は、支7Jjllaに障害があると判断
する。
前述と同様の手順で支線1bについてもテストが行われ
るが、この場合、測定した抵抗値が許容誤差の範囲内に
入っているので、マイクロプロセッサ20は、支線1b
に障害はないと判断する。
この結果、マイクロプロセッサ20は、支線1aのみに
障害があると判断して、支線1aのみをリングから切り
離し、支線1bを元の状態に戻して、伝送システムの運
転を継続させる。
前述した本発明の一実施例によれば、各支線の直流抵抗
を測定することにより、完全でない伝送路障害も容易に
検出可能である。また、過去の測定値を保持し、この測
定値との比較を行っているので、伝送路状態の経時的な
変化をもチエツクすることができる。
また、前述の実施例によれば、障害判定のために用いる
支線バイパスリレーを、障害と判定した支線の切り離し
のためにも連動させて用いることができるので、障害部
位の切り離しを短時間で実行することができる。
前述した本発明の一実施例は、パネル操作で障害処理プ
ログラムを起動するとしたが、伝送路の品質(データエ
ラー発生率など)を監視する機能を設け、伝送路品質の
低下を検出した場合に、自動的に障害処理プログラムを
起動するようにすることも可能である。
また、前述した本発明の一実施例は、ステーション加入
/分離リレー50a〜50dを分離状態にする手段とし
て、ステーション14a〜14dからのファントム電流
を遮断する機構(リレー51a〜51d)を設けている
が、集線装置内蔵のステーション加入/分離リレー50
a〜50dの内部にリレーリセット機能を設ける構成と
してもよく、これにより、集線方式の小形化を図ること
ができる。
さらに、前述の実施例は、伝送路の直流抵抗値を測定し
て、障害の有無を判定しているが、信号減衰量を測定し
て、障害の有無を判定するようにしてもよい。また、前
述の実施例は、マイクロプロセッサを用い、多くを自動
的に制御するとしたが、装置を安価に構成するために、
被測定支線の選択、直流抵抗の記憶、比較の一部、また
は全てを手動とする方法を用いることもできる。
また、前述の本発明の一実施例は、ステーションと集線
装置とのインタフェースを、IEEE802.5に準拠
させているので、ステーション側には何ら変更を要し°
ないという効果を奏することができる。
また、前述した本発明の一実施例によれば、スチージョ
ンを分離状態にして行う、直流抵抗の測定、及び、障害
支線の切り離しを高速で処理することができるので、ユ
ーザレベルの通信に影響を与えることなく、障害の検出
、障害支線の切り離しを実行することができる。
[発明の効果コ 以上説明したように本発明によれば、集線装置内蔵のス
テーション加入/分離機構用リレーを、ステ・−ジョン
からの制御でファントム電流断として制御しなくとも、
全伝送路または一部伝送路区間内の全ステーションを、
リングより一斉に分離させることができるため、伝送路
の直流抵抗を測定して障害の有無を判定するでき、障害
検出能力を向上させることができる。
これにより、種々の形態が考えられる伝送路障害の侮れ
に対しても、容易にその障害を検出し、障害位置を特定
することができる。
また、本発明によれば、直流抵抗、あるいは、信号減衰
量の測定値を記憶しておき、過去の測定値と新たに測定
した値とを比較して、障害の有無を判定しているので、
確実な障害の検出を行う二とができる。
さらに、本発明によれば、被測定伝送路区間を選択して
、障害検出のための測定を可能としているので、障害と
判定して切り離す伝送路の範囲を最小に留めることがで
きる。
また、本発明によれば、障害が検出された場合、障害が
発生している測定区間を切り離すことができるので、障
害判定と連動して伝送路の構成変更を実行することがで
き、速やかに障害区間を切り離して、残りの正常部位の
運転を継続することができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明をトークンリングLAN適用した一実施
例の伝送システムの構成を示すブロック図、第2図は障
害検出装置の構成を示すブロック図、第3図は集線装置
の内部構成、及び、及び集線装置相互間の接続示すブロ
ック図である。 1a、1b・・・・・支線、10・・・・・・リングケ
ーブル、11・・・・・・障害検出装置、12a、12
b・・・・・集線装置、14a−14d・・・・・・ス
テーション、20・・・・・マイクロプロセッサ、21
・・・・・・メモリ、22・・・・・・パネル制御部、
23・・・・・・共通バス、24・・・・・・リレー制
御部、25a、25b・・・・・・支線バイパス制御リ
レー、26a、26b・・・・・・被測定支線選択リレ
ー、40・・・・・・抵抗測定制御部、41・・・・・
・測定部選択リレー、42・・・・・・直流抵抗測定回
路、50a〜50d・・・・・ステーション加入/分離
リレー 51a〜51d・・・・・・ステーション強制
分離リレー第1図 10・・ 1ムノクグーフ゛ル ’+4a−14d−スT−ソヨノ 第 図 第 図 50a〜50d スγ−ンヨJ令R/71(]△リレ 51a 〜51b ス丁−ンヨJグ千・l生+!l汁リレ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数の障害検出装置と、該障害検出装置から支線を
    介して接続されている集線装置とを備えた伝送システム
    において、前記集線装置は、ステーションからのファン
    トム電流断により制御され、ステーションの伝送路への
    加入/分離機構として用いられるリレーを使用すること
    なく、ステーションを伝送路から分離する分離手段を備
    え、前記障害検出装置は、前記分離手段を制御する信号
    を、いもづる状に接続された各集線装置に対して、ステ
    ーションの分離指示を行う手段を備えることを特徴とす
    る伝送システム。 2、複数の障害検出装置と、該障害検出装置から支線を
    介して接続されている集線装置とを備えた伝送システム
    において、少なくとも前記支線と集線装置とによる全伝
    送路、または、一部の伝送路の直流抵抗、あるいは、信
    号減衰量を測定する手段と、その測定値を記憶する手段
    と、被測定伝送路区間を選択する手段とを備え、新たに
    測定した値と、過去に測定した値とを比較し、その差が
    予め設定されている許容誤差を超えるか否かにより、被
    測定伝送路区間の障害の有無を判断することを特徴とす
    る伝送路障害検出方式。 3、前記障害検出装置は、被測定伝送路区間を切り離す
    機能を備え、前記判断の結果、被測定伝送路区間に障害
    を検出した場合、その障害区間を伝送路より切り離すこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の伝送路障害
    検出方式。
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