JP2540937B2 - 保守試験方式 - Google Patents
保守試験方式Info
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- JP2540937B2 JP2540937B2 JP9073789A JP9073789A JP2540937B2 JP 2540937 B2 JP2540937 B2 JP 2540937B2 JP 9073789 A JP9073789 A JP 9073789A JP 9073789 A JP9073789 A JP 9073789A JP 2540937 B2 JP2540937 B2 JP 2540937B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は中継システムの保守試験方式に関し、特に
各中継装置ごと単独に試験を行うことができる保守試験
方式に関する。
各中継装置ごと単独に試験を行うことができる保守試験
方式に関する。
中継系においては、データの確実な伝送を行うため
に、中継装置又は伝送路に障害が生じたか否かを一定周
期で試験し、障害に対する対応を即座にとれるようにし
ている。
に、中継装置又は伝送路に障害が生じたか否かを一定周
期で試験し、障害に対する対応を即座にとれるようにし
ている。
従来の保守試験方式は、次のようなシステムであっ
た。例えばPCM−24B方式のデータ伝送にあっては、第２
図に示すように、監視局31から中継装置32〜34に特定の
パルスパターンを送出し、各中継装置がこのパルスパタ
ーンの低周波成分を取り出し監視回線35を介して取り出
した低周波成分を監視局31に返送することによって行っ
ていた。
た。例えばPCM−24B方式のデータ伝送にあっては、第２
図に示すように、監視局31から中継装置32〜34に特定の
パルスパターンを送出し、各中継装置がこのパルスパタ
ーンの低周波成分を取り出し監視回線35を介して取り出
した低周波成分を監視局31に返送することによって行っ
ていた。
前述した従来の保守試験方式にあっては、以下の欠点
がある。
がある。
（イ）例えば、中継装置33に障害が生じた場合には、前
記低周波成分の信号は中継装置33から監視局31には返送
されない。同様に、中継装置33の伝送路36に障害が生じ
た場合にも監視局31には低周波成分の信号は返送されな
い。従って監視局31としては何らかの障害があることを
認識することができても、中継装置33の障害なのか伝送
路36の障害なのかの区別判断をすることができない。
記低周波成分の信号は中継装置33から監視局31には返送
されない。同様に、中継装置33の伝送路36に障害が生じ
た場合にも監視局31には低周波成分の信号は返送されな
い。従って監視局31としては何らかの障害があることを
認識することができても、中継装置33の障害なのか伝送
路36の障害なのかの区別判断をすることができない。
（ロ）伝送路の他に監視回線35を必要とし、システム製
作上のコストが大きい。
作上のコストが大きい。
この発明の目的は、前記従来の課題を解決するため
に、各中継装置ごと単独に試験を行うことが可能な保守
試験方式を提供することにある。
に、各中継装置ごと単独に試験を行うことが可能な保守
試験方式を提供することにある。
上記目的を達成するために、この発明は、保守試験装
置の出力端を第１下り伝送路を介して第１スイッチの第
１接点に接続し、第１スイッチの端子を第１受信器の入
力端に接続し、第１受信器の出力端を第１送信器の入力
端に接続し、第１送信器の出力端を第２スイッチの端子
に接続し、第２スイッチの第１接点を第２下り伝送路に
接続し、第２スイッチの第２接点を第３スイッチの第２
接点に接続し、第３スイッチの第１接点を第１上り伝送
路に接続し、第３スイッチの端子を第２受信器の入力端
に接続し、第２受信器の出力端を第５スイッチの第１接
点に接続するとともに比較部の第１入力端に接続し、第
５スイッチの端子を第２送信器の第１入力端に接続し、
第２送信器の出力端を第４スイッチの端子に接続し、第
４スイッチの第１接点を第２上り伝送路を介して保守試
験装置の入力端に接続し、第１スイッチの第２接点を第
４スイッチの第２接点に接続し、試験用データ発生器の
第１出力端を第５スイッチの第２接点に接続し、試験用
データ発生器の第２出力端を比較部の第２入力端に接続
し、比較部の出力端を測定部の入力端に接続し、測定部
の出力端を第２送信器の第２入力端に接続し、試験制御
回路から第１スイッチ、第２スイッチ、第３スイッチ、
第４スイッチ、及び、第５スイッチに切換信号を送出
し、更に、試験制御回路から試験用データ発生器及び比
較部と測定部とからなる誤り率測定器に動作信号又は停
止信号を送出するようにしたものである。
置の出力端を第１下り伝送路を介して第１スイッチの第
１接点に接続し、第１スイッチの端子を第１受信器の入
力端に接続し、第１受信器の出力端を第１送信器の入力
端に接続し、第１送信器の出力端を第２スイッチの端子
に接続し、第２スイッチの第１接点を第２下り伝送路に
接続し、第２スイッチの第２接点を第３スイッチの第２
接点に接続し、第３スイッチの第１接点を第１上り伝送
路に接続し、第３スイッチの端子を第２受信器の入力端
に接続し、第２受信器の出力端を第５スイッチの第１接
点に接続するとともに比較部の第１入力端に接続し、第
５スイッチの端子を第２送信器の第１入力端に接続し、
第２送信器の出力端を第４スイッチの端子に接続し、第
４スイッチの第１接点を第２上り伝送路を介して保守試
験装置の入力端に接続し、第１スイッチの第２接点を第
４スイッチの第２接点に接続し、試験用データ発生器の
第１出力端を第５スイッチの第２接点に接続し、試験用
データ発生器の第２出力端を比較部の第２入力端に接続
し、比較部の出力端を測定部の入力端に接続し、測定部
の出力端を第２送信器の第２入力端に接続し、試験制御
回路から第１スイッチ、第２スイッチ、第３スイッチ、
第４スイッチ、及び、第５スイッチに切換信号を送出
し、更に、試験制御回路から試験用データ発生器及び比
較部と測定部とからなる誤り率測定器に動作信号又は停
止信号を送出するようにしたものである。
この発明の実施例について図面を参照して説明する。
第１図はこの発明の一実施例に係る保守試験方式のシ
ステムブロック図である。
ステムブロック図である。
この実施例の保守試験方式は、上り伝送路１と下り伝
送路２を介して直列に接続された複数の中継装置３の各
々から、各中継装置３の試験結果を保守試験装置４に転
送することにより、保守試験を行う方式である。
送路２を介して直列に接続された複数の中継装置３の各
々から、各中継装置３の試験結果を保守試験装置４に転
送することにより、保守試験を行う方式である。
中継装置３は、上流からのデータａを下り伝送路２を
介して受信するための受信器５と、このデータａを下流
に送信するための送信器６と、下流からのデータａを上
り伝送路１を介して受信するための受信器７と、このデ
ータａを上流に送信するための送信機８と、受信器５及
び送信器６と伝送路２との接続及び切換えを行うスイッ
チ9,10と、受信器７及び送信器８と伝送路１との接続及
び切換えを行うスイッチ11,12と、試験制御回路13と、
試験用データ発生器14と、受信器７と送信器８との間に
設けられたスイッチ15と、誤り率測定器16とを備えてい
る。
介して受信するための受信器５と、このデータａを下流
に送信するための送信器６と、下流からのデータａを上
り伝送路１を介して受信するための受信器７と、このデ
ータａを上流に送信するための送信機８と、受信器５及
び送信器６と伝送路２との接続及び切換えを行うスイッ
チ9,10と、受信器７及び送信器８と伝送路１との接続及
び切換えを行うスイッチ11,12と、試験制御回路13と、
試験用データ発生器14と、受信器７と送信器８との間に
設けられたスイッチ15と、誤り率測定器16とを備えてい
る。
スイッチ９（10〜12）は、接触子9a（10a〜12a）を接
点9b（10b〜12b）又は9c（10c〜12c）に接続することに
より、伝送路2,受信器5,送信器６及び伝送路２の下り伝
送経路と伝送路1,受信器7,送信器８及び伝送路１の上り
伝送経路とを形成し、又は送信器8,受信器5,送信器６及
び受信器７のループ経路を形成する機能を有する。
点9b（10b〜12b）又は9c（10c〜12c）に接続することに
より、伝送路2,受信器5,送信器６及び伝送路２の下り伝
送経路と伝送路1,受信器7,送信器８及び伝送路１の上り
伝送経路とを形成し、又は送信器8,受信器5,送信器６及
び受信器７のループ経路を形成する機能を有する。
試験制御回路13は、保守試験装置４に試験開始を示す
信号を通知して中継装置３を試験モードにする機能を有
する。具体的には、スイッチ９〜12,15に切換信号ｂを
送出し試験用データ発生器14,送信器8,受信器5,送信器
6,受信器７及び誤り率測定器16のループ経路を形成して
動作信号ｃにより試験用データ発生器14と誤り率測定器
16を動作させる機能を有する。また、この試験制御回路
13は、試験開始から所定時間経過後に中継装置３を通常
モードに復旧させる機能を有する。具体的には、停止信
号ｄによって試験用データ発生器14と誤り率測定器16の
動作を停止させると共に、スイッチ９〜12,15を制御し
て伝送路1,受信器7,送信器８及び伝送路１の上り伝送経
路と伝送路2,受信器5,送信器６及び伝送路２の下り伝送
経路とを形成する機能を有する。
信号を通知して中継装置３を試験モードにする機能を有
する。具体的には、スイッチ９〜12,15に切換信号ｂを
送出し試験用データ発生器14,送信器8,受信器5,送信器
6,受信器７及び誤り率測定器16のループ経路を形成して
動作信号ｃにより試験用データ発生器14と誤り率測定器
16を動作させる機能を有する。また、この試験制御回路
13は、試験開始から所定時間経過後に中継装置３を通常
モードに復旧させる機能を有する。具体的には、停止信
号ｄによって試験用データ発生器14と誤り率測定器16の
動作を停止させると共に、スイッチ９〜12,15を制御し
て伝送路1,受信器7,送信器８及び伝送路１の上り伝送経
路と伝送路2,受信器5,送信器６及び伝送路２の下り伝送
経路とを形成する機能を有する。
試験用データ発生器14は、中継装置３の試験用データ
ｅを発生し、このデータｅをスイッチ15と誤り率測定器
16とに送出する機能を有する。
ｅを発生し、このデータｅをスイッチ15と誤り率測定器
16とに送出する機能を有する。
誤り率測定器16は、受信器７の出力側に接続された比
較部17と、この比較部17の出力側に接続されその出力側
が送信器８に接続された測定部18とによりなる。比較部
17は、受信器７から入力した試験用データｅと試験用デ
ータ発生器から直接入力した試験用データｅとを比較し
てその比較値を示す信号ｆを測定部18に入力する機能を
有する。測定部18は、比較部17からの信号ｆに基づいて
受信器７から入力した試験用データの符号誤り率を測定
しその測定値を示す信号ｇを送信器８に出力する機能を
有する。
較部17と、この比較部17の出力側に接続されその出力側
が送信器８に接続された測定部18とによりなる。比較部
17は、受信器７から入力した試験用データｅと試験用デ
ータ発生器から直接入力した試験用データｅとを比較し
てその比較値を示す信号ｆを測定部18に入力する機能を
有する。測定部18は、比較部17からの信号ｆに基づいて
受信器７から入力した試験用データの符号誤り率を測定
しその測定値を示す信号ｇを送信器８に出力する機能を
有する。
保守試験装置４は、試験結果処理器19を備えている。
この試験結果処理器19は、中継装置３からの符号誤り率
の測定信号ｇを受信蓄積し、所定の処理を行う機能を有
する。
この試験結果処理器19は、中継装置３からの符号誤り率
の測定信号ｇを受信蓄積し、所定の処理を行う機能を有
する。
次に、この実施例の動作について説明する。
中継装置３が通常モードの場合には、試験制御回路13
からはスイッチ９〜12,15に対して切換信号ｂが送出さ
れない。従ってスイッチ9,10が伝送路２と受信器５及び
送信器６とを接続させ、スイッチ11,12が伝送路１と受
信器７及び送信器８とを接続させた状態になっている。
この結果、上流（下流）からのデータａは、伝送路２
（１）から受信器５（７）に入力し送信器６（８）によ
って伝送路２（１）に出力され下流（上流）に伝送され
る。
からはスイッチ９〜12,15に対して切換信号ｂが送出さ
れない。従ってスイッチ9,10が伝送路２と受信器５及び
送信器６とを接続させ、スイッチ11,12が伝送路１と受
信器７及び送信器８とを接続させた状態になっている。
この結果、上流（下流）からのデータａは、伝送路２
（１）から受信器５（７）に入力し送信器６（８）によ
って伝送路２（１）に出力され下流（上流）に伝送され
る。
中継装置３を試験モードにする場合には、先ず試験制
御回路13から送信器８を介して保守試験装置４に試験開
始を指示する通知をする。この通知後、試験制御回路13
はスイッチ９〜12,15に切換信号ｂを送出する。切換信
号ｂに基づいてスイッチ９（〜12）は、接触子9a（〜12
a）を接点9cとの接触に切換える。またスイッチ15は送
信器８と試験用データ発生器14とを接続するように切換
わる。これによって、試験用データ発生器14,スイッチ1
5,送信器8,スイッチ12及び9,受信器5,送信器6,スイッチ
10及び11,受信器７及び誤り率測定器16のループ経路が
形成される。このループ経路形成と同時に動作信号ｃが
試験制御回路13から試験用データ発生器14と誤り率測定
器16に対して送出される。動作信号ｃに基づいて試験用
データ発生器14は試験用データｅをスイッチ15を介して
送信器８に送出すると共に誤り率測定器16の比較部17に
も送出する。送信器８に送出された試験用データｅは、
スイッチ12及び9,受信器5,送信器6,受信器７を通って誤
り率測定器16の比較部17に入力する。比較部17は、この
試験用データｅを試験用データ発生器14から直接入力し
たビット誤り等のない試験用データｅと比較しその比較
値信号ｆを測定部18に送出する。測定部18は、比較値信
号ｆに基づいて中継装置３の符号誤り率を測定しその測
定信号ｇを送信器８に送出する。この測定信号ｇは送信
器８から伝送路１を介して保守試験装置４の試験結果処
理器19に送出され、試験結果処理器19に蓄積される。試
験結果処理器19は蓄積された測定値に基づいて所定の処
理を行う。
御回路13から送信器８を介して保守試験装置４に試験開
始を指示する通知をする。この通知後、試験制御回路13
はスイッチ９〜12,15に切換信号ｂを送出する。切換信
号ｂに基づいてスイッチ９（〜12）は、接触子9a（〜12
a）を接点9cとの接触に切換える。またスイッチ15は送
信器８と試験用データ発生器14とを接続するように切換
わる。これによって、試験用データ発生器14,スイッチ1
5,送信器8,スイッチ12及び9,受信器5,送信器6,スイッチ
10及び11,受信器７及び誤り率測定器16のループ経路が
形成される。このループ経路形成と同時に動作信号ｃが
試験制御回路13から試験用データ発生器14と誤り率測定
器16に対して送出される。動作信号ｃに基づいて試験用
データ発生器14は試験用データｅをスイッチ15を介して
送信器８に送出すると共に誤り率測定器16の比較部17に
も送出する。送信器８に送出された試験用データｅは、
スイッチ12及び9,受信器5,送信器6,受信器７を通って誤
り率測定器16の比較部17に入力する。比較部17は、この
試験用データｅを試験用データ発生器14から直接入力し
たビット誤り等のない試験用データｅと比較しその比較
値信号ｆを測定部18に送出する。測定部18は、比較値信
号ｆに基づいて中継装置３の符号誤り率を測定しその測
定信号ｇを送信器８に送出する。この測定信号ｇは送信
器８から伝送路１を介して保守試験装置４の試験結果処
理器19に送出され、試験結果処理器19に蓄積される。試
験結果処理器19は蓄積された測定値に基づいて所定の処
理を行う。
所定の試験モード時間が経過すると、試験制御回路13
から停止信号ｄが試験用データ発生器14と誤り率測定器
16とに送出され、また切換信号ｂがスイッチ９〜12,15
に送出される。これにより試験用データ発生器14と誤り
率測定器16の動作が停止すると共に、伝送路2,受信器5,
送信器６及び伝送路２の下り伝送経路と伝送路1,受信器
7,送信器８及び伝送路１の上り伝送経路とが復旧し、中
継装置３は通常モードになる。
から停止信号ｄが試験用データ発生器14と誤り率測定器
16とに送出され、また切換信号ｂがスイッチ９〜12,15
に送出される。これにより試験用データ発生器14と誤り
率測定器16の動作が停止すると共に、伝送路2,受信器5,
送信器６及び伝送路２の下り伝送経路と伝送路1,受信器
7,送信器８及び伝送路１の上り伝送経路とが復旧し、中
継装置３は通常モードになる。
この発明の保守試験方式は、以上説明したように構成
されているため、以下の効果がある。
されているため、以下の効果がある。
（イ）中継装置の障害なのか伝送路の障害なのかを容易
に区別することができる。この結果、各障害に対応した
適切な措置をとることができる。
に区別することができる。この結果、各障害に対応した
適切な措置をとることができる。
（ロ）従来のように特別な監視回線を必要としない。こ
の結果、システムコストの削減を図ることができる。
の結果、システムコストの削減を図ることができる。
第１図はこの発明の一実施例に係る保守試験方式のシス
テムブロック図、 第２図は従来の保守試験方式を示すブロック図である。 ３……中継装置 ４……保守試験装置 5,7……受信器 6,8……送信器 13……試験制御回路 14……試験用データ発生器 16……誤り率測定器
テムブロック図、 第２図は従来の保守試験方式を示すブロック図である。 ３……中継装置 ４……保守試験装置 5,7……受信器 6,8……送信器 13……試験制御回路 14……試験用データ発生器 16……誤り率測定器
Claims (1)
- 【請求項１】保守試験装置の出力端を第１下り伝送路を
介して第１スイッチの第１接点に接続し、第１スイッチ
の端子を第１受信器の入力端に接続し、第１受信器の出
力端を第１送信器の入力端に接続し、第１送信器の出力
端を第２スイッチの端子に接続し、第２スイッチの第１
接点を第２下り伝送路に接続し、第２スイッチの第２接
点を第３スイッチの第２接点に接続し、第３スイッチの
第１接点を第１上り伝送路に接続し、第３スイッチの端
子を第２受信器の入力端に接続し、第２受信器の出力端
を第５スイッチの第１接点に接続するとともに比較部の
第１入力端に接続し、第５スイッチの端子を第２送信器
の第１入力端に接続し、第２送信器の出力端を第４スイ
ッチの端子に接続し、第４スイッチの第１接点を第２上
り伝送路を介して保守試験装置の入力端に接続し、第１
スイッチの第２接点を第４スイッチの第２接点に接続
し、試験用データ発生器の第１出力端を第５スイッチの
第２接点に接続し、試験用データ発生器の第２出力端を
比較部の第２入力端に接続し、比較部の出力端を測定部
の入力端に接続し、測定部の出力端を第２送信器の第２
入力端に接続し、試験制御回路から第１スイッチ、第２
スイッチ、第３スイッチ、第４スイッチ、及び、第５ス
イッチに切換信号を送出し、更に、試験制御回路から試
験用データ発生器及び比較部と測定部とからなる誤り率
測定器に動作信号又は停止信号を送出するようにしたこ
とを特徴とする保守試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9073789A JP2540937B2 (ja) | 1989-04-12 | 1989-04-12 | 保守試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9073789A JP2540937B2 (ja) | 1989-04-12 | 1989-04-12 | 保守試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02270441A JPH02270441A (ja) | 1990-11-05 |
| JP2540937B2 true JP2540937B2 (ja) | 1996-10-09 |
Family
ID=14006892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9073789A Expired - Lifetime JP2540937B2 (ja) | 1989-04-12 | 1989-04-12 | 保守試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2540937B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH082043B2 (ja) * | 1989-03-31 | 1996-01-10 | 日本電気株式会社 | 保守試験システム |
-
1989
- 1989-04-12 JP JP9073789A patent/JP2540937B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02270441A (ja) | 1990-11-05 |
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