JPH03278623A - 伝送路の折返し試験方式 - Google Patents

伝送路の折返し試験方式

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JPH03278623A
JPH03278623A JP2076954A JP7695490A JPH03278623A JP H03278623 A JPH03278623 A JP H03278623A JP 2076954 A JP2076954 A JP 2076954A JP 7695490 A JP7695490 A JP 7695490A JP H03278623 A JPH03278623 A JP H03278623A
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JP
Japan
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test
receiving side
transmission line
control signal
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JP2076954A
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Inventor
Yuzo Nakamura
有三 中村
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、伝送路の折返し試験方式に関するものである
〔従来の技術] 第5図(a)〜(C)に従来の方式による折返し試験を
実施する伝送路の一例を示す。18〜21は伝送路を構
成するデータ伝送装置であり、17.22は各伝送装置
に折返しコードを送出して折返し試験を行う試験器であ
る。
試験器17はまず、第5図(a)のように、データ伝送
装置18での折返し24を設定するため、特定の折返し
コードを送出する。データ伝送装置18はこの折返しコ
ードを受は取ると、折返し24を設定し、試験器側から
のデータを試験器側に折返す。試験器17はこのデータ
を受は取り、データ伝送装置18までの伝送路は正常で
あることを認識する。
次に試験器17は、第5図ら)のように、データ伝送装
置19での折返し25を設定するため、上述したデータ
伝送装置18のための折返しコードとは異なる特定の折
返しコードを送出する。データ伝送装置19はこの折返
しコードを受は取ると、折返し25を設定し、試験器側
からのデータを試験器側に折返す。試験器17はこのデ
ータを受は取り、データ伝送装置19までの伝送路は正
常であることを認識する。
次に試験器17は、第5図(C)のように、データ伝送
装W20での折返し26を設定するため、上述したデー
タ伝送装置18.19のための折返しコードとは異なる
特定の折返しコードを送出する。ここで障害23がデー
タ伝送装置19とデータ伝送装置20との間にあるとす
ると、試験器17からの折返しコードはデータ伝送装置
20には入力されず、したがって折返し26は設定され
ないので、データ伝送装置20ではデータは折返されな
い。その結果、試験器17はデータ伝送装置19とデー
タ伝送装置20との間に障害23があることを認識する
また、逆方向から折返しコードを送出して行う折返し試
験、すなわち試験器22側から折返しコードを送出して
行う折返し試験の場合も同様であり、試験器22はデー
タ伝送装置21〜18に順次、各装置ごとに異なる特定
の折返しコードを送出する。そして、第5図の例ではデ
ータ伝送装置20の折返し27まで設定でき、データが
折返されてくるので、障害23を特定する。
〔発明が解決しようとする課題〕
このように従来の折返し試験方式では、各データ伝送装
置ごとに異なる折返しコードを送出して折返しを設定す
るので、試験器は多種類の折返しコードを備えなければ
ならない。
また、折返しコードを変えて順次、各データ伝送装置で
折返しを設定するので、障害箇所を発見するまでに長時
間を必要とする。
さらに、同一の伝送路で逆方向からの折返し試験を行う
場合にも、データ伝送装置ごとに異なる別の折返しコー
ドを用いる必要がある。
本発明の目的は、このような問題を解決し、逆方向から
の折返し試験の場合も含めて、試験器は折返し試験に必
要なごく少数の情報を備えるだけでよく、しかも短時間
に障害箇所を発見することを可能とする伝送路の折返し
試験方式を捉供することにある。
(課題を解決するための手段〕 本発明の伝送路折返し試験方式は、 試験情報と装置情報との組を伝送路に送出する試験器を
設け、 送信側伝送線路の情報から前記試験情報を検出し、受信
側制御信号が入力されていないとき、送信側制御信号を
出力する送信側試験情報検出回路と、 この検出回路が前記送信側制御信号を出力したとき、前
記装置情報に装置特有の情報を設定して出力する送信側
装置情報設定回路と、 受信側伝送線路の情報から前記試験情報を検出し、前記
送信側制御信号が入力されていないとき、前記受信側制
御信号を出力する受信側試験情報検出回路と、 前記受信側試験情報検出回路が前記受信側制御信号を出
力したとき、前記受信側伝送線路から入力される前記装
置情報に装置特有の情報を設定して出力する受信側装置
情報設定回路と、前記送信側試験情報検出回路が前記送
信側制御信号を出力したとき、前記送信側装置情報設定
回路の出力を受信側伝送線路に接続し、前記受信側装置
情報検出回路が前記受信側制御信号を出力したとき、前
記受信側装置情報設定回路の出力を前記受信側伝送線路
に接続する受信側切替回路と、前記受信側試験情報検出
回路が前記受信側制御信号を出力したとき、前記受信側
装置情報設定回路の出力を送信側伝送線路に接続し、前
記送信側装置情報検出回路が前記送信側制御信号を出力
したとき、前記送信側装置情報設定回路の出力を前記送
信側伝送線路に接続する送信側切替回路とを伝送路を構
成する伝送装置に設けることを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
本発明の折返し試験方式による試験器(図示せず)は折
返し試験を行う場合、第2図に示すように、伝送路上を
伝送されるデータ13〜16の間に試験情報11と装置
情報12の組を送出する。
第1図は本発明による折返し試験方式にもとづいて構成
したデータ伝送装置の一実施例を示す。
このデータ伝送装置は、送信側伝送線路7の情報から試
験情報を検出し、受信側制御信号が入力されていないと
き、送信側制御信号を出力する送信側試験情報検出回路
1と、この検出回路1が送信側制御信号を出力したとき
、装置情報に装置特有の情報を設定して出力する送信側
装置情報設定回路2と、受信側伝送線路9の情報から試
験情報を検出し、送信側制御信号が入力されていないと
き、受信側制御信号を出力する受信側試験情報検出回路
4と、受信側試験情報検出回路4が受信側制御信号を出
力したとき、受信側伝送線路9から構成される装置情報
に装置特有の情報を設定して出力する受信側装置情報設
定回路5と、送信側試験情報検出回路1が送信側制御信
号を出力したとき、送信側装置情報設定回路2の出力を
受信側伝送線路10に接続し、受信側装置情報検出回路
4が受信側制御信号を出力したとき、受信側装置情報設
定回路5の出力を受信側伝送線路10に接続する受信側
切替回路3と、受信側試験情報検出回路4が受信側制御
信号を出力したとき、受信側装置情報設定回路5の出力
を送信側伝送線路8に接続し、送信側試験情報検出回路
1が送信側制御信号を出力したとき、送信側装置情報設
定回路2の出力を送信側伝送線路8に接続する送信側切
替回路6とを備えている。
第3図は本発明の折返し試験方式にもとづく試験器11
7.122およびデータ伝送装置118〜121により
構成した伝送路の一例を示す。この伝送路で折返し試験
を行う場合を例に、第4図に示したフローチャートを用
いて動作を説明する。
まず各装置118〜121を立ち上げると、各装置あ切
替回路3,6はいずれも実線側の設定となる(ステップ
401)。次に試験器117が折返し試験を行うため、
伝送路を伝送されるデータの間に試験情報11と装置情
報12との組を挿入する形で送出すると、データ伝送装
置118では、検出回路1が線路7を通じて試験情報1
1を受は取り、検出する(ステップ402. YES)
。このとき検出回路4は試験情報を検出していないので
(ステップ403. NO)、検出回路1は送信側制御
信号を出力する。これにより設定回路2は、試験器11
7からの装置情報12をデータ伝送袋W118に特有の
情報に設定し、出力する。一方、切替回路3はこのとき
破線側の設定となり、設定回路2の出力を線路10に接
続する(ステップ404)。また、切替回路6は実線側
の設定となり、設定回路2の出力を線路8に接続する。
以上の動作により、線路7から構成される装置情報12
は、この装置118特有の情報に変換され、切替回路3
を介して線路10へと折返されると同時に試験情報11
と共に切替回路6を介して線路8へと送出される。ここ
で切替回路3は第3図中の折返し124が設定されたこ
とになる。試験器117はこの折返し設定により返送さ
れてくる装置情報12を受は取り、それが装置118特
有の情報であることから、装置118までの伝送路は正
常であると判断する。
装置118に続く装置119も同様に動作し、装置11
9の検出回路1が試験情報11を検出すると、切替回路
3により折返し125が設定される。そして装置情報1
2は設定回路2により装置119特有のものに変換され
て試験情報11と共に装置118側に折返され、また切
替回路6を通じて装置120側に送出される。
ここで装置118では、装置119から折返された試験
情報11と装置情報12とは線路9から検出回路4に入
力され、検出回路4は試験情報11を検出して(ステッ
プ405. YES)受信側制御信号を出力する。その
結果、切替回路3は、折返し設定を解除して実線側の設
定となり、設定回路5の出力は線路10に接続される(
ステップ407)。これにより装置119で折返された
装置119特有の装置情報12は設定回路5および切替
回路3を通じて線路10に出力され、試験器117はこ
れを受は取って、装置119までの伝送路は正常である
と判断する。
さて、装置119から出力された試験情報11と装置情
報12とはさらに後段の装置120に送出されるが、こ
こで障害123が装置119と装置120との間にある
とすると、これらの情報は装置120には到達せず、し
たがって装置119に折返されることはない。その結果
、試験器117には装置119の装置情報12までしか
折返されてこないので、試験器117は装置119と装
置120との間に障害123があると判断する。
なお、装置118の動作において、ステップ404のあ
と、検出回路4が試験情報11を検出しない状態で(ス
テップ405. NO)、さらに検出回路1も試験情報
11を検出していないときは(ステップ406゜NO)
 、折返し試験が行われていないことになり、切替回路
3は実線側となって(ステップ407)、折返しが解除
される。一方、ステップ406でYESのときは、切替
回路3は破線側に設定されて折返し状態となり(ステッ
プ408)、動作はステップ405の段階に戻る。
また、ステップ407で切替回路3が実線側に設定され
たあと、検出回路4が試験情報11を検出しないとき(
ステップ409. NO)は最初の検出回路1による試
験情報11の検出動作に戻る。一方、検出回路4が試験
情報11を検出しているとき(YES)は後段の装置が
折返し状態となっており(ステップ410)、再び検出
回路4が試験情報11の検出動作を行うことになり(ス
テップ409)、試験情報を検出するまで、切替回路3
は現状が維持される。
以上、装置18側から折返し試験を行う場合を説明した
が、逆方向から試験を行う場合も同様である。すなわち
試験器122は試験情報11と装置情報12を伝送路に
送出し、その結果、装置121で折返し128が設定さ
れ、さらに装置120で折返し127が設定される。そ
して試験器122は装置120の装置情報までが折返さ
れてくることから、障害123を特定する。装置各部の
動作は送信側と受信側とが入れ替わるだけで基本的に同
じである。装置118を例に説明すると、逆方向からの
試験の場合には、試験情報11および装置情報12はま
ず各装置の受信側線路9から入力されることになるので
、ステップ402ではNoとなり、検出回路4が線路9
からの試験情報11を検出すると(ステップ41L Y
ES)、以降、上述したステップ404〜410に対応
するステップ413〜419の動作が行われる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の折返し試験方式によれば、
試験器は試験情報と装置情報との組を伝送路に送出し、
伝送路を構成する各伝送装置は、試験器からの試験情報
を受は取ると、装置情報をその装置特有の情報に設定し
て折り返す。そして試験器は各伝送装置から折返されて
くる装置情報によりどの伝送装置まで正常であるかを判
断し、伝送路の障害箇所を特定する。
したがって本発明の折返し試験方式では、試験器が備え
るべき情報は試験情報と装置情報だけであり、しかも試
験器は一度それらの情報を送出した後は、各伝送装置か
ら折返されてくる装置情報を受は取るのみであるから、
短時間に障害箇所を発見することが可能となる。また伝
送路の折返し試験を逆方向から行う場合も試験器は上記
2つの情報だけを揃えればよく、同様に短時間に障害箇
所の特定が可能である。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の折返し試験方式により構成したデータ
伝送装置の一実施例を示すブロック図、第2図は本発明
の折返し試験方式による試験器が出力する試験情報およ
び装置情報を示す信号構成図、 第3図は第1図のデータ伝送装置により構成した伝送路
の一例を示すブロック図、 第4図は第1図のデータ伝送装置の動作を示すフローチ
ャート、 第5図は従来の伝送路を示すブロック図である。 1・・・・・送信側試験情報検出回路 2・・・・・送信側装置情報設定回路 3・・・・・受信側切替回路 4・・・・・受信側試験情報検出回路 5・・・・・受信側装置情報設定回路 6・・・・・送信側切替回路 7〜10・・・伝送線路 117、122・・・試験器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試験情報と装置情報との組を伝送路に送出する試
    験器を設け、 送信側伝送線路の情報から前記試験情報を検出し、受信
    側制御信号が入力されていないとき、送信側制御信号を
    出力する送信側試験情報検出回路と、 この検出回路が前記送信側制御信号を出力したとき、前
    記装置情報に装置特有の情報を設定して出力する送信側
    装置情報設定回路と、 受信側伝送線路の情報から前記試験情報を検出し、前記
    送信側制御信号が入力されていないとき、前記受信側制
    御信号を出力する受信側試験情報検出回路と、 前記受信側試験情報検出回路が前記受信側制御信号を出
    力したとき、前記受信側伝送線路から入力される前記装
    置情報に装置特有の情報を設定して出力する受信側装置
    情報設定回路と、 前記送信側試験情報検出回路が前記送信側制御信号を出
    力したとき、前記送信側装置情報設定回路の出力を受信
    側伝送線路に接続し、前記受信側装置情報検出回路が前
    記受信側制御信号を出力したとき、前記受信側装置情報
    設定回路の出力を前記受信側伝送線路に接続する受信側
    切替回路と、前記受信側試験情報検出回路が前記受信側
    制御信号を出力したとき、前記受信側装置情報設定回路
    の出力を送信側伝送線路に接続し、前記送信側装置情報
    検出回路が前記送信側制御信号を出力したとき、前記送
    信側装置情報設定回路の出力を前記送信側伝送線路に接
    続する送信側切替回路とを伝送路を構成する伝送装置に
    設けることを特徴とする伝送路の折返し試験方式。
JP2076954A 1990-03-28 1990-03-28 伝送路の折返し試験方式 Pending JPH03278623A (ja)

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