JP3404325B2 - 障害箇所特定装置 - Google Patents
障害箇所特定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、中継装置の障害箇
所を特定する障害箇所特定装置に関する。
所を特定する障害箇所特定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、下り伝送路と上り伝送路を介して
直列に接続された複数の中継装置で構成される中継伝送
システムの障害箇所特定装置では、図５に示すように、
保守試験装置Ｘを初段の中継装置Ｙ1 に接続し、終段の
中継装置Ｙn の後に保守折返装置Ｚを接続し、保守試験
装置Ｘからの試験信号ＩＳを格段の中継装置で順次に折
り返して、回線試験を実行している。中継装置は、折り
返しのためスイッチＣとＤにより下り伝送路を上り伝送
路ヘ折り返している。保守試験装置Ｘの試験信号生成回
路Ａからの試験信号ＩＳは、下り伝送路を通り、スイッ
チＣが折り返し側に接続されている中継装置で折り返
し、上り伝送路を通り、保守試験装置Ｘの試験信号検査
回路Ｂに到達する。保守検査回路Ｂは、到達した試験信
号ＩＳの到達の有無あるいは到達した試験信号ＩＳの正
常か異常かをを検査する。保守試験装置Ｘは、この様な
検査を、保守試験装置Ｘと中継装置Ｙ1 間で実行し、次
に保守試験装置Ｘと中継装置Ｙ2 間で実行し、以降順
次、保守試験装置Ｘと中継装置Ｙ n 間まで実行し、障害
箇所を特定している。
直列に接続された複数の中継装置で構成される中継伝送
システムの障害箇所特定装置では、図５に示すように、
保守試験装置Ｘを初段の中継装置Ｙ1 に接続し、終段の
中継装置Ｙn の後に保守折返装置Ｚを接続し、保守試験
装置Ｘからの試験信号ＩＳを格段の中継装置で順次に折
り返して、回線試験を実行している。中継装置は、折り
返しのためスイッチＣとＤにより下り伝送路を上り伝送
路ヘ折り返している。保守試験装置Ｘの試験信号生成回
路Ａからの試験信号ＩＳは、下り伝送路を通り、スイッ
チＣが折り返し側に接続されている中継装置で折り返
し、上り伝送路を通り、保守試験装置Ｘの試験信号検査
回路Ｂに到達する。保守検査回路Ｂは、到達した試験信
号ＩＳの到達の有無あるいは到達した試験信号ＩＳの正
常か異常かをを検査する。保守試験装置Ｘは、この様な
検査を、保守試験装置Ｘと中継装置Ｙ1 間で実行し、次
に保守試験装置Ｘと中継装置Ｙ2 間で実行し、以降順
次、保守試験装置Ｘと中継装置Ｙ n 間まで実行し、障害
箇所を特定している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の障
害箇所特定装置では、試験の途中にて回線障害を検出し
た場合、障害区間を特定するため、保守試験装置Ｘと中
継装置Ｙ1 間の試験から再度試験をやり直さなければな
らないため多大な試験時間が必要であり、エンドユーザ
に対してのサービス中断を引き起こすという課題を有し
ていた。さらに、従来の障害箇所特定装置では、中継装
置Ｙ1 から順次に折り返しての試験のため、障害箇所が
上り伝送路であるのかそれとも下り伝送路であるかの特
定は不可能であるという課題を有していた。本発明の目
的は、従来のこの様な課題を解決し、試験時間が非常に
短くしかも障害箇所をきめ細かく特定できる障害箇所特
定装置を提供することにある。
害箇所特定装置では、試験の途中にて回線障害を検出し
た場合、障害区間を特定するため、保守試験装置Ｘと中
継装置Ｙ1 間の試験から再度試験をやり直さなければな
らないため多大な試験時間が必要であり、エンドユーザ
に対してのサービス中断を引き起こすという課題を有し
ていた。さらに、従来の障害箇所特定装置では、中継装
置Ｙ1 から順次に折り返しての試験のため、障害箇所が
上り伝送路であるのかそれとも下り伝送路であるかの特
定は不可能であるという課題を有していた。本発明の目
的は、従来のこの様な課題を解決し、試験時間が非常に
短くしかも障害箇所をきめ細かく特定できる障害箇所特
定装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の障害箇所特定装
置は、下り伝送路と上り伝送路とを介して直列に接続さ
れた複数の中継装置で構成される中継伝送システムの障
害箇所特定装置において；前記中継伝送システムを試験
するための試験信号を生成し前記試験信号を前記中継伝
送システムへ送出する試験信号生成手段と、前記中継伝
送システムからの試験信号を検査する保守検査手段と、
障害箇所を特定するための障害箇所特定テーブルを記憶
する障害箇所記憶手段と、を有す保守試験装置を備え；
前記中継装置は、前記下り伝送路を前記上り伝送路へ選
択して折り返す折返切替手段と、前記下り伝送路あるい
は前記上り伝送路のいずれかを分岐して接続する分岐切
替手段と、前記分岐切替手段により分岐して接続される
前記下り伝送路あるいは前記上り伝送路のいずれかより
の前記試験信号を検査する第１検査手段とを備え；前記
中継伝送システムの最終段の中継装置からの前記下り伝
送路を前記上り伝送路へ固定的に折り返す折返手段を有
す保守折返装置を備え；ることを特徴とする。
置は、下り伝送路と上り伝送路とを介して直列に接続さ
れた複数の中継装置で構成される中継伝送システムの障
害箇所特定装置において；前記中継伝送システムを試験
するための試験信号を生成し前記試験信号を前記中継伝
送システムへ送出する試験信号生成手段と、前記中継伝
送システムからの試験信号を検査する保守検査手段と、
障害箇所を特定するための障害箇所特定テーブルを記憶
する障害箇所記憶手段と、を有す保守試験装置を備え；
前記中継装置は、前記下り伝送路を前記上り伝送路へ選
択して折り返す折返切替手段と、前記下り伝送路あるい
は前記上り伝送路のいずれかを分岐して接続する分岐切
替手段と、前記分岐切替手段により分岐して接続される
前記下り伝送路あるいは前記上り伝送路のいずれかより
の前記試験信号を検査する第１検査手段とを備え；前記
中継伝送システムの最終段の中継装置からの前記下り伝
送路を前記上り伝送路へ固定的に折り返す折返手段を有
す保守折返装置を備え；ることを特徴とする。
【０００５】また、本発明の障害箇所特定装置は、前記
中継装置の折返切替手段が、前記下り伝送路を前記上り
伝送路へ折り返して接続するか、あるいは、前記中継装
置を前記上り伝送路へ接続するかのいずれかを選択して
切り替えることを特徴とする。
中継装置の折返切替手段が、前記下り伝送路を前記上り
伝送路へ折り返して接続するか、あるいは、前記中継装
置を前記上り伝送路へ接続するかのいずれかを選択して
切り替えることを特徴とする。
【０００６】さらに、本発明の障害箇所特定装置は、前
記障害箇所記憶部の障害箇所特定テーブルは、前記中継
装置の前記第１検査手段の検査結果と前記保守試験装置
の保守検査手段の検査結果とに対応して障害箇所を示す
テーブルであることを特徴とする。
記障害箇所記憶部の障害箇所特定テーブルは、前記中継
装置の前記第１検査手段の検査結果と前記保守試験装置
の保守検査手段の検査結果とに対応して障害箇所を示す
テーブルであることを特徴とする。
【０００７】また、本発明の障害箇所特定装置は、前記
最終段の中継装置が、前記折返切替手段による前記上り
伝送路から前記下り伝送路への折り返し接続を検査する
ための第２検査手段を有することを特徴とする。
最終段の中継装置が、前記折返切替手段による前記上り
伝送路から前記下り伝送路への折り返し接続を検査する
ための第２検査手段を有することを特徴とする。
【０００８】さらに、本発明の障害箇所特定装置は、前
記保守折返装置が、前記保守折返装置と接続する前記下
り伝送路および前記保守折返装置の前記折返手段を検査
するための折返検査手段を有することを特徴とする。
記保守折返装置が、前記保守折返装置と接続する前記下
り伝送路および前記保守折返装置の前記折返手段を検査
するための折返検査手段を有することを特徴とする。
【０００９】また、本発明の障害箇所特定装置は、前記
障害箇所記憶部の障害箇所特定テーブルが、前記中継装
置の前記第１検査手段の検査結果および前記第２検査手
段の検査結果と前記保守折返装置の前記折返検査手段の
検査結果と前記保守試験装置の保守検査手段の検査結果
とに対応して障害箇所を示すテーブルであることを特徴
とする。
障害箇所記憶部の障害箇所特定テーブルが、前記中継装
置の前記第１検査手段の検査結果および前記第２検査手
段の検査結果と前記保守折返装置の前記折返検査手段の
検査結果と前記保守試験装置の保守検査手段の検査結果
とに対応して障害箇所を示すテーブルであることを特徴
とする。
【００１０】さらに、本発明の障害箇所特定装置は、前
記保守試験装置が、前記分岐切替手段により前記下り伝
送路が第１検査手段に選択接続され且つ前記折返切替手
段により前記下り伝送路が前記上り伝送路へ折り返すよ
う選択接続されている前記中継装置へ、前記試験信号生
成手段から前記試験信号を送出して、前記障害箇所特定
テーブルにより障害箇所を特定することを特徴とする。
記保守試験装置が、前記分岐切替手段により前記下り伝
送路が第１検査手段に選択接続され且つ前記折返切替手
段により前記下り伝送路が前記上り伝送路へ折り返すよ
う選択接続されている前記中継装置へ、前記試験信号生
成手段から前記試験信号を送出して、前記障害箇所特定
テーブルにより障害箇所を特定することを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【００１２】図１は、本発明の第１の実施例による障害
箇所特定装置のブロック構成図で、図２は、本発明の第
２の実施例による障害箇所特定装置のブロック構成図
で、図３は、本発明の第１の実施例による障害箇所特定
装置の障害箇所特定テーブルの構成図で、図４は、本発
明の第２の実施例による障害箇所特定装置の障害箇所特
定テーブルの構成図で、図５は、従来の障害箇所特定装
置のブロック構成図である。
箇所特定装置のブロック構成図で、図２は、本発明の第
２の実施例による障害箇所特定装置のブロック構成図
で、図３は、本発明の第１の実施例による障害箇所特定
装置の障害箇所特定テーブルの構成図で、図４は、本発
明の第２の実施例による障害箇所特定装置の障害箇所特
定テーブルの構成図で、図５は、従来の障害箇所特定装
置のブロック構成図である。
【００１３】図１において、本発明の第１の実施例によ
る装置障害箇所特定装置は、下り伝送路Ｌi （ｉ=０、
〜ｎ）と上り伝送路Ｕi （ｉ=０、〜ｎ）を介して直列
に接続された複数の中継装置Ｙi （ｉ=１、〜ｎ）で構
成される中継伝送システム１００の障害箇所の特定を、
保守試験装置Ｘと保守折返装置Ｚとで実行する。
る装置障害箇所特定装置は、下り伝送路Ｌi （ｉ=０、
〜ｎ）と上り伝送路Ｕi （ｉ=０、〜ｎ）を介して直列
に接続された複数の中継装置Ｙi （ｉ=１、〜ｎ）で構
成される中継伝送システム１００の障害箇所の特定を、
保守試験装置Ｘと保守折返装置Ｚとで実行する。
【００１４】中継装置Ｙi （ｉ=１、〜ｎ）は、第１ス
イッチＤi （ｉ=１、〜ｎ）と、第２スイッチＣi （ｉ=
１、〜ｎ）と、中継検査回路Ｆi （ｉ=１、〜ｎ）とを
有す。
イッチＤi （ｉ=１、〜ｎ）と、第２スイッチＣi （ｉ=
１、〜ｎ）と、中継検査回路Ｆi （ｉ=１、〜ｎ）とを
有す。
【００１５】第１スイッチＤi （ｉ=１、〜ｎ）は、接
触子ＭＤi （ｉ=１、〜ｎ）を接点ＲＤi （ｉ=１、〜
ｎ）または接点ＳＤi （ｉ=１、〜ｎ）に接続すること
により、中継検査回路Ｆi （ｉ=１、〜ｎ）を、接続点
Ｈi （ｉ=１、〜ｎ）を介して下り伝送路Ｌi （ｉ=１、
〜ｎ）から分岐して接続する、あるいは、接続点Ｋi
（ｉ=１、〜ｎ）を介して上り伝送路Ｕi （ｉ=１、〜
ｎ）から分岐して接続する。ここで、接続点Ｈi は、中
継装置Ｙi と下り伝送路Ｌi との接続点であり、接続点
Ｋiは、中継装置Ｙi と上り伝送路Ｕiとの接続点であ
る。
触子ＭＤi （ｉ=１、〜ｎ）を接点ＲＤi （ｉ=１、〜
ｎ）または接点ＳＤi （ｉ=１、〜ｎ）に接続すること
により、中継検査回路Ｆi （ｉ=１、〜ｎ）を、接続点
Ｈi （ｉ=１、〜ｎ）を介して下り伝送路Ｌi （ｉ=１、
〜ｎ）から分岐して接続する、あるいは、接続点Ｋi
（ｉ=１、〜ｎ）を介して上り伝送路Ｕi （ｉ=１、〜
ｎ）から分岐して接続する。ここで、接続点Ｈi は、中
継装置Ｙi と下り伝送路Ｌi との接続点であり、接続点
Ｋiは、中継装置Ｙi と上り伝送路Ｕiとの接続点であ
る。
【００１６】第２スイッチＣi （ｉ=１、〜ｎ）は、接
触子ＭＣi （ｉ=１、〜ｎ）を接点ＲＣi（ｉ=１、〜
ｎ）またはＳＣi（ｉ=、〜ｎ）に接続することにより、
下り伝送路Ｌi-1 （ｉ=１、〜ｎ）を、接続点Ｇi （ｉ=
１、〜ｎ）を介して上り伝送路Ｕ i-1 （ｉ=１、〜ｎ）
へ折り返す、または、中継装置Ｙi （ｉ=１、〜ｎ）を
上り伝送路Ｕi-1 （ｉ=１、〜ｎ）へ接続する。ここ
で、接続点Ｇi は、中継装置Ｙiと下り伝送路Ｌi-1 と
の接続点である。
触子ＭＣi （ｉ=１、〜ｎ）を接点ＲＣi（ｉ=１、〜
ｎ）またはＳＣi（ｉ=、〜ｎ）に接続することにより、
下り伝送路Ｌi-1 （ｉ=１、〜ｎ）を、接続点Ｇi （ｉ=
１、〜ｎ）を介して上り伝送路Ｕ i-1 （ｉ=１、〜ｎ）
へ折り返す、または、中継装置Ｙi （ｉ=１、〜ｎ）を
上り伝送路Ｕi-1 （ｉ=１、〜ｎ）へ接続する。ここ
で、接続点Ｇi は、中継装置Ｙiと下り伝送路Ｌi-1 と
の接続点である。
【００１７】中継検査回路Ｆi （ｉ=１、〜ｎ）は、下
り伝送路Ｌi-1 あるいは上り伝送路Ｕiからの試験信号
ＩＳを検査し、この検査結果を監視回線ＭＬにより保守
試験装置Ｘへ通知する。
り伝送路Ｌi-1 あるいは上り伝送路Ｕiからの試験信号
ＩＳを検査し、この検査結果を監視回線ＭＬにより保守
試験装置Ｘへ通知する。
【００１８】保守試験装置Ｘは、試験信号生成回路Ａと
保守検査回路Ｂと収集部ＨＴと障害箇所記憶部ＭＦと特
定部ＴＫと特定障害箇所出力部ＯＵＴとを有す。
保守検査回路Ｂと収集部ＨＴと障害箇所記憶部ＭＦと特
定部ＴＫと特定障害箇所出力部ＯＵＴとを有す。
【００１９】試験信号生成回路Ａは、中継伝送システム
１００を試験するための信号である試験信号ＩＳを生成
しこの試験信号ＩＳを、下り伝送路Ｌ0 を介して中継伝
送システム１００へ送出する。
１００を試験するための信号である試験信号ＩＳを生成
しこの試験信号ＩＳを、下り伝送路Ｌ0 を介して中継伝
送システム１００へ送出する。
【００２０】保守検査回路Ｂは、上り伝送路Ｕ0からの
試験信号ＩＳを受信して検査する。
試験信号ＩＳを受信して検査する。
【００２１】収集部ＨＴは、中継装置Ｙi の中継検査回
路Ｆi （ｉ=１、〜ｎ）からの検査結果と保守検査回路
Ｂからの検査結果を収集し、収集したこれらの検査結果
を特定部ＴＫへ通知する。
路Ｆi （ｉ=１、〜ｎ）からの検査結果と保守検査回路
Ｂからの検査結果を収集し、収集したこれらの検査結果
を特定部ＴＫへ通知する。
【００２２】障害箇所記憶部ＭＦは、障害箇所特定テー
ブル２００を記憶する。
ブル２００を記憶する。
【００２３】障害箇所特定テーブル２００は、図３に示
すように、保守検査回路Ｂの検査結果と中継検査回路Ｆ
i （ｉ=１、〜ｎ）の検査結果とに対応して特定できる
障害箇所を示すテーブルである。障害箇所特定テーブル
２００の障害箇所は、どの中継装置が故障か、そして、
どの中継装置間が障害であるかを示すと共にその障害が
上り伝送路かそれとも下り伝送路で起きているかをも示
している。このようにきめ細かに障害箇所をテーブル化
することができるのは、各中継装置Ｙi に中継検査回路
Ｆi が存在してその検査結果を使うことができるからで
ある。
すように、保守検査回路Ｂの検査結果と中継検査回路Ｆ
i （ｉ=１、〜ｎ）の検査結果とに対応して特定できる
障害箇所を示すテーブルである。障害箇所特定テーブル
２００の障害箇所は、どの中継装置が故障か、そして、
どの中継装置間が障害であるかを示すと共にその障害が
上り伝送路かそれとも下り伝送路で起きているかをも示
している。このようにきめ細かに障害箇所をテーブル化
することができるのは、各中継装置Ｙi に中継検査回路
Ｆi が存在してその検査結果を使うことができるからで
ある。
【００２４】特定部ＴＫは、収集部ＨＴからの検査結果
と障害箇所記憶部ＭＦの障害箇所特定テーブル２００と
比較照合して障害箇所の特定をし、この特定結果を特定
障害箇所出力部ＯＵＴへ通知する。
と障害箇所記憶部ＭＦの障害箇所特定テーブル２００と
比較照合して障害箇所の特定をし、この特定結果を特定
障害箇所出力部ＯＵＴへ通知する。
【００２５】特定障害箇所出力部ＯＵＴは、特定部ＴＫ
で特定された障害箇所を表示等で出力する。
で特定された障害箇所を表示等で出力する。
【００２６】保守折返装置Ｚは、下り伝送路Ｌn から上
り伝送路Ｕn へ折り返す折返部Ｅを有す。
り伝送路Ｕn へ折り返す折返部Ｅを有す。
【００２７】次に、本発明の実施の形態の動作について
図面を参照して詳細に説明する。ここでの説明の記述に
おいて、特に断らないかぎり、中継装置Ｙi は、中継装
置Ｙi （ｉ=１，〜ｎ）のことであり、（ｉ=１，〜ｎ）
を省略している。その他の下付添え字ｉについても同様
である。
図面を参照して詳細に説明する。ここでの説明の記述に
おいて、特に断らないかぎり、中継装置Ｙi は、中継装
置Ｙi （ｉ=１，〜ｎ）のことであり、（ｉ=１，〜ｎ）
を省略している。その他の下付添え字ｉについても同様
である。
【００２８】図１に示す中継伝送システム１００のサー
ビスの開始前には、中継装置Ｙi の第１スイッチＤi
は、接触子ＭＤi を接点ＲＤi に接続することにより、
中継検査回路Ｆi を下り伝送路Ｌi に接続し、そして、
中継装置Ｙi の第２スイッチＣ i は、接触子ＭＣi を接
点ＳＣi に接続することにより、中継装置Ｙi を上り伝
送路Ｕi-1 へ接続するよう設定されている。
ビスの開始前には、中継装置Ｙi の第１スイッチＤi
は、接触子ＭＤi を接点ＲＤi に接続することにより、
中継検査回路Ｆi を下り伝送路Ｌi に接続し、そして、
中継装置Ｙi の第２スイッチＣ i は、接触子ＭＣi を接
点ＳＣi に接続することにより、中継装置Ｙi を上り伝
送路Ｕi-1 へ接続するよう設定されている。
【００２９】保守試験装置Ｘは、試験信号生成回路Ａが
生成した試験信号ＩＳを、下り伝送路Ｌ0 を介して、前
記のように第１スイッチＤi と第２スイッチＣi が設定
された中継伝送システム１００に送出する。試験信号Ｉ
Ｓは、中継装置Ｙ1 ，Ｙ2，〜Ｙn を通り、保守折返装
置Ｚの折返部Ｅで折り返し、再び、中継装置Ｙn ，〜Ｙ
2 ，Ｙ1 を通り、上り伝送路Ｕ0 を介し保守試験装置Ｘ
の保守検査回路Ｂへと到達する。
生成した試験信号ＩＳを、下り伝送路Ｌ0 を介して、前
記のように第１スイッチＤi と第２スイッチＣi が設定
された中継伝送システム１００に送出する。試験信号Ｉ
Ｓは、中継装置Ｙ1 ，Ｙ2，〜Ｙn を通り、保守折返装
置Ｚの折返部Ｅで折り返し、再び、中継装置Ｙn ，〜Ｙ
2 ，Ｙ1 を通り、上り伝送路Ｕ0 を介し保守試験装置Ｘ
の保守検査回路Ｂへと到達する。
【００３０】中継装置Ｙi の中継検査回路Ｆi と保守試
験装置Ｘの保守検査回路Ｂとが、試験信号ＩＳを正常に
検出すると、中継検査回路Ｆi は、第１スイッチＤi の
接触子ＭＤi を接点ＳＤi に接続し、第２スイッチＣi
の接触子ＭＣi を接点ＲＣiに接続する。
験装置Ｘの保守検査回路Ｂとが、試験信号ＩＳを正常に
検出すると、中継検査回路Ｆi は、第１スイッチＤi の
接触子ＭＤi を接点ＳＤi に接続し、第２スイッチＣi
の接触子ＭＣi を接点ＲＣiに接続する。
【００３１】このようにして、中継伝送システム１００
は、障害箇所の特定ができる試験モードに設定され、サ
ービスを開始する。
は、障害箇所の特定ができる試験モードに設定され、サ
ービスを開始する。
【００３２】試験モードに設定され、サービス中の中継
伝送システム１００に障害が起きたとき、保守試験装置
Ｘと保守折返装置Ｚとにより障害箇所の特定を実行す
る。
伝送システム１００に障害が起きたとき、保守試験装置
Ｘと保守折返装置Ｚとにより障害箇所の特定を実行す
る。
【００３３】図１において、保守試験装置Ｘは、試験信
号ＩＳを、下り伝送路Ｌ0 を介して中継伝送システム１
００に送出する。
号ＩＳを、下り伝送路Ｌ0 を介して中継伝送システム１
００に送出する。
【００３４】中継検査回路Ｆi と保守検査回路Ｂとは、
保守試験装置Ｘからの試験信号ＩＳを正常に検出できた
か、それとも、試験信号ＩＳを検出できない場合を含め
て異常な検出であったかを検査し、これらの検査結果を
保守試験装置Ｘへ送出する。
保守試験装置Ｘからの試験信号ＩＳを正常に検出できた
か、それとも、試験信号ＩＳを検出できない場合を含め
て異常な検出であったかを検査し、これらの検査結果を
保守試験装置Ｘへ送出する。
【００３５】保守試験装置Ｘの収集部ＨＴは、中継検査
回路Ｆi からの検査結果と保守検査回路Ｂからの検査結
果を収集し、収集したこれらの検査結果を特定部ＴＫへ
通知する。
回路Ｆi からの検査結果と保守検査回路Ｂからの検査結
果を収集し、収集したこれらの検査結果を特定部ＴＫへ
通知する。
【００３６】特定部ＴＫは、収集部ＨＴからの検査結果
と障害箇所記憶部ＭＦの障害箇所特定テーブル２００と
比較照合して障害箇所の特定をし、この特定結果を特定
障害箇所出力部ＯＵＴへ通知する。
と障害箇所記憶部ＭＦの障害箇所特定テーブル２００と
比較照合して障害箇所の特定をし、この特定結果を特定
障害箇所出力部ＯＵＴへ通知する。
【００３７】特定障害箇所出力部ＯＵＴは、特定部ＴＫ
で特定された障害箇所を表示等で出力する。
で特定された障害箇所を表示等で出力する。
【００３８】以上のように、本発明の第１の実施例によ
れば、どの中継装置が故障か、そして、どの中継装置間
が障害であるかを示すと共にその障害が上り伝送路かそ
れとも下り伝送路で起きているかをも特定する。さら
に、１度の試験信号ＩＳの印加で中継伝送システムの各
中継装置と各伝送路の障害を同時にしかも短時間で特定
する。
れば、どの中継装置が故障か、そして、どの中継装置間
が障害であるかを示すと共にその障害が上り伝送路かそ
れとも下り伝送路で起きているかをも特定する。さら
に、１度の試験信号ＩＳの印加で中継伝送システムの各
中継装置と各伝送路の障害を同時にしかも短時間で特定
する。
【００３９】次に、本発明の第２の実施例による障害箇
所特定装置を説明する。
所特定装置を説明する。
【００４０】図２において、本発明の第２の実施例によ
る障害箇所特定装置は、保守折返装置Ｚに折返検査回路
Ｐzを有し、保守折返装置Ｚの直前で最終段の中継装置
Ｙnに中継検査回路Ｐn を有し、そして、障害箇所記憶
部ＭＦに図４の障害箇所特定テーブル２０１を有する構
成以外、第１の実施例による障害箇所特定装置の構成と
同じである。よって、本発明の第２の実施例による障害
箇所特定装置の説明は、第１の実施例と異なる部分のみ
を説明する。
る障害箇所特定装置は、保守折返装置Ｚに折返検査回路
Ｐzを有し、保守折返装置Ｚの直前で最終段の中継装置
Ｙnに中継検査回路Ｐn を有し、そして、障害箇所記憶
部ＭＦに図４の障害箇所特定テーブル２０１を有する構
成以外、第１の実施例による障害箇所特定装置の構成と
同じである。よって、本発明の第２の実施例による障害
箇所特定装置の説明は、第１の実施例と異なる部分のみ
を説明する。
【００４１】図２において、保守折返装置Ｚの折返検査
回路Ｐz は、下り伝送路Ｌn と折返部Ｅとの接続点Ｇz
を介して試験信号ＩＳを検査し、この検査結果を監視回
線ＭＬを介して収集部ＨＴへ通知する。
回路Ｐz は、下り伝送路Ｌn と折返部Ｅとの接続点Ｇz
を介して試験信号ＩＳを検査し、この検査結果を監視回
線ＭＬを介して収集部ＨＴへ通知する。
【００４２】最終段の中継装置Ｙn の中継検査回路Ｐn
は、第２スイッチＣn と上り伝送路Ｕn-1 との接続点Ｔ
Ｃn を介して試験信号ＩＳを検査し、この検査結果を監
視回線ＭＬを介して収集部ＨＴへ通知する。
は、第２スイッチＣn と上り伝送路Ｕn-1 との接続点Ｔ
Ｃn を介して試験信号ＩＳを検査し、この検査結果を監
視回線ＭＬを介して収集部ＨＴへ通知する。
【００４３】障害箇所特定テーブル２０１は、図４に示
すように、保守検査回路Ｂの検査結果と中継検査回路Ｆ
i （ｉ=１、〜ｎ）の検査結果に加えて中継検査回路Ｐn
の検査結果と折返検査回路Ｐz の検査結果とに対応す
る障害箇所を示すテーブルである。
すように、保守検査回路Ｂの検査結果と中継検査回路Ｆ
i （ｉ=１、〜ｎ）の検査結果に加えて中継検査回路Ｐn
の検査結果と折返検査回路Ｐz の検査結果とに対応す
る障害箇所を示すテーブルである。
【００４４】次に、第２の実施例による中継装置障害箇
所特定装置の動作を説明する。
所特定装置の動作を説明する。
【００４５】保守試験装置Ｘの収集部ＨＴは、中継検査
回路Ｆi からの検査結果と保守検査回路Ｂからの検査結
果と中継検査回路Ｐnからの検査結果と折返検査回路Ｐz
からの検査結果を収集し、収集したこれらの検査結果を
特定部ＴＫへ通知する。特定部ＴＫは、収集部ＨＴから
の検査結果と障害箇所記憶部ＭＦの障害箇所特定テーブ
ル２０１と比較照合して障害箇所の特定をし、この特定
結果を特定障害箇所出力部ＯＵＴへ通知する。特定障害
箇所出力部ＯＵＴは、特定部ＴＫで特定された障害箇所
を表示等で出力する。
回路Ｆi からの検査結果と保守検査回路Ｂからの検査結
果と中継検査回路Ｐnからの検査結果と折返検査回路Ｐz
からの検査結果を収集し、収集したこれらの検査結果を
特定部ＴＫへ通知する。特定部ＴＫは、収集部ＨＴから
の検査結果と障害箇所記憶部ＭＦの障害箇所特定テーブ
ル２０１と比較照合して障害箇所の特定をし、この特定
結果を特定障害箇所出力部ＯＵＴへ通知する。特定障害
箇所出力部ＯＵＴは、特定部ＴＫで特定された障害箇所
を表示等で出力する。
【００４６】第２の実施例により、保守折返装置Ｚと最
終段の中継装置Ｙn 間の障害箇所を、上り伝送路Ｕn と
下り伝送路Ｌn とに区別して特定できる。
終段の中継装置Ｙn 間の障害箇所を、上り伝送路Ｕn と
下り伝送路Ｌn とに区別して特定できる。
【００４７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、各中継
装置に１つの試験信号検査回路を有し、この試験信号検
査回路を切り替えて下り伝送路側の検査と上り伝送路側
の検査とを実行しているので、どの中継装置が故障か、
そして、どの中継装置間が障害であるかを示すと共にそ
の障害が上り伝送路かそれとも下り伝送路で起きている
かをきめ細かく特定できる。さらに、本発明は、１度の
試験信号の印加で全中継回線の試験を同時に実行してい
るので、試験時間が短縮でき短時間での障害箇所の特定
が可能である。
装置に１つの試験信号検査回路を有し、この試験信号検
査回路を切り替えて下り伝送路側の検査と上り伝送路側
の検査とを実行しているので、どの中継装置が故障か、
そして、どの中継装置間が障害であるかを示すと共にそ
の障害が上り伝送路かそれとも下り伝送路で起きている
かをきめ細かく特定できる。さらに、本発明は、１度の
試験信号の印加で全中継回線の試験を同時に実行してい
るので、試験時間が短縮でき短時間での障害箇所の特定
が可能である。
【図１】本発明の第１の実施例による障害箇所特定装置
のブロック構成図である。
のブロック構成図である。
【図２】本発明の第２の実施例による障害箇所特定装置
のブロック構成図である。
のブロック構成図である。
【図３】本発明の第１の実施例による障害箇所特定装置
の障害箇所特定テーブルの構成図である。
の障害箇所特定テーブルの構成図である。
【図４】本発明の第２の実施例による障害箇所特定装置
の障害箇所特定テーブルの構成図である。
の障害箇所特定テーブルの構成図である。
【図５】従来の障害箇所特定装置のブロック構成図であ
る。
る。
１００ 中継伝送システム
Ｌi 下り伝送路
Ｕi 上り伝送路
Ｙi 中継装置
Ｄi 第１スイッチ
Ｃi 第２スイッチ
Ｆi 中継検査回路
Ｐn 中継検査回路
Ｘ 保守試験装置
Ａ 試験信号生成回路
Ｂ 保守検査回路
ＨＴ 収集部
ＭＦ 障害箇所記憶部
ＴＫ 特定部
ＯＵＴ 特定障害箇所出力部
Ｚ 保守折返装置
Ｅ 折返部
Ｐz 折返検査回路
２００、２０１ 障害箇所特定テーブル
Claims (7)
- 【請求項１】 下り伝送路と上り伝送路とを介して直列
に接続された複数の中継装置で構成される中継伝送シス
テムの障害箇所特定装置において；前記中継伝送システ
ムを試験するための試験信号を生成し前記試験信号を前
記中継伝送システムへ送出する試験信号生成手段と、前
記中継伝送システムからの前記試験信号を検査する保守
検査手段と、障害箇所を特定するための障害箇所特定テ
ーブルを記憶する障害箇所記憶手段と、を有す保守試験
装置を備え；前記中継装置は、前記下り伝送路を前記上
り伝送路へ選択して折り返す折返切替手段と、前記下り
伝送路あるいは前記上り伝送路のいずれかを分岐して接
続する分岐切替手段と、前記分岐切替手段により分岐し
て接続される前記下り伝送路あるいは前記上り伝送路の
いずれかよりの前記試験信号を検査する第１検査手段と
を備え；前記中継伝送システムの最終段の中継装置から
の前記下り伝送路を前記上り伝送路へ固定的に折り返す
折返手段を有す保守折返装置を備え；ることを特徴とす
る障害箇所特定装置。 - 【請求項２】 前記中継装置の折返切替手段は、前記下
り伝送路を前記上り伝送路へ折り返して接続するか、あ
るいは、前記中継装置を前記上り伝送路へ接続するかの
いずれかを選択して切り替えることを特徴とする請求項
１記載の障害箇所特定装置。 - 【請求項３】 前記障害箇所記憶部の障害箇所特定テー
ブルは、前記中継装置の前記第１検査手段の検査結果と
前記保守試験装置の保守検査手段の検査結果とに対応し
て障害箇所を示すテーブルであることを特徴とする請求
項１記載の障害箇所特定装置。 - 【請求項４】 前記最終段の中継装置は、前記折返切替
手段による前記上り伝送路から前記下り伝送路への折り
返し接続を検査するための第２検査手段を有することを
特徴とする請求項１記載の障害箇所特定装置。 - 【請求項５】 前記保守折返装置は、前記保守折返装置
と接続する前記下り伝送路および前記保守折返装置の前
記折返手段を検査するための折返検査手段を有すること
を特徴とする請求項１記載の障害箇所特定装置。 - 【請求項６】 前記障害箇所記憶部の障害箇所特定テー
ブルは、前記中継装置の前記第１検査手段の検査結果お
よび前記第２検査手段の検査結果と前記保守折返装置の
前記折返検査手段の検査結果と前記保守試験装置の保守
検査手段の検査結果とに対応して障害箇所を示すテーブ
ルであることを特徴とする請求項１記載の障害箇所特定
装置。 - 【請求項７】 前記保守試験装置は、前記分岐切替手段
により前記下り伝送路が第１検査手段に選択接続され且
つ前記折返切替手段により前記下り伝送路が前記上り伝
送路へ折り返すよう選択接続されている前記中継装置
へ、前記試験信号生成手段から前記試験信号を送出し
て、前記障害箇所特定テーブルにより障害箇所を特定す
ることを特徴とする請求項１と６記載の障害箇所特定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17965699A JP3404325B2 (ja) | 1999-06-25 | 1999-06-25 | 障害箇所特定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17965699A JP3404325B2 (ja) | 1999-06-25 | 1999-06-25 | 障害箇所特定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001007772A JP2001007772A (ja) | 2001-01-12 |
| JP3404325B2 true JP3404325B2 (ja) | 2003-05-06 |
Family
ID=16069594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17965699A Expired - Fee Related JP3404325B2 (ja) | 1999-06-25 | 1999-06-25 | 障害箇所特定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3404325B2 (ja) |
-
1999
- 1999-06-25 JP JP17965699A patent/JP3404325B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001007772A (ja) | 2001-01-12 |
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