JPH0438620A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法

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JPH0438620A
JPH0438620A JP14145990A JP14145990A JPH0438620A JP H0438620 A JPH0438620 A JP H0438620A JP 14145990 A JP14145990 A JP 14145990A JP 14145990 A JP14145990 A JP 14145990A JP H0438620 A JPH0438620 A JP H0438620A
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JP
Japan
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magnetic
protective film
magnetic layer
recording medium
magnetic recording
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Pending
Application number
JP14145990A
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English (en)
Inventor
Shigehiko Fujimaki
成彦 藤巻
Yuichi Kokado
雄一 小角
Makoto Kito
鬼頭 諒
Satoru Matsunuma
悟 松沼
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、コンピュータ、ワープロなどの電子機器の外
部記憶装置として広く用いられている磁気ディスクなど
の磁気記録媒体の製造方法に関する。
〔従来技術〕
通常の連続薄膜媒体で構成される磁気ディスクでは磁性
層をテクスチャと呼ばれる円周状の、表面粗さRaが5
〜20nmである微細溝を加工した非磁性基材上に形成
する。テクスチャはヘッドの粘着防止やディスクの摩擦
係数を低減するなどの友めには不可欠であるが、磁性層
の表面に凹凸を生じるため、ヘッドとの隙間が大きくな
る凹部ではヘッドからの磁界が広がることが知られてい
る。一般に、記録密度を向上させるにはヘッドと磁性層
の隙間はへラドギャップに比べて十分に小さく、且つ、
可能なかぎ9一定していることが望ましく、浮上したヘ
ッドと磁性層との隙間を一定に保つために、微粒子を磁
性層に被着するなどして凹凸を形成する保礁膜などが提
案されている(特開平1−211236号公報)。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術は、粒径が20nm程度の帯電した微粒子
を磁性層に被着させて凹凸を設けるものであるが、粒径
の均一性や被着粒子の分布等に問題がある。′−!た、
磁性層上に設けた凹凸はさらに炭素膜で被覆されるため
、保護膜が粒径に比べて少なくとも二倍程度は厚くなる
ことや、表面凹凸の粗さRaが従来のテクスチャに比べ
て大きくなるなどの問題もある。
本発明の目的は、簡単な工程によシ磁性層上に均一なテ
クスチャに相当する、表面組さRaが5〜20nmの凹
凸をもち、膜厚が10nm〜50nmの保護膜を設けた
磁気記録媒体の製造方法を提供することにある・ 〔課題を解決するための手段〕 本発明者等は種々の研究の結果、連続薄膜からなる磁気
記録媒体の電磁変換特性を改善し、且つ、ヘッドの粘着
防止やディスクの摩擦係数の低減により耐久性を向上す
るには、磁性層を被覆する保護膜の表面にテクスチャと
同等の表面粗さで凹凸を設けることが最も効果的である
との知見を得て本発明をなすに至ったもので、上記目的
を造成するために本発明は微細な隙間をもつ障害物を介
して、化学気相成長(CVD)、スパッタリング、イオ
ンビーム蒸着などを行い、非晶質炭素、炭素化合物、珪
素化合物、ホウ素化合物および金属酸化物あるいは金属
窒化物等の材料から成る保護膜を堆積させるか、炭素系
保護膜で被覆した磁性層の表面を酸素プラズマ発生して
エツチングする。
この場合、形成される凹凸はプラズマ反応容器等に設け
た障害物の隙間の形状を反映するもので、表面粗さRa
が5〜20nmの表面を保護膜に形成するには、孔径が
0.1〜10μmの微細な隙間をもつ障害物を基板表面
から0.2 m m以内の位置に設ければよく、障害物
には、テフロン、ポリプロピレン、セルロースなどフィ
ルタ材として知られるポリマのメツシュを用いることが
できるほか、同等の孔径をもつものであれば、金属ワイ
ヤ、ガラスファイバ等ら成るメツシュを用いることもで
きる。また、凹凸状保護膜だけで十分に磁性層を被覆で
きなh場合は、さらに保護膜を設けるか、あるいは、予
め磁性層に保護膜を薄く設けてから凹凸状保護膜を形成
するとよい。
〔作用〕
本発明の磁気記録媒体で形成される保護膜の凹凸はプラ
ズマ反応容器等に設けた障害物の隙間の形状を反映した
もので、障害物の細孔を通してのみ保護膜が堆積、ある
いは、エツチングされるためである。従って、障害物に
、例えば、スクIJ−ンフィルタ等に用いられている均
一で変形がなく、孔径が0.1〜10μmである連続な
ポリマのメツシー等を設ければ、テクスチャに相当する
凹凸を保護膜に形成することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明するO 第2図は、高周波プラズマ中でCVDによシ凹凸状の硬
質炭素保護膜を形成する几めの成膜装置を示す。第S図
は、炭素系保護膜の表面をエツチングして凹凸を設ける
ためのエツチング装置を示す。第1図は、本発明の実施
例を示す磁気記録媒体の断面図を示す。
先ず、第2図を説明する。
本図に示す基板1は、少女くとも、強磁性体を主体とす
る磁性層を積層したディスク状基板で、スペーサ2によ
って高周波電極3に保持される。
マスク4は、孔径が2jImのテフロン製のメツシー5
からなり、メツシュ5から基板1までの距離は0.1m
mである。このプラダ1反応容器に下記の条件でCH4
プラズマを発生したところ、CvDによりメツシュ形状
を反映して、表面粗さR&が約10nmの凹凸をもつ非
晶質炭素から成る保護膜が形成された。
反応ガス  CH4 雰囲気圧  8.0Pa 投入電力  500W 処理時間  1 min・ 以上の実施例では保餓膜を形成するのに、CH4の高周
波プラズマの作用によるCVD法を用りた場合の例で説
明したが、非晶質炭素膜を堆積させることのできる他の
方法のすべてに適用可能である。また、保護膜は、炭素
化合物、珪累化合物、ホウ素化合物、および、金属酸化
物、あるいは、金属窒化物等の材料を用いてもよい。
次に、第3図を説明する。
本図に示す基板8は、少なくとも、強磁性体を主体とす
る磁性層に炭素系保護膜を積層したディスク状基板で、
スペーサ9&Cよシ台座10に保持される。マスク11
は、孔径が2μmのテフロン製のメツシュ12からなる
。基板8とメツシュ120間隔はalmmである。この
プラズマ反応容器に下記の条件で02プラズマを発生し
たとζろ、エツチングによシ炭素系保護膜の表面に凹凸
が形成された。すなわち、 反応ガス  02 雰囲気圧  IZ5Pa 印加電圧  420v 処理時間  30sec なお、上記の実施例に示す酸素プラズマは、直流放電に
より発生したものであるが、交流放電、高周波放電、マ
イクロ波放電など他の放電形式で発生した酸素プラズマ
でも同様の効果が得られることは勿論である。
続いて、第1図について説明する。
本実施例の磁気ディスクは、非磁性基材と、磁性層と、
保護層と、潤滑層とを積層した構造からなる。非磁性基
材はA1製のディスク用基板14と、その上に形成した
N1−Pめっき膜15とからなる。磁性層はcr下地膜
16と、Go−Ni系合金もしくはQ o −Or系合
金の磁性膜17とからなる。保睦層は、第3図あるい#
i第1図に示す装置によシ表面粗さRaが約10nmの
凹凸を設けた硬質炭素膜18からなる。潤滑膜は、フッ
累系潤滑剤19からなる。
このような磁気ディスクに実際の磁気ヘッドを適用して
耐CSS特性の評価を行ったところ、常に、C8Sサイ
クル三万回以上を耐久し、テクスチャ全役けた同じ膜厚
と層構成からなる磁気ディスクの耐CSS特性を上回る
結果を得た。
〔発明の効果〕
本発明によれば、従来のテクスチャに相当する凹凸を容
易に保護膜に形成することができる・また、本発明は、
電磁変換特性を劣化させることなくヘッドの粘着を防止
し、静摩擦係数の低い、耐久性に優れる磁気記録媒体を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す磁気記録媒体の断面図
、第2図は高周波プラズマ中でCVDよシ凹凸状の硬質
炭素保展膜を形成するための成膜装置の説明図、第3図
は炭素系保護膜の表面をエツチングして凹凸を設けるた
めのエツチング装置、の説明図である。 1.8・・・・・・基板、2 、9・旧・・スペーサ、
3・旧・・高周波電極、4,11・・・・・・マスク、
5.12・・・・・・メツシュ、6・・・・・・インピ
ーダンス整合回路、7・・・・・・高周波電源、10・
・・・・・台座、13・旧・・高電圧電源、14・・・
・・・ディスク用基板、15・旧・・N1−Pめっき膜
、16・・・・・・Or下地膜、17・旧・・磁性膜、
18・・・・・・硬質炭素膜、19・・・・・・フッソ
系潤滑剤。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、非磁性基材の表面に、磁性層を形成する工程と、微
    細な隙間をもつ障害物を介して化学気相成長、スパッタ
    リング、イオンビーム蒸着等を行い、前記隙間の部分に
    対応する前記磁性層の表面に保護膜を堆積する工程とを
    含むことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。 2、非磁性基材の表面に、磁性層を形成する工程と、前
    記磁性層の表面に炭素系保護膜を形成する工程と、前記
    炭素系保護膜の表面に微細な隙間をもつ障害物を設けて
    酸素プラズマを作用させて表面に凹凸を設ける工程とを
    含むことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。 3、請求項1または2において、前記障害物は孔径が0
    .1〜10μmのテフロン、ポリプロピレン、セルロー
    ス等から選ばれる連続で均一なポリマのメッシュから成
    る磁気記録媒体の製造方法。 4、請求項1または2において、前記非磁性基材上に、
    強磁性体を主体とする磁性層と、炭素系薄膜からなる保
    護層と、潤滑層とを、順次、積層し、前記保護層に表面
    粗さRaが5〜20nmの凹凸を形成する磁気記録媒体
    の製造方法。
JP14145990A 1990-06-01 1990-06-01 磁気記録媒体の製造方法 Pending JPH0438620A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5486276A (en) * 1992-09-10 1996-01-23 Fujitsu Limited Method for manufacturing small magnetic disks from a large disk
US8995089B2 (en) 2013-03-01 2015-03-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic recording medium and method for producing the same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5486276A (en) * 1992-09-10 1996-01-23 Fujitsu Limited Method for manufacturing small magnetic disks from a large disk
US5552203A (en) * 1992-09-10 1996-09-03 Fujitsu Limited Magnetic disk having a protective layer of sputtered particles of two differently controlled grain sizes
US8995089B2 (en) 2013-03-01 2015-03-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic recording medium and method for producing the same

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