JPH04320336A - エッチング方法 - Google Patents

エッチング方法

Info

Publication number
JPH04320336A
JPH04320336A JP11365691A JP11365691A JPH04320336A JP H04320336 A JPH04320336 A JP H04320336A JP 11365691 A JP11365691 A JP 11365691A JP 11365691 A JP11365691 A JP 11365691A JP H04320336 A JPH04320336 A JP H04320336A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
etching
pbs
layer
mesa
compound semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP11365691A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoyuki Ookubo
大久保 倫之
Hironobu Sawato
沢渡 広信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SEKIYU SANGYO KASSEIKA CENTER
Japan Petroleum Energy Center JPEC
Eneos Corp
Original Assignee
SEKIYU SANGYO KASSEIKA CENTER
Petroleum Energy Center PEC
Nippon Mining Co Ltd
Nikko Kyodo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SEKIYU SANGYO KASSEIKA CENTER, Petroleum Energy Center PEC, Nippon Mining Co Ltd, Nikko Kyodo Co Ltd filed Critical SEKIYU SANGYO KASSEIKA CENTER
Priority to JP11365691A priority Critical patent/JPH04320336A/ja
Publication of JPH04320336A publication Critical patent/JPH04320336A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Weting (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、PbSを主成分とする
化合物半導体の表面の選択エッチング方法に関するもの
である。本発明はまた、メサストライプ型レーザや活性
層埋め込み型レーザ等の半導体デバイスの作製に必要な
メサエッチング(平頂台形のメサ形状を形成するエッチ
ング)にも関係する。
【0002】
【従来の技術】半導体レーザデバイスに用いる半導体材
料としてPbS系半導体が近時注目されている。例えば
PbS基板を用いてメサストライプ型レーザを作製する
ためにはPbS基板上にレーザ構造を構成するのに必要
とされる、n型クラッド層、n型活性層、p型クラッド
層、p型コンタクト層といったPbSを主成分とするエ
ピタキシャル層を順次形成し、そして形成したエピタキ
シャル層をメサ状にエッチングすることが必要である。 エッチングされたメサの表面にはレーザ光の閉じ込めの
ために絶縁膜が堆積される。エッチング液としては、臭
化水素系エッチング液や重クロム酸系エッチング液が使
用されていたが、エッチング後の表面が平坦でなく、荒
れや変色が起こった。また、エッチング時にマスクが必
要であるが、密着性が良くそしてエッチング液に対して
不溶性のマスクが入手できなかった。例えば、SiO2
 等の絶縁物マスク膜は密着性が悪く、マスクとして使
用できない。レジストは一般にアルカリ性エッチング液
に溶ける。特に、PbS系の場合、マスク膜形成時に4
00℃以上の高温加熱ができないためにマスクの密着性
が悪くなっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】高品質のレーザダイオ
ードを形成するためには、目的とするメサ形状が高い精
度で形成され、そしてレーザ発振を容易とし、信頼性が
高く、高出力化を可能ならしめるにはメサ構造にレーザ
光を閉じ込めるべく絶縁膜が剥離せず、メサエッチング
表面に密着していることが必要である。従来のエッチン
グ方法では、エッチング後の表面が平坦でなく、荒れや
変色が起こり、その上に堆積する絶縁膜との密着性が悪
く、またマスクの剥れや溶解が起こるため、エッチング
選択性も良好でなかった。従って、高品質のレーザダイ
オードを形成するためには、目的とするメサ形状が高い
精度で選択エッチングされ、エッチング後の表面が荒れ
や変色のない平坦なものとなるエッチング技術の開発が
必要である。
【0004】本発明の課題は、PbSを主成分とする化
合物半導体を対象として、精度の良い選択エッチングが
可能でありそしてエッチング後に荒れや変色のない平坦
な鏡面を創出できる、マスク材質及びエッチング液の適
合性を考慮したエッチング方法を開発することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題に向けて検討を
重ねた結果、過酸化水素、Pbと錯体を形成する錯化剤
及びアルカリ水酸化物を含むアルカリ性エッチング液と
、金属マスク層との併用が最適との結論に至った。この
知見に基づいて、本発明は、(a) PbSを主成分と
する化合物半導体の表面の所定領域を金属層で覆う段階
と、(b) 該化合物半導体の金属層で覆われていない
表面部分を過酸化水素、Pbと錯体を形成する錯化剤及
びアルカリ水酸化物を含むアルカリ性エッチング液によ
り選択的にエッチングする段階とを包含するエッチング
方法を提供する。
【0006】
【作用】エッチング液として荒れや変色のない平坦な鏡
面を形成することの出来るアルカリ性のエッチング液を
用い、それに対してマスクとして安定した密着性の良い
金属膜を用いることにより高品質の選択エッチングを可
能ならしめ、例えば高品質のレーザダイオードの形成に
必要なメサエッチングを可能ならしめる。
【0007】
【実施例】ダブルヘテロ構造のメサストライプ型レーザ
ダイオードの作製を例にとって本発明を説明する。但し
、本発明は、活性層埋め込み型レーザの作製等メサエッ
チングを必要とする他の種用途を含め、PbSを主成分
とする化合物半導体の表面の選択エッチングを必要とす
る分野に広く応用することが出来る。
【0008】図1を参照すると、n型PbS基板1上に
、MBE法(分子線エピタキシャル法)やLPE法(液
相エピタキシャル法)を用いて順次PbSを主成分とす
る化合物半導体エピタキシャル層が形成される。PbS
ウエハーとしては、(100) 面を主面とするものを
用いることが好ましい。n型PbS基板1上に最初n型
PbSバッファ層2を形成した後、クラッド層3、例え
ば4元のn型PbCdSSe層が形成される。その後、
レーザ発振源としてのn型PbS活性層4が形成される
。 n型PbS活性層4の上には、クラッド層、例えば4元
のp型PbCdSSe層5が形成される。n型PbS活
性層4を挟む上下のクラッド層はn型PbS活性層4よ
り屈折率が高くレーザを垂直方向に閉じ込める役目を為
す。最後に、p型PbSコンタクト層6が形成される。 これらエピタキシャル層の形成は、斯界で知られる態様
で、例えばMBE法の場合Pb、S、Cd、Se及びド
ーパントとしてのTlのビームフラックス条件を調整し
ながら各層を0.3〜2.0μm成長せしめることによ
り行なわれる。
【0009】図2を参照すると、p型PbSコンタクト
層6表面上のメサ形成のための所定領域が金属層7で覆
われる。金属層としては、PbSを主成分とする化合物
半導体層と密着性がありかつエッチング液でエッチング
されない金属であれば任意の金属が使用可能であり、例
えば、Au、Ag、Pt等の貴金属やTi、Al等及び
その合金が使用される。この金属層はエッチング用のマ
スクとP型オーミック電極を兼ねるものである。金属層
の密着性をよくするために、窒素のような不活性雰囲気
中で100〜200℃の化合物半導体層に悪影響を与え
ない比較的低温で20分から2時間熱処理することが好
ましい。
【0010】こうしてマスクされたエピタキシャル層の
金属層で覆われていない表面部分がエッチングされる。 エッチング液は、過酸化水素、Pbと錯体を形成する錯
化剤及びアルカリ水酸化物を含むアルカリ性エッチング
液である。
【0011】錯化剤としては、シュウ酸、マロン酸、コ
ハク酸等のジカルボン酸、マレイン酸のような脂肪族不
飽和ジカルボン酸、フタル酸のような芳香族ジカルボン
酸、酒石酸、クエン酸、リンゴ酸のようなオキシカルボ
ン酸、酢酸等のアルカリ金属塩が挙げられる。要するに
錯化剤は、鉛と錯体を形成することが肝要である。特に
好ましい錯化剤は、酒石酸アルカリ金属塩およびクエン
酸アルカリ金属塩である。
【0012】アルカリ水酸化物としては、リチウム、ナ
トリウム、カリウム、ルビジウムの水酸化物が使用され
る。通常的には、水酸化ナトリウムや水酸化カリウムが
用いられる。
【0013】エッチング条件は次の通りである。 〔液組成〕 過酸化水素:0.4〜3.5  mol/l(リットル
)Pbと錯体を形成する錯化剤:0.01〜0.04 
 mol/l アルカリ水酸化物:0.3〜0.9  mol/l〔温
度〕20〜80℃ 〔浸漬時間〕2〜10分 エッチングは撹拌を行ないながら実施することが推奨さ
れる。エッチング速度は300〜700nm/分である
【0014】好ましいエッチング条件としては、〔液組
成〕 20〜70 ml水:3〜8 ml過酸化水素:1.5
〜2.5g水酸化カリウム:0.5〜1.5g酒石酸カ
リウム 〔温度〕60℃±15℃ 〔浸漬時間〕3〜6分 の採用が推奨される。
【0015】こうして高さ1.5〜3μmのメサが形成
され、そのエッチング後周囲表面は鏡面である。形成さ
れたメサを図3に示す。
【0016】最後に、図4に示すように、MgF2 の
ような絶縁膜が周囲方向でのレーザ閉じ込めのためにエ
ッチングした表面に100〜300nmの厚さで堆積さ
れる。エッチング後の表面が従来と異なり荒れや変色の
ない平坦な鏡面であるために絶縁膜の密着性が良好で剥
離が生じない。こうして、高品質のレーザダイオードが
作製される。
【0017】〔実施例1〕PbS基板上にPdCdSS
eをクラッド層に用いたダブルヘテロ(DH)構造のメ
サストライプ型レーザを作製した。次の手順でエピタキ
シャル層を順次形成した: (1) n型PbS基板上にMBE法を用いて基板温度
330℃においてPbのビームフラックス6×10−7
torrそしてSのビームフラックス5×10−6to
rrの条件でn型PbSバッファ層を1.5μmの厚さ
に形成した。 (2) Pb及びSのビームフラックスはそのままの条
件とし、Cdのビームフラックス3.5×10−8to
rrそしてSeのビームフラックス6×10−7tor
rの条件で4元のn型Pb0.93Cd0.07S0.
85Se0.15クラッド層を1μmの厚さに成長せし
めた。 (3) 次に、Pb及びSのビームフラックスのみを用
いて同条件でn型PbS活性層を0.5μmの厚さに形
成した。 (4) (2) の条件に加えてドーピング用のTlの
ビームフラックスを用いて、p型PdCdSSeクラッ
ド層を1μmの厚さに成長せしめた。 (5) 上と同様に、Tlをドーピングしながらp型P
bSコンタクト層を0.5μmの厚さに成長せしめた。
【0018】次いで、コンタクト層上にAuを200n
mの厚さに蒸着してエッチング用マスクを形成した。こ
のマスクはp型オーミック電極をも兼ねるものである。 マスクの寸法は長さ300μm×幅10μmとした。そ
の後、窒素雰囲気中で200℃において1時間熱処理し
た。
【0019】メサを形成するべくエッチングを行った。 エッチング液としてKOH(2g)+酒石酸カリウムK
2C4H4O6(1g)+H2 O2 (5ml)+H
2 O(50ml)の混合液を使用して50℃の温度に
おいて4分浸漬することによりメサエッチングを行った
。エッチング速度は500nm/分であった。エッチン
グ後の表面は鏡面であった。マスクはコンタクト層に密
着し、目的とするメサ形状がエッチングできた。
【0020】最後に、エッチングした表面に絶縁膜とし
てMgF2 を200nm堆積せしめた。エッチング後
の表面性状が良好なのでMgF2絶縁膜は剥離しなかっ
た。
【0021】〔実施例2〕マスクとして、Ti/Au蒸
着膜を使用し、窒素雰囲気中で200℃×1時間熱処理
したものもエッチング液中で10分経過しても剥離しな
かった。
【0022】〔比較例〕マスクとして、通常のフォトレ
ジストはエッチング液が強アルカリ性であるため使用で
きないので、ピセイン樹脂膜、スパッタリングSiO2
 膜を使用して、エッチング液に浸漬したところ、簡単
に剥離または反応が起こり、マスクとして不適当であっ
た。
【0023】
【発明の効果】エッチング液として過酸化水素、Pbと
錯体を形成する錯化剤及びアルカリ水酸化物を含むアル
カリ性のエッチング液を用い、エッチング後に荒れや変
色のない平坦な鏡面を形成することができ、このエッチ
ング液に対してマスクとして安定した密着性の良い金属
膜を用いることにより高品質の選択エッチングを可能な
らしめ、例えば高品質のレーザダイオードの形成に必要
なメサエッチングを可能ならしめる。マスクとしての金
属膜はオーミック電極を兼用させることができ、オーミ
ック接触部の半導体層表面をメサエッチング以降のプロ
セスで汚損することがないと同時に、プロセスを簡略化
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】n型PbS基板上にダブルヘテロ構造のPbS
を主成分とする化合物半導体エピタキシャル層を形成し
た状態の断面図である。
【図2】図1の上面に金属層マスクを更に形成した断面
図である。
【図3】エッチングによりメサを形成した状態の断面図
である。
【図4】エッチングされた表面に絶縁層を堆積した状態
の断面図である。
【符号の説明】
1  n型PbS基板 2  n型PbSバッファ層 3  クラッド層(n型PbCdSSe層)4  n型
PbS活性層 5  クラッド層(p型PbCdSSe層)6  p型
PbSコンタクト層 7  金属層 8  絶縁膜

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  (a) PbSを主成分とする化合物
    半導体の表面の所定領域を金属層で覆う段階と、(b)
     該化合物半導体の金属層で覆われていない表面部分を
    過酸化水素、Pbと錯体を形成する錯化剤及びアルカリ
    水酸化物を含むアルカリ性エッチング液により選択的に
    エッチングする段階とを包含するエッチング方法。
JP11365691A 1991-04-19 1991-04-19 エッチング方法 Withdrawn JPH04320336A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11365691A JPH04320336A (ja) 1991-04-19 1991-04-19 エッチング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11365691A JPH04320336A (ja) 1991-04-19 1991-04-19 エッチング方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04320336A true JPH04320336A (ja) 1992-11-11

Family

ID=14617810

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11365691A Withdrawn JPH04320336A (ja) 1991-04-19 1991-04-19 エッチング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04320336A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4447825A (en) III-V Group compound semiconductor light-emitting element having a doped tantalum barrier layer
US4049488A (en) Method of manufacturing a semiconductor device
JPH04320336A (ja) エッチング方法
EP0535736B1 (en) Semiconductor device
CN112885938B (zh) 一种银基键合的反极性GaAs基AlGaInP红光LED芯片的制备方法
JPS5946113B2 (ja) 半導体レ−ザ素子およびその製造方法
WO2018113327A1 (zh) 发光二极管及其制作方法
JP3267480B2 (ja) 化合物半導体の製造方法及び化合物半導体のオーム性電極の形成方法
JPH06120163A (ja) 半導体装置の電極形成方法
JP2008140811A (ja) 半導体素子の製造方法
JP2000101134A (ja) 窒化物半導体素子の製造方法および窒化物半導体素子
JPS61135170A (ja) 発光ダイオ−ドの製造方法
RU2084988C1 (ru) Способ изготовления омических контактов к планарной стороне структуры с локальными областями низколегированных полупроводников группы а3в5
JPS5881973A (ja) 金−ゲルマニウム合金膜のエツチング方法
JPH03136289A (ja) ダブルヘテロ構造ダイオード及びその製法
JP2594032B2 (ja) 発光素子
JPH0766450A (ja) 発光ダイオード素子とその製造方法
JPS6214033B2 (ja)
JP2934678B2 (ja) 面発光型半導体レーザの製造方法
KR100287204B1 (ko) 선택적매몰릿지형반도체레이저다이오드및그의제조방법
JP3985978B2 (ja) 半導体レーザ素子の製造方法
JP3193864B2 (ja) 化合物半導体素子の製造方法
JPS625330B2 (ja)
JPS59114880A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2003092427A (ja) 発光ダイオード及び発光ダイオード用エピタキシャルウェハ

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980711