JPH043131B2 - - Google Patents

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JPH043131B2
JPH043131B2 JP56209225A JP20922581A JPH043131B2 JP H043131 B2 JPH043131 B2 JP H043131B2 JP 56209225 A JP56209225 A JP 56209225A JP 20922581 A JP20922581 A JP 20922581A JP H043131 B2 JPH043131 B2 JP H043131B2
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JP
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inductor
circuit
current
josephson
interferometer
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JP56209225A
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JPS58111532A (ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/92Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of superconductive devices

Landscapes

  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超電導素子、特にジヨセフソン接合を
使つたスイツチ回路に関する。
ジヨセフソン接合を使つたスイツチ回路は大別
して電流注入形と磁器結合形に分類される。磁気
結合型のスイツチ回路で特にジヨセフソン干渉計
を使つた回路は入出力分離や利得の点で電流注入
形回路よりも優れている。磁気結合形回路のうち
でも干渉計を構成するインダクタに直流電流を流
し込む形の回路はコントロール配線を必要とせず
構造も簡単である。第1図に従来技術による公知
の回路例を示す。第1図に示す回路は例えば
Hamiltonの論文(IEEE MAG Vol17 577〜
582、1981)に詳しい。第1図の回路はジヨセフ
ソン接合101,102とインダクタ103,1
04で2接合のジヨセフソン干渉計を構成してお
り、ジヨセフソン干渉計と並列に負荷抵抗106
が接続されており、電流源105よりゲート電流
Igがジヨセフソン干渉計に供給されている。コン
トロール電流Icは入力端子107よりインダクタ
103に供給される。この様な回路では回路の感
度を大きくし利得を大きくするためインダクタ1
03のインダクタンスをインダクタ104のイン
ダクタンスよりも大きくする。第2図はジヨセフ
ソン干渉計に流れうる最大の超電導電流とインダ
クタ103に流れるコントロール電流Icとの関係
でいき値特性と言われる。第1図に示す回路では
インダクタ103,104のインダクタンスが異
なるため、いき値特性は第2図に示す様に対称形
でない歪んだ形になつている。第1図に示す回路
ではコントロール電流Icが零の場合の動作点は第
2図のA点で、ジヨセフソン干渉計は超電導状態
にあり、コントロール電流Icが流れると動作点は
B点に移り、ジヨセフソン干渉計は電圧状態に移
る。しかし第1図に示す回路では第2図に示す様
にいき値特性が歪んでいるため、動作点Aにおい
て流せるゲート電流Igは、本来ジヨセフソン接合
だけに流しうる最大の超電導電流よりも少ない。
第1図に示す回路を多段接続した場合、ゲート電
流Igのうちで抵抗106に分流した電流が次段の
スイツチ回路を駆動するわけであり、ゲート電流
Igが少ないと、抵抗106に流れる電流すなわ
ち、次段のスイツチ回路に流れるコントロール電
流Icが少ないため、第2図に示す様に動作マージ
ンが非常に少ない欠点がある。
本発明の目的は第1図に示す回路の動作マージ
ンを広くし、安定に動作する回路を提供すること
にある。
本発明の要点は第1図の回路にバイアス回路を
付加して、回路の動作点を広い範囲に移動させた
ことである。
以下本発明を実施例を使つて説明する。第3図
は本発明の第1の実施例である。第3図の回路は
第1図に示す回路のインダクタ103に電流源2
01よりバイアス電流Ibを流せる構成をしてい
る。このため第3図に示す回路では第4図に示す
様に超電導状態にあるジヨセフソン干渉計に流せ
るゲート電流Igを第1図に示す回路より多くで
き、そのため回路の動作マージンを多く取ること
ができる。第5図は第3図に示す回路の実際的な
実施例である。第5図に示す回路では第3図に示
す回路の電流源105を電圧源配線250と抵抗
251で、電流源201を電圧源配線260と抵
抗261におきかえてある。第6図は第5図の回
路のインダクタ103のを2つのインダクタ10
3a,103bに分け、その中点にバイアス電流
Ibを流し込む様にした回路である。
第7図は本発明の第2の実施例である。第7図
に示す回路は第1図に示す回路のインダクタ10
3とトランス結合するインダクタ301をもう
け、そのインダクタ301に電流源300よりバ
イアス電流を流す様にしたものであり、回路の動
作点は第4図に示すものと同じである。第8図は
第7図に示す回路の実際的な実施例である。第8
図の回路では第7図の回路の電流源105を電圧
源配線250と抵抗251で、電流源300を電
圧源配線260と抵抗350でおきかえてある。
以上の説明ではジヨセフソン干渉計として2接
合の場合について説明したが、それ以外に3接合
以上のジヨセフソン干渉計を用いても本発明を実
施できる。第9図は3接合のジヨセフソン干渉計
に本発明を実施した例である。3個のジヨセフソ
ン接合501,502,503とインダクタ51
0,511で構成される3接合のジヨセフソン干
渉計が第1図に示す回路の2接合ジヨセフソン干
渉計とおきかわつている。第9図に示す回路の動
作点は第10図に示されるが、バイアス電流Ib
流すことにより動作マージンを広くすることがで
きるのは第4図の場合と同じである。第11図は
第9図に示す回路の実際的な実施例であり、第9
図の電流源105を電圧源配線250と抵抗25
1で、電流源201を電圧源配線260と抵抗2
61でおきかえてある。第12図は3接合ジヨセ
フソン干渉計に本発明を実施した他の例である。
3接合ジヨセフソン干渉計のインダクタ510,
511とトランス結合をインダクタ530,53
1をもうけ、インダクタ530,531に流れる
バイアス電流によつて第10図に示す様に動作点
を移動させる。
以上の説明では電圧源配線250と260を別
別にもうけたが、抵抗251,261を選べばこ
の2つの配線を共通にできる。
本発明によれば簡単な構造で動作マージンの広
いスイツチ回路を提供できる。そのため安定に動
作するスイツチ回路を提供でき、高信頼度の大形
デイジタルシステムを構成することも可能になる
ため本発明の効果は非常に大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のスイツチ回路を示す回路図、第
2図は第1図に示す回路の動作を説明する図、第
3図は本発明の第1の実施例を示す回路図、第4
図は第3図の回路の動作説明図、第5図、第6図
は第3図に示す回路の実際的構成例とその変形例
をそれぞれ示す回路図、第7図、第8図は本発明
の第2の実施例をそれぞれ示す回路図、第9図、
第11図は本発明の第3の実施例をそれぞれ示す
回路図、第10図は第3の実施例の動作説明図、
第12図は本発明の第4の実施例を示す回路図で
ある。 101,102……ジヨセフソン接合、10
3,104……インダクタ、105……電流源、
106……負荷抵抗、201……電流源、25
0,260……電圧源配線、251,261……
抵抗、301……インダクタ、350……抵抗、
501,502,503……ジヨセフソン接合、
510,511……インダクタ、520,521
……インダクタ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第1及び第2のジヨセフソン接合と、第1及
    び第2のインダクタとを含み、上記第1及び上記
    第2にジヨセフソン接合は、上記第1及び第2の
    インダクタを介して接続されて成るいき値特性が
    非対象のジヨセフソン干渉計と、上記第1のジヨ
    セフソン接合と上記第2のジヨセフソン接合の接
    続配線と負荷に供給電流を分流する手段と、上記
    第1のジヨセフソン接合と上記第1のインダクタ
    との接続配線にコントロール電流を流す手段と、
    上記第1のインダクタを介してバイアス電流を供
    給するバイアス手段とを設けたことを特徴とする
    超電導スイツチ回路。 2 特許請求の範囲第1項のバイアス手段は、上
    記第1のジヨセフソン接合と上記第1のインダク
    タが接続されている接続配線にバイアス電流を供
    給することを特徴とする超電導スイツチ回路。 3 特許請求の範囲第1項のバイアス手段は、上
    記第1のインダクタと磁気結合されたインダクタ
    にバイアス電流を供給することを特徴とする超電
    導スイツチ回路。
JP56209225A 1981-12-25 1981-12-25 超電導スイツチ回路 Granted JPS58111532A (ja)

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JP56209225A JPS58111532A (ja) 1981-12-25 1981-12-25 超電導スイツチ回路

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JPS58111532A JPS58111532A (ja) 1983-07-02
JPH043131B2 true JPH043131B2 (ja) 1992-01-22

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6037182A (ja) * 1983-08-09 1985-02-26 Fujitsu Ltd 超伝導回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS558829A (en) * 1978-07-03 1980-01-22 Koei Chem Co Ltd Fixed catalyst contact reactor

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