JPH04267333A - 半導体装置の異物除去装置 - Google Patents

半導体装置の異物除去装置

Info

Publication number
JPH04267333A
JPH04267333A JP2847691A JP2847691A JPH04267333A JP H04267333 A JPH04267333 A JP H04267333A JP 2847691 A JP2847691 A JP 2847691A JP 2847691 A JP2847691 A JP 2847691A JP H04267333 A JPH04267333 A JP H04267333A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
foreign matter
carrier board
section
rotation unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2847691A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2976542B2 (ja
Inventor
Toshiaki Shirouchi
俊昭 城内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3028476A priority Critical patent/JP2976542B2/ja
Publication of JPH04267333A publication Critical patent/JPH04267333A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2976542B2 publication Critical patent/JP2976542B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の異物除去装
置に関し、特に半導体素子搭載用キャビティを有するセ
ラミック及びガラス等の組立ケースを用いて製造される
半導体装置の異物除去装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体装置の異物除去装置は、大
別して、ローダー部,クリーナー部,アンローダー部と
からなる。ローダー部には、半導体装置の載置されたキ
ャリアボードが入ったキャリアボードトレーをセットし
、順次、キャリアボードをクリーナー部へと供給する。 アンローダー部には、空のキャリアボードトレーをセッ
トしておき、クリーナー部から異物除去終了後の半導体
装置の載置されたキャリアボードを排出する。
【0003】クリーナー部に関して図面を用いて説明す
る。図3はクリーナー部の概略縦断面図であり、セラミ
ックPGA形半導体装置の場合を示してある。図示しな
いキャリアボードにより供給された半導体装置1は、図
示しない旋回アームにより、上下を逆方向にしてOリン
グ19が埋設された真空吸着パッド17に吸着保持され
る。この真空吸着パッド17は、図示しない加振機の加
振可動部18に固定されており、適度な振動或いは衝撃
力を半導体装置1に与える様な構造となっていた。また
、そうした機械的外力を与えて除去された異物を吸引す
るための吸引ノズル11が、半導体装置1の下方に設け
られ、図示しない集塵機により、周辺雰囲気と共に強制
吸引を行う様な構造となっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】こうした従来の半導体
装置の異物除去装置は、半導体装置を個々に上下反転し
てピックアップし、加振部へ供給する様な構造となって
いるため、供給部の機構が複雑、かつ処理時間が大幅に
かかっていた。また、上記反転ピックアップ部において
は、半導体装置のパッケージ形態により、供給ハンド及
び機構が違ってくるため、汎用性に欠けるという問題が
あった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置の異
物除去装置は、半導体装置をキャリアボード上に載置し
たままの状態にして固定保持するリッドを備えた回転ユ
ニット部、及びそのユニット部全体を振動させる加振機
、衝撃機とを備えている。
【0006】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図1は本発明の実施例1の概略斜視図である。
【0007】最初に、半導体装置1aは、キャリアボー
ド2aに載置された状態にてキャリアボードトレー3a
に収納され、ローダー部供給エレベータ7に予めセット
される。次にキャリアボード2aは、クリーナー部の回
転ユニット4に搬送され、上面よりラバー5を伴ったリ
ッド6にて覆う様に半導体装置1cを保持する。次に回
転ユニット4は、回転軸13を軸として180°回転し
、供給された半導体装置1cのキャビティ部が下面にな
る様な位置にて停止する。また、回転ユニット4は、サ
スペンション12によって稼働可能状態にあり、ユニッ
トペース14に固定された加振機9によって、120〜
130Hz程度の振動を与えながら、間欠的に衝撃シリ
ンダー10によって20G前後の衝撃力を同時に与える
。そうした機械的外力を与えることによって、半導体装
置1cから剥離除去されたごみ、屑等の異物を強制的に
回収するための吸引ノズル11が、回転ユニット4の下
方に配置されており、キャリアボード2cの全域にわた
って左右方向へ移動しながら、図示しない集塵機によっ
てバキュームを行うのである。そうした異物除去動作を
終了すると、回転ユニット4が再び180°反転し、キ
ャリアボード2cは、アンローダー部収納エレベーター
8に予めセットされたキャリアボードトレー3bに収納
される。
【0008】また、本実施例では、マシンインデックス
の短縮を図るため、回転ユニットへのキャリアボード供
給面を上下両面に形成した。最初に、キャリアボードは
回転ユニット上面に供給され、反転後、異物除去を行う
。次に、回転ユニット上面へ新たなキャリアボードを供
給し、反転後、異物除去を行う。そして、次は、回転ユ
ニット上面の異物除去終了後のキャリアボードを収納す
ると同時に、新たなキャリアボードを供給する。こうし
た両面搬送式回転ユニットを用いることによって、回転
ユニットの反転回数を半分に減らすことができるため、
トータルマシンインデックスの短縮化が図れる。
【0009】次に実施例2につき図2を用いて説明する
。図2は実施例1にて示したクリーニング部の縦断面図
である。
【0010】本実施例では、実施例1で示した異物除去
装置のクリーナー部にエアーブロー機構を設けている。 具体的には、吸引ノズル11と、エアーブローノズル1
6とが埋設されたハウジング15を、回転ユニット4の
下方に設け、実施例1で示した様な振動及び衝撃を与え
ながら、同時に高圧クリーンエアーを半導体装置1のキ
ャビティ部に向けて、間欠的に噴射する様にした。但し
、この場合、ハウジング部15は当然、エアーブロー噴
射時は上昇し、半導体装置キャビティ部を覆う様に設定
し、それ以外の時は下方へ退避し、他の動作に支障をき
たさない構造とする。また、エアーブロー時の吸引流量
は、エアーブロー流量よりも大きくし、ハウジング内で
の異物を外側へもらすことなく、全て集塵機へ回収する
。上記の通り、エアーブローを共用させることにより、
より高い異物除去効果が得られる。
【0011】
【発明の効果】以上説明した様に本発明は、半導体装置
をキャリアボードに搭載した状態にして一括して異物除
去を行うため、半導体装置の1個当りの処理時間を短縮
することが可能であり、したがって、キャリアボードが
多連になるほど処理能力の向上が見込まれる。
【0012】また、半導体装置を個々にピックアップし
て搬送する様な形態をとらないため、搬送機構が簡略化
されると共に、汎用性に優れるといった効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1の概略斜視図である。
【図2】実施例2のクリーニング部の縦断面図である。
【図3】従来のクリーニング部の縦断面図であ。
【符号の説明】
1,1a,1b,1c    半導体装置2,2a,2
b,2c    キャリアボード3a,3b    キ
ャリアボードトレー4    回転ユニット 5    ラバー 6    リッド 7    供給エレベーター 8    収納エレベーター 9    加振機 10    衝撃シリンダー 11    吸引ノズル 12    サスペンション 13    回転軸 14    ユニットベース 15    ハウジング 16    エアーブローノズル 17    真空吸着パッド 18    加振可動部 19    Oリング

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  キャリアボード上に載置された半導体
    装置を、キャリアボードトレーより自動供給するローダ
    ー部と、前記半導体装置を保持して振動及び衝撃を加え
    ながら剥離した異物を吸引するクリーナー部と、前記半
    導体装置の載置されたキャリアボードを、キャリアボー
    ドトレーの中に自動収納するアンローダー部とを備えた
    半導体装置の異物除去装置において、前記クリーナー部
    は、1枚のキャリアボード上に載置された複数の半導体
    装置を、一度に固定保持するリッドを備えた回転ユニッ
    ト部と、この回転ユニット部全体を振動させる加振機お
    よび衝撃機とを有することを特徴とする半導体装置の異
    物除去装置。
  2. 【請求項2】  回転ユニット部の下方に、半導体装置
    に高圧エアーを吹きつけるエアーブローノズルと剥離し
    た異物を吸引除去する吸引ノズルを有するハウジングを
    設けた請求項1記載の半導体装置の異物除去装置。
JP3028476A 1991-02-22 1991-02-22 半導体装置の異物除去装置 Expired - Fee Related JP2976542B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3028476A JP2976542B2 (ja) 1991-02-22 1991-02-22 半導体装置の異物除去装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3028476A JP2976542B2 (ja) 1991-02-22 1991-02-22 半導体装置の異物除去装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04267333A true JPH04267333A (ja) 1992-09-22
JP2976542B2 JP2976542B2 (ja) 1999-11-10

Family

ID=12249701

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3028476A Expired - Fee Related JP2976542B2 (ja) 1991-02-22 1991-02-22 半導体装置の異物除去装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2976542B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019129246A (ja) * 2018-01-25 2019-08-01 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
JP2020047713A (ja) * 2018-09-18 2020-03-26 キヤノンマシナリー株式会社 異物除去装置、ダイボンダ、及び異物除去方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4711185B2 (ja) 2006-02-27 2011-06-29 株式会社デンソー 半導体装置の異物除去装置及び異物除去方法
TWI776122B (zh) * 2020-02-07 2022-09-01 由田新技股份有限公司 用於除塵程序的承載裝置、檢測裝置、輸送裝置及除塵裝置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019129246A (ja) * 2018-01-25 2019-08-01 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
JP2020047713A (ja) * 2018-09-18 2020-03-26 キヤノンマシナリー株式会社 異物除去装置、ダイボンダ、及び異物除去方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2976542B2 (ja) 1999-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6705765B2 (ja) ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法
KR100385876B1 (ko) 반도체 패키지장치 절단용 핸들러 시스템
KR100300551B1 (ko) 도전성볼을워크피스로이송하는방법
JP2007227821A (ja) 半導体装置の異物除去装置及び異物除去方法
JP2976542B2 (ja) 半導体装置の異物除去装置
JP4649059B2 (ja) ワーク搬送装置及びダイシング装置
JP6848636B2 (ja) 基板周縁部のクリーニング装置、基板周縁部のクリーニング方法及び記憶媒体
JP2002110724A (ja) 半田ボール供給装置および半田ボール供給方法
JP4561538B2 (ja) 電子部品実装装置のノズルのクリーニングテープ、電子部品実装装置のノズルのクリーニング装置及びクリーニング方法、電子部品実装装置及び電子部品実装方法
US6336843B2 (en) Electronic component chip feeder and manufacturing method of electronic devices using electronic component chips
JP5894490B2 (ja) 研削装置
JPH10114426A (ja) ウェーハ取出装置
JP6604873B2 (ja) 加工方法
JP2009188296A (ja) ウエーハの洗浄装置
JPH05206687A (ja) 電子部品実装装置
JP2814757B2 (ja) 半導体装置の異物除去装置
JP3043482B2 (ja) 電子部品装着装置
JP3099525B2 (ja) 基板のプラズマクリーニング装置
JP2000252305A (ja) チップマウント装置
KR100605313B1 (ko) 반도체 디바이스 제조용 다이 본딩 설비
JP4644385B2 (ja) ワーク供給装置及びダイシング装置
JPH11277423A (ja) ウェーハの研磨装置及びそのシステム
JP2010241592A (ja) 無振動型パーツフィーダ
JPH02209317A (ja) 搬送装置
JP2021190550A (ja) 超音波洗浄ノズルユニット、及び超音波洗浄装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990810

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees