JP3099525B2 - 基板のプラズマクリーニング装置 - Google Patents

基板のプラズマクリーニング装置

Info

Publication number
JP3099525B2
JP3099525B2 JP17399092A JP17399092A JP3099525B2 JP 3099525 B2 JP3099525 B2 JP 3099525B2 JP 17399092 A JP17399092 A JP 17399092A JP 17399092 A JP17399092 A JP 17399092A JP 3099525 B2 JP3099525 B2 JP 3099525B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
conveyor
casing
substrates
rod
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP17399092A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0621032A (ja
Inventor
勇 森迫
哲博 岩井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP17399092A priority Critical patent/JP3099525B2/ja
Publication of JPH0621032A publication Critical patent/JPH0621032A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3099525B2 publication Critical patent/JP3099525B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85009Pre-treatment of the connector or the bonding area
    • H01L2224/8501Cleaning, e.g. oxide removal step, desmearing
    • H01L2224/85013Plasma cleaning
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は基板のプラズマクリーニ
ング装置に係り、詳しくは、半導体チップが搭載される
基板をプラズマクリーニング用ケーシングに作業性よく
出し入れできる基板のプラズマクリーニング装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造工程において、基
板に搭載された半導体チップの電極と基板の電極とをワ
イヤで接続することが行われる。このようなワイヤボン
ディング工程において、チップや基板の電極に不純物が
付着していると、ワイヤを電極にしっかりボンディング
することはできない。この不純物としては、作業者が基
板を手で取り扱った場合に付着する手脂、空気中に浮遊
するガス化したオイル、電極表面に自然形成される酸化
膜、空気中の酸素やチッソなどのガス吸着膜等がある。
【0003】このため本出願人は、ワイヤボンディング
に先立ってプラズマ手段により基板をクリーニングする
装置を先に提案した(特開平3−159143号公
報)。このものは特に同公報の第1図及び第2図に示さ
れるように、コンベヤ17(符号は同公報援用、以下
同)で搬送されてきた基板20を、受け渡し手段21に
より一枚づつ載置部10に移載しながら、この載置部1
0をケーシング1内にピッチ送りして収納し、蓋部材1
1で開口部2を遮蔽した後、ケーシング1内にプラズマ
を発生させて基板20の表面をクリーニングし、クリー
ニングが終了したならば、上述と逆動作を行って基板2
0を一枚づつコンベヤ18に受け渡して次工程へ送るよ
うになっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
手段は、載置部10をケーシング1内へ前進させながら
受け渡し手段21によりコンベヤ17上の基板20を載
置部10に移載し、またプラズマクリーニングが終了し
たならば、載置部10をケーシング1から引出しながら
基板20を載置部10からコンベヤ18に移載するよう
になっていたため、基板20のケーシング1に対する出
し入れのために多大な時間を要し、作業能率があがらな
い問題点があった。
【0005】そこで本発明は、基板をケーシングに出し
入れするのに要する時間を大巾に短縮できるプラズマク
リーニング装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】このために本発明は、
電圧が印加される電極を備えたケーシングと、このケー
シングにプラズマ放電ガスを供給する放電ガス供給部
と、このケーシングの開口部を開閉するカバー体と、こ
のカバー体の開閉手段と、基板を搬送するコンベアと、
このコンベア上の複数枚の基板を前記電極上に移送する
動作とこの電極上の複数枚の基板を前記コンベア上へ移
送する動作を一動作で同時に行う基板の出し入れ手段を
設けた。
【0007】
【作用】上記構成によれば、コンベア上の複数枚の基板
電極上に移送する動作と、電極上の複数枚の基板を
ンベアに移送する動作を一動作で同時に行えるので、基
板をケーシングに出し入れするのに要する時間を大巾に
短縮できる。
【0008】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
【0009】図1は基板のプラズマクリーニング装置の
全体斜視図、図2は側面図である。図1において、1は
箱形のケーシングであって、図2に示すようにその内部
にはプレート状の載置部2が配設されている。この載置
部2はシャフト3に支持されており、このシャフト3は
高電圧を発生する電源4に接続されている。またケーシ
ング1は導電材から成り、アース線7でアースされてい
る。またケーシング1にはパイプ8を通して放電ガス供
給部30からArガスなどのプラズマ放電用ガスが供給
される。9は開閉バルブである。
【0010】載置部2及びシャフト3は導電材から成っ
ており、高電圧を印加すると、ケーシング1内でプラズ
マが発生する。すなわち載置部2は放電用電極を兼務し
ている。シャフト3はシリンダ5のロッド6に支持され
ており、ロッド6を突没させると載置部2は昇降する。
11はケーシング1に連結された排気管、12は開閉バ
ルブであり、真空ポンプ19を駆動することによりケー
シング1内のガスを排気する。
【0011】図1及び図2において、ケーシング1の上
面は開口部13となっている。14はこの開口部13を
開閉するカバー体であって、開閉手段としてのシリンダ
15のロッド16に固着子17を介して結合されてい
る。18はシリンダ15の固定ブラケットである。した
がってシリンダ15のロッド16を突没させると、カバ
ー体14は開口部13に対してY方向に前進後退し、開
口部13を開閉する。勿論カバー体は回転動作等をして
開口部13を開閉するものでもよい。
【0012】図1において、21Aは第1のコンベアで
あって、コンベア22Aにより搬送されてきた基板10
をケーシング1の前部に設けられた第2のコンベア41
(41A,41B)へ搬送するものであり、フレーム2
3に無端回動ベルト24を配設して構成されている。フ
レーム23にはシリンダ27のロッド28が結合されて
おり、ロッド28が突没すると、コンベア21Aは基板
10の搬送方向Xと直交するY方向に水平移動する。2
5はベルト24の駆動用モータである。21Bは第1の
コンベア21Aと反対側に設けられた第3のコンベアで
あって、ケーシング1内でクリーニングされた基板10
をコンベア22Bへ搬出するものである。この第3のコ
ンベア21Bの構成は第1のコンベア21Aと同じであ
り、同一構成部品には同一符号を付すことによりその説
明を省略する。
【0013】第2のコンベア41A,41Bは2個並設
されており、無端回動ベルト42とモータ43から成っ
ている。前記シリンダ27のロッド28が突出すると、
前記第1のコンベア21A及び第3のコンベア21Bは
一方のコンベア41Aと同一直線上に位置して、コンベ
ア21Aからコンベア41A、あるいはコンベア41A
からコンベア21Bへの基板10の搬送が可能となり
(図3実線参照)、またロッド28が引き込むと、コン
ベア21Aからコンベア41B及びコンベア41Bから
コンベア21Bへの基板10の搬送が可能となる(図3
鎖線参照)。
【0014】次に、図1及び図2を参照しながら、基板
10をケーシング1内に収納し、またケーシング1から
取り出す出し入れ手段を説明する。31はくし歯形のプ
レートであって、基板10を真空吸着してピックアップ
するピックアップ手段としての吸着パッド32を複数個
備えており、本実施例では4枚の基板10を同時に真空
吸着する。なお吸着パッド32の真空吸引系は図が繁雑
になるので省略する。このプレート31の中央部はモー
タ33の回転軸34に固着されており、モータ33が駆
動するとプレート31は水平回転する。
【0015】モータ33は支持板35に固着されてお
り、支持板35は垂直なシリンダ36のロッド37に結
合されている。したがってロッド37が突没すると、モ
ータ33やプレート31は上下動する。シリンダ36は
ブラケット38に固着されている。したがって前記構成
部品31〜36は、基板10の出し入れ手段を構成して
いる。
【0016】本装置は上記のような構成より成り、次に
図4及び図5を参照しながら動作を説明する。図4
(a)に示すように、第1のコンベア21Aにより第2
のコンベア41A,41B上に基板10が搬送されてく
ると、シリンダ36のロッド37が突出することによ
り、プレート31は下降して吸着パッド32によりコン
ベア41A,41B上の2枚の基板10を吸着し、次に
ロッド37が引き込むことにより、基板10はピックア
ップされる。
【0017】次に図4(b)に示すように、モータ33
が駆動してプレート31は180°θA方向に回転し、
基板10をケーシング1の直上へ移送する。またシリン
ダ5(図2参照)のロッド6が突出し、載置部2は上昇
する。そこでシリンダ36のロッド37が突出すること
により、基板10は載置部2上に着地し、そこで吸着パ
ッド32の真空吸着状態を解除する(図4(b)鎖線参
照)。このようにして基板10が載置部2に移載された
ならば、ロッド37が引き込んでプレート31は上昇位
置へ退去するとともに、シリンダ5のロッド6が引き込
んで載置部2は下降し、またシリンダ15のロッド16
が突出することにより、カバー体14は前進して開口部
13を遮蔽する(図4(c)参照)。
【0018】以上のようにして2枚の基板10は同時に
ケーシング1内に収納される。次に図2において、ポン
プ19を駆動してケーシング1内の空気を排気した後、
パイプ8を通してArガスなどのプラズマ放電用ガスが
ケーシング1内に供給される。次に電源4が駆動して載
置部2に高電圧が印加されることにより、ケーシング1
内にプラズマが発生し、Arガス分子、Arイオン、マ
イナス電子などが基板10の表面に衝突してその表面が
クリーニングされる。
【0019】クリーニングが終了したならば、パイプ1
1を通してケーシング1内のガスを排気して常圧に戻す
とともに、シリンダ15のロッド16が引き込んでカバ
ー体14は開く。次に、図5(a)に示すように、シリ
ンダ5のロッド6が突出して載置部2は上昇する。そこ
でシリンダ36のロッド37が突出して右側の2個の吸
着パッド32は載置部2上の2枚の基板10をピックア
ップする。このとき、コンベア41A,41B上には次
の基板10がすでに搬送されており、左側の2個の吸着
パッド32はコンベア41A,41B上の基板10をピ
ックアップする。次にモータ33が駆動して、プレート
31は上記の場合と逆方向θBに180°回転し(図5
(b)参照)、次にシリンダ36のロッド37が突出し
てプレート31は下降し、左側の吸着パッド32はクリ
ーニング済の2枚の基板10をコンベア41A,41B
上に移載するとともに、右側の吸着パッド32は新たな
2枚の基板10を載置部2に移載する。次いで図4
(c)に示す場合と同様にカバー体14が前進してケー
シング1の開口部13を塞ぎ、上述の動作が繰り返され
る。またコンベア41A,41B上に移載されたクリー
ニング済の基板10は第3のコンベア21Bへ搬送さ
れ、更にコンベア22Bにより次の工程へ搬出される。
【0020】このように本手段は、プレート31の18
0°の回転動作により、コンベア41A,41B上の基
板10をケーシング1上へ移送する動作と、ケーシング
1内のクリーニング済の基板10をコンベア41A,4
1B上へ移送する動作を一動作で同時に行うようにして
いるので、ケーシング1に対する基板10の出し入れに
要する時間を大巾に短縮できる。なお本実施例では、2
枚の基板10を同時に出し入れするものであるが、プレ
ート31に設けられる吸着パッド32の数を増やせば、
3枚以上の基板10を同時に出し入れすることも可能で
あり、このように吸着パッド32の数を増やすことによ
り、より多数枚の基板10を同時にケーシング1に出し
入れするようにして、出し入れに要する時間を更に短縮
することができる。また本実施例では、プレート31を
ターンテーブルとし、水平回転運動により基板10をケ
ーシング1に出し入れするようにしているが、直線運動
等により基板10を出し入れするようにしてもよく、要
は基板のケーシングに対する出し入れを一動作で同時に
できるようにすればよい。
【0021】
【発明の効果】本発明は,複数枚の基板をコンベアから
電極上へ移送する動作と、電極上からコンベアへ移送す
る動作を一動作で行うようにしているので、基板の出し
入れに要する時間を大巾に短縮し、多数枚の基板をプラ
ズマクリーニング処理するのに要する全体時間を著しく
短縮して、作業能率を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るプラズマクリーニング
装置の斜視図
【図2】本発明の一実施例に係るプラズマクリーニング
装置の側面図
【図3】本発明の一実施例に係るプラズマクリーニング
装置の基板の搬送コンベアの平面図
【図4】(a)本発明の一実施例に係るプラズマクリー
ニングの工程図 (b)本発明の一実施例に係るプラズマクリーニングの
工程図 (c)本発明の一実施例に係るプラズマクリーニングの
工程図
【図5】(a)本発明の一実施例に係るプラズマクリー
ニングの工程図 (b)本発明の一実施例に係るプラズマクリーニングの
工程図
【符号の説明】
1 ケーシング 2 載置部(電極) 10 基板 13 開口部 14 カバー体 15 開閉手段 30 放電ガス供給部 31 出し入れ手段 32 出し入れ手段(吸着パッド) 33 出し入れ手段 34 出し入れ手段 41 コンベア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304,21/302,21/68

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】高電圧が印加される電極を備えたケーシン
    グと、このケーシングにプラズマ放電ガスを供給する放
    電ガス供給部と、このケーシングの開口部を開閉するカ
    バー体と、このカバー体の開閉手段と、基板を搬送する
    コンベアと、このコンベア上の複数枚の基板を前記電極
    に移送する動作とこの電極上複数枚の基板を前記コ
    ンベア上へ移送する動作を一動作で同時に行う基板の出
    し入れ手段を設けたことを特徴とする基板のプラズマク
    リーニング装置。
JP17399092A 1992-07-01 1992-07-01 基板のプラズマクリーニング装置 Expired - Fee Related JP3099525B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17399092A JP3099525B2 (ja) 1992-07-01 1992-07-01 基板のプラズマクリーニング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17399092A JP3099525B2 (ja) 1992-07-01 1992-07-01 基板のプラズマクリーニング装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0621032A JPH0621032A (ja) 1994-01-28
JP3099525B2 true JP3099525B2 (ja) 2000-10-16

Family

ID=15970732

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17399092A Expired - Fee Related JP3099525B2 (ja) 1992-07-01 1992-07-01 基板のプラズマクリーニング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3099525B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6245189B1 (en) 1994-12-05 2001-06-12 Nordson Corporation High Throughput plasma treatment system
US6972071B1 (en) 1999-07-13 2005-12-06 Nordson Corporation High-speed symmetrical plasma treatment system
US6709522B1 (en) 2000-07-11 2004-03-23 Nordson Corporation Material handling system and methods for a multichamber plasma treatment system
US6841033B2 (en) 2001-03-21 2005-01-11 Nordson Corporation Material handling system and method for a multi-workpiece plasma treatment system
GB2417251A (en) * 2004-08-18 2006-02-22 Nanofilm Technologies Int Removing material from a substrate surface using plasma

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0621032A (ja) 1994-01-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007157996A (ja) ワーク搬送装置及びワーク搬送方法
JP3632812B2 (ja) 基板搬送移載装置
JP2002050655A (ja) チップ実装方法及びこれに用いられる基板洗浄装置
JP3162704B2 (ja) 処理装置
JP3099525B2 (ja) 基板のプラズマクリーニング装置
CN114628311B (zh) 一种晶圆传输装置及半导体设备
JP2006228808A (ja) 基板搬送装置、基板搬送方法及び半導体製造装置
JP2004119488A (ja) 真空吸着装置、基板搬送装置及び基板処理装置
JP3198401B2 (ja) ウェーハリングの供給・返送装置
KR100245572B1 (ko) 플라즈마 에칭에 사용되는 반송장치
JP3260683B2 (ja) 基板移載装置
CN110416137B (zh) 用于半导体工艺的基板传送机构及成膜系统
JP4540842B2 (ja) 表面実装機
JPH03159143A (ja) ワイヤボンディングの前工程における基板のプラズマクリーニング装置
JP3334289B2 (ja) 基板のプラズマクリーニング装置及び方法
JPH03273606A (ja) 半導体製造装置
JP2743274B2 (ja) 基板処理装置および基板搬送装置
JP2976542B2 (ja) 半導体装置の異物除去装置
JP3061339B2 (ja) 洗浄装置
JPH09132309A (ja) 基板搬送装置
JP4324512B2 (ja) 基板搬送装置および基板処理装置
JP3149503B2 (ja) 基板のプラズマクリーニング装置
JPH06275702A (ja) 基板搬送装置
JP3604871B2 (ja) 部品供給装置、部品供給方法、及び部品実装機
JP3233025B2 (ja) 電子部品実装方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees