JPH04255315A - 樹脂封止金型 - Google Patents

樹脂封止金型

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Publication number
JPH04255315A
JPH04255315A JP1622691A JP1622691A JPH04255315A JP H04255315 A JPH04255315 A JP H04255315A JP 1622691 A JP1622691 A JP 1622691A JP 1622691 A JP1622691 A JP 1622691A JP H04255315 A JPH04255315 A JP H04255315A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
mold
cavity
cavities
pot
Prior art date
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Pending
Application number
JP1622691A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Tsunoda
洋一 角田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
Priority to JP1622691A priority Critical patent/JPH04255315A/ja
Publication of JPH04255315A publication Critical patent/JPH04255315A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードフレームに搭載
される半導体素子を樹脂封止するマルチプランジャ型モ
ールド機における樹脂封止金型に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体装置のような小型部品で
は、品質上均一に外郭体を成形するのに、マルチプラン
ジャ型モールド機が用いられる。このマルチプランジャ
型モールド機は、複数の樹脂供給手段であるプランジャ
をもち、樹脂封止金型の複数キャビティ内それぞれに溶
融樹脂を供給している。
【0003】図3は従来の樹脂封止金型の一例における
下型を示す平面図である。従来、樹脂封止型金型におけ
る下型は、例えば、同図に示すように、下型の一主面に
半導体装置の外郭を形成する窪み3とこの窪み3に樹脂
が流れるゲート5をもつランナー4と、このランナー4
の一端側に接続されるとととに複数のプランジャーから
供給される溶融樹脂を溜めるポット部2とが形成されて
いる。
【0004】また、図面に示さないが、この下型と合わ
せる上型は、窪み3と対称の位置に同じ形状の窪み3と
この窪みでキャビティを形成している。この樹脂封止金
型により半導体素子を樹脂封止する場合は、まず、下型
の上に複数の半導体素子が並べて搭載されたリードフレ
ームを乗せ、次に、上型を下型に被せ、リードフレーム
を上型と下型とで挟み保持する。次に、ポット部より溶
融した樹脂をランナー4を経由して、ゲート5より窪み
3に樹脂を注入していた。次に、型開きした後に、樹脂
封止された半導体素子を搭載したリードフレームを取出
し、キャビティで形成され樹脂外郭体以外の樹脂体、す
なわち、ランナー4及びポット部2で形成される樹脂体
は前記樹脂外郭体より取去られ、廃案されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の樹脂封
止金型では、封止樹脂を注入するポット部が半導体装置
の外郭体を成形するキャビティ一つに対して一個設けら
れているので、各プランジャーに連なるポットに投入し
た封止樹脂に対して半導体装置の外郭体を形成する材料
比率が低く、廃棄する樹脂材料が多く、コスト高になる
という欠点がある。例えば、10mm×20mm×1m
m程度の寸法をもつキャビティに使用する封止樹脂量は
、樹脂比重を1.8として換算すると約0.36gとな
る。これに対し、ポットの直径を11mmとした場合、
樹脂タブレットをその直径を10mm、厚さを10mm
程度と最も小さいタブレットとしても、その樹脂量は1
.3gとなる。前記キャビティ樹脂量0.36gとこの
タブレットの樹脂量1.3gの比率を使用効率とすると
、その値はわずか28%であり、不要樹脂量が多く製品
コストが高くなる原因となっている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の樹脂封止
金型は、溶融樹脂を溜めるポット部と、半導体素子を包
合する複数のキャビティとが形成され、複数の前記半導
体素子が並べて搭載されるリードフレームを挟み、前記
ポット部よりランナを介して前記キャビティに前記溶融
樹脂を注入して前記半導体素子を樹脂封止する樹脂封止
金型において、一つの前記ポット部が等しい長さの前記
ランナを介して2つ及び4つの前記キャビティのいずれ
に前記溶融樹脂を同時に注入することを特徴としている
【0007】また、本発明の第2の樹脂封止金型は、前
記第の樹脂封止金型を構成し、さらに、前記キャビティ
が奇数個が並べて形成され、かつ、前記半導体素子が包
合されない前記キャビティと同容積のダミーキャビティ
が形成されていることを特徴としている。
【0008】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0009】図1は本発明の樹脂封止金型の一実施例に
おける下型を示す平面図である。この実施例における樹
脂封止金型の下型では、図1に示すように、奇数個の窪
み3と一個のダミー窪み3aを設け、これら窪み3及び
3aを2個ずつ連結するランナ4aを形成し、このラン
ナ4aとランナ4bを介してポット部2を連結したこと
である。勿論、上型もこれら下型の窪み3及び3aに対
応した窪みが形成され、奇数個のキャビティと一個のダ
ミーキャビティを形成する。すなわち、2つのキャビテ
ィに対し、一つの樹脂供給手段をしたことである。
【0010】次に、この樹脂封止金型の動作説明する。 まず、従来例と同様に、奇数個の半導体素子が並べて搭
載されたリードフレームを下型に搭載し、型閉めするこ
とによりこのリードフレームを上型と下型とで挟む。次
に、各プランジャのポット部に樹脂タブレットを入れ、
加熱し溶融させる。次に、プランジャより樹脂が圧送さ
れ、各ポット部2からランナ4b及び4aを介してキャ
ビティ及びダミーキャビティに注入される。次に、注入
された溶融樹脂が固形化され、型開きして、樹脂封止さ
れた外郭体を取出す。
【0011】このように、リードフレームに搭載される
半導体素子が奇数の場合は、ダミーキャビティを一個を
設け、一つのポット部から常に2つのキャビティに溶融
樹脂を供給すれば、均一に樹脂封止することができる。
【0012】ちなみに、この金型を使用して例えば、三
元寸法が10mm×20mm×1mmの樹脂封止体の成
形を試みたところ使用する樹脂量は約0.72gであり
、投入する樹脂タブレットが1.3gであった。その封
止樹脂の使用効率は58%となり、従来の封止樹脂の使
用効率の約2倍となる。
【0013】図2は本発明の樹脂封止金型他の実施例に
おける下型の平面図である。この実施例ではリードフレ
ームを2枚を同時に樹脂封止できる樹脂封止金型を示し
ている。この実施例の場合も、前述の実施例と同様に、
前記リードフレームに対応するキャビティ数が奇数個で
あるので、前記キャビティと同程度の容積を持つダミー
キャビティをリードフレーム1枚に対して1個持ち、リ
ードフレーム1枚に対する見掛けのキャビティ数を偶数
にし、かつポット部2はランナ4d及び4cを経由して
、ダミーの窪み3aでなるキャビティを含めたキャビテ
ィの4個に溶融樹脂を供給することである。この樹脂封
止金型は、ランナ4d及び4cが全てキャビティにおい
て、同じ長さであるので全てのキャビティで成形される
樹脂体は均一になる。しかしながら、もし、ここで奇数
個のキャビティ(例えば3個)に1つのポット部で供給
するとなると、ポット部からキャビティへ継がるランナ
の長さが不均一になり、樹脂体に不均一が生ずる。以上
、この実施例では奇数個の半導体素子を樹脂封止する場
合を説明したが一つのリードフレームで偶数の半導体素
子を樹脂封止する場合は、ダミーキャビティを通常のキ
ャビティとして使用すれば良い。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明は一枚のリー
ドフレームに対応するキャビティ数が奇数個の場合に、
キャビティと同程度の容積を持つダミーキャビティをリ
ードフレーム1枚に対して1個を設け、このリードフレ
ーム1枚に対する見掛けのキャビティ数を偶数にし、こ
れらキャビティの2個もしくは4個に同一のプランジャ
で樹脂を供給するために、同一ポット部よりそれぞれの
キャビティに連結されるランナを設け、ポット部を減じ
させ、廃棄する樹脂を少くすることによって、樹脂使用
率を高め、より安価な樹脂封止型半導体装置が出来る樹
脂封止金型が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の樹脂封止金型の一実施例における下型
を示す平面図である。
【図2】本発明の樹脂封止金型の他の実施例における下
型を示す平面図である。
【図3】従来の樹脂封止金型の一例における下型を示す
平面図である。
【符号の説明】
2    ポット部 3,3a    窪み 4,4a,4b,4c,4d    ランナ5    
ゲート

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  溶融樹脂を溜めるポット部と、半導体
    素子を包合する複数のキャビティとが形成され、複数の
    前記半導体素子が並べて搭載されるリードフレームを挟
    み、前記ポット部よりランナを介して前記キャビティに
    前記溶融樹脂を注入して前記半導体素子を樹脂封止する
    樹脂封止金型において、一つの前記ポット部が等しい長
    さの前記ランナを介して2つ及び4つの前記キャビティ
    のいずれかに前記溶融樹脂を同時に注入することを特徴
    とする樹脂封止金型。
  2. 【請求項2】  前記キャビティが奇数個が並べて形成
    され、かつ、前記半導体素子が包合されない前記キャビ
    ティと同容積のダミーキャビティが形成されていること
    を特徴とする請求項1記載の樹脂封止金型。
JP1622691A 1991-02-07 1991-02-07 樹脂封止金型 Pending JPH04255315A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100640556B1 (ko) * 2006-03-09 2006-11-01 주식회사 티에스피 반도체 장치
JP2009196230A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Denso Corp モールドパッケージの製造方法およびモールド用の金型

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JPS5534690A (en) * 1978-09-04 1980-03-11 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Low pressure gas phase growing apparatus
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JPS6339054U (ja) * 1986-08-30 1988-03-14

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19970722