JP2675644B2 - 半導体装置用樹脂モールド金型装置 - Google Patents

半導体装置用樹脂モールド金型装置

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/26Moulds
    • B29C45/27Sprue channels ; Runner channels or runner nozzles
    • B29C45/2701Details not specific to hot or cold runner channels
    • B29C45/2708Gates

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、樹脂封止型半導体装置の外囲器を、樹脂
成形材料によってモールド成形するのに用いられる金型
装置に関する。
(従来技術) 樹脂封止型半導体装置は、リードフレームに多数個の
半導体チップを搭載したフレームを、上型、下型の金型
装置にセットして、予熱された樹脂成形材料をポットか
らランナー、ゲートを経て外囲器キャビティ内に移送・
充填し、加圧加熱して成形される。
従来の樹脂モールド金型装置における1つのキャビテ
ィの断面構造を、第2図に示した。同図において、1は
上型、2は下型、そして3は函形の外囲器が成形される
キャビティである。一般に、ランナー(図示されない)
からキャビティに樹脂を注入する樹脂注入口(ゲート)
は、上型、下型のいずれかに、またキャビティの1カ所
あるいは2カ所に形成される。第2図の場合において、
4が下型2に設けられたゲートであり、図でみるよう
に、ゲート4の金型面は、金型合せ面Lに対して所定の
角度をなすように形成される。この角度はゲート角度と
呼ばれている。
一方、下型ゲート4に対向する上型面には、下型の合
せ面Lとともにリードフレームのタイバーを押さえる溝
5が設けられ、また溝5とキャビティ3の端部との間に
は、ダムブロック6が組み込まれている。従来の金型装
置では、このダムブロック6のゲート対向面は、金型合
せ面Lと平行な面に、つまりフラットな面に作られてい
た。
上記従来の金型装置では、樹脂モールドに際して次の
ような問題点があり、それを第3図を参照して説明す
る。
外囲器が小型、つまりキャビティ3が小容積である
と、キャビティ3の容積に対してキャビティ内に収容さ
れるフレーム7の占める容積の割合が大きくなる。この
ために、ゲート4から注入された樹脂がキャビティ全体
に充填されるとき、フレーム7とキャビティ壁の最も接
近した所では樹脂の充填が悪くなり、未充填あるいは巣
という現象が現れる。
この未充填と巣の発生を防止するためにとられた従来
の手法は、ゲート4のサイズを大きくすることであった
が、ゲートサイズを大きくすると、ゲート部分を切断す
る(ゲートブレイク)際に、ゲートの一部が製品に残っ
てその除去工程が必要になったり、ゲート残りがない場
合の製品側にはカケ、クラッムなど重大な欠損が生じた
りした。
また、ゲートには前記したとおりゲート角度が付けら
れているが、対向するダムブロック面はフラットである
ので、キャビティに入る直前のゲート断面積が狭くなっ
て、樹脂がゲート近傍の空気を巻き込んでキャビティ内
に注入され、この空気もまた未充填、巣の現象となって
製品に残る。
そのような従来金型装置における欠陥は、キャビティ
内における樹脂注入の不均一性によって促進されるが、
従来の金型装置では、太い矢印Bで示した下型キャビテ
ィへの流れが主であって、細い矢印Aで示した上型キャ
ビティへの樹脂流れが少なく、キャビティ内の樹脂の流
れが不均一であった。
(発明が解決しようとする課題) 本発明の目的は、函形の外囲器を備えた半導体装置の
樹脂封止において、キャビティ内の樹脂の流れを均一に
する樹脂モールド金型装置を提供することである。ま
た、本発明の別の目的は、未充填や巣のない樹脂封止型
半導体装置を成形する金型装置を提供することである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段と作用) 本発明の樹脂モールド金型装置は、上型あるいは下型
に設けてある樹脂注入口(ゲート)のゲート角度に平行
になるように、ゲートに対向する型のダムブロックにも
テーパを施したことを特徴とする。ゲートと対向するこ
のダムブロックにテープを施すことにより、従来、フラ
ットなダムブロック(例えば上型の)のために誘導さ
れ、主に下型キャビティに流れていた樹脂の流れが大き
く変化して、上下キャビティ内で流れが均一になる。ま
たフラットなダムブロックのため狭められたゲート口で
の樹脂注入抵抗が緩和されて、樹脂の流れはスムースと
なり、空気の巻込みがなくなる。その結果、樹脂モール
ドにおける樹脂の未充填、巣等の問題点を解決すること
ができた。
(実施例) 次に、実施例により本発明を詳細に説明する。
第1図は実施例の金型装置の要部を示す断面図であ
る。同図において、11は上型、12は下型、そして3はキ
ャビティである。
下型12には、ゲート口深さ0.2mm〜0.6mm、ゲート幅0.
4mm〜1.2mmのゲート14が設けられる。金型合せ面Lに対
してゲート角度は10゜〜15゜に傾斜させてある。このゲ
ート14に対向する上型11のダムブロック16の面は、ゲー
ト角度にほぼ平行に10゜〜15゜のテーパがつけられてい
る。
ダムブロックのテーパがゲート角度と平行になってい
るから、ゲートからキャビティに注入される樹脂は、上
型キャビティと下型キャビティに均等に流れてゆく。そ
の結果、成形圧力は上型、下型の樹脂に均等にかかり、
フレーム周りも均等に充填され、また同時にガスベント
の位置18に到達してガス排出も容易であることが確認さ
れた。
またゲート口での抵抗が緩和されて空気の巻き込みが
なくなることもあり、未充填や巣の発生が少ないことが
確認された。
[発明の効果] 本発明の金型装置によれば、ゲート角度にほぼ平行に
ダムブロックのテーパを設けたから、キャビティへの樹
脂の均等かつスムースな注入が実現されて、未充填や巣
の発生による不良が激減し、樹脂封止型半導体装置の成
形歩留りを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の金型装置を示す要部断面図、第2図は
従来の金型装置を示す要部断面図、第3図は従来金型装
置の問題点を説明する図である。 1,11……上型、2,12……下型、3……キャビティ、4,14
……樹脂注入口(ゲート)、6,16……ダムブロック、7
……フレーム、L……金型合せ面。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】樹脂封止型半導体装置の外囲器を成形する
    樹脂モールド金型装置であって、上記金型装置の樹脂注
    入口が下型若しくは上型にゲート角度をつけて施されて
    あり、この樹脂注入口と対向する型のダムブロックにゲ
    ート角度と平行にテーパをつけた構造を有することを特
    徴とする半導体装置用樹脂モールド金型装置。
JP29366489A 1989-11-10 1989-11-10 半導体装置用樹脂モールド金型装置 Expired - Fee Related JP2675644B2 (ja)

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