JPH04217249A - 陰画処理照射感応性混合物およびこれから製造した照射感応性記録材料 - Google Patents

陰画処理照射感応性混合物およびこれから製造した照射感応性記録材料

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JPH04217249A
JPH04217249A JP3056071A JP5607191A JPH04217249A JP H04217249 A JPH04217249 A JP H04217249A JP 3056071 A JP3056071 A JP 3056071A JP 5607191 A JP5607191 A JP 5607191A JP H04217249 A JPH04217249 A JP H04217249A
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    • G03F7/016Diazonium salts or compounds
    • G03F7/0163Non ionic diazonium compounds, e.g. diazosulphonates; Precursors thereof, e.g. triazenes
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/038Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、必須成分として、 a)照射により強酸を形成する化合物、b)酸により架
橋し得る少なくとも2つの反応性基を有する化合物、お
よび c)水に不溶で、アルカリ水溶液に可溶または少なくと
も膨潤し得る結合剤 を含む陰画処理(ネガ型)照射感応性混合物に関する。
【0001】本発明は、さらに、その混合物から製造し
た、フォトレジスト、電子部品または印刷版の製作また
は化学加工に適した、照射感応性記録材料に関する。
【0002】UV平版印刷では、解像限界は使用する照
射光の波長により決定される。したがって、例えばチッ
プ製造における様に、構造が益々小型化するにつれて、
ミクロン以下の領域における異なった平版印刷技術が必
要になる。例えば、波長が短いために、高エネルギーU
V光または電子線およびX線が使用されている。しかし
、平版印刷技術の変化により、照射感応性混合物の必要
条件も変化している。これらの必要条件の概要は、例え
ばC.G.ウイルソン「有機レジスト材料−理論と化学
」(マイクロ平版印刷入門、理論、材料、および加工、
著者L.F.トムプソン、C.G.ウイルソン、M.J
.ボウデン、ACS  Symp. Ser., 21
9、87(1983)、アメリカンケミカルソサエティ
ー、ワシントン)に記載されている。従って、広いスペ
クトル領域で感応性があり、そのために、従来のUV平
版印刷に、あるいは、感度の損失なく、進歩した技術、
例えば中、または深UV、電子線またはX線平版印刷に
も使用できる照射感応性混合物に対する需要が増加して
いる。
【0003】架橋剤としてビスアジドおよび結合剤とし
てイソプレン誘導体を含む陰画処理照射感応性混合物が
公知であり、過去において印刷版、プリント回路および
集積回路用のフォトレジスト製造に使用されている。し
かし、そのマイクロ平版印刷における使用は、特に様々
な技術的な欠点のために制限されている。すなわち、欠
点(ピンホール)の無い高品質層を作るのが困難であり
、その様な混合物の熱安定性が不十分で、処理の際に混
合物が熱流動するために再生画像が歪むことがあり、さ
らに、必要な有機溶剤による現像の際に、硬化した区域
においても過度に膨潤する傾向があり、構造の歪みや不
均一な現像を引き起こすことがあり、そのためにマスク
の図形を十分精確に再現できないので、その解像力は2
μm より大きな構造に限定される。
【0004】上記の理由から、波長がより短い照射、例
えば高エネルギーUV、電子線またはX線で照射して、
2μm より細かい構造を再現できる他の陰画処理照射
感応性混合物が提案されている。
【0005】その様な材料は、例えば、メタクリル酸グ
リシジルとメタクリル酸2,3−ジクロロプロピル(D
COPA)の共重合体または混合物からなる。この材料
においても、そのガラス転位温度は多くの用途にとって
不十分で、特に、プラズマエッチングに対する耐性が低
いのが欠点である。その上、この材料は、有機溶剤を含
む現像剤で処理しなければならず、環境にとって好まし
くない。上記のプラズマエッチングに対する耐性が低い
ことは、他の公知の、脂肪族系の陰画処理フォトレジス
トにも当てはまる問題である。
【0006】そのため、EP−A  0,164,24
8は、水性アルカリ条件下で現像でき、芳香族化合物を
使用しているのでプラズマエッチングに対する耐性が改
良されており、近UV光(350−450nm)に対し
て感応性である、酸硬化性混合物を提案している。この
混合物で、酸の発生に適しているとして提案されている
化合物は、特に、ジアゾナフトキノンジのスルホン酸エ
ステル誘導体であるが、これは露光により弱酸性のカル
ボン酸を形成するので、比較的高濃度で使用する必要が
ある。しかし、光分解性酸供与体の吸収が弱く、退色性
が不十分であり、深UVにおける感度が低いために、そ
の様な混合物は、この波長領域における使用および電子
線およびX線照射には不適である。
【0007】US−A  3,692,560は、酸架
橋性メラミン誘導体、ノボラックおよび光分解性の酸供
与体として塩素化ベンゾフェノンからなる酸硬化性混合
物の組合わせを記載している。これらの混合物も深UV
領域における感度が不十分である。架橋触媒として光分
解によりハロゲン化水素酸を形成することも、これらの
化合物が、それに続くドーピング工程でドーピング剤と
反応するので、なお好ましくない。その上、硬化したレ
ジスト中に残るハロゲン化水素酸は、腐食性が高く、画
像形成材料および製造装置を損なうことがある。
【0008】同じことが、EP  0,232,972
に記載され、特許請求されている酸形成剤DDTの誘導
体にも当てはまり、この物質は毒性が高く、その理由だ
けからも実用に適しているとは思われない。しかし、そ
の様な化合物により、深UV領域(200−300nm
)において著しい感度が達成されている。
【0009】その他の、光分解酸供与体の特性を有する
化合物(a)としては、特に非求核性酸、例えばHSb
F6 、HAsF6 またはHPF6 [J.V.クリ
ベロ、Polym. Eng. Sci.,23,  
953(1983)]のジアゾニウム塩、ホスホニウム
塩、スルホニウム塩およびイオドニウム塩などのオニウ
ム塩、ハロゲン化合物[EP−A  0,232,97
2、DE−A  1,572,089(=GB−A  
1,163,324)、DE−A  1,817,54
0(=US−A3,615,455)、DE−A  1
,949,010(=US−A3,686,084)、
DE−A  2,317,846(=GB−A1,38
1,471および1,381,472)およびUS−A
3,912,606]、特にトリクロロメチルトリアジ
ン誘導体[DE−A1,298,414(=GB−A 
 1,234,648)、2,243,621(=GB
−A  1,388,492)、2,306,248、
2,718,259(US−A  4,189,323
)、3,333,450(=ZA  84/7165)
および3,337,024(=US−A4,619,9
98および4,696,888)、およびUS−A3,
515,552、3,536,489および3,615
,630]、またはトリクロロメチルオキサジアゾール
誘導体[DE−A  2,851,472(=US−A
  4,212,970および4,232,106)、
2,949,396(=US−A  4,279,98
2)、3,021,590(=US−A  4,371
,607)および3,021,599(=US−A  
4,371,606)およびDE−A  3,333,
450]、o−キノンジアジド  スルホクロリドまた
は有機金属/有機ハロゲンの組合わせがこれまで推奨さ
れている。
【0010】これらの化合物は、場合により、陰画処理
並びに陽画処理照射感応性材料に推奨されている。しか
し、その様な光分解性酸供与体の使用には特定の欠点が
関与し、各種の応用分野における使用の可能性が著しく
制限される。例えば、オニウム塩の多くは毒性である。 それらの溶解性は多くの溶剤において不十分であり、レ
ジスト塗布溶剤の選択が制限される。さらに、オニウム
塩を使用すると、好ましくない異原子が導入され、特に
マイクロ平版印刷において、処理上の問題が起こる。そ
の上、オニウム塩は、光分解の際に非常に強い腐食作用
を持つブレンステッド酸を形成するので、これらのオニ
ウム塩を含む照射感応性混合物を感受性の高い基材に使
用するのは好ましくない。すでに前にのべた様に、ハロ
ゲン化合物およびキノンジアジドスルホニルクロリドも
、強い腐食作用を有するハロゲン化水素を形成する。 その上、特定の基材上では、その様な化合物の安定性は
非常に限られている。この安定性は、DE−A  3,
621,376(=US−A4,840,867)の開
示により、過去において、基材と(a)の種類の化合物
を含む照射感応性層との間に中間層を導入することによ
って改良されてはいるが、このために好ましくない欠点
が増え、処理の再現性が低下している。
【0011】F.M.ハウリアンら、SPIE  92
0,  67(1988)の研究から、陽画処理系の使
用により、上記の酸供与体に加えて、露光により移動度
の低いスルホン酸を形成するニトロベンジルトシレート
を、特定の酸に不安定なレジスト配合に使用できること
が分かっている。これらの結果から、その様な化合物を
光硬化性系にも使用できると考えられる。しかし、その
様な場合に達成される感度および感光性樹脂の熱安定性
は不十分である。
【0012】この分野における数多くの発明および改良
にも関わらず、水性アルカリ条件下で現像でき、光分解
により発生する腐食性の低い酸を使用し、深UV領域に
おける感度が高く、解像力の高い、熱安定性の照射感応
性陰画処理混合物を与えるような材料は現在、知られて
いない。
【0013】そのために、照射感応性混合物の成分とし
て、上記の欠点を持たず、そのため短い露光時間でも(
b)の種類の化合物を架橋させるだけの十分な反応性お
よび酸強度を有する、光分解的に作用する別の酸供与体
が必要とされている。そこで、本発明の目的は、酸を形
成する化合物と、酸により架橋し得る化合物との組合わ
せであって、光分解により酸を形成する化合物(a)が
公知のあらゆる基材上でできるだけ安定しており、光反
応生成物として腐食作用の無い酸を発生する、照射感応
性混合物を提案することである。
【0014】本発明により、必須成分として、a)活性
線照射により強酸を形成する化合物、b)酸により架橋
し得る少なくとも2つの反応性基を含む化合物、および c)水に不溶で、アルカリ水溶液に可溶、または少なく
とも膨潤し得る結合剤を含む照射感応性混合物を提案す
る。
【0015】本発明に係わる混合物において、照射によ
り強酸を形成する化合物(a)は下記一般式Iの化合物
であり、 ここで、R1 は、 R2 −SO2 −  または  R3 −C(O)−
の基の一つであり、R2 およびR3 は互いに独立し
て、所望により置換したアルキル、シクロアルキル、ア
リールまたはヘテロアリール基である。好ましい基は(
C1 −C16)アルキル、特に(C1 −C6 )ア
ルキル、(C5 −C12)アルキル、(C5 −C1
2)シクロアルキル、特にC6 −シクロアルキル、(
C6 −C12)アリール、およびそれぞれの場合に5
または6個の構成員を有し、異原子としてO、Sまたは
Nを含む単核または二核ヘテロアルキル基である。
【0016】従って、これらの化合物は、α,α−ビス
−スルホニルジアゾメタン(R1 =R2 −SO2 
)またはα,α−カルボニルスルホニルジアゾメタン(
R1 =R3 −C(O))からなるグループに入る。 これらの化合物の、高感度陽画処理混合物における使用
は、まだ公布されていない独国特許出願第393008
6.2および3930087.2に記載されている。
【0017】本発明により、さらに、支持体上の照射感
応性層として上記の混合物を含む、照射感応性記録材料
をも提案する。
【0018】本発明に係わる照射感応性混合物は、広い
スペクトル領域に渡って、感度が高いのが特徴である。 この混合物は、熱安定性が高く、原画の最も細かい構造
をも構造的に精確に再現することができる。露光により
、腐食性の光分解生成物は全く形成されないので、感受
性の高い基材にも使用できる。
【0019】照射感応性混合物の調製には、R2 およ
びR3が、それぞれ独立して、所望により置換したアル
キルまたはシクロアルキル基、所望により置換したアリ
ール基または所望により置換したヘテロアリール基であ
る、一般式Iの化合物を使用することができる。
【0020】一般式Iの化合物における、好適な置換し
たR2 およびR3 の例としては、メチル、エチル、
プロピル、ブチル、ペンチル、ヘキシル、シクロヘキシ
ル、ノニル、デシルまたはウンデシル基、並びにそれら
の位置異性体、ベンゼンおよびナフタレン、並びにそれ
らの、一つ以上の水素が例えばアルキル、アルコキシ、
アルコキシアルキル、アリール、アリールオキシ、アリ
ールアルコキシ、ハロゲン、シアノ、ニトロ、カルボニ
ル、カルボキシル基または類似の基で置換した誘導体が
ある。
【0021】特に好ましい置換基は、アルキル、アルコ
キシ、アルコキシアルキル、ハロゲン、特にフッ素、塩
素または臭素、および特に1〜4個の炭素原子を有する
シアノ、アルキルおよびアルコキシアルキル基である。 芳香族基が多置換している場合、可能な置換基は主とし
て(C1 −C4 )アルキルおよびハロゲン、つまり
上記の塩素および臭素である。この場合、基は特に二置
換した基Rである。しかし、基Rの置換基としてフッ素
が存在する場合、基Rの置換基として3つ以上のフッ素
が存在できるが、これは好ましくない。Rがヘテロアリ
ールである場合、Rが二核ラジカルであっても、これは
主に1個の異原子を含む。異原子としてNを選ぶ場合、
この原子は核1個当たり最高2個存在し得る。
【0022】一般式Iの好ましい化合物は、R2 また
はR3がそれぞれ独立して1〜6個の炭素原子を有する
アルキル基、または所望により置換したアリール基であ
り、基R2 またはR3 の少なくとも一つが所望によ
り置換したアリール基である化合物であるが、単核また
は二核(C6 −C12)アリール基が特に好ましい。
【0023】R2 およびR3 がそれぞれ独立して、
少なくとも一つの、所望により置換したアリール基であ
る、一般式Iの化合物が特に好ましい。好ましい化合物
の例としては、 メチルスルホニル−ベンゾイル−ジアゾメタンエチルス
ルホニル−ベンゾイル−ジアゾメタンメチルスルホニル
−4−ブロモベンゾイル−ジアゾメタン エチルスルホニル−4−ブロモベンゾイル−ジアゾメタ
ン フェニルスルホニル−ベンゾイル−ジアゾメタンフェニ
ルスルホニル−m−トルオイル−ジアゾメタンフェニル
スルホニル−p−トルオイル−ジアゾメタンフェニルス
ルホニル−3−メトキシベンゾイル−ジアゾメタン フェニルスルホニル−4−メトキシベンゾイル−ジアゾ
メタン フェニルスルホニル−3−クロロベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−4−クロロベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−2−ブロモベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−3−ブロモベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−4−ブロモベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−4−シアノベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−1−ナフトイル−ジアゾメタンフ
ェニルスルホニル−2−ナフトイル−ジアゾメタンp−
トリルスルホニル−ベンゾイル−ジアゾメタンp−トリ
ルスルホニル−m−トルオイル−ジアゾメタンp−トリ
ルスルホニル−p−トルオイル−ジアゾメタンp−トリ
ルスルホニル−3−メトキシ−ベンゾイル−ジアゾメタ
ン p−トリルスルホニル−4−メトキシ−ベンゾイル−ジ
アゾメタン p−トリルスルホニル−3−クロロ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−4−クロロ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−2−ブロモ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−3−ブロモ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−4−ブロモ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−4−シアノ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−1−ナフトイル−ジアゾメタン
p−トリルスルホニル−2−ナフトイル−ジアゾメタン
ビス−(メチルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(エ
チルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(プロピルスル
ホニル)−ジアゾメタンビス−(1−メチルプロピルス
ルホニル)−ジアゾメタン ビス−(2−メチルプロピルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(ブチルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(1
−メチルブチルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(2
−メチルブチルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(3
−メチルブチルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(ア
リルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(ヘプチルスル
ホニル)−ジアゾメタンビス−(オクチルスルホニル)
−ジアゾメタンビス−(ノニルスルホニル)−ジアゾメ
タンビス−(デシルスルホニル)−ジアゾメタンビス−
(ドデシルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(トリフ
ルオロメチルスルホニル)−ジアゾメタン ビス−(ヘキサデシルスルホニル)−ジアゾメタンビス
−(シクロヘキシルスルホニル)−ジアゾメタンビス−
(2−オキサペンチルスルホニル)−ジアゾメタン ビス−(ベンジルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(
2−クロロベンジルスルホニル)−ジアゾメタン ビス−(4−クロロベンジルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−メトキシスルホニル)−ジアゾメタンビス
−(フェニルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(2−
メチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタン ビス−(3−メチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−メチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−エチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(2,4−ジメチルフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(2,5−ジメチルフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(3,4−ジメチルフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(4−t−ブチルフェニルスルホニル)−ジアゾ
メタン ビス−(2−メトキシフェニルスルホニル)−ジアゾメ
タン ビス−(3−メトキシフェニルスルホニル)−ジアゾメ
タン ビス−(4−メトキシフェニルスルホニル)−ジアゾメ
タン ビス−(2−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(3−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(2,5−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾ
メタン ビス−(2,6−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾ
メタン ビス−(3,4−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾ
メタン ビス−(2−ブロモフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(3−ブロモフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−ブロモフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−フルオロフェニルスルホニル)−ジアゾメ
タン ビス−(2,4−ジフルオロフェニルスルホニル)−ジ
アゾメタン ビス−(ペンタフルオロフェニルスルホニル)−ジアゾ
メタン ビス−(4−ニトロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−アセトアミドフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(4−アセトオキシフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(2−ナフタレンスルホニル)−ジアゾメタンビ
ス−(フルフリルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(
イミダゾリルスルホニル)−ジアゾメタンビス−(2−
メチルイミダゾリルスルホニル)−ジアゾメタン ビス−(ベンズイミダゾール−2−スルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(ベンゾオキサゾール−2−スルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(ベンゾチアゾール−2−フェニルスルホニル)
−ジアゾメタン これらの化合物は、一方で高い光分解反応性を有し、他
方、十分な熱安定性を備えているので、特に好ましい。
【0024】上記の化合物は、220〜270nmの領
域に高い吸収極大があるので、高エネルギーUV照射に
特に適している。しかし、これらの化合物は、350〜
450nmの領域にも比較的低い吸収を有するので、同
時に近UV光線に対する露光にも適している。
【0025】上記の、R2 およびR3 が置換したア
リール基である一般式Iの化合物の中で、下記の化合物
が特に適している。 フェニルスルホニル−ベンゾイル−ジアゾメタンフェニ
ルスルホニル−p−トルオイル−ジアゾメタンフェニル
スルホニル−4−メトキシベンゾイル−ジアゾメタン フェニルスルホニル−3−クロロベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−4−クロロベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−3−ブロモベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−4−ブロモベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−4−シアノベンゾイル−ジアゾメ
タン フェニルスルホニル−1−ナフトイル−ジアゾメタンフ
ェニルスルホニル−2−ナフトイル−ジアゾメタンp−
トリルスルホニル−ベンゾイル−ジアゾメタンp−トリ
ルスルホニル−p−トルオイル−ジアゾメタンp−トリ
ルスルホニル−4−メトキシ−ベンゾイル−ジアゾメタ
ン p−トリルスルホニル−3−クロロ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−4−クロロ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−3−ブロモ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−4−ブロモ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−4−シアノ−ベンゾイル−ジア
ゾメタン p−トリルスルホニル−1−ナフトイル−ジアゾメタン
p−トリルスルホニル−2−ナフトイル−ジアゾメタン
ビス−(2−メチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(3−メチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−メチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−エチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(2,4−ジメチルフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(3,4−ジメチルフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(4−t−ブチルフェニルスルホニル)−ジアゾ
メタン ビス−(4−メトキシフェニルスルホニル)−ジアゾメ
タン ビス−(2−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(3−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−クロロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(2,5−ジクロロフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(2,6−ジクロロフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(3,4−ジクロロフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン ビス−(3−ブロモフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−ブロモフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−フルオロフェニルスルホニル)−ジアゾメ
タン ビス−(2,4−ジフルオロフェニルスルホニル)−ジ
アゾメタン ビス−(4−ニトロフェニルスルホニル)−ジアゾメタ
ン ビス−(4−アセトオキシフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン 本発明に使用する化合物の調製は、それ自体公知である
。α−カルボニル−α−スルホニル−ジアゾメタン誘導
体は、例えばW.イルガー、A.リードゲヘーゲナーお
よびM.レギッツ、Ann.,760、1(1972)
の指示により合成することができる。これらの誘導体の
調製および特性に関しては、M.レギッツおよびG.マ
ースにより、「ジアゾ化合物、特性と合成」、アカデミ
ックプレス、オルランド、1986に記載されている。
【0026】本発明により使用するα,α−ビス−スル
ホニル−ジアゾメタン誘導体の調製もそれ自体公知であ
り、例えばF.クラーゲスら、Chem. Ber.,
97, 735(1964)に記載されている。
【0027】さらに、一般式Iの化合物の陽画処理材料
、特に印刷版用の溶解防止剤としての使用は、過去に、
A.プートら、J. Photogr. Sci., 
19, 88(1971)により研究されているが、感
光性樹脂配合におけるそれらの実用性は、感光性が不十
分なために認められていない。
【0028】したがって、本発明により使用する一般式
Iの化合物が、それらの光分解の際に、適切な量の十分
に強い酸を形成し、本発明に係わる高感光性の、陰画処
理照射感応性感応性混合物を調製できることは特に驚く
べきことであった。形成される酸の程度および性質に関
する正確な見解は無いが、光分解の結果、スルホン酸お
よびスルフィン酸が生じると考えられる。
【0029】これまで使用されてきた光分解により形成
される酸、例えば塩酸と比較して、これらの酸は、その
分子量が高いために、本発明に係わる照射感応性混合物
における拡散傾向または移動度がはるかに低く、その結
果、一方で、驚くべきことに、最高度の要件を満たす画
像識別性が達成され、他方、尚驚くべきことは、同等の
感度において、照射感応性混合物のコントラスト、およ
びその結果、硬化力がさらに増加したことである。その
上、一般式Iの化合物は、高エネルギー短波照射によっ
ても活性化され、その結果、例えば高エネルギーUV2
照射(248nm)用の高感度フォトレジストを製造で
きることは驚くべきことであった。しかし、特に、従来
の光学的平版印刷領域(436nm)でも十分なスペク
トル感度が尚存在することは予期せぬことであった。
【0030】これに関して、活性線照射とは、少なくと
も短波長可視光線のエネルギーと同等のエネルギーを有
するすべての照射を意味するものとする。ここで特に好
適な照射は、190〜450nm、好ましくは200〜
400nm、特に好ましくは200〜300nmの領域
のUV照射であり、電子線およびX線照射も好適である
。  本発明で使用し、その内の幾つかは新奇である、
α−カルボニル−α−スルホニル−ジアゾメタンの調製
を、好ましいフェニルスルホニル−4−ブロモベンゾイ
ル−ジアゾメタンを例にとって説明する。
【0031】27.8重量部の4−ブロモフェナシルブ
ロミドおよび16.4重量部のベンゼンスルフィン酸ナ
トリウムを250重量部のエタノールに分散させ、この
懸濁液を還流下で5時間加熱する。この溶液を温かいう
ちに濾過する。冷却後、得られた沈殿物を吸引分離し、
エタノールから再結晶させる。25.5重量部のほとん
ど無色の結晶が得られるが、これは分析により、純粋な
フェニルスルホニル−(4−ブロモベンゾイル)−メタ
ンであることが確認される。
【0032】10重量部の上記の生成物を、4.8重量
部のトシルアジドと共に、90重量部のアセトニトリル
に溶解し、この溶液を0℃に冷却する。この混合物に、
温度が10℃未満に維持される様にして、2.5重量部
のトリエチルアミンを滴下して加える。続いて室温でこ
の混合物を8時間攪拌し、次いで溶剤を除去する。残留
物を塩化メチレンに入れ、この混合物を100重量部の
5%濃度の水酸化ナトリウム水溶液で2回抽出し、この
抽出物を洗浄して中性にし、乾燥する。溶剤を蒸発させ
た後、固体が残るので、これを酢酸エチルから再結晶化
させる。これにより、7.5重量部の、分解温度122
℃の、淡黄色結晶が得られるが、これは分析により、純
粋なフェニルスルホニル−(4−ブロモベンゾイル)−
ジアゾメタンであることが確認される。  この化合物
の分析値を以下に示す。 計算値:  C  46.02%、H  2.47% 
、N  7.67% 、S  8.76% 、Br  
21.91%実測値:  C  47.1% 、H  
2.3%、  N  7.5%、  S  8.4%、
  Br  22.7%  1H−NMR(CDCl3
 ): 7.4 〜8.2ppm (m, 9H)λm
ax  (CHCl3 )=242 nm  本発明により使用する、そのうちの幾つかは新奇である
、α,α−ビス−アリールスルホニル−ジアゾメタンの
調製を、好ましいビス−(4−t−ブチルフェニルスル
ホニル)ジアゾメタンを例にとって説明する。
【0033】37.3重量部の4−t−ブチルチオフェ
ノールを100重量部の水酸化ナトリウムに加え、この
混合物を室温で、透明な溶液になるまで攪拌する。この
チオフェノールの溶液に18.2重量部のジクロロメタ
ンを加える。この混合物を還流下で8時間加熱する。生
じたホルムアルデヒド  ビス(4−t−ブチルフェニ
ルメルカプタール)をエーテル中に採り、2x200m
lの水で洗浄する。次いで硫酸マグネシウムで除湿し、
エーテルを蒸留分離する。36重量部の無色のオイルが
残る。
【0034】このオイル20重量部を40mlの氷酢酸
に溶解し、この溶液を、90℃に予め加熱した200重
量部の氷酢酸と60重量部の過酸化水素との混合物中に
、温度が100℃未満に保たれる様な滴下率で滴下して
加える。最初の強い発熱反応が完了した後、この混合物
をさらに100℃に2時間加熱し、冷却し、水の中に注
ぎ込む。これにより、16重量部のビス(4−t−ブチ
ルフェニルスルホニル)メタンが得られる。エタノール
から再結晶化させ、融点150〜152℃の生成物が得
られる。
【0035】10重量部の上で得られた生成物を、4.
8重量部のトシルアジドと共に、90重量部のアセトニ
トリルに溶解し、0℃に冷却する。この混合物に、温度
を10℃未満に維持しながら、2.5重量部のトリエチ
ルアミンを滴下して加える。この混合物を室温で4時間
攪拌し続け、次いで混合物から溶剤を除去する。残留物
を塩化メチレンに入れ、100重量部の5%濃度の水酸
化ナトリウム水溶液で2回抽出し、抽出物を中性になる
まで洗浄し、乾燥する。溶剤を蒸発させた後、オイルが
残るが、これを塩化メチレンを溶剤としてシリカゲルを
通して濾過する。溶剤の再蒸発により、分解温度153
〜155℃の固体が得られるが、これは分析により、純
粋なビス−4−t−ブチルフェニルスルホニル−ジアゾ
メタンであることが確認される。
【0036】この化合物の分析値を以下に示す。 計算値:  C  58.04%、H  6.03% 
、N  6.45% 、S 14.75% 、実測値:
  C  57.9% 、H  6.1%、  N  
6.5%、  S 14.4%、 1H−NMR(CD
Cl3 ): 1.4 ppm(s, 18H) 7.
4 〜8.2ppm (q, 8H)λmax  (C
HCl3 )=238, 248 nm 上記の一般式Iの他の化合物も、同様の方法で調製でき
る。
【0037】本発明に係わる照射感応性混合物に含まれ
る光分解性酸供与体は、単独でも、上記の種類の他の酸
供与体と組合わせても使用できる。しかし、他の光分解
性酸供与体、例えば非求核性酸、例えばHSbF6 、
HAsF6 またはHPF6 [J.V.クリベロ、P
olym. Eng. Sci., 23,  953
(1983)]のジアゾニウム塩、ホスホニウム塩、ス
ルホニウム塩およびイオドニウム塩などのオニウム塩、
ハロゲン化合物(EP−A  0,232,972、D
E−A1,572,089、DE−A  1,817,
540、DE−A1,949,010、US−A  3
,912,606およびDE−A2,317,846)
、特にトリクロロメチルトリアジン誘導体(US−A3
,515,552、US−A  3,536,489、
US−A3,615,630、US−A  3,779
,778、DE−A2,718,259、DE−A  
3,337,024、DE−A3,333,450、D
E−A  2,306,248、DE−A2,243,
621、DE−A  1,298,414)、またはト
リクロロメチルオキサジアゾール誘導体(DE−A  
3,021,590、DE−A3,021,599、D
E−A  2,851,472、DE−A2,949,
396、DE−A  3,333,450またはEP−
A135,348)、またはo−キノンジアジドスルホ
クロリドまたは有機金属/有機ハロゲンとの組合わせも
可能である。しかし、その様な組合わせは、上記の欠点
がその様な照射感応性混合物に再び現れるので、全体と
しては好ましくない。
【0038】本発明に係わる混合物中の、一般式Iの酸
供与体の含有量は、それぞれの場合に層の総重量に対し
て、一般的に0.5〜25重量%、好ましくは1〜10
重量%である。
【0039】酸により架橋し得る材料b)として使用可
能な物質には、原則として、英国特許第2,082,3
39に記載されているレゾール、アルコキシメチル− 
またはグリシジル− 置換した芳香族化合物(EP−A
  0,212,482)またはモノマー性またはオリ
ゴマー性メラミン− または尿素− ホルムアルデヒド
縮合物(EP−A  0,133,216、DE−A3
,634,371またはDE−A3,711,264)
がある。第一の種類の例としては、特に、市販のレゾー
ル製品、ベークライトR5363、ベークライトR17
620、ベークライトR10282およびケルレズ40
−152(ベークライトおよびケルレズは商品名である
)がある。しかし、全体としては、その様なレゾール誘
導体は、深UV領域における吸収が比較的大きく、画像
再生に悪影響を与えるので、好ましくない。より好適な
架橋剤はEP−A  0,212,482から公知の、
一般式IIで表される化合物であるが、       (R4 O−CHR6 )n −A−(C
HR6 −OR5 )m              
 IIここで、Aは、−B−  または  −B−Y−
B−であり、Bは、所望により置換した単核芳香族炭化
水素、または酸素または硫黄を含む複素環式芳香族化合
物であり、Yは、単結合、(C1 −C4 )アルキレ
ンまたは(C1 −C4 )アルキレンジオキシであっ
て、その鎖は酸素原子、−O−、−S−、−SO2 −
、−CO−、    −CO2 −、−O−CO2 −
、−CONH−またはフェニレンジオキシによ    
り中断されていてもよく、R4 およびR5 は、水素
、(C1 −C6 )アルキル、C5 −またはC6 
−シクロアルキル、所望により置換した(C6 −C1
2)アリール、(C6 −C12)アラルキルまたはア
シルであり、R6 は、水素、(C1 −C4 )アル
キルまたは所望により置換したフェニルであり、nは、
1〜3の整数であり、mは、0〜3の整数で、n+mが
少なくとも2である。
【0040】したがって、使用できる代表的な化合物は
、ヒドロキシメチル、アセトキシメチルおよびメトキシ
メチルにより多置換した、芳香族および複素環式化合物
である。
【0041】他の好ましい架橋剤は、例えば少なくとも
2つの遊離N−メチロール基、またはアルキル置換した
、またはアシル置換したメチロール基を含むメラミン/
ホルムアルデヒド誘導体である。N−メトキシアルキル
誘導体が本発明に係わる照射感応性混合物に使用するの
に特に好適である。
【0042】上記の架橋剤は、下記の重合体を、高温で
、光分解により生じた酸の作用により架橋させることが
でき、上記の条件下で、カルボニウム陽イオンを形成す
ることができる。
【0043】本発明に係わる照射感応性混合物中の、酸
により架橋し得る物質b)の含有量は、それぞれの場合
、層の総重量に対して1〜50重量%、好ましくは5〜
25重量%である。
【0044】本発明に係わる照射感応性混合物は、さら
に少なくとも一つの、水には不溶であるが、アルカリ水
溶液には可溶、もしくは少なくとも膨潤し得る重合体結
合剤c)を含む。この結合剤は、本発明に係わる照射感
応性混合物の成分を容易に溶解し、できるだけ低い固有
吸収性、すなわち高い透明度を、特に190〜300n
mの波長領域で有するのが特徴である。この結合剤は、
特に、原則的に光活性成分としてナフトキノンジアジド
との組合わせで使用される、ノボラック縮合樹脂系の結
合剤は含まない。ノボラック縮合樹脂は、画像を露光下
後、未露光区域における水性アルカリ現像剤への溶解度
が低下するが、露光に必要な波長領域における、それら
の固有吸収は高すぎる。
【0045】しかし、上記のノボラック樹脂は、透明度
の高い他の樹脂との混合物として使用でき、結合剤とし
て適している。これに関して、混合比は、主としてノボ
ラック樹脂と混合する結合剤の性質により左右される。 特に、上記の波長領域における固有吸収の程度が重要な
役割を果たすが、照射感応性混合物の他の成分との混合
性も重要である。しかし、一般に、本発明に係わる照射
感応性混合物は、30重量%までの、特に20重量%ま
でのノボラック縮合樹脂を含むことができる。好適な結
合剤は、p−ヒドロキシスチレンおよびそのアルキル誘
導体、例えば3−メチルヒドロキシスチレンの単独重合
体または共重合体、並びに他のポリビニルフェノール、
例えば3−ヒドロキシスチレン、または(メタ)アクリ
ル酸とフェノール基を含む芳香族化合物とのエステルま
たはアミドの単独重合体または共重合体である。スチレ
ン、メタクリル酸メチル、アクリル酸メチル、等の重合
性化合物を共重合体中のコモノマーとして使用できる。
【0046】ケイ素を含むビニルモノマー、例えばビニ
ルトリメチルシランを使用して上記の種類の共重合体を
調製すると、プラズマ耐性を高めた混合物が得られる。 これらの結合剤の透明度は問題とする領域において一般
に高いので、画像形成を改善することができる。
【0047】マレイミドの単独重合体または共重合体を
使用しても同じ効果が得られる。これらの結合剤も上記
の波長領域で高い透明度を発揮する。スチレン、置換し
たスチレン、ビニルエーテル、ビニルエステル、ビニル
シリル化合物または(メタ)アクリル酸エステルもコモ
ノマーとして効果的に使用できる。
【0048】最後に、スチレンの共重合体を、水性アル
カリ溶液における溶解性を増加させるコモノマーと共に
使用することも可能である。これには、例えば、無水マ
レイン酸、マレイン酸半エステル、等が含まれる。
【0049】これらの結合剤は、混合可能で、照射感応
性混合物の光学的特性を損なわなければ、混合物中にあ
ってもよい。しかし、好ましいのは、上記の種類の一つ
を含む結合剤である。
【0050】結合剤の量は、一般的に、照射感応性混合
物の総重量に対して、1〜90重量%、特に5〜90重
量%、好ましくは50〜90重量%である。
【0051】さらに、適当であれば、染料、顔料、可塑
剤、湿潤剤、および流動調整剤に加えて、ポリグリコー
ル、セルロースエーテル、例えばエチルセルロースを本
発明に係わる照射感応性混合物に加えて、可撓性、密着
性および光沢などの特殊な要件を改良することができる
【0052】本発明に係わる照射感応性混合物は、好ま
しくは、溶剤、例えばエチレングリコール、グリコール
エーテル、グリコールモノメチルエーテル、グリコール
ジメチルエーテル、グリコールモノエチルエーテル、ま
たはプロピレングリコールモノアルキルエーテル、特に
プロピレングリコールメチルエーテル、脂肪族エステル
(例えば酢酸エチル、酢酸ヒドロキシエチル、酢酸アル
コキシエチル、酢酸n−ブチル、プロピレングリコール
モノアルキルエーテルアセテート、特にプロピレングリ
コールメチルエーテルアセテートまたは酢酸アミル)、
エーテル(例えばジオキサン)、ケトン(例えばメチル
エチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロペンタ
ノンおよびシクロヘキサノン)、ジメチルホルムアミド
、ジメチルアセトアミド、ヘキサメチルリン酸アミド、
N−メチルピロリドン、ブチロラクトン、テトラヒドロ
フランおよびこれらの混合物に溶解する。グリコールエ
ーテル、脂肪族エステルおよびケトンが特に好ましい。
【0053】最終的には、溶剤の選択は、使用する塗布
方法、望ましい層の厚さ、および乾燥条件によって決ま
る。また、溶剤は化学的に中性でなければならない、す
なわち溶剤は他の成分と不可逆的に反応してはならない
【0054】この照射感応性混合物の成分で調製した溶
液は、原則的に、5〜60重量%、好ましくは50重量
%までの固形分を含む。
【0055】本発明は、さらに、本質的に基材およびそ
の基材に塗布した照射感応性混合物からなる照射感応性
記録材料も特許請求する。
【0056】好適な基材としては、キャパシター、半導
体、多層プリント回路または集積回路を構成または製造
するあらゆる材料を使用できる。特に、熱的に酸化およ
び/またはアルミニウム被覆した、所望によりドーピン
グしてあってもよいケイ素材料の表面、その他、例えば
窒化ケイ素、ヒ化ガリウム、およびリン化インジウムな
どの半導体技術で一般的な基材を挙げることができる。 さらに、液晶表示装置の製造で公知の材料、例えばガラ
スおよび酸化インジウムスズ、さらに金属シートおよび
金属ホイル、例えばアルミニウム、銅または亜鉛、二重
および三重金属ホイル、あるいは金属蒸着した非導電性
シート、所望によりアルミニウム被覆したSiO2 材
料、および紙などが好適である。これらの基材は、熱的
な前処理、表面粗粒化、表面エッチング、または試薬に
よる処理を行って、望ましい特性の改良、例えば親水性
の強化を行うことができる。
【0057】特別な実施形態では、照射感応性混合物は
、レジスト内の、またはレジストと基材との間の密着性
を改良するために、密着促進剤を含むことができる。 ケイ素または二酸化ケイ素の場合、3−アミノプロピル
トリエトキシシランまたはヘキサメチルジシラザンなど
のアミノシラン型の密着促進剤がこの目的に適している
。  凸版印刷、平版印刷およびスクリーン印刷用の印
刷版などの光学機械的記録層およびレリーフ複写の製造
に使用できる担体の例としては、必要であれば陽極酸化
、粗粒化、および/またはケイ酸塩処理したアルミニウ
ム板、亜鉛板、および適当であればクロム鍍金した鋼板
、およびプラスチックシートまたは紙がある。
【0058】本発明に係わる記録材料は、画像を映す様
に露光する。活性線照射源は、ハロゲン化金属ランプ、
カーボンアークランプ、キセノンランプおよび水銀蒸気
ランプである。レーザー照射、電子線照射またはX線な
どの高エネルギー照射で露光してもよい。しかし、特に
好ましいのは、波長が190〜260nmの光を照射で
きるランプ、すなわち特にキセノンおよび/または水銀
蒸気ランプである。さらに、レーザー光源、例えばエキ
シマレーザー、特にそれぞれ249または193nmで
放射するKrFまたはArFレーザーも使用できる。照
射源は、上記の波長領域で適切な放射を行うものでなけ
ればならない。
【0059】層の厚さはその応用分野によって異なり、
0.1〜100μm 、特に1〜10μm の範囲であ
る。
【0060】本発明は、さらに照射感応性記録材料の製
造方法にも関する。照射感応性混合物は、スプレー、流
し塗り、ロール塗り、回転装置および浸し塗りにより基
材に塗布することができる。次いで、溶剤を蒸発により
除去し、照射感応性層を基材上に残す。溶剤除去は、適
当であれば、その層を150℃までの温度に加熱して促
進することができる。しかし、混合物を上記の方法によ
り、まず中間支持体に塗布し、そこから圧力および温度
をかけて最終的な支持体材料に転写することもできる。 中間支持体としては、原則的に、支持体として使用でき
るすべての材料を使用することができる。次いで、その
層に画像を映す様に照射する。続いて、その層を現像剤
溶液で処理し、材料の照射された区域を溶解つまり除去
し、照射感応性層中に画像パターンを出現させる。
【0061】現像剤としては、例えばアルカリ金属およ
び/またはアルカリ土類金属、特にアンモニウムイオン
のケイ酸塩、メタケイ酸塩、水酸化物、リン酸水素塩ま
たはリン酸二水素塩、炭酸塩または炭酸水素塩、あるい
はアンモニア等を使用する。金属イオンを含まない現像
剤は、EP−A  0,023,758、0,062,
733および0,097,282、およびUS−A4,
141,733、4,628,023および4,729
,941に記載されている。現像剤溶液中のこれらの物
質の含有量は、現像剤溶液の重量に対して、一般的に0
.1〜15重量%、好ましくは0.5〜5重量%である
。 特に、金属イオンを含まない現像剤を使用する。適当で
あれば、露光区域を現像剤に溶解し安くするために、現
像剤に少量の湿潤剤を加えることもできる。
【0062】現像したレジスト構造は、すでに驚くほど
熱に対して安定であるが、必要であれば、後硬化させる
こともできる。これは一般的に、ホットプレート上でレ
ジスト構造を流動温度未満の温度まで加熱し、次いでそ
の全面をキセノン−水銀蒸気ランプ(200〜250n
mの範囲)のUV光線で露光することにより行う。この
後硬化により、レジスト構造がさらに架橋し、一般的に
300℃までの温度に対して流動抵抗を有する様になる
。 この後処理は、高エネルギーUV光線照射により、温度
を上げずに行うこともできる。
【0063】本発明に係わる照射感応性混合物は、好ま
しくは集積回路または個別の電子装置を製造するための
、平版印刷工程に使用する。この混合物から調製した記
録材料は、その後に続く処理工程のためのマスクとして
役立つ。これらの工程には、支持体のエッチング、支持
体内へのイオン移植、あるいは支持体上への金属または
他の物質の被覆が含まれる。
【0064】下記の実施例は、本発明の一部に過ぎず、
したがって、これらの実施例に限定するものではない。
【0065】実施例1〜13により、本発明に係わる混
合物の、広範囲のエネルギー照射を使用するマイクロ平
版印刷における記録材料に対する適性を立証する。先行
技術に対する、本発明に係わる混合物の優越性は、比較
例14および15により立証する。実施例16および1
7は、この混合物の、プリント回路および平版印刷版へ
の有用性を示す。
【0066】実施例1   下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.5重
量部の、軟化点105〜120℃のクレゾール−ホルム
アルデヒド  ノボラック、2.0重量部の、クレゾー
ル−ホルムアルデヒド  レゾール(ベークライトR5
363)、および0.7重量部の、フェニルスルホニル
−4−メトキシベンゾイル−ジアゾメタンを42重量部
の、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
トに溶解する。
【0067】この溶液を、細孔径0.2μm のフィル
ターを通して濾過し、密着促進剤(ヘキサメチルジシラ
ザン)で処理したウエーハーに毎分3,000回転で回
転塗布した。ホットプレート上で、100℃で1分間乾
燥した後、1.05μm の層厚が得られた。
【0068】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、365nmで、60
 mJ/cm2 のエネルギーで露光した。このウエー
ハーを5分間室温に保ち、続いてホットプレート上で1
00℃で2分間、後加熱した。
【0069】この記録材料を、下記の組成の0.3Nア
ルカリ現像剤で現像した。5.3重量部の、メタケイ酸
ナトリウムx9H2 O、3.4重量部の、リン酸三ナ
トリウムx12H2 O、0.3重量部の、リン酸二水
素ナトリウムおよび191重量部の、完全軟水60秒間
の現像時間の後、急なレジスト縁部を有する、1μm 
未満の構造も正確に解像している、欠陥のないマスクの
画像が得られた。走査電子顕微鏡を使用したレジストプ
ロファイル縁部の検査により、これらの縁部は基材表面
に対して、事実上直角であることが分かった。
【0070】実施例2   下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.5重
量部の、平均分子量が32,000のスチレン/p−ヒ
ドロキシスチレン(20/80)の共重合体、2.0重
量部の、ヘキサメトキシメチルメラミン、および0.7
重量部の、フェニルスルホニル−トルオイル−ジアゾメ
タンを42重量部の、プロピレングリコールモノメチル
エーテルアセテートに溶解する。  この溶液を、細孔
径0.2μm のフィルターを通して濾過し、密着促進
剤(ヘキサメチルジシラザン)で処理したウエーハーに
毎分3,000回転で回転塗布した。ホットプレート上
で、100℃で1分間乾燥した後、1.12μm の層
厚が得られた。
【0071】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、260nmで、45
 mJ/cm2 のエネルギーで露光し、短時間保持し
た後、105℃で2分間、後加熱し、次いで実施例1に
記載する現像剤で処理した。
【0072】60秒間の現像時間の後、縁部の安定性が
高い、1μm 未満の構造も正確に解像している、欠陥
のないマスクの画像が得られた。
【0073】実施例3   実施例1により調製したウエーハーを原画の下で、
405nmの波長、85 mJ/cm2 のエネルギー
を有するUV光線により照射した。加熱およぞ現像後、
構造が細部まで正確に再現された、原画の陰画像が得ら
れた。
【0074】実施例4   436nmの波長を有するUV光線を使用して、実
施例3の実験を繰り返した。急な縁部を有する原画の画
像を得るには、160 mJ/cm2のエネルギーを使
用する必要があった。
【0075】実施例5 下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.5重量部
の、軟化点165〜180℃のスチレンおよびマレイミ
ドの1:1共重合体、2.0重量部の、4,4’ −ビ
スメトキシメチルジフェニルエーテル、および0.7重
量部の、フェニルスルホニル−(4−クロロベンゾイル
)−ジアゾメタンを42重量部の、プロピレングリコー
ルモノメチルエーテルアセテートに溶解する。  この
溶液を、細孔径0.2μm のフィルターを通して濾過
し、密着促進剤(ヘキサメチルジシラザン)で処理した
ウエーハーに毎分3,700回転で回転塗布した。ホッ
トプレート上で、100℃で1分間乾燥した後、0.8
8μm の層厚が得られた。
【0076】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、260nmで、95
 mJ/cm2 のエネルギーで露光した。このウエー
ハーを5分間室温に保ち、続いてホットプレート上で1
15℃で2分間後加熱し、反応を完了させた。
【0077】この記録材料を、0.02Nの水酸化テト
ラメチルアンモニウムの水溶液で現像したが、60秒以
内に露光区域が残留物を残さずに除去された。
【0078】やはり、急なレジスト縁部を有する、欠陥
のないマスクの画像が得られた。露光区域における除去
は10nm未満であり、1μm 未満の構造も正確に解
像された。
【0079】実施例6     下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.
5重量部の、軟化点165〜180℃のスチレンおよび
マレイミドの1:1共重合体、2.0重量部の、ヘキサ
−アセトキシメチルメラミン、および0.8重量部の、
2−ナフトイル−フェニルスルホニル−ジアゾメタンを
42重量部の、プロピレングリコールモノメチルエーテ
ルアセテートに溶解する。  この溶液を、細孔径0.
2μm のフィルターを通して濾過し、密着促進剤(ヘ
キサメチルジシラザン)で処理したウエーハーに毎分3
,500回転で回転塗布した。ホットプレート上で、1
00℃で1分間乾燥した後、1.00μm の層厚が得
られた。
【0080】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、260nmで、85
 mJ/cm2 のエネルギーで露光し、上記の実施例
に記載する様にして加熱した。
【0081】この記録材料を、0.02Nの水酸化テト
ラメチルアンモニウムの水溶液で現像したが、60秒以
内に露光区域が残留物を残さずに除去され、正確な原画
の画像が得られた。画像の縁部の鮮明度は優れていた。
【0082】実施例7   下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.5重
量部の、軟化点105〜120℃のクレゾール−ホルム
アルデヒド  ノボラック、2.0重量部の、クレゾー
ル−ホルムアルデヒド  レゾール(ベークライトR5
363)、および0.7重量部の、ビス(4−クロロフ
ェニルスルホニル)−ジアゾメタンを42重量部の、プ
ロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートに溶
解する。  この溶液を、細孔径0.2μm のフィル
ターを通して濾過し、密着促進剤(ヘキサメチルジシラ
ザン)で処理したウエーハーに毎分3,000回転で回
転塗布した。ホットプレート上で、100℃で1分間乾
燥した後、1.04μm の層厚が得られた。
【0083】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、365nmで、55
 mJ/cm2 のエネルギーで露光し、続いて5分間
室温に保ち、続いて130℃で90秒間加熱した。
【0084】この記録材料を、実施例1の現像剤で現像
した。
【0085】60秒間の現像時間の後、急な、事実上垂
直なレジスト縁部を有する、欠陥の無い画像が得られた
が、0.6μm 未満の構造も正確に解像された。
【0086】実施例8   下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.5重
量部の、平均分子量が32,000のスチレン/p−ヒ
ドロキシスチレン(20/80)の共重合体、2.0重
量部の、ヘキサメトキシメチルメラミン、および0.7
重量部の、ビス−(4−ブロモフェニルスルホニル)−
ジアゾメタンを42重量部の、プロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテートに溶解する。  この溶液
を、細孔径0.2μm のフィルターを通して濾過し、
密着促進剤(ヘキサメチルジシラザン)で処理したウエ
ーハーに毎分3,200回転で回転塗布した。ホットプ
レート上で、100℃で1分間乾燥した後、1.3μm
 の層厚が得られた。
【0087】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、260nmで、75
 mJ/cm2 のエネルギーで露光し、保持し、上記
の実施例と同様に加熱し、次いで実施例1に記載する現
像剤で処理した。
【0088】60秒間の現像時間の後、縁部の安定性が
高い、0.6μm 未満の構造も正確に解像している、
欠陥のないマスクの陰画像が得られた。
【0089】実施例9   実施例8に準じて制作したウエーハーを、原画の下
で、KrFエキシマレーザーから発する248nmのU
V光線で、50 mJ/cm2 のエネルギーで露光し
た。次いで、このウエーハーを室温で15分間保持し、
ホットプレート上で140℃で約45秒間加熱した。現
像後、ミクロン単位以下の範囲の構造まで正確に再現し
た、原画の正確な陰画像が、実施例8と同様の方法で得
られた。
【0090】実施例10   波長436nmのUV光線を使用して、実施例7の
実験を繰り返した。縁部の鋭い原画の陰画像を得るには
、145 mJ/cm2 のエネルギーで露光する必要
があった。
【0091】実施例11     下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.
5重量部の、軟化点165〜180℃のスチレンおよび
マレイミドの1:1共重合体、2.0重量部の、ヘキサ
−アセトキシメチルメラミン、および0.7重量部の、
ビス−(4−t−ブチルフェニルスルホニル)−ジアゾ
メタンを42重量部の、プロピレングリコールモノメチ
ルエーテルアセテートに溶解する。  この溶液を、細
孔径0.2μm のフィルターを通して濾過し、密着促
進剤(ヘキサメチルジシラザン)で処理したウエーハー
に毎分3,300回転で回転塗布した。ホットプレート
上で、100℃で1分間乾燥した後、1.1μm の層
厚が得られた。
【0092】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、260nmで、76
 mJ/cm2 のエネルギーで露光し、室温に5分間
保持し、次いで120℃で2分間加熱した。
【0093】この記録材料を、0.02Nの水酸化テト
ラメチルアンモニウムの水溶液で現像したが、60秒以
内に露光区域が残留物を残さずに除去されたが露光区域
は事実上除去されなかった。
【0094】十分に急な縁部を有するマスクの、欠点の
ない陰画像が再び得られた。ルドルフ製の層厚測定装置
を使用した測定により、露光区域の層は8nm未満しか
除去されていなかった。0.55μm 未満の構造も正
確に解像されていた。
【0095】実施例12 下記の組成を有する塗布溶液を調製した。7.5重量部
の、軟化点165〜180℃のスチレンおよびマレイミ
ドの1:1共重合体、2.0重量部の、4,4’ −ビ
ス−メトキシメチルジフェニル  スルホンおよび0.
8重量部の、ビス−(4−t−ブチルフェニルスルホニ
ル)−ジアゾメタンを42重量部の、プロピレングリコ
ールモノメチルエーテルアセテートに溶解する。
【0096】この溶液を、細孔径0.2μm のフィル
ターを通して濾過し、密着促進剤(ヘキサメチルジシラ
ザン)で処理したウエーハーに毎分3,500回転で回
転塗布した。ホットプレート上で、100℃で1分間乾
燥した後、1.06μm の層厚が得られた。
【0097】この記録材料を、原画の下で、キセノン−
水銀蒸気ランプのUV照射により、260nmで、92
 mJ/cm2 のエネルギーで露光し、実施例1に準
じて後加熱した。  この記録材料を、0.02Nの水
酸化テトラメチルアンモニウムの水溶液で現像したが、
60秒以内に露光区域が残留物を残さずに除去され、原
画の正確な画像が再び得られた。画像縁部の急傾斜度は
88°であった。
【0098】実施例13   実施例11から得た記録材料をシンクロトロン照射
(ベシー、ベルリン、754Mev)で、金−ケイ素マ
スクで150 mJ/cm2 の照射量で照射した。こ
の実験配置はA.ホイベルガー、Microelect
r. Eng.,3、535(1985)に記載されて
いる。この材料を室温で約10分間保持し、次いで11
0℃で2分間加熱した。実施例11に記載する現像剤を
使用し、現像時間70秒間で現像後、0.4μm 未満
の構造まで欠陥の無い、マスクの画像が得られた。レジ
ストの縁部は、平らな基材表面に対して事実上垂直であ
った。
【0099】実施例14および15(比較例)  実施
例11のレジスト配合を変えて、そこに使用する酸形成
化合物を同量のトリフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロリン酸塩(実施例14)または2−ニトロベンジルト
シレート(実施例15)で置き換えた。波長260nm
、それぞれエネルギー95および115 mJ/cm2
 の照射で露光し、並びにその実施例に記載する加熱を
行い、実施例11に記載する組成の現像剤で現像した後
、得られた構造が示す画像の識別性は、実際の作業には
適していなかった。
【0100】オニウム塩(実施例14)を使用した場合
、非露光区域にも被覆の残留物が見られた、すなわち、
非露光区域で基材にレジスト残留物が付着したのに対し
、トシルエステルを使用した場合(実施例15)は、下
を切り取ったレジストプロファイルが見られ、これは、
露光を強化しても、再生精度を犠牲にしないと除去でき
なかった。
【0101】実施例16   オフセット印刷版を制作するために、機械的に粗粒
化し、前処理したアルミニウムホイルに下記の組成の塗
布溶液を回転塗布した。7.5重量部の、軟化点105
〜120℃のクレゾール−ホルムアルデヒド  ノボラ
ック、2.3重量部の、クレゾール/ホルムアルデヒド
  レゾール(ベークライトR5363)、0.5重量
部の、ビス−(4−クロロフェニルスルホニル)−ジア
ゾメタン、および0.5重量部の、クリスタルバイオレ
ットベースを90重量部の、プロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテートに溶解する。
【0102】この層を乾燥した後(層重量約2.5 g
/m2 )、陰画試験原画の下で30秒間露光を行い、
次いで下記の組成の現像剤で現像した。0.5重量部の
、水酸化ナトリウム、0.8重量部の、メタケイ酸ナト
リウムx9H2 Oおよび1.0重量部の、2−n−ブ
トキシエタノールを、97.7重量部の、完全軟水に溶
解する。
【0103】現像により、正確な原画の、反転画像が得
られた。水洗後、1%濃度のリン酸で全体を拭い、この
板を印刷に使用できる様にした。印刷機に取り付けた後
、175,000部の原画の完璧な印刷物が得られた。
【0104】実施例17   下記の組成物を調製して、腐食液および電気鍍金陰
画ドライレジストの溶液を作製した。12.5重量部の
、実施例16に記載するノボラック、10.0重量部の
、ヘキサメトキシメチルメラミン0.5重量部の、ビス
−(4−メチルフェニルスルホニル)−ジアゾメタン、
および0.1重量部の、クリスタルバイオレットベース
を30重量部の、ブタノンに溶解する。
【0105】この目的に標準品として使用されている、
25μm 厚のポリエチレンテレフタレートフィルムに
この溶液を塗布し、乾燥層の厚さを18μm にした。 このドライレジストフィルムの表面に、さらにポリエチ
レンテレフタレートフィルムを重ねた。カバーフィルム
を剥離した後、圧力および熱をかけて、このドライフィ
ルムを黄銅シート上に張り合わせた。冷却し、支持体フ
ィルムを剥離した後、このシートを原画を通して露光し
たが、この間に良好な画像コントラストが見える様にな
った。この材料を10分間保持し、次いで、95℃で4
分間加熱した。露光区域を実施例16に記載する組成物
の現像剤でスプレー現像した。次いで、このシートを市
販の塩化鉄溶液で、滑らかな縁部が食刻されるまでエッ
チング処理した。得られた形状部品は、分離する前に、
さらに処理することができる。

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】必須成分として、 a)照射により酸を形成する化合物、 b)酸により架橋し得る少なくとも2つの反応性基を有
    する化合物、および c)水に不溶で、アルカリ水溶液に可溶または少なくと
    も膨潤し得る結合剤、 を含む陰画処理照射感応性混合物であって、前記化合物
    (a)が下記一般式Iの化合物であり、ここで、R1 
    は、 R2 −SO2 −  または  R3 −C(O)−
    の基であり、R2 およびR3 は互いに独立して、所
    望により置換したアルキル、シクロアルキル、アリール
    またはヘテロアリール基であることを特徴とする陰画処
    理照射感応性混合物。
  2. 【請求項2】式Iの化合物のR2 およびR3 が、所
    望により置換したアルキルまたはシクロアルキル基、所
    望により置換したアリール基またはヘテロアリール基で
    あることを特徴とする、請求項1に記載する陰画処理照
    射感応性混合物。
  3. 【請求項3】式Iの化合物のR2 およびR3 の少な
    くとも一つが、1〜6個の炭素原子を有する、所望によ
    り置換したアルキル基または所望により置換したアリー
    ル基であることを特徴とする、請求項1または2のいず
    れかに記載する陰画処理照射感応性混合物。
  4. 【請求項4】式Iの化合物のR2 およびR3 の少な
    くとも一つが、置換したアリール基であることを特徴と
    する、請求項1〜3のいずれか1項に記載する陰画処理
    照射感応性混合物。
  5. 【請求項5】芳香族基R2 およびR3 の置換基を、
    アルキル、アルコキシ、アルコキシアルキルおよびシア
    ノ基およびハロゲン原子からなるグループから選択する
    ことを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載
    する陰画処理照射感応性混合物。
  6. 【請求項6】式Iの酸形成化合物の濃度が0.5〜25
    重量%であることを特徴とする、請求項1〜5のいずれ
    か1項に記載する陰画処理照射感応性混合物。
  7. 【請求項7】結合剤が、入射する照射の波長領域におい
    て、0.5μm −1未満の吸光率を有することを特徴
    とする、請求項1〜6のいずれか1項に記載する陰画処
    理照射感応性混合物。
  8. 【請求項8】結合剤として、30重量%までの、特に2
    0重量%までのノボラック縮合樹脂を含むことを特徴と
    する、請求項1〜7のいずれか1項に記載する陰画処理
    照射感応性混合物。
  9. 【請求項9】結合剤がフェノール性水酸基を含むことを
    特徴とする、請求項7および8のいずれか1項に記載す
    る陰画処理照射感応性混合物。
  10. 【請求項10】結合剤が、照射感応性混合物中に、60
    〜96重量%、特に70〜94重量%の濃度で含まれる
    ことを特徴とする、請求項7〜9のいずれか1項に記載
    する陰画処理照射感応性混合物。
  11. 【請求項11】結合剤が、240nmを超える波長で、
    〈0.3μm −1の吸光率を有することを特徴とする
    、請求項7〜10のいずれか1項に記載する陰画処理照
    射感応性混合物。
  12. 【請求項12】架橋可能な化合物がレゾールであること
    を特徴とする、請求項1〜11のいずれか1項に記載す
    る陰画処理照射感応性混合物。
  13. 【請求項13】架橋可能な化合物が、アルコキシメチル
    − またはグリシジル− 置換した芳香族化合物である
    ことを特徴とする、請求項1〜12のいずれか1項に記
    載する陰画処理照射感応性混合物。
  14. 【請求項14】架橋可能な化合物が、メラミン/  ま
    たは尿素/ホルムアルデヒド縮合物であることを特徴と
    する、請求項1〜13のいずれか1項に記載する陰画処
    理照射感応性混合物。
  15. 【請求項15】式Iの化合物が、248nmで、すべて
    のレジスト成分の中で最も高いモル吸光率を有すること
    を特徴とする、請求項1に記載する陰画処理照射感応性
    混合物。
  16. 【請求項16】本質的に担体および照射感応性層からな
    る記録材料であって、その層が、照射により硬化し得る
    、請求項1〜15のいずれか1項に記載する混合物から
    なることを特徴とする、陰画処理照射感応性記録材料。
  17. 【請求項17】請求項1〜16のいずれか1項に記載す
    る陰画処理照射感応性混合物を基材に塗布すること、お
    よび溶剤を蒸発により除去することからなる、照射感応
    性記録材料の製造方法。
  18. 【請求項18】記録材料を画像を映す様に露光し、加熱
    し、次いで現像し、その材料の非露光区域を溶解または
    除去することを特徴とする、請求項17に記載する方法
  19. 【請求項19】照射として、190〜450nmの波長
    のUV光線を使用することを特徴とする、請求項17に
    記載する方法。
  20. 【請求項20】照射として、200〜400nmの波長
    のUV光線を使用することを特徴とする、請求項17〜
    19のいずれか1項に記載する方法。
  21. 【請求項21】現像した層を後硬化させることを特徴と
    する、請求項17〜20のいずれか1項に記載する方法
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