JPH04196578A - 半導体素子収納用パッケージ - Google Patents
半導体素子収納用パッケージInfo
- Publication number
- JPH04196578A JPH04196578A JP33282590A JP33282590A JPH04196578A JP H04196578 A JPH04196578 A JP H04196578A JP 33282590 A JP33282590 A JP 33282590A JP 33282590 A JP33282590 A JP 33282590A JP H04196578 A JPH04196578 A JP H04196578A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor element
- external lead
- insulating base
- glass member
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 87
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 54
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 27
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 13
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 7
- 230000002411 adverse Effects 0.000 abstract description 5
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 abstract description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052810 boron oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N diboron trioxide Chemical compound O=BOB=O JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 4
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000464 lead oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N oxolead Chemical compound [Pb]=O YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 239000005394 sealing glass Substances 0.000 description 2
- 208000032368 Device malfunction Diseases 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 229910017709 Ni Co Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003267 Ni-Co Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003262 Ni‐Co Inorganic materials 0.000 description 1
- 244000089486 Phragmites australis subsp australis Species 0.000 description 1
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- IHWJXGQYRBHUIF-UHFFFAOYSA-N [Ag].[Pt] Chemical compound [Ag].[Pt] IHWJXGQYRBHUIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N palladium silver Chemical compound [Pd].[Ag] SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体素子を収容するための半導体素子収納用
パッケージの改良に関するものである。
パッケージの改良に関するものである。
(従来技術及びその課題)
従来、半導体素子を収容するためのパッケージ、特にガ
ラスの溶着によって封止するガラス封止型の半導体素子
収納用パッケージは、アルミナセラミックス等の電気絶
縁材料から成り、中央部に半導体素子を収容する空所を
形成するための凹部を有し、上面に封止用のガラス層か
被着された絶縁基体と、同じく電気絶縁材料から成り、
中央部に半導体素子を収容する空所を形成するための凹
部を有し、下面に封止用のガラス層か被着された蓋体と
、内部に収容する半導体素子を外部の電気回路に電気的
に接続するための外部リード端子とにより構成されてお
り、絶縁基体の上面に外部リード端子を載置させるとと
もに予め被着させておいた封止用のガラス層を溶融させ
ることによって外部リード端子を絶縁基体に仮止めし、
次に前記絶縁基体の凹部に半導体素子を取着するととも
に該半導体素子の各電極(信号電極、電源電極、接地電
極等)をポンディングワイヤを介して外部り一ト端子に
接続し、しかる後、絶縁基体と蓋体とをその相対向する
主面に被着させておいた封止用のガラス層を溶融一体化
させ、絶縁基体と蓋体とから成る容器を気密に封止する
ことによって最終製品としての半導体装置となる。
ラスの溶着によって封止するガラス封止型の半導体素子
収納用パッケージは、アルミナセラミックス等の電気絶
縁材料から成り、中央部に半導体素子を収容する空所を
形成するための凹部を有し、上面に封止用のガラス層か
被着された絶縁基体と、同じく電気絶縁材料から成り、
中央部に半導体素子を収容する空所を形成するための凹
部を有し、下面に封止用のガラス層か被着された蓋体と
、内部に収容する半導体素子を外部の電気回路に電気的
に接続するための外部リード端子とにより構成されてお
り、絶縁基体の上面に外部リード端子を載置させるとと
もに予め被着させておいた封止用のガラス層を溶融させ
ることによって外部リード端子を絶縁基体に仮止めし、
次に前記絶縁基体の凹部に半導体素子を取着するととも
に該半導体素子の各電極(信号電極、電源電極、接地電
極等)をポンディングワイヤを介して外部り一ト端子に
接続し、しかる後、絶縁基体と蓋体とをその相対向する
主面に被着させておいた封止用のガラス層を溶融一体化
させ、絶縁基体と蓋体とから成る容器を気密に封止する
ことによって最終製品としての半導体装置となる。
尚、かかる従来の半導体素子収納用パッケージは内部に
収容する半導体素子か供給電源電圧の変動の影響を受け
ないようにするために通常、容量素子が付加されており
、該半導体素子収納用パッケージへの容量素子の付加は
一般に容器を構成する絶縁基体内部に多層電極を配し、
多層電極間に絶縁基体材料を誘電体として一定の静電容
量を形成したり、絶縁基体の半導体素子を収容する凹部
底面にチタン酸バリウム磁器からなる容量素子を取着し
たりすることによって行われている。
収容する半導体素子か供給電源電圧の変動の影響を受け
ないようにするために通常、容量素子が付加されており
、該半導体素子収納用パッケージへの容量素子の付加は
一般に容器を構成する絶縁基体内部に多層電極を配し、
多層電極間に絶縁基体材料を誘電体として一定の静電容
量を形成したり、絶縁基体の半導体素子を収容する凹部
底面にチタン酸バリウム磁器からなる容量素子を取着し
たりすることによって行われている。
しかしながら、この従来の半導体素子収納用パッケージ
においては容量素子の付加が容器を構成する絶縁基体の
内部に多層電極を配することによって行われている場合
、絶縁基体は一般にアルミナセラミックスから成り、該
アルミナセラミックスは誘電率が低い(誘電率9〜10
)ことがら多層電極間に形成される静電容量も極めて小
さいものとなり、その結果、半導体素子の電源電圧変動
に起因する誤動作を完全に防止することかできないとい
う欠点を有していた。
においては容量素子の付加が容器を構成する絶縁基体の
内部に多層電極を配することによって行われている場合
、絶縁基体は一般にアルミナセラミックスから成り、該
アルミナセラミックスは誘電率が低い(誘電率9〜10
)ことがら多層電極間に形成される静電容量も極めて小
さいものとなり、その結果、半導体素子の電源電圧変動
に起因する誤動作を完全に防止することかできないとい
う欠点を有していた。
尚、この欠点を解消するために多層電極の層数や電極対
向面積を増大させ、多層電極間に形成される静電容量を
大きくすることも考えられるか、電極の層数や面積を増
大させるとパッケージ自体の形状か大きく成り、内部に
半導体素子を収容し、半導体装置とすると該半導体装置
が極めて大型のものとなる欠点を誘発する。
向面積を増大させ、多層電極間に形成される静電容量を
大きくすることも考えられるか、電極の層数や面積を増
大させるとパッケージ自体の形状か大きく成り、内部に
半導体素子を収容し、半導体装置とすると該半導体装置
が極めて大型のものとなる欠点を誘発する。
また絶縁基体の半導体素子を収容する凹部内にチタン酸
バリウム磁器から成る容量素子を取着することによって
半導体素子収納用パッケージに容量素子を付加した場合
、絶縁基体の半導体素子を収容する凹部がチタン酸バリ
ウム磁器から成る容量素子を取着するために大きくなり
、その結果、上述と同様、製品としての半導体装置が大
型化してしまうという欠点を有する。
バリウム磁器から成る容量素子を取着することによって
半導体素子収納用パッケージに容量素子を付加した場合
、絶縁基体の半導体素子を収容する凹部がチタン酸バリ
ウム磁器から成る容量素子を取着するために大きくなり
、その結果、上述と同様、製品としての半導体装置が大
型化してしまうという欠点を有する。
更に前記絶縁基体の外観形状をそのままとし、半導体素
子を収容する凹部のみの形状を容量素子か取着し得る程
度に大きくすることも考えられるか凹部の形状のみを大
きくすると絶縁基体と蓋体とを接合させ容器の内部を気
密封止する際、絶縁基体と蓋体との接合面積か狭くなっ
て容器の気密封止の信頼性か大きく低下するという欠点
を誘発してしまう。
子を収容する凹部のみの形状を容量素子か取着し得る程
度に大きくすることも考えられるか凹部の形状のみを大
きくすると絶縁基体と蓋体とを接合させ容器の内部を気
密封止する際、絶縁基体と蓋体との接合面積か狭くなっ
て容器の気密封止の信頼性か大きく低下するという欠点
を誘発してしまう。
そこで上記欠点を解消するために絶縁基体上面にメタラ
イズ金属層を被着させておき、該メタライズ金属層上に
高誘電率のガラス部材を介して外部リード端子を固定し
、メタライズ金属層と外部リード端子との間に容量素子
を形成することによって半導体素子収納用パッケージに
容量素子を付加することが考えられる。
イズ金属層を被着させておき、該メタライズ金属層上に
高誘電率のガラス部材を介して外部リード端子を固定し
、メタライズ金属層と外部リード端子との間に容量素子
を形成することによって半導体素子収納用パッケージに
容量素子を付加することが考えられる。
しかしながら、メタライズ金属層と外部リード端子との
間に形成される容量素子はその静電容量値を半導体素子
に供給電源電圧変動の影響を与えないような大きな値と
するのにガラス部材の誘電率を大きくしなければならず
、ガラス部材の誘電率を大きくすると次の欠点が誘発さ
れる。
間に形成される容量素子はその静電容量値を半導体素子
に供給電源電圧変動の影響を与えないような大きな値と
するのにガラス部材の誘電率を大きくしなければならず
、ガラス部材の誘電率を大きくすると次の欠点が誘発さ
れる。
即ち、隣接する外部リード端子の各々を伝わる電気信号
はその間に介在するガラス部材の誘電率か大きいと互い
に大きく影響し合って各電気信号にノイズを発生させて
しまい、そのノイズか電気信号とともに内部に収容する
半導体素子に伝播され、半導体素子に誤動作を起こさせ
てしまうという欠点が誘発される。
はその間に介在するガラス部材の誘電率か大きいと互い
に大きく影響し合って各電気信号にノイズを発生させて
しまい、そのノイズか電気信号とともに内部に収容する
半導体素子に伝播され、半導体素子に誤動作を起こさせ
てしまうという欠点が誘発される。
(発明の目的)
本発明は上記欠点に鑑み案出されたもので、その目的は
内部に高速駆動を行う半導体素子の収容を可能とし、且
つ収容する半導体素子を長期間にわたり誤動作すること
なく安定に作動させることができる小型の半導体素子収
納用パッケージを提供することにある。
内部に高速駆動を行う半導体素子の収容を可能とし、且
つ収容する半導体素子を長期間にわたり誤動作すること
なく安定に作動させることができる小型の半導体素子収
納用パッケージを提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は半導体素子を収容するための凹部を有する絶縁
基体と蓋体とから成る半導体素子収納用パッケージにお
いて、前記絶縁基体はその上面にメタライズ金属層を有
するとともに該メタライズ金属層上に半導体素子の電源
電極及び接地電極と接続される外部リード端子か誘電率
17.0以上のガラス部材を介して、また信号電極と接
続される外部リード端子か誘電率14.0以下のガラス
部材を介して各々固定されており、且つ前記半導体素子
の電源電極もしくは接地電極と接続される外部IJ−ド
端子か前記メタライズ金属層と電気的に接続しているこ
とを特徴とするものである。
基体と蓋体とから成る半導体素子収納用パッケージにお
いて、前記絶縁基体はその上面にメタライズ金属層を有
するとともに該メタライズ金属層上に半導体素子の電源
電極及び接地電極と接続される外部リード端子か誘電率
17.0以上のガラス部材を介して、また信号電極と接
続される外部リード端子か誘電率14.0以下のガラス
部材を介して各々固定されており、且つ前記半導体素子
の電源電極もしくは接地電極と接続される外部IJ−ド
端子か前記メタライズ金属層と電気的に接続しているこ
とを特徴とするものである。
(実施例)
次に本発明を添付図面に示す実施例に基づき詳細に説明
する。
する。
第1図及び第2図は本発明の半導体素子収納用パッケー
ジの一実施例を示す断面図であり、1はアルミナセラミ
ックス等の電気絶縁材料より成る絶縁基体、2は同じく
電気絶縁材料より成る蓋体である。この絶縁基体1と蓋
体2とにより半導体素子3を収容するための容器が構成
される。
ジの一実施例を示す断面図であり、1はアルミナセラミ
ックス等の電気絶縁材料より成る絶縁基体、2は同じく
電気絶縁材料より成る蓋体である。この絶縁基体1と蓋
体2とにより半導体素子3を収容するための容器が構成
される。
前記絶縁基体1及び蓋体2にはそれぞれの中央部に半導
体素子3を収容する空所を形成するための凹部が設けて
あり、絶縁基体1の凹部1a底面には半導体素子3か接
着材を介し取着固定される。
体素子3を収容する空所を形成するための凹部が設けて
あり、絶縁基体1の凹部1a底面には半導体素子3か接
着材を介し取着固定される。
前記絶縁基体l及び蓋体2は従来周知のプレス成形法を
採用することよって形成され、例えば絶縁基体l及び蓋
体2かアルミナセラミックスから成る場合には第1図及
び第2図に示すような絶縁基体1または蓋体2に対応し
た形状を有するプレス型内にアルミナセラミックスの粉
末を充填させるとともに一定圧力を印加して成形し、し
かる後、成形品を約1500℃の温度で焼成することに
よって製作される。
採用することよって形成され、例えば絶縁基体l及び蓋
体2かアルミナセラミックスから成る場合には第1図及
び第2図に示すような絶縁基体1または蓋体2に対応し
た形状を有するプレス型内にアルミナセラミックスの粉
末を充填させるとともに一定圧力を印加して成形し、し
かる後、成形品を約1500℃の温度で焼成することに
よって製作される。
また前記絶縁基体1はその上面にメタライズ金属層4か
被着されており、該メタライズ金属層4上には半導体素
子3の電源電極及び接地電極と接続される外部リード端
子5a、 5bか第1のガラス部材6を介し、また半導
体素子3の信号電極と接続される外部リード端子5cが
第2のガラス部材7を介して各々固定されている。
被着されており、該メタライズ金属層4上には半導体素
子3の電源電極及び接地電極と接続される外部リード端
子5a、 5bか第1のガラス部材6を介し、また半導
体素子3の信号電極と接続される外部リード端子5cが
第2のガラス部材7を介して各々固定されている。
前記絶縁基体1の上面に被着されるメタライズ金属層4
は金(Au)、銀−白金(Ag−Pt)、銀−パラジウ
ム(Ag−Pd)等の金属材料から成り、金粉末等に適
当な有機溶剤、溶媒を添加混合して得た金属ペーストを
絶縁基体lの上面に従来周知のスクリーン印刷法を採用
することによって印刷塗布し、しかる後、これを約45
0 ’Cの温度で焼成し、金粉末等を絶縁基体1の上面
に焼き付けることによって被着される。
は金(Au)、銀−白金(Ag−Pt)、銀−パラジウ
ム(Ag−Pd)等の金属材料から成り、金粉末等に適
当な有機溶剤、溶媒を添加混合して得た金属ペーストを
絶縁基体lの上面に従来周知のスクリーン印刷法を採用
することによって印刷塗布し、しかる後、これを約45
0 ’Cの温度で焼成し、金粉末等を絶縁基体1の上面
に焼き付けることによって被着される。
前記メタライズ金属層4は後述する半導体素子3に供給
される電源電圧の変動を平滑化して半導体素子3の誤動
作を有効に防止する容量素子Aの一方の電極として作用
し、該メタライズ金属層4には半導体素子3の電源電極
、或いは接地電極が電気的に接続される。
される電源電圧の変動を平滑化して半導体素子3の誤動
作を有効に防止する容量素子Aの一方の電極として作用
し、該メタライズ金属層4には半導体素子3の電源電極
、或いは接地電極が電気的に接続される。
また前記絶縁基体l上に固定される外部リード端子5a
、5b、5Cは内部に収容する半導体素子3の電源電極
、接地電極及び信号電極を外部電気回路に接続する作用
を為し、外部リード端子5a、5bには半導体素子3の
電源電極及び接地電極がボンディングワイヤ8aを介し
て接続されるとともに両端子5a、5bのうちいずれか
一方は絶縁基体1に被着させたメタライズ金属層4にボ
ンディングワイヤ8bを介して接続され、また外部リー
ド端子5cには半導体素子3の信号電極かボンディング
ワイヤ8cを介して接続される。
、5b、5Cは内部に収容する半導体素子3の電源電極
、接地電極及び信号電極を外部電気回路に接続する作用
を為し、外部リード端子5a、5bには半導体素子3の
電源電極及び接地電極がボンディングワイヤ8aを介し
て接続されるとともに両端子5a、5bのうちいずれか
一方は絶縁基体1に被着させたメタライズ金属層4にボ
ンディングワイヤ8bを介して接続され、また外部リー
ド端子5cには半導体素子3の信号電極かボンディング
ワイヤ8cを介して接続される。
前記外部リード端子5a、5b、5c例えば、コバール
金属(Fe−Ni−Co合金)や42Alloy(Fe
−Ni合金)等の金属から成り、該コバール金属等のイ
ンゴット(塊)を従来周知の圧延加工法及び打ち抜き加
工法を採用することによって所定の板状に形成される。
金属(Fe−Ni−Co合金)や42Alloy(Fe
−Ni合金)等の金属から成り、該コバール金属等のイ
ンゴット(塊)を従来周知の圧延加工法及び打ち抜き加
工法を採用することによって所定の板状に形成される。
尚、前記外部リード端子5a、5b、5cはその外表面
にニッケル、金等から成る良導電性で、且つ耐蝕性に優
れた金属をメツキにより2.0乃至20.0μmの厚み
に層着させておくと外部リード端子5a。
にニッケル、金等から成る良導電性で、且つ耐蝕性に優
れた金属をメツキにより2.0乃至20.0μmの厚み
に層着させておくと外部リード端子5a。
5b、5Cの酸化腐食を有効に防止するとともに外部リ
ード端子5a、5b、5cと外部電気回路との電気的接
続を良好となすことができる。そのため外部リートi子
5a、 5b、5cはその外表面にニッケル、金等をメ
ツキにより2.0乃至20.0μm厚みに層着させてお
くことか好ましい。
ード端子5a、5b、5cと外部電気回路との電気的接
続を良好となすことができる。そのため外部リートi子
5a、 5b、5cはその外表面にニッケル、金等をメ
ツキにより2.0乃至20.0μm厚みに層着させてお
くことか好ましい。
前記絶縁基体1の上面に外部リード端子5a、5bを固
定する第1のガラス部材6は誘電率が17.O(室温I
MHz)以上のガラス材料から成り、該第1のガラス部
材6は外部リード端子5a、5bを絶縁基体lの上面に
固定するとともに両端子5a、5bとメタライズ金属層
4との間に第1のガラス部材6を誘電体材料とした容量
素子Aを形成する作用を為す。
定する第1のガラス部材6は誘電率が17.O(室温I
MHz)以上のガラス材料から成り、該第1のガラス部
材6は外部リード端子5a、5bを絶縁基体lの上面に
固定するとともに両端子5a、5bとメタライズ金属層
4との間に第1のガラス部材6を誘電体材料とした容量
素子Aを形成する作用を為す。
この容量素子Aは半導体素子3の電源電極と接地電極と
の間に接続され、半導体素子3に供給電源電圧の変動に
起因した悪影響か及はさないように作用する。
の間に接続され、半導体素子3に供給電源電圧の変動に
起因した悪影響か及はさないように作用する。
前記容量素子Aは第1ガラス部材6の誘電率か17.0
以上と高いことから外部リード端子5a、5bとメタラ
イズ金属層4との間に形成される容量素子Aの静電容量
値を大きな値と成すことができ、その結果、容量素子A
によって供給電源電圧の変動に起因する半導体素子3へ
の悪影響を有効に防止することが可能となり、内部に収
容する半導体素子3を誤動作させることなく安定に作動
させる二とかてきる。
以上と高いことから外部リード端子5a、5bとメタラ
イズ金属層4との間に形成される容量素子Aの静電容量
値を大きな値と成すことができ、その結果、容量素子A
によって供給電源電圧の変動に起因する半導体素子3へ
の悪影響を有効に防止することが可能となり、内部に収
容する半導体素子3を誤動作させることなく安定に作動
させる二とかてきる。
尚、前記半導体素子3の電源電極と接地電極との間に接
続される容量素子Aは絶縁基体1の上面に半導体素子3
の電源電極及び接地電極か接続される外部リード端子5
a、5bを誘電率が17.0以上の第1のガラス部材6
で固定するだけで形成される二とから絶縁基体lの半導
体素子3を取着する凹部1aの大きさを容量素子Aを取
着するために特別大きくする必要は一切ない。そのため
後述する絶縁基体1と蓋体2とを接合させ容器を気密封
止することによって半導体装置となす際、絶縁基体1と
蓋体2とは外観形状を大きくすることなく両者の接合面
積を広くなすことができ、その結果、容器の気密封止の
信頼性を高いものとして、且つ半導体装置の形状も小型
となすことができる。
続される容量素子Aは絶縁基体1の上面に半導体素子3
の電源電極及び接地電極か接続される外部リード端子5
a、5bを誘電率が17.0以上の第1のガラス部材6
で固定するだけで形成される二とから絶縁基体lの半導
体素子3を取着する凹部1aの大きさを容量素子Aを取
着するために特別大きくする必要は一切ない。そのため
後述する絶縁基体1と蓋体2とを接合させ容器を気密封
止することによって半導体装置となす際、絶縁基体1と
蓋体2とは外観形状を大きくすることなく両者の接合面
積を広くなすことができ、その結果、容器の気密封止の
信頼性を高いものとして、且つ半導体装置の形状も小型
となすことができる。
前記第1のガラス部材6は例えば、酸化鉛60.0乃至
90.0重量%、酸化ホウ素5.0乃至15.0重量%
に、フィラーとしてペロブスカイト型のチタン酸塩を5
.0乃至50.0重量%含有させたガラスから成り、該
各ガラス原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混合し
て得たガラスペーストを絶縁基体lの上面に従来周知の
スクリーン印刷法により印刷塗布し、しかる後、これを
高温で焼き付けることによって絶縁基体1の上面に被着
される。
90.0重量%、酸化ホウ素5.0乃至15.0重量%
に、フィラーとしてペロブスカイト型のチタン酸塩を5
.0乃至50.0重量%含有させたガラスから成り、該
各ガラス原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混合し
て得たガラスペーストを絶縁基体lの上面に従来周知の
スクリーン印刷法により印刷塗布し、しかる後、これを
高温で焼き付けることによって絶縁基体1の上面に被着
される。
尚、前記第1のガラス部材6はその誘電率か17.0未
満であると半導体素子3の電源電極及び接地電極か接続
される外部リード端子5a、5b間に大きな静電容量値
の容量素子Aを形成することかできず、その結果、容量
素子Aによって供給電源電圧の変動に起因する半導体素
子への悪影響を有効に防止することかてきなくなる。従
って、前記第1ガラス部材6はその誘電率か17.0以
上に特定される。
満であると半導体素子3の電源電極及び接地電極か接続
される外部リード端子5a、5b間に大きな静電容量値
の容量素子Aを形成することかできず、その結果、容量
素子Aによって供給電源電圧の変動に起因する半導体素
子への悪影響を有効に防止することかてきなくなる。従
って、前記第1ガラス部材6はその誘電率か17.0以
上に特定される。
また前記第2のガラス部材7は半導体素子3の信号電極
か接続される外部リード端子5Cを絶縁基体l上面に固
定する作用を為し、誘電率か14.0(室温IMHz)
以下のガラス材料、具体的には酸化ケイ素50.0乃至
80.0重量%、酸化ホウ素10.0乃至30.0重量
%、酸化アルミニウム10.0重量%以下、ナトリウム
、カリウムの酸化物5.0重量%以下を含むガラスから
成る。
か接続される外部リード端子5Cを絶縁基体l上面に固
定する作用を為し、誘電率か14.0(室温IMHz)
以下のガラス材料、具体的には酸化ケイ素50.0乃至
80.0重量%、酸化ホウ素10.0乃至30.0重量
%、酸化アルミニウム10.0重量%以下、ナトリウム
、カリウムの酸化物5.0重量%以下を含むガラスから
成る。
前記第2のガラス部材7はその誘電率か14.0以下と
低いことから該ガラス部材7で固定される外部リード端
子5Cの信号伝播速度を極めて速いものとなすことかで
き、その結果、パッケージ内部に信号の伝播速度か速い
高速駆動を行う半導体素子を収容することも可能となる
。
低いことから該ガラス部材7で固定される外部リード端
子5Cの信号伝播速度を極めて速いものとなすことかで
き、その結果、パッケージ内部に信号の伝播速度か速い
高速駆動を行う半導体素子を収容することも可能となる
。
尚、前記第2のガラス部材7は酸化ケイ素、酸化ホウ素
、酸化アルミニウム等のガラス原料粉末に適当な有機溶
剤、溶媒を添加混合して得たガラスペーストを絶縁基体
1の上面に従来周知のスクリーン印刷法により印刷塗布
し、しかる後、これを高温で焼き付けることによって絶
縁基体1の上面に被着される。
、酸化アルミニウム等のガラス原料粉末に適当な有機溶
剤、溶媒を添加混合して得たガラスペーストを絶縁基体
1の上面に従来周知のスクリーン印刷法により印刷塗布
し、しかる後、これを高温で焼き付けることによって絶
縁基体1の上面に被着される。
前記外部リード端子5a、5b、 5cか固定された絶
縁基体1はまたその上面に蓋体2かガラス材5dを介し
て接合され、これによって絶縁基体1と蓋体2とから成
る容器内部に半導体素子3か気密に封止される。
縁基体1はまたその上面に蓋体2かガラス材5dを介し
て接合され、これによって絶縁基体1と蓋体2とから成
る容器内部に半導体素子3か気密に封止される。
前記蓋体2を絶縁基体1に接合させるガラス部材5dは
低融点のガラス材料から成り、該ガラス部材5dは予め
蓋体2の下面に被着されている。
低融点のガラス材料から成り、該ガラス部材5dは予め
蓋体2の下面に被着されている。
尚、前記ガラス部材5dは酸化鉛50.0乃至80.0
重量%、酸化ホウ素5.0乃至15.0重量%、酸化亜
鉛15.0重量%以下、酸化ケイ素1O10重量%以下
、酸化アルミニウム1O80重量%以下を含むガラスか
ら成り、該各ガラス原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を
添加混合して得たガラスペーストを蓋体2の下面に従来
周知のスクリーン印刷法により印刷塗布するとともにこ
れを約400°Cの温度て焼成することによって蓋体2
下面に被着される。
重量%、酸化ホウ素5.0乃至15.0重量%、酸化亜
鉛15.0重量%以下、酸化ケイ素1O10重量%以下
、酸化アルミニウム1O80重量%以下を含むガラスか
ら成り、該各ガラス原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を
添加混合して得たガラスペーストを蓋体2の下面に従来
周知のスクリーン印刷法により印刷塗布するとともにこ
れを約400°Cの温度て焼成することによって蓋体2
下面に被着される。
かくしてこの半導体素子収納用パッケージによれば絶縁
基体1の凹部1a底面に半導体素子3を取着するととも
に該半導体素子3の電源電極及び接地電極をボンディン
グワイヤ8aを介して外部リード端子5a、5bに、半
導体素子3の信号電極をボンディングワイヤ8cを介し
て外部リード端子5cに各々接続させるとともに半導体
素子3の電源電極、接地電極か接続される外部リード端
子5a、5bのうち一方をボンディングワイヤ8bを介
して絶縁基体1の上面に被着させたメタライズ金属層4
に接続させ、しかる後、絶縁基体1と蓋体2とを蓋体2
の下面に予め被着させておいたガラス部材5dを加熱溶
融し、両者を接合させることによって内部に半導体素子
3を気密封止し、これによって最終製品としての半導体
装置か完成する。
基体1の凹部1a底面に半導体素子3を取着するととも
に該半導体素子3の電源電極及び接地電極をボンディン
グワイヤ8aを介して外部リード端子5a、5bに、半
導体素子3の信号電極をボンディングワイヤ8cを介し
て外部リード端子5cに各々接続させるとともに半導体
素子3の電源電極、接地電極か接続される外部リード端
子5a、5bのうち一方をボンディングワイヤ8bを介
して絶縁基体1の上面に被着させたメタライズ金属層4
に接続させ、しかる後、絶縁基体1と蓋体2とを蓋体2
の下面に予め被着させておいたガラス部材5dを加熱溶
融し、両者を接合させることによって内部に半導体素子
3を気密封止し、これによって最終製品としての半導体
装置か完成する。
(発明の効果)
以上の通り、本発明の半導体素子収納用パッケージによ
れば、絶縁基体の上面にメタライズ金属層を被着し、更
にその上面に半導体素子の電源電極及び接地電極と接続
される外部リード端子を誘電率が17.0以上のガラス
部材を介して、また信号電極と接続される外部リード端
子を誘電率か14.0以下のガラス部材を介して各々固
定するとともに半導体素子の電源電極もしくは接地電極
と接続される外部リード端子を前記メタライズ金属層に
電気的に接続させたことから半導体素子の電源電極もし
くは接地電極のの間に大きな静電容量を有した容量素子
を接続することかでき、その結果、前記容量素子によっ
て供給電源電圧の変動に起因する半導体素子への悪影響
を有効に防止し、半導体素子を長期間にわたり正常、且
つ安定に作動させことが可能となる。
れば、絶縁基体の上面にメタライズ金属層を被着し、更
にその上面に半導体素子の電源電極及び接地電極と接続
される外部リード端子を誘電率が17.0以上のガラス
部材を介して、また信号電極と接続される外部リード端
子を誘電率か14.0以下のガラス部材を介して各々固
定するとともに半導体素子の電源電極もしくは接地電極
と接続される外部リード端子を前記メタライズ金属層に
電気的に接続させたことから半導体素子の電源電極もし
くは接地電極のの間に大きな静電容量を有した容量素子
を接続することかでき、その結果、前記容量素子によっ
て供給電源電圧の変動に起因する半導体素子への悪影響
を有効に防止し、半導体素子を長期間にわたり正常、且
つ安定に作動させことが可能となる。
また前記容量素子はメタライズ金属層を被着させた絶縁
基体の上面に半導体素子の電源電極及び接地電極か接続
される外部リード端子を誘電率か17.0以上のガラス
部材を介して固定することによって形成されることから
絶縁基体の半導体素子を取着する凹部の大きさを容量素
子を取着するために特別大きくする必要は一切ない。そ
のため絶縁基体と蓋体とを接合させ容器を気密封止する
ことによって半導体装置となす際、絶縁基体と蓋体とは
その外観形状を大きくすることなく両者の接合面積を広
くなすことができ、その結果、容器の気密封止の信頼性
を高いものとして、且つ半導体装置も小型となすことが
できる。
基体の上面に半導体素子の電源電極及び接地電極か接続
される外部リード端子を誘電率か17.0以上のガラス
部材を介して固定することによって形成されることから
絶縁基体の半導体素子を取着する凹部の大きさを容量素
子を取着するために特別大きくする必要は一切ない。そ
のため絶縁基体と蓋体とを接合させ容器を気密封止する
ことによって半導体装置となす際、絶縁基体と蓋体とは
その外観形状を大きくすることなく両者の接合面積を広
くなすことができ、その結果、容器の気密封止の信頼性
を高いものとして、且つ半導体装置も小型となすことが
できる。
更に半導体素子の信号電極が接続される外部リード端子
は誘電率が14.0以下と低いガラス部材を介して固定
したことから隣接する外部リード端子の各々を伝播する
電気信号は互いに大きく影響し合って電気信号にノイズ
を発生することはなく、該ノイズによって内部に収容す
る半導体素子に誤動作を起こさせることもない。
は誘電率が14.0以下と低いガラス部材を介して固定
したことから隣接する外部リード端子の各々を伝播する
電気信号は互いに大きく影響し合って電気信号にノイズ
を発生することはなく、該ノイズによって内部に収容す
る半導体素子に誤動作を起こさせることもない。
第1図は本発明の半導体素子収納用パッケージの一実施
例を示す断面図、第2図は第1図に示すパッケージの絶
縁基体の平面図である。 l・・・絶縁基体 2・・・蓋体 4・・・メタライズ金属層
例を示す断面図、第2図は第1図に示すパッケージの絶
縁基体の平面図である。 l・・・絶縁基体 2・・・蓋体 4・・・メタライズ金属層
Claims (1)
- 半導体素子を収容するための凹部を有する絶縁基体と
蓋体とから成る半導体素子収納用パッケージにおいて、
前記絶縁基体はその上面にメタライズ金属層を有すると
ともに該メタライズ金属層上に半導体素子の電源電極及
び接地電極と接続される外部リード端子が誘電率17.
0以上のガラス部材を介して、また信号電極と接続され
る外部リード端子が誘電率14.0以下のガラス部材を
介して各々固定されており、且つ前記半導体素子の電源
電極もしくは接地電極と接続される外部リード端子が前
記メタライズ金属層と電気的に接続していることを特徴
とする半導体素子収納用パッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33282590A JP2838590B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 半導体素子収納用パッケージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33282590A JP2838590B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 半導体素子収納用パッケージ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04196578A true JPH04196578A (ja) | 1992-07-16 |
JP2838590B2 JP2838590B2 (ja) | 1998-12-16 |
Family
ID=18259225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33282590A Expired - Fee Related JP2838590B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 半導体素子収納用パッケージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2838590B2 (ja) |
-
1990
- 1990-11-28 JP JP33282590A patent/JP2838590B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2838590B2 (ja) | 1998-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH04196578A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2808043B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH04196566A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2849875B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH0321048A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH04199852A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH04199851A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2838589B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2750237B2 (ja) | 電子部品収納用パッケージ | |
JPH03250659A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2685083B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージの製造方法 | |
JP2514094Y2 (ja) | 半導体素子収納用パッケ―ジ | |
JP2740604B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2908932B2 (ja) | 電子部品収納用パッケージ | |
JP2736451B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2555178Y2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2515659Y2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2750256B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2552554Y2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2750255B2 (ja) | 電子部品収納用パッケージ | |
JP2548964Y2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH05144968A (ja) | 半導体素子収納用パツケージ | |
JP3292609B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH065723A (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2577088Y2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071016 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081016 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091016 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101016 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |