JPH04186600A - Icメモリ試験装置 - Google Patents
Icメモリ試験装置Info
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- JPH04186600A JPH04186600A JP2314044A JP31404490A JPH04186600A JP H04186600 A JPH04186600 A JP H04186600A JP 2314044 A JP2314044 A JP 2314044A JP 31404490 A JP31404490 A JP 31404490A JP H04186600 A JPH04186600 A JP H04186600A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 12
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- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 22
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
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- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は冗長予備線を持ったICメモリ試験装置におけ
る不良セル救済処理に関する。
る不良セル救済処理に関する。
一般に大容量メモリは、その歩留りを向上させるために
冗長予備線を持っており、不良アドレスがあった場合、
その冗長予備線と置き換える事で、そのメモリを救済し
て良品扱いとする。ここで予備線と置き換える不良アド
レスの抽出処理の従来技術は、特開昭63−12749
9号公報に記載のような処理が行われており、以下その
説明を第7図を用いて行う。
冗長予備線を持っており、不良アドレスがあった場合、
その冗長予備線と置き換える事で、そのメモリを救済し
て良品扱いとする。ここで予備線と置き換える不良アド
レスの抽出処理の従来技術は、特開昭63−12749
9号公報に記載のような処理が行われており、以下その
説明を第7図を用いて行う。
第7図は、被試験メモリ8にパターン発生器21により
試験パターンを与え、比較判定器22によりその良否を
判定し、その判定結果を全て格納するフェイルメモリ1
1と、そのフェイルメモリ11に格納した被試験メモリ
8の各アドレスラインに何個の不良アドレスが存在する
かをカウントして記憶するラインフェイルカウンタ3と
、所定数置」二の不良個数が存在するアドレス情報を格
納するフェイルデータメモリ91と、所定数以上の不良
個数が何アドレスライン存在したかをカウント・シて記
憶するカウンタメモリ92と、これらの各部を制御しフ
ェイルアドレスメモリ91の格納データを基に救済線を
解析するC P U 6からなる。次にこの従来技術の
動作は、フェイルメモリ11に格納されたフェイル情報
をアドレスジェネレータ13からの出力アドレスにより
順次フェイルメモリ11の最後まで読みだし、フェイル
がある度に、ラインフェイルカウンタ3により各アドレ
スライン中のフェイル個数をカウントし、又、カウンタ
メモリ92により所定値のラインフェイルカウンタ3の
カウントデータが何回あったかをカウントし、又、その
ラインフェイルカウンタとカウンタメモリとの出力カウ
ントデータをアドレスとして、フェイルデータメモリ9
1として与え、フェイルアドレスを格納する。その後、
フェイルデータメモリ9]の格納データをCPU6に転
送して冗長予備線の割り当てを行う。
試験パターンを与え、比較判定器22によりその良否を
判定し、その判定結果を全て格納するフェイルメモリ1
1と、そのフェイルメモリ11に格納した被試験メモリ
8の各アドレスラインに何個の不良アドレスが存在する
かをカウントして記憶するラインフェイルカウンタ3と
、所定数置」二の不良個数が存在するアドレス情報を格
納するフェイルデータメモリ91と、所定数以上の不良
個数が何アドレスライン存在したかをカウント・シて記
憶するカウンタメモリ92と、これらの各部を制御しフ
ェイルアドレスメモリ91の格納データを基に救済線を
解析するC P U 6からなる。次にこの従来技術の
動作は、フェイルメモリ11に格納されたフェイル情報
をアドレスジェネレータ13からの出力アドレスにより
順次フェイルメモリ11の最後まで読みだし、フェイル
がある度に、ラインフェイルカウンタ3により各アドレ
スライン中のフェイル個数をカウントし、又、カウンタ
メモリ92により所定値のラインフェイルカウンタ3の
カウントデータが何回あったかをカウントし、又、その
ラインフェイルカウンタとカウンタメモリとの出力カウ
ントデータをアドレスとして、フェイルデータメモリ9
1として与え、フェイルアドレスを格納する。その後、
フェイルデータメモリ9]の格納データをCPU6に転
送して冗長予備線の割り当てを行う。
ここで、冗長子1線は、被試験メモリの行及び列にそれ
ぞれ何本か存在し、救済処理は、フェイルアドレスの分
布情報を基に被試験メモリが救済できるか否かを判定し
、救済できる場合はこの冗長予備線と置き換えるもので
ある。又、救済処理をする上で、行方向のラインフェイ
ルカウント値が列方向の冗長予備線数を越えた場合は、
行方向の冗長予備線では救済できないため、そのライン
は列方向の冗長予備線で救済することが確定する(以下
、このラインアト1ノスの事を救済確定線とする)。又
、列方向に関しても同様である。つまり、被試験メモリ
の救済確定線のラインアドレスと、全フェイルアドレス
からこの救済確定線上のフェイルアドレスを除いたフェ
イルアトし・スの分布情報だけをCPUに転送して救済
処理をしたプフが効率的である。
ぞれ何本か存在し、救済処理は、フェイルアドレスの分
布情報を基に被試験メモリが救済できるか否かを判定し
、救済できる場合はこの冗長予備線と置き換えるもので
ある。又、救済処理をする上で、行方向のラインフェイ
ルカウント値が列方向の冗長予備線数を越えた場合は、
行方向の冗長予備線では救済できないため、そのライン
は列方向の冗長予備線で救済することが確定する(以下
、このラインアト1ノスの事を救済確定線とする)。又
、列方向に関しても同様である。つまり、被試験メモリ
の救済確定線のラインアドレスと、全フェイルアドレス
からこの救済確定線上のフェイルアドレスを除いたフェ
イルアトし・スの分布情報だけをCPUに転送して救済
処理をしたプフが効率的である。
しかし、従来技術は一回のフェイルメモリの走査で所定
値以上のラインフェイルカウント値の行又は列のアドレ
ス情報(救済確定線)を抽出する事はできるが、救済確
定線上にないフェイルアドレスを抽圧する事は考慮され
ておらず、CP tJによりこの抽出処理を行う必要が
あり、効率的な試験結果の解析ができない。
値以上のラインフェイルカウント値の行又は列のアドレ
ス情報(救済確定線)を抽出する事はできるが、救済確
定線上にないフェイルアドレスを抽圧する事は考慮され
ておらず、CP tJによりこの抽出処理を行う必要が
あり、効率的な試験結果の解析ができない。
〔発明が解決しようとする課題J
本発明の目的は、不良アドレスのあった被試験メモリを
一回のフェイルメモリの走査により行及び列のアドレス
ラインから所定値より多いフェイルアドレスのラインア
ドレスを抽出し、がっ、全フェイルアドレスの中からア
ドレスライン上のフェイルアドレスを除いたアドレスを
抽出する効率的な処理手段を提供し、これらの抽出デー
タによりCPUによる救済線の判定を行い、試験時間の
短縮を図ることにある。
一回のフェイルメモリの走査により行及び列のアドレス
ラインから所定値より多いフェイルアドレスのラインア
ドレスを抽出し、がっ、全フェイルアドレスの中からア
ドレスライン上のフェイルアドレスを除いたアドレスを
抽出する効率的な処理手段を提供し、これらの抽出デー
タによりCPUによる救済線の判定を行い、試験時間の
短縮を図ることにある。
上記目的は、被試験メモリの良否の試験結果を格納する
フェイル格納手段と、そのフェイル格納手段を読みだし
ながら、行及び列方向のラインフェイル数をカウントす
るラインフェイルカウント手段と、ラインフェイルカウ
ント手段が所定の値より大きくなった事を判定出力する
判定手段と、判定手段が出力されるまでフェイルアドレ
スを格納するフェイルアドレス格納手段により達成でき
る。
フェイル格納手段と、そのフェイル格納手段を読みだし
ながら、行及び列方向のラインフェイル数をカウントす
るラインフェイルカウント手段と、ラインフェイルカウ
ント手段が所定の値より大きくなった事を判定出力する
判定手段と、判定手段が出力されるまでフェイルアドレ
スを格納するフェイルアドレス格納手段により達成でき
る。
本発明は、被試験メモリの行および列のアドレスライン
上に所定値より大きいフェイルアドレスが存在した場合
は、そのア[・レスライン上のフェイルアドレスを全て
記憶せず、そのラインアドレスのみを記憶し、又、それ
と同時に全フェイルアドレスから、前記記憶のラインア
ドレスを取り除いたフェイルアドレスを一回のフェイル
メモリの走査でできるため被試験メモリの試験時間短縮
が図れる。
上に所定値より大きいフェイルアドレスが存在した場合
は、そのア[・レスライン上のフェイルアドレスを全て
記憶せず、そのラインアドレスのみを記憶し、又、それ
と同時に全フェイルアドレスから、前記記憶のラインア
ドレスを取り除いたフェイルアドレスを一回のフェイル
メモリの走査でできるため被試験メモリの試験時間短縮
が図れる。
以下、本発明の第一の実施例を第1図、第2図を用いて
説明する。
説明する。
第1図は、パターン発生器21の出力とアト1ノスジエ
ネレータ13とを切り替えるセレクタ12と、被試験メ
モリ8のテスト結果の良否を格納するフェイルメモリ1
1と、そのフェイルメモリ11を読みだして行(X)及
び列(Y)の−ラインアドレス中の不良アドレス数をカ
ウントするXラインフェイルカウンタ31及びYライン
フェイルカウンタ32と、Xラインフェイルカウンタ3
〕がYRLレジスタ43の値より大きくなったとき、そ
のX方向のラインアドレスにX]をライトする事で記憶
し、そのときのラインアドレスを記憶するX救済確定線
メモリ47と、Xラインフェイルカウンタ32がX R
Lレジスタ44の値より大きくなったとき、そのY方向
のラインアドレスにIllをライトする事で記憶し、そ
のときのラインアドレスを記憶するX救済確定線メモリ
48と、フェイルアドレスを救済確定線に成るまで格納
するフェイルアドレスメモリ49と、フェイルメモリ1
1の一回の走査径各種メモリの結果を読みだして冗長予
備線の割り当て処理をするCPU6によりなる。
ネレータ13とを切り替えるセレクタ12と、被試験メ
モリ8のテスト結果の良否を格納するフェイルメモリ1
1と、そのフェイルメモリ11を読みだして行(X)及
び列(Y)の−ラインアドレス中の不良アドレス数をカ
ウントするXラインフェイルカウンタ31及びYライン
フェイルカウンタ32と、Xラインフェイルカウンタ3
〕がYRLレジスタ43の値より大きくなったとき、そ
のX方向のラインアドレスにX]をライトする事で記憶
し、そのときのラインアドレスを記憶するX救済確定線
メモリ47と、Xラインフェイルカウンタ32がX R
Lレジスタ44の値より大きくなったとき、そのY方向
のラインアドレスにIllをライトする事で記憶し、そ
のときのラインアドレスを記憶するX救済確定線メモリ
48と、フェイルアドレスを救済確定線に成るまで格納
するフェイルアドレスメモリ49と、フェイルメモリ1
1の一回の走査径各種メモリの結果を読みだして冗長予
備線の割り当て処理をするCPU6によりなる。
以下その動作例を第2区を使って説明する。フェイルメ
モリ11でIllの格納されているアドレスが不良であ
り、アドレスジェネレータ13によりフェイルメモリ1
1を1100.301.1102.−1107.310
.1111.−一−−376、π77の順番で、順次、
読み出し、それと同時に、Xラインフェイルカウンタ3
1、Xラインフェイルカウンタ32は、X方向Y方向別
にそのラインのフェイル数をカウントし、又、フェイル
アドレスメモリ49はフェイルアドレスを格納して行く
。
モリ11でIllの格納されているアドレスが不良であ
り、アドレスジェネレータ13によりフェイルメモリ1
1を1100.301.1102.−1107.310
.1111.−一−−376、π77の順番で、順次、
読み出し、それと同時に、Xラインフェイルカウンタ3
1、Xラインフェイルカウンタ32は、X方向Y方向別
にそのラインのフェイル数をカウントし、又、フェイル
アドレスメモリ49はフェイルアドレスを格納して行く
。
ここで、フェイルメモリ■1の読みだし途中でアドレス
$42 (1142の4はY方向のアドレス、2はX方
向のアドレス)を読みだしたときXラインフェイルカウ
ンタ32のカウント値t3が、X RLレジスタの値3
2より大きくなったので、Xラインマスクメモリ46の
アドレスx4にillをライトし、X救済確定線メモリ
48にそのときのYアドレス#4を記憶する。
$42 (1142の4はY方向のアドレス、2はX方
向のアドレス)を読みだしたときXラインフェイルカウ
ンタ32のカウント値t3が、X RLレジスタの値3
2より大きくなったので、Xラインマスクメモリ46の
アドレスx4にillをライトし、X救済確定線メモリ
48にそのときのYアドレス#4を記憶する。
ここで、次のフェイルメモリ11のアドレスX43を読
みだしたときもXラインフェイルカウンタ32の値ll
4XRLレジスタの値l12よりも大きくなるがこのサ
イクルでは、同時に、Xラインマスクメモリ46のアド
レス#4の出力46aが#1であるので、 X救済確定
線メモリ48及びフェイルアドレスメモリ49のライト
信号をAND52でマスクする事で、再度、Yアドレス
114及びフェイルアドレス1143は格納しない。
フェイルメモリ11のアドレス#55を読みだしたとき
も上記と同様の処理をする。よって、フェイルメモリ1
1を最後まで読み出すと救済確定線とフェイルアドレス
を抽出する。(但し、救済確定線があった場合、フェイ
ルアドレスの中に救済確定線上定までの救済確定線上の
フェイルアドレスが含まれる。)このデータをCPU6
に転送して救済線割り付は処理を行うが、第3図に示す
ようにXラインアドレス115とYラインアドレスx4
は、救済確定としてCPUによる救済解析を行うことと
なる。
みだしたときもXラインフェイルカウンタ32の値ll
4XRLレジスタの値l12よりも大きくなるがこのサ
イクルでは、同時に、Xラインマスクメモリ46のアド
レス#4の出力46aが#1であるので、 X救済確定
線メモリ48及びフェイルアドレスメモリ49のライト
信号をAND52でマスクする事で、再度、Yアドレス
114及びフェイルアドレス1143は格納しない。
フェイルメモリ11のアドレス#55を読みだしたとき
も上記と同様の処理をする。よって、フェイルメモリ1
1を最後まで読み出すと救済確定線とフェイルアドレス
を抽出する。(但し、救済確定線があった場合、フェイ
ルアドレスの中に救済確定線上定までの救済確定線上の
フェイルアドレスが含まれる。)このデータをCPU6
に転送して救済線割り付は処理を行うが、第3図に示す
ようにXラインアドレス115とYラインアドレスx4
は、救済確定としてCPUによる救済解析を行うことと
なる。
次に、第二の実施例を第4図、第5図を用いて説明する
。
。
第2図の動作を実行後、フェイルアドレスメモリ49の
格納アドレスには、救済確定線上のアドレスが含まれて
おり、第4図は、その救済確定線上のアドレスを除くた
めの実施例のブロック図であり、セレクタ14を付加す
ることで、セレクタ14からのアドレスとフェイルアド
レスメモリ49からの出力データとの切り替えを行い、
その他は、第1図と同じである。動作は、第2図の処理
を実行後、フェイルアドレスメモリ49に格納した全フ
ェイルアドレスをXラインマスクメモリ45及びXライ
ンマスクメモリ46へアドレスとして与え、読みだしデ
ータが#1のフェイルアドレス(救済確定線)を除き、
再度、フェイルアドレスメモリ49に格納する。ここで
第4図は、再度、フェイルアドレスメモリ49に格納後
の内容であり、この後、フェイルアドレスメモリ49の
内容をCPU6に転送したときの実施例である。つまり
、第一、第二の実施例では、フェイルメモリ11を一回
の走査で救済確定線を抽出し、かつ、全フェイルアドレ
スからその救済確定線上のアドレスを除いたフェイルア
ドレスを抽出する事ができ、よって、CPUへの転送デ
ータがCPUで真に必要なデータだけにする事ができ処
理の効率化が図れる。
格納アドレスには、救済確定線上のアドレスが含まれて
おり、第4図は、その救済確定線上のアドレスを除くた
めの実施例のブロック図であり、セレクタ14を付加す
ることで、セレクタ14からのアドレスとフェイルアド
レスメモリ49からの出力データとの切り替えを行い、
その他は、第1図と同じである。動作は、第2図の処理
を実行後、フェイルアドレスメモリ49に格納した全フ
ェイルアドレスをXラインマスクメモリ45及びXライ
ンマスクメモリ46へアドレスとして与え、読みだしデ
ータが#1のフェイルアドレス(救済確定線)を除き、
再度、フェイルアドレスメモリ49に格納する。ここで
第4図は、再度、フェイルアドレスメモリ49に格納後
の内容であり、この後、フェイルアドレスメモリ49の
内容をCPU6に転送したときの実施例である。つまり
、第一、第二の実施例では、フェイルメモリ11を一回
の走査で救済確定線を抽出し、かつ、全フェイルアドレ
スからその救済確定線上のアドレスを除いたフェイルア
ドレスを抽出する事ができ、よって、CPUへの転送デ
ータがCPUで真に必要なデータだけにする事ができ処
理の効率化が図れる。
次に第三の実施例を第6図を用いて説明する。
第6図は、第4図を−チャネルとしてそれをn個並列に
並べたものであり、セレクタ14、フェイルメモリ11
、ラインフェイルカウンタ3、フェイルアドレス格納部
4をn個持つ事になる。但し、セレクタ12とアドレス
ジェネレータ13はnチャネル共通である。
並べたものであり、セレクタ14、フェイルメモリ11
、ラインフェイルカウンタ3、フェイルアドレス格納部
4をn個持つ事になる。但し、セレクタ12とアドレス
ジェネレータ13はnチャネル共通である。
本実施例においてn個のフェイルメモリ11には被試験
メモリn個分の試験結果が既に格納されているものとす
る。次に、第一の実施例と同様の動作をnチャネル同時
に行い、救済確定線が存在したチャネルではフェイルア
ドレスから救済確定線上のアドレスを除く処理を救済確
定線が存在した全チャネルを同時に行う事ができる。
メモリn個分の試験結果が既に格納されているものとす
る。次に、第一の実施例と同様の動作をnチャネル同時
に行い、救済確定線が存在したチャネルではフェイルア
ドレスから救済確定線上のアドレスを除く処理を救済確
定線が存在した全チャネルを同時に行う事ができる。
よって、第二の実施例では、nチャネル並列処理をして
もCPU6にデータを転送するまでは、第一の実施例と
同じ処理時間でする事ができ、被試験メモリの高スルー
プツト化を実現することができる。
もCPU6にデータを転送するまでは、第一の実施例と
同じ処理時間でする事ができ、被試験メモリの高スルー
プツト化を実現することができる。
本発明によれば、被試験メモリの良否の試験結果を格納
するフェイルメモリを一回の走査により、全フェイルア
ドレスの中から所定値より大きいアドレスラインと、全
フェイルアドレスの中からアドレスライン上のフェイル
アドレスを除いたアドレスを抽出し、これら二種類の抽
出データをCPUに転送し、CPUでは、冗長予備線を
割り付ける処理を行うだけでよく、処理時間の短縮化が
図れ、被試験メモリ生産の高スループツト化が実現でき
る。
するフェイルメモリを一回の走査により、全フェイルア
ドレスの中から所定値より大きいアドレスラインと、全
フェイルアドレスの中からアドレスライン上のフェイル
アドレスを除いたアドレスを抽出し、これら二種類の抽
出データをCPUに転送し、CPUでは、冗長予備線を
割り付ける処理を行うだけでよく、処理時間の短縮化が
図れ、被試験メモリ生産の高スループツト化が実現でき
る。
又、本発明によれば、これら二種類の抽出処理までは、
全て並列処理する事が容易にでき、被試験メモリの多数
個同時試験された試験結果の解析に適しており、ここで
も、処理時間の短縮化が図れ、被試験メモリ生産の高ス
ループツト化が実現できる。
全て並列処理する事が容易にでき、被試験メモリの多数
個同時試験された試験結果の解析に適しており、ここで
も、処理時間の短縮化が図れ、被試験メモリ生産の高ス
ループツト化が実現できる。
第1図は本発明の第一の実施例ブロック図、第2図は本
発明の第一の実施例の動作説明図、第3因は本発明の第
一の実施例の補足説明図、第4図は本発明の第二の実施
例のブロック図、第5図は本発明の第二の実施例の補2
説明図、第6図は本発明の第三の実施例ブロック図、第
7図は従来技術のブロック図である。 11・・・・・・フェイルメモリ 12・・・・・・セレクタ 13・・・・・・ アドレスジェネレータ14・・・・
・・セレクタ 21・・・・・・パターン発生器 3 ・・・・・・ラインフェイルカウンタ31・・・・
・・ Xラインフェイルカウンタ32・・・・・・ Y
ラインフェイルカウンタ4 ・・・・・・フェイルアド
レス格納部41・・・・・・比較器、 42・・・・・・比較器、 45・・・・・・ Xラインマスクメモリ46・・・・
・・ Yラインマスクメモリ47・・・・・・ X救済
確定線メモリ48・・・・・・ Y救済確定線メモリ4
9・・・・・・ フェイルアドレスメモリ51.52.
54・・ AND 53・・・・・・ ○R 6・・・・・・ CPU 8 ・・・・・・被試験メモリ 91・・・・・・ フェイルデータメモリ92・・・・
・・カウンタメモリ
発明の第一の実施例の動作説明図、第3因は本発明の第
一の実施例の補足説明図、第4図は本発明の第二の実施
例のブロック図、第5図は本発明の第二の実施例の補2
説明図、第6図は本発明の第三の実施例ブロック図、第
7図は従来技術のブロック図である。 11・・・・・・フェイルメモリ 12・・・・・・セレクタ 13・・・・・・ アドレスジェネレータ14・・・・
・・セレクタ 21・・・・・・パターン発生器 3 ・・・・・・ラインフェイルカウンタ31・・・・
・・ Xラインフェイルカウンタ32・・・・・・ Y
ラインフェイルカウンタ4 ・・・・・・フェイルアド
レス格納部41・・・・・・比較器、 42・・・・・・比較器、 45・・・・・・ Xラインマスクメモリ46・・・・
・・ Yラインマスクメモリ47・・・・・・ X救済
確定線メモリ48・・・・・・ Y救済確定線メモリ4
9・・・・・・ フェイルアドレスメモリ51.52.
54・・ AND 53・・・・・・ ○R 6・・・・・・ CPU 8 ・・・・・・被試験メモリ 91・・・・・・ フェイルデータメモリ92・・・・
・・カウンタメモリ
Claims (1)
- 1、冗長予備線を持った被試験メモリの試験結果の良否
を記憶する不良記憶手段と、前記不良記憶手段に記憶し
た被試験メモリの各アドレスライン上の不良個数をカウ
ントするカウント手段と、前記カウント手段が所定値以
上になるまで不良アドレスを記憶するアドレス記憶手段
と、前記カウント手段が所定値以上になつたときのライ
ンアドレスを記憶するラインアドレス記憶手段を備えて
、前記被試験メモリの救済線を判定することを特徴とす
るICメモリ試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2314044A JPH04186600A (ja) | 1990-11-21 | 1990-11-21 | Icメモリ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2314044A JPH04186600A (ja) | 1990-11-21 | 1990-11-21 | Icメモリ試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04186600A true JPH04186600A (ja) | 1992-07-03 |
Family
ID=18048542
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2314044A Pending JPH04186600A (ja) | 1990-11-21 | 1990-11-21 | Icメモリ試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04186600A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100348760B1 (ko) * | 1998-11-19 | 2002-08-13 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리 시험방법 및 그 장치 |
JP2007052884A (ja) * | 2005-08-19 | 2007-03-01 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JP2007294072A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-11-08 | Verigy (Singapore) Pte Ltd | 冗長性分析の改善を図るメモリデバイスの欠陥サマリデータの削減 |
JP2007335050A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Yokogawa Electric Corp | 半導体メモリ試験装置 |
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