JPH04125408A - リニアスケール測長装置 - Google Patents

リニアスケール測長装置

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JPH04125408A
JPH04125408A JP2246645A JP24664590A JPH04125408A JP H04125408 A JPH04125408 A JP H04125408A JP 2246645 A JP2246645 A JP 2246645A JP 24664590 A JP24664590 A JP 24664590A JP H04125408 A JPH04125408 A JP H04125408A
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JP
Japan
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signal
absolute
output signal
marking line
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JP2246645A
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English (en)
Inventor
Koki Anpo
光喜 安保
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Futaba Corp
Original Assignee
Futaba Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/245Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains using a variable number of pulses in a train
    • G01D5/2454Encoders incorporating incremental and absolute signals
    • G01D5/2455Encoders incorporating incremental and absolute signals with incremental and absolute tracks on the same encoder

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、二物体間、の相対移動量を測定するためのリ
ニアスケール測長装置に係り、特に、補正機能を備えた
アブソリュート(絶対値)形のリニアスケール測長装置
に関する。
(従来の技術) 工作機械等において、被加工物(ワーク)に対する工具
の相対移動量を正確に把握することは極めて重要である
。また、工作機械に限らず、工業用記録器等では、入力
信号に応じて記録媒体に対する記録ヘッドの動きを正確
に制御するには、両者間の相対移動量を精密に測定する
必要がある。
そこで、従来より相対移動する二物体間の移動量を測定
する手段として、各種方式が提案されている。その方式
を大別すると、インクリメント(相対値)方式とアブソ
リュート方式に分けることができる。
インクリメント方式は、ガラススケール上に線状の刻線
(インクリメントデータ)を多数平行に刻印し、二物体
の相対的移動量即ち相対位置の測定を行うものである。
インクリメント方式では絶対位置の検出ができないため
、絶対位置の検出が必要とされる場合はアブソリュート
方式が使用される。
アブソリュート方式は、絶対位置を数ビットで表したア
ブソリュートデータ(絶対値符号)がガラススケール上
に刻印されており、このアブソリュートデータを検出す
ることにより、絶対位置の測定を行うものである。この
方式は、特に、ロータリーエンコーダ等において広く使
用されている。
(発明が解決しようとする課題) 前述したように、アブソリュート方式の測長装置では、
スケールに対応した絶対位置の測定が可能である。
しかしながら、従来のアブソリュート方式のものでは、
検出器の部品寸法や組立誤差等の影響により、刻印の寸
法を大きくせざるを得ず、従って、微小距離を測定する
高分解能な測長装置には使用できないという問題があっ
た。
本発明は前記問題点に鑑みなされたもので、高分解能か
つ高精度なアブソリュート形リニアスケール測長装置を
提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明のリニアスケール測長装置は、アブソリュートデ
ータ用刻線及び前記アブソリュートデータ用刻線の整数
倍の周期の第1インクリメントデータ用刻線を備えたメ
インスケールと、前記アブソリュートデータ用刻線に対
応して設けられたアブソリュートデータ検出部と、前記
アブソリュートデータ検出部の出力信号をデジタル信号
に変換するデータ変換部と、前記第1インクリメントデ
ータ用刻線に対応した設けられた第1インクリメントデ
ータ検呂部と、前記第1インクリメントデータ検出部か
らの信号を内挿する内挿部と、前記内挿部の出力信号の
値に応じて前記データ変換部のデジタル出力信号に+1
あるいは−1を加算し若しくは何も加算しない演算部と
、前記演算部の出力信号と前記内挿部の出力信号を合成
する合成部とを備えていることを第1の特徴としている
また、第2インクリメントデータ用刻線が前記メインス
ケールに設けられるとともに前記第2インクリメントデ
ータ用刻線に対応して第2インクリメントデータ検出部
が設けられてなることを第2の特徴としている。
(作用) 演算部は内挿部の出力信号の値に応じて前記デジタル信
号に+1あるいは−1を加算し若しくは何も加算しない
ので、絶対値データ検出部とインクリメントデータ検出
部との同期を取り得ることにより誤差補正が可能となり
又、上位ビットと内挿部で得られる下位ビットとを合成
部により合成することによりアブソリュートデータをイ
ンクリメントデータで内挿し高精度な測定がなされる。
(実施例) 以下、第1図〜第3図を用いて本発明の詳細な説明する
第1図は本発明の一実施例示すブロック図である。
第1図において、メインスケール101は第2図に示す
よう横長状のガラス板201上に、アブソリュート(絶
対位置)データを表す刻線2°〜29、刻線20〜29
の2倍周期に形成されたA相、B粗側の第1インクリメ
ントデータ用刻線A1、A2および第2インクリメント
データ用刻線Iが設けられている。アブソリュートデー
タを表す刻線20〜29は、ダレイコードにより構成さ
れており、10ビツト構成となっている。
メインスケール101に対向して配設されたインデック
ススケール102には、そのガラス板上に、刻線20〜
29、A1、A2およびIに対向する位置に検出用の刻
線が設けられている。メインスケール101およびイン
デックススケール102を挟んで、光源103の反対側
に光検出器AASBB、 IA、 IBおよびCO〜C
9が設けられている。光検出器AA、 BB、IA、 
IBおよびCo−C9は、メインスケール101上の各
刻線に対向配設されている。
光源103、インデックススケール102及び光検出器
AA、 AB、 IASIB、 Co−C9は相対的に
固定されており、一方これらはメインスケール101に
対しては相対的に移動可能となっている。
光検出器CO〜C9からの信号は、増幅器104の各入
力部に入力される。増幅器104の出力信号は波形成形
器105を介してデータ変換器106に入力される。デ
ータ変換器106の出力信号は演算器110の一方の入
力部に入力される。演算器110の出力信号は合成器1
13の一方の入力部に入力される。
一方、光検出器AA、 ABは、各々増幅器107.1
08を介して変調加算器109の第1、第2人力部に接
続されている。変調加算器109の出力信号は波形成形
器111を介してフリップフロップ112の制御入力部
に入力される。発振器115からのクロック信号は分周
器116を介して変調加算器109の第3人力部に入力
され又、リングカウンタ120を介してフリップフロッ
プ112の信号人力部に入力される。
フリップフロップ112の出力信号は、演算器110の
他方の入力部及び合成器113の他方の入力部に入力さ
れる。合成器113の出力信号はシリアル変換器114
を介してアブソリュートデータを表す出力信号voとし
て出力される。
変調加算器109、波形成形器111、フリップフロッ
プ112、発振器115、分周器116、リングカウン
タ120は内挿部を構成している。
他方、A相、B相を表す光検出器IA、出からの信号は
、増幅器117.118を介して図示しない内挿回路等
の計数回路に人力され、インクリメント測定がなされる
以上の如く構成されたリニアスケール測長装置の動作を
以下詳説する。
まず、メインスケール101とインデックススケール1
02が相対的に移動すると、光検出器Co−C9は刻線
2°〜29によって表されるグレイコード信号を出力す
る。このグレイコード信号は増幅器104で増幅された
後、波形成形器105により矩形波に成形される。前記
矩形波信号はデータ変換器106によってグレイコード
から2進デジタル信号v1に変換された後、演算器11
0の一方の入力部に入力される。
一方、光検出器AA、 ABの出力信号は増幅器107
.108を介して変調加算器109の第1、第2人力部
に入力される。変調加算器109はAM(Amplit
udeModuratxon)g il器、ローパスフ
ィルタ及び加算器を直列接続した公知の回路であり、そ
の構成および動作は特開昭62−132104号公報に
詳細に記載されている。その動作につき概略説明すると
、発振器115からの周波数f。のクロック信号は分周
器116により1/N分周された後、搬送波として変調
加算器109の第3人力部に入力される。変調加算器1
09では、増幅器107.108からの信号を分周器1
16からの信号で平衡変調した後加算し、波形成形器1
11に入力する。ここで、A相信号をElsin(2y
rx/p)、B相信号をElcos(2yrx/p)、
A相、B粗側の搬送波を各々E2sinmt、 E2c
osa)tとすると、109の出力信号Sは、5=Kc
os(ut −2πX/P)となる。
ここで、K=EIE2/2、Xは相対移動量であり又、
pはモアレ縞のピッチである。即ち、信号Sは相対移動
量Xを位相成分に含む信号となり、相対移動量Xに応じ
て信号Sの位相が変化する。波形成形器111は、信号
Sを矩形波に変換してカウンタ112の制御人力部に入
力する。
一方、発振器115からのクロック信号はリングカウン
タ120により計数され、その計数値は2進デジタル信
号としてフリップフロップ112に人力される。リング
カウンタ120は、前記クロック信号を計数して、0〜
(N−1)の値の2進デジタル信号を順次繰返し出力す
るように設定されている。ここに、(N−1)という値
は刻線A1、A2のピッチ即ち刻線2°〜29のピッチ
の2倍に相当することになる。
フリップフロップ112は、波形成形器111の出力信
号の立ち上がりエツジに応答して、そのときのリングカ
ウンタ120からの入力信号を、信号■2として出力す
る。メインスケール101とインデックススケール10
2とが相対的に移動すると信号Sの位相即ち、波形成形
器の立ち上がりエツジの位置が変化する。従って、θ〜
(N−1)の範囲で、位相変化に応じた2進デジタル信
号■2が下位ビット信号としてフリップフロップ112
から出力される。この下位ビット信号は、アブソリュー
トデータを内挿した信号に相当する。
ここで、第1インクリメントデータ用刻線A1、A2の
周期はアブソリュートデータ用刻線2°〜29の周期の
2倍に設定しているため、第4図に示すように信号■1
が偶数のとき信号■2はO〜(N/2−1)の値をとり
又、信号■1が奇数のとき信号v2はN/2〜(N−1
)の値をとることになる。ところが、増幅器104.1
07.108、波形成形器105.111、データ変換
器106、カウンタ112等の伝搬遅延のばらつき等に
より、信号■1、v2の関係が前述のようにならない場
合があり、これは測定誤差となる。したがって、前記誤
差を補正すべく演算器110は第3図に示す処理を行う
即ち、演算器115は、まず信号v1が奇数か否かを判
断し、信号■1が奇数の場合には以下の処理を行う。
N/2≦信号■2≦N−1であれば正常即ち測定誤差は
発生していないと判断して、加算処理を行わない。一方
、0≦信号■2≦N/4−1の場合には信号■1に+1
を加算し、0≦信号■2≦N/4−1でなければ信号v
1に−1を加算する。即ち、前述したVlと■2の関係
を満たすように、誤差が微小であることを前提として信
号■1の補正を行う。
次に、信号v1が偶数の場合には以下の処理を行う。
0≦信号V2≦N/2−1であれば正常即ち測定誤差は
発生していないと判断して、加算処理を行わない。一方
、N/2≦信号■2≦3N/4−1の場合には信号■1
に+1を加算し、N/2≦信号■2≦3N/4−1でな
ければ信号v1に−1を加算する。
以上の動作により信号v1と信号v2との関係が適正と
なり、誤差が補正されることになる。
演算器110は以上の処理を行った後、処理後の信号■
1を上位ビットのデジタル信号として合成器113の一
方の人力部に入力する。合成器113は、その両入力部
に入力される上位ビットのデジタル信号と下位ビットの
デジタル信号を合成し、一つのデジタル信号とする。
本実施例では前述の様に、インクリメントデータ用刻線
A1、A2の周期をアブソリュートデータ用刻線2°〜
29の周期の2倍に設定しているため、前記下ビット中
の最上位ビットの桁は、前記上位ビット中の最下位ビッ
トの桁より1桁小さくなる。従って、上位ビットと下位
ビットを単に合成するのみで一連のデジタル信号となる
。例えば、上位ビットをx1x2・・・・・Xnとし、
下位ビットをYIY2・・・・・Ynとすると、デジタ
ル信号はx1x2・・・・・xnYIY2・・・・・Y
nとなる。このデジタル信号は、アブソリュートデータ
に基づくあらいデータと、アブソリュートデータ間を内
挿する分解能の高いデータとの和に相当するもので、高
分解能なアブソリュート信号が得られる。このデジタル
信号は、シリアル変換器により直列信号に変換された後
、出力信号■oとして出力される。
一方、インクリメント測定のみを行う場合には、光検出
器IA、IBからのA相、B相信号を増幅器117.1
18で増幅し、図示しない公知の内挿回路(特開昭62
−132104号公報参照)等により高分解能なインク
リメント測定が可能となる。
本実施例では、第1インクリメントデータ用刻線の周期
をアブソリュートデータ用刻線の周期の2倍としたが、
他の整数倍とすることもできる。
(効果) 本発明によれば、測定誤差の生じない又、高精度なアブ
ソリュート形のリニアスケール測長装置を提供できる。
また、アブソリュート形とインクリメント形とを兼ねあ
わせたリニアスケール測長装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
本発明に使用するリニアスケールの正面図、第3図は本
発明の詳細な説明する図、第4図は本発明の詳細な説明
する図である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)アブソリュートデータ用刻線及び前記アブソリュ
    ートデータ用刻線の整数倍の周期の第1インクリメント
    データ用刻線を備えたメインスケールと、前記アブソリ
    ュートデータ用刻線に対応して設けられたアブソリュー
    トデータ検出部と、前記アブソリュートデータ検出部の
    出力信号をデジタル信号に変換するデータ変換部と、前
    記第1インクリメントデータ用刻線に対応した設けられ
    た第1インクリメントデータ検出部と、前記第1インク
    リメントデータ検出部からの信号を内挿する内挿部と、
    前記内挿部の出力信号の値に応じて前記データ変換部か
    らのデジタル信号に+1あるいは−1を加算し若しくは
    何も加算しない演算部と、前記演算部の出力信号と前記
    内挿部の出力信号を合成する合成器とを備えてなるリニ
    アスケール測長装置。
  2. (2)第2インクリメントデータ用刻線が前記メインス
    ケールに設けられるとともに前記第2インクリメントデ
    ータ用刻線に対応して第2インクリメントデータ検出部
    が設けられてなることを特徴とする請求項1記載のリニ
    アスケール測長装置。
JP2246645A 1990-09-17 1990-09-17 リニアスケール測長装置 Pending JPH04125408A (ja)

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