JPH04113037U - 分光分析装置 - Google Patents
分光分析装置Info
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- JPH04113037U JPH04113037U JP1686491U JP1686491U JPH04113037U JP H04113037 U JPH04113037 U JP H04113037U JP 1686491 U JP1686491 U JP 1686491U JP 1686491 U JP1686491 U JP 1686491U JP H04113037 U JPH04113037 U JP H04113037U
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 入射光パルスに対しても正しくレンジを設定
する。 【構成】 光ファイバ１２からの入射光は分光器１１で
分光され、その分光された光は受光器１８で電流信号に
変換され、その電流信号はＩＶ変換器１９で電圧信号に
変換され、その電圧信号はレンジング増幅器２１で増幅
されてピーク保持回路２６へ供給され、ピーク保持回路
２６の出力はＡＤ変換器２２でデジタル値に変換され、
そのデジタル値は制御回路２３に取込まれる。制御回路
２３は予測される入射光パルスの周期よりも長い周期で
ピーク保持回路２６をリセットし、そのリセットの直前
でＡＤ変換器２２に変換指令を出し、その変換デジタル
値が所定のレベル範囲にないと、レンジング増幅器２１
やＩＶ変換器１９の利得を設定しなおし、最適レンジと
する。
する。 【構成】 光ファイバ１２からの入射光は分光器１１で
分光され、その分光された光は受光器１８で電流信号に
変換され、その電流信号はＩＶ変換器１９で電圧信号に
変換され、その電圧信号はレンジング増幅器２１で増幅
されてピーク保持回路２６へ供給され、ピーク保持回路
２６の出力はＡＤ変換器２２でデジタル値に変換され、
そのデジタル値は制御回路２３に取込まれる。制御回路
２３は予測される入射光パルスの周期よりも長い周期で
ピーク保持回路２６をリセットし、そのリセットの直前
でＡＤ変換器２２に変換指令を出し、その変換デジタル
値が所定のレベル範囲にないと、レンジング増幅器２１
やＩＶ変換器１９の利得を設定しなおし、最適レンジと
する。
Description
【０００１】
この考案は例えば光スペクトラムアナライザに適用され、入射光を分光した後
、電気信号に変換し、その電気信号をレンジング増幅器で増幅し、その増幅出力
をＡＤ変換器でデジタル化する分光分析装置に関し、特に入射光がパルス光であ
る場合のレンジング増幅器の利得設定部分に係わる。
【０００２】
図５に従来の分光分析装置を示す。分光器１１に入射光が入射されるが、例え
ば光ファイバ１２の光コネクタ１３が分光器１１の入射孔に連結され、光ファイ
バ１２からの光が分光器１１内に入射される。その入射光は分光器１１内でコリ
メート鏡１４により平行光ビームとされ、その平行光ビームは回析格子１５に入
射され、コリメート鏡１４からの光中の、回析格子１５の回転角度に対応した波
長成分のみが集光鏡１６に入射され、その反射光がスリット１７を通じて分光器
１１から分光された光として出射される。
【０００３】
その分光器１１からの分光された光は受光器１８で電流信号に変換され、その
電流信号はＩＶ変換器１９で電圧信号に変換され、その電圧信号はレンジング増
幅器２１で増幅されてＡＤ変換器２２へ供給され、ここでデジタル信号に変換さ
れる。そのデジタル信号はＣＰＵからなる制御回路２３に取込まれ、各種の計算
、補正など必要な処理がなされた後、表示器２４へ供給されて、例えば入射光の
波長成分ごとのパワーが表示される。
【０００４】
入射光の強度は通常広いダイナミックレンジをもつため、制御回路２３はＡＤ
変換器２２の出力に応じて、これが常に所定のレンジ範囲となるように、レンジ
ング増幅器２１の増幅利得の設定、ＩＶ変換器１９の変換利得の設定を自動的に
行う。また制御回路２３はＡＤ変換器２２に対する変換指令、変換結果の取込み
も行う。高速測定を行うためにＡＤ変換器２２として一般に逐次比較形のものが
用いられている。
【０００５】
このような従来の分光分析装置は連続光を測定することを前提として設計され
ているため、連続光に対しては正確に測定を行うことができる。しかしパルス変
調された光、特にそのデュティ比が小さい光を測定する場合には以下のような問
題が生じ、正確にスペクトラムを測定することができなかった。
【０００６】
ａ．１測定点（波長）について、自動的レンジ設定操作が終了するまでに１パ
ルスも光が入射されなければ、その点（波長）のデータが欠落し、測定スペクト
ラムはくしの歯のように抜けが生じる。つまり図６に示すように波長掃引に対し
、入射光パルスのある時だけスペクトルが測定され、正しいスペクトラムに対し
ずれたものとなる。
【０００７】
ｂ．自動レンジ設定操作中に、サンプリングのたびにパルス光の入力があった
り、なかったりすると、レンジの判定が定まらない。
ｃ．Ｓ／Ｎを改善するために、ＡＤ変換器２２に入力側に点線で示すように雑
音除去用低域通過ろ波器２５を挿入した場合、低域通過ろ波器２５より前段にあ
るＩＶ変換器１９、レンジング増幅器２１などが、パルスのピークに対して飽和
しても、低域通過ろ波器２５の出力がレンジ切替をさせる程の値とならず、結果
的に波形も飽和する。
【０００８】
ｄ．光パルス幅がＡＤ変換器２２の変換時間より短かい場合、特に逐次比較形
ＡＤ変換器の場合は正確にデジタル値に変換することができない。
ｅ．ＡＤ変換器２２が積分形の場合、その積分時間内に入ってくるパルス数に
よりレベルに誤差を生じる。
【０００９】
この考案によれば受光器の出力側と、ＡＤ変換器の入力側との間に直列にピー
ク保持回路が挿入され、ピーク保持回路はその入力信号のピークを保持し、かつ
制御回路からの指令によりその保持を解消することができるものである。
【００１０】
図１にこの考案による実施例を示し、図５と対応する部分に同一符号を付けて
ある。この実施例においてはレンジング増幅器２１とＡＤ変換器２２との間にピ
ーク保持回路２６が直列に挿入される。
例えば図２Ａ（ａ）に示す入射光パルスの場合、まず制御回路２３によりピー
ク保持回路２６を図２Ａ（ｂ）に示すようにリセットし、予測される入射光パル
ス周期よりも長い時間（測定期間）待って図２Ａ（ｃ）に示すようにＡＤ変換器
２２でデジタル値に変換する。つまり図２Ａ（ｂ）の測定期間の間に入射された
光パルスのピークがピーク保持回路２６に保持され、この保持されたピーク値が
デジタル値に変換される。以上のことを繰返す。
【００１１】
自動レンジ設定動作における処理の流れを図３に示す。まずレンジ、波長、測
定期間など初期値を設定する（Ｓ1 ）。次にピーク保持回路２６をリセットし（
Ｓ2 ）、設定された測定期間だけ待って（Ｓ3 ）、ピーク保持回路２６の出力を
デジタル値に変換し（Ｓ4 ）、そのデジタル値が設定レンジをオーバーしたかを
判定し（Ｓ5 ）、オーバーしてなければ、そのデジタル値が設定レンジを下まわ
ったかを判定し（Ｓ6 ）、下まわっていなければ、その測定波長が最終波長（測
定点）かを判定し（Ｓ7 ）、最終波長でなければ、測定波長を移動して（Ｓ8 ）
、ステップＳ2 に戻る。ステップＳ5 でレンジをオーバーしていれば測定レンジ
を下げて（Ｓ9 ）ステップＳ2 に戻り、ステップＳ6 でレンジを下まわっていた
ら測定レンジを上げて（Ｓ10）、ステップＳ2 に戻り、ステップＳ7 で最終波長
の場合は終了とする。
【００１２】
なお固定レンジで測定する場合は図４に示すようにレンジ、波長、測定期間な
どの初期値を設定し（Ｓ1 ）、次にピーク保持回路２６をリセットし（Ｓ2 ）、
設定された測定期間待って（Ｓ3 ）、ピーク保持回路２６の出力をデジタル値に
変換し（Ｓ4 ）、次にその測定波長が停止波長であるかを判定し（Ｓ5 ）、停止
波長でなければ測定波長を移動して（Ｓ6 ）、ステップＳ2 に戻り、停止波長で
あれば終了とする。
【００１３】
図２Ｂにこの考案により入射光パルスを分光測定する状態（図６と対応したも
の）を示す。ピーク保持回路２６のリセットごとに次のリセットまでの間にピー
ク保持回路２６に保持された出力のピーク値が測定スペクトラムとして得られる
。このように入射光パルスを漏れなく測定でき、正しいスペクトラムに近い測定
スペクトラムが得られる。
【００１４】
ピーク保持回路２６はレンジング増幅器２１よりも前段に挿入してもよい。受
光器１８が光を電圧信号に変換するものであれば、ＩＶ変換器１９は省略される
。
【００１５】
以上述べたようにこの考案によればピーク保持回路２６を用いることにより、
光パルスと、ＡＤ変換器２２でのサンプリングとが一致しなくてもデータの欠落
がなく、歯抜けとならず、正しいスペクトラムに近い測定スペクトラムが得られ
る。
【００１６】
ＡＤ変換器２２の直前に、積分器などの平滑回路がある場合に（積分形ＡＤ変
換器の場合も同様）、従来ではその前段が飽和し、頭打ちの波形となり、特にデ
ュティ比が小さいパルス程問題であったが、この考案はそのような積分の前にパ
ルスのピーク値をピーク保持回路２６で検出しているので、前段が飽和するよう
なおそれはない。
【００１７】
ＩＶ変換器１９で平滑したり、電荷／電圧変換器をＩＶ変換器１９の代りに用
いると、飽和は発生しなくなるが、積分時間内のパルス数の変動によりレベルが
変化する。しかしこの考案ではパルスのピーク値を保持して測定するから、測定
期間内のパルス数により測定値が影響されるおそれはない。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案の実施例を示すブロック図。
【図２】Ａは図１の動作を説明するためのタイムチャー
ト、Ｂは波長掃引と入射光パルスとピーク保持回路の出
力と、測定スペクトラムとの関係例を示す図である。
ト、Ｂは波長掃引と入射光パルスとピーク保持回路の出
力と、測定スペクトラムとの関係例を示す図である。
【図３】図１の実施例を自動レンジ設定で動作させる場
合の処理の流れを示す図。
合の処理の流れを示す図。
【図４】図１の実施例を固定レンジで動作させる場合の
処理の流れを示す図。
処理の流れを示す図。
【図５】従来の分光分析装置を示すブロック図。
【図６】図５の装置による波長掃引と、入射光パルス
と、測定スペクトラムとの関係例を示す図。
と、測定スペクトラムとの関係例を示す図。
Claims (1)
- 【請求項１】 入射光を分光する分光器と、その分光さ
れた光を光電変換する受光器と、その受光器の出力を増
幅するレンジング増幅器と、その増幅された出力をデジ
タル化するＡＤ変換器と、全体を制御する制御回路とを
具備する分光分析装置において、上記受光器の出力側と
上記ＡＤ変換器の入力側との間に直列に挿入され、入力
信号のピークを保持し、上記制御回路からの指令により
その保持が解消されるピーク保持回路を設けたことを特
徴とする分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991016864U JP2564009Y2 (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991016864U JP2564009Y2 (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04113037U true JPH04113037U (ja) | 1992-10-01 |
| JP2564009Y2 JP2564009Y2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=31903733
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991016864U Expired - Lifetime JP2564009Y2 (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2564009Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015182653A1 (ja) * | 2014-05-28 | 2015-12-03 | 日本精機株式会社 | 光源装置及び表示装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7339292B2 (ja) | 2021-03-29 | 2023-09-05 | アンリツ株式会社 | 光スペクトラムアナライザ及びパルス変調光測定方法 |
| US11686617B2 (en) | 2021-03-29 | 2023-06-27 | Anritsu Corporation | Optical spectrum analyzer and pulse-modulated light measurement method |
| JP7332650B2 (ja) | 2021-03-29 | 2023-08-23 | アンリツ株式会社 | 光スペクトラムアナライザ及びパルス変調光測定方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6347626A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-29 | Omron Tateisi Electronics Co | 色識別装置 |
| JPH02253126A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Kuraray Co Ltd | 光波長検出器および光波長の検出方法 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP1991016864U patent/JP2564009Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6347626A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-29 | Omron Tateisi Electronics Co | 色識別装置 |
| JPH02253126A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Kuraray Co Ltd | 光波長検出器および光波長の検出方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015182653A1 (ja) * | 2014-05-28 | 2015-12-03 | 日本精機株式会社 | 光源装置及び表示装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2564009Y2 (ja) | 1998-03-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971007 |
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