JPH0410656B2 - - Google Patents

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JPH0410656B2
JPH0410656B2 JP58104363A JP10436383A JPH0410656B2 JP H0410656 B2 JPH0410656 B2 JP H0410656B2 JP 58104363 A JP58104363 A JP 58104363A JP 10436383 A JP10436383 A JP 10436383A JP H0410656 B2 JPH0410656 B2 JP H0410656B2
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signal
ram
circuit
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input
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JPS59229800A (ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、信号経路の回路障害を検出する障害
監視回路、さらに詳しく云えばRAMの単位記憶
素子(メモリセル)の障害検出が可能な障害監視
回路に関する。
一般的に、通信・情報処理分野の大規模な論理
回路や記憶回路を備えた通信・情報処理装置にお
いては信号経路を監視し、障害を検出する障害監
視回路を具備することが多い。
従来、論理回路や記憶回路の障害監視の一方法
としては、入力点で信号のパリテイをカウントし
て一次記憶し、一定時間後回路の出力に到達する
信号のパリテイを再度カウントして入力点でのパ
リテイと比較することにより障害を検出する手段
や、主信号ルートに平行して同一経路の試験信号
ルートを設けて、試験信号をチエツクすることに
より障害を認知する手段がとられていた。
しかし、前者の方法は、パリテイをカウントす
るカウンタや入出力のパリテイを一次記憶する回
路等が必要になり、障害検出のための回路の規模
が大きくなつてしまい装置の信頼性を低下させる
原因となる欠点があつた。
また後者の例は、主信号と試験信号は同種の回
路を経路とするが、同一の回路は通らないため、
主信号ルートを完全にカバーした監視方法とは言
えず、特にRAM等の記憶回路の場合、主信号が
記憶される単位記憶素子(メモリセル)の監視を
行なえないため一般の論理素子に比べて故障率の
高い記憶素子の監視が不十分になる欠点があつ
た。
本発明の目的は、従来例に述べた欠点を解消
し、回路規模が小さくしかも周期的に主信号ルー
トと同一ルートに監視信号を流すことにより
RAMの全メモリセルの監視が行なえる障害監視
回路を提供することにある。
前記目的を達成するために本発明による障害監
視回路は既知監視信号を発生する回路と、周期パ
ルスを出力する回路と、前記同期パルスによつて
主信号と前記既知監視信号を交互に選択する入力
信号選択回路と、前記入力信号選択回路によつて
選択された信号を記憶するRAMと、前記周期パ
ルスによつて読み出すべき前記RAMの単位記憶
素子を選択する出力信号選択回路と、前記出力信
号選択回路によつて読み出された既知監視信号の
符号誤りを監視する既知監視信号照合回路をと含
み、前記周期パルスの一方のレベルのとき、主信
号を第1のアドレス群によつて指定されるRAM
の各単位記憶素子に、既知監視信号を第2のアド
レス群によつて指定されるRAMの各単位記憶素
子に書き込み、他方のレベルのとき、主信号を第
2のアドレス群によつて指定されるRAMの各単
位記憶素子に、既知監視信号を第1のアドレス群
によつて指定されるRAMの各単位記憶素子に書
き込み、前記周期パルスの他方のレベルのとき、
主信号を第1のアドレス群によつて指定される
RAMの各単位記憶素子より、既知監視信号を第
2のアドレス群によつて指定されるRAMの各単
位記憶素子より読み出し、一方のレベルのとき、
主信号を第2のアドレス群によつて指定される
RAMの各単位記憶素子より、既知監視信号を第
1のアドレス群によつて指定されるRAMの各単
位記憶素子より読み出すことにより主信号を書き
込み出した次の周期でそのRAMの記憶素子に既
知監視信号を書込み読み出してRAMの全単位記
憶素子の障害検出を行うように構成してある。
前記構成によれば本発明の目的は完全に達成で
きる。
以下に、1実施例を示し、本発明の詳細な説明
を加える。
第1図は本発明による障害監視回路の1実施例
を示すブロツク図である。
1,2は入力信号選択回路であり、入力信号選
択回路1は主信号101を入力A、既知パターン
発生回路6が発生する既知パターン102を入力
Bとしており、入力信号選択回路2は逆に102
を入力A、101を入力Bとしている。入力信号
選択回路1,2の入力101,102は、周期パ
ルス発生回路8の出力である周期パルス105の
Hレベル、Lレベルによつて周期的に交互に選択
され、入力信号選択回路1の出力103には、入
力101と102が周期パルス105のH,L周
期で交互に出力される。入力信号選択回路2の出
力104には、入力信号選択回路1の出力103
に入力101が出力される時は入力102が、逆
に出力103に入力102が出力される時には入
力101というように、入力信号選択回路1の出
力とは入力101,102の出力関係が逆になる
ように周期パルス105のH,L周期で交互に出
力される。したがつて、RAM3の入力I1,I2
は主信号と既知パターンが周期的に入力されるこ
とになり、主信号が記憶されるメモリセルには、
次の周期に必ず既知パターンが記憶されることに
なる。
次に、RAM3の出力O1,O2には入力I1,I2に
入力された信号がそのまま現われる。すなわち出
力106,107には主信号と既知パターンが周
期パルス105のH,L周期で交互に並び、その
主信号と既知パターンは時間位置関係が1周期分
ずれる。
出力信号選択回路4,5は、出力106,10
7を入力としている。すなわち出力信号選択回路
4は出力106をA入力、出力107をB入力と
し、出力信号選択回路5はその逆で出力107を
A入力、出力106をB入力としている。出力信
号選択回路4,5のそれぞれの入力信号は周期パ
ルス発生回路8のもう一つの出力108により、
出力105と同様の周期で交互に入力AまたはB
が選択される。入力側と出力側で周期パルスが異
なるのは、RAM3に入力された信号が出力され
るまでには周期パルスのH,L周期時間分遅延す
るので出力105に対しその周期時間分遅延した
周期パルスを出力108としているためである。
出力信号選択回路4は出力108によつて常に
主信号が存在する側の入力を選択して出力109
とし、出力信号選択回路5は既知パターンが存在
する側の入力を選択して出力110としている。
したがつて、出力109には主信号が、出力11
0には既知パターンが出力される。しかし、実際
にはRAMは書き込み動作(ライトサイクル)と
読み出し動作(リードサイクル)を同時に行なえ
ないので、連続信号の処理を行う時は10と同様
の構成でRAMのライトサイクルとリードサイク
ルが回路10に対して相補的な関係となる回路1
1を設けて連続信号処理を行う。9は回路10,
11のうちリードサイクルにある回路を選択する
信号選択回路である。7は既知パターン照合回路
であり、10あるいは11を通過して来た既知パ
ターンの検査を行う。
主信号と既知パターンの制御のしくみを第2図
を併用してより詳しく説明する。
第2図中ア,カは105,108にそれぞれ相
当するH,Lくり返しの周期パルスである。
イ,ウはそれぞれ第1、第2の信号選択回路1
および2の出力103,104を示している。入
出力信号選択回路1,2,4,5はそれを制御す
る周期パルス105,108のLレベル時入力A
側が、Hレベルの時入力B側が選択されるものと
する。
ア,イ,ウを注目すると、アがLの時、入力信
号選択回路1は入力Aが選択されるので主信号を
出力し、次にアがHの時入力Bが選択されて既知
パターンを出力する。一方、入力信号選択回路2
はその逆で既知パターン、主信号の順に選択され
出力する。
RAM3の入力I1,I2にはイ,ウの信号が入力
され記憶される。RAM3のライトサイクルとリ
ードサイクルを周期パルス105のH,L周期で
行うものとすれば、RAMの出力O1,O2は、周
期パルス105のHまたはLレベル時間分遅延し
て出力されるから、その出力O1,O2はエ,オに
示すようになる。
ただし、このエ,オの図は回路10,11のう
ちリードサイクルにある方のRAM出力をつなぎ
合せて示した。
エ,オは出力信号選択回路4のA,B、出力信
号選択回路5のB,Aにそれぞれ入力され、周期
パルス105に対してHまたはL周期時間遅延し
たH,L周期パルス108によつて選択され出力
される。
したがつて、回路10,11のうちリードサイ
クルにある回路の出力信号選択回路4の出力を選
択して連続的に出力する選択回路9の出力にはキ
に示すように常に主信号が再生され、同じく回路
10,11のうちリードサイクルにある回路の出
力信号選択回路5の出力を選択して連続的に出力
する選択回路12の出力にはクに示すように常に
既知パターンが再生される。
この既知パターンは予め既知パターンを有する
既知パターン照合回路7によつて照合され、異常
時警報が出力される。
このようにして主信号は周期パルスで決まる時
間間隔でそれに相当するビツト数の信号が対応す
る第1のアドレスで指定されるRAMの各単位記
憶素子に記憶され、同様に同じ時間には主信号と
同じビツト数の既知信号が対応する同じRAMの
第2のアドレスで指定される各単位記憶素子に記
憶され、この第1および第2のアドレスで指定さ
れる各単位記憶素子に主信号と既知信号が周期パ
ルスで決まる時間間隔で交互に切替えられて書き
込まれ、そして次の周期で読み出されることによ
り、リアルタイムで既知信号を監視することがで
きる。
なお、回路10(および11)に含むRAMは
1個として説明したが、RAM3を2分割し、2
つのRAMを使用して共通のアドレスを与えて動
作させるのも同様の結果を得ることができる。
以上、詳しく述べたように、本発明による障害
監視回路は、主信号が記憶されるRAMのメモリ
セルに必ず障害監視用の既知パターンが周期的に
記憶されるため、他の素子に比べて故障率の高い
RAMのメモリセルの監視を行うことができる。
さらにRAM周辺にわずかな信号選択回路を設け
ることだけで済むため経済的かつ信頼度を低下さ
せない監視回路構成ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による障害監視回路の実施例を
示す回路図、第2図は第1図の回路の信号処理の
流れとタイミングを示す図である。 1,2,4,5…信号選択回路、3…RAM、
6…既知パターン発生回路、7…既知パターン照
合回路、8…周期パルス発生回路、9,12…選
択回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 既知監視信号を発生する回路と、周期パルス
    を出力する回路と、前記同期パルスによつて主信
    号と前記既知監視信号を交互に選択する入力信号
    選択回路と、前記入力信号選択回路によつて選択
    された信号を記憶するRAMと、前記周期パルス
    によつて読み出すべき前記RAMの単位記憶素子
    を選択する出力信号選択回路と、前記出力信号選
    択回路によつて読み出された既知監視信号の符号
    誤りを監視する既知監視信号照合回路とを含み、
    前記周期パルスの一方のレベルのとき、主信号を
    第1のアドレス群によつて指定されるRAMの各
    単位記憶素子に、既知監視信号を第2のアドレス
    群によつて指定されるRAMの各単位記憶素子に
    書き込み、他方のレベルのとき、主信号を第2の
    アドレス群によつて指定されるRAMの各単位記
    憶素子に、既知監視信号を第1のアドレス群によ
    つて指定されるRAMの各単位記憶素子に書き込
    み、前記周期パルスの他方のレベルのとき、主信
    号を第1のアドレス群によつて指定されるRAM
    の各単位記憶素子より、既知監視信号を第2のア
    ドレス群によつて指定されるRAMの各単位記憶
    素子より読み出し、一方のレベルのとき、主信号
    を第2のアドレス群によつて指定されるRAMの
    各単位記憶素子より、既知監視信号を第1のアド
    レス群によつて指定されるRAMの各単位記憶素
    子より読み出すことにより、主信号を書込み読み
    出した次の周期でそのRAMの記憶素子に既知監
    視信号を書込み読み出してRAMの全単位記憶素
    子の障害検出を行うように構成したことを特徴と
    する障害監視回路。
JP58104363A 1983-06-10 1983-06-10 障害監視回路 Granted JPS59229800A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58104363A JPS59229800A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 障害監視回路

Applications Claiming Priority (1)

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JP58104363A JPS59229800A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 障害監視回路

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Publication Number Publication Date
JPS59229800A JPS59229800A (ja) 1984-12-24
JPH0410656B2 true JPH0410656B2 (ja) 1992-02-26

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ID=14378740

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58104363A Granted JPS59229800A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 障害監視回路

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5296829A (en) * 1976-02-10 1977-08-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Memory unit checking method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5296829A (en) * 1976-02-10 1977-08-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Memory unit checking method

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JPS59229800A (ja) 1984-12-24

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