JPS63133245A - 故障検出回路 - Google Patents

故障検出回路

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Publication number
JPS63133245A
JPS63133245A JP61280501A JP28050186A JPS63133245A JP S63133245 A JPS63133245 A JP S63133245A JP 61280501 A JP61280501 A JP 61280501A JP 28050186 A JP28050186 A JP 28050186A JP S63133245 A JPS63133245 A JP S63133245A
Authority
JP
Japan
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read data
output
signal line
memory array
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP61280501A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoaki Kubota
智晶 久保田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は論理回路の故障検出に関し、特にメモり装置に
おける読出しデータ検査回路の故障検出に関する。
(従来の技術) メイリ装置においては、検査ビットをデータに付加して
記憶させることにより、読出し時に該当データを検査し
て記憶誤りを検出している。この場合、読出しデータ検
査回路は非常に重要な役割をもっている。
従来、この読出しデータ検査回路自身の故障を検出する
ためには、読出しデータ検査回路を二重に備えて両方の
出力を比較し、異なった出力があった場合には故障であ
ると認識する構成になっていた。
(発明が解決しようとする問題点) 上述した従来の故障検出回路では、読出しデータ検査回
路を二重に備える必要がある。しかし、読出しデータ検
査回路は一般的に多数の排他的論理和回路を必要とする
ため、二重化によりハードウェア量が大幅に増大すると
いう欠点がある。
本発明の目的は、メモリアレイの読出しデータ信号線を
スリーステート出力で構成し、そのメモリアレイの読出
しデータ信号線がノ・イインピーダンス状態のときに抵
抗素子群で読出しデータ値を誤ったデータ値に設定して
おき、メモリアレイの出力がデータ出力時か、あるいは
ハイインピーダンスかの別を示して読出しデータの検査
を行うことにより上記欠点を除去し、ハードフェア量の
増大することがないように構成した故障検出回路を提供
することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明による故障検出回路は、誤り検査ビットを付加す
ることによりメモリ素子上に格納されたデータの誤りを
検出することができるメモリ装置の故障検出回路であっ
て、メモリアレイと、抵抗素子群と、続出データ検査回
路と、タイミング発生回路とを具備して構成したもので
ある。
メモリアレイは、メモリ素子をアレイ状に配列し、且つ
、読出しデータ信号線がスリーステート出力に構成され
たものである。
抵抗素子群は、メモリアレイの読出しデータ信号線がハ
イインピーダンスステートのときに読出しデータを誤っ
たデータ値に設定するためのものである。
読出しデータ検査回路は、読出しデータを検査するため
のものである。
タイミング発生回路は、メモリアレイの出力がデータ出
力時か、あるいはハイインピーダンスステートかの別を
示すためのものである。
(実施例) 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明による故障検出回路の一実施例を示す
ブロック図である。第1図において、lは読出しデータ
信号線がスリーステート出力であるメモリアレイ、2は
メモリアレイ1の読出しデータ信号線がハイインピーダ
ンス時に該当出力を誤りデータ値に設定するための抵抗
素子群、3は読出しデータ検出回路、4はタイミング発
生回路である。
第2図は、第1図に示す故障検出回路の動作を示すタイ
ミングチャートである。
第1図および第2図において、メモリアレイ1には検査
ビットを付加したデータが書込まれてあり、タイミング
発生回路4から信号線20を介して送られてくる読出し
指示が%lI′のときに読出し動作が行われ、読出し指
示が%Ofのときに読出しは行われず、出力がハイイン
ピーダンスステートとなる。このとき、読出しデータ信
号線11には誤りデータ値になるように設定された抵抗
素子群2が接続されているため、メモリアレイ1の読出
しデータ出力信号線がハイインピーダンスのとき、すな
わち、読出し指示が%QIのときには、必ず誤りデータ
となる。読出しデータ検査回路3は常時、読出しデータ
信号線11を監視しており、データ誤シがあるときには
%IIを信号線21に出力し、データ誤りがないときに
は%Orを信号線21へ出力して、読出しデータの検査
結果を報告する。信号線12上の読出しデータ誤り信号
は信号線21上の信号と、信号線22上のデータ出力中
指示信号との論理積である。データ出力中指示信号は、
タイミング発生回路4から送られてくる読出しデータが
確定している期間を示す。上の論理積はメモリアレイl
からの読出し動作中で、且つ、読出しデータに誤りがあ
るときを表わし、このときには上の論理積は11#にな
る。
信号線13上の検査歴故障信号は信号線21上の反転信
号と、信号線23上のハイインピーダンス指示信号との
論理積である。ハイインピーダンス指示信号は、タイミ
ング発生回路4から送られてくるメモリアレイlの出力
がハイインピーダンスステートに確定している期間を示
す。メモリアレイ1の出力がハイインピーダンス、すな
わち続出しデータ信号線ll上に誤りデータがあり、且
つ、信号線21上の信号が10Fのとき、すなわち読出
しデータ検査回路3が故障して誤りデータを正常なデー
タとみなしてしまったときに上の論理積は%1Fとなる
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、メモリアレイの読出しデ
ータ信号線をスリーステート出力に構成し、そのメモリ
アレイの読出しデータ信号線がノ翫イインピーダンスの
ときには抵抗素子群で読出しデータ値を誤ったデータ値
に設定しておき、メモリアレイの出力がデータ出力時か
、あるいはノ・イインピーダンス時かの別を示して読出
しデータの検査を行うことにより、ノ・−ドウエアの増
加をほとんど必要とせず、メモリアレイからの読出しデ
ータの検査に加えて、読出しデータ検査回路の故障検出
が容易にできるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による故障検出回路の一実施例を示す
ブロック図である。 第2図は、第1図の動作を示すタイミングチャートであ
る。 1・・・メモリアレイ 2・・・抵抗素子群 3・・・読出しデータ検査回路 4・−9タイミング発生回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 誤り検査ビットを付加することによりメモリ素子上に格
    納されたデータの誤りを検出することができるメモリ装
    置の故障検出回路であって、前記メモリ素子をアレイ状
    に配列し、且つ、読出しデータ信号線がスリーステート
    出力であるメモリアレイと、前記メモリアレイの読出し
    データ信号線がハイインピーダンスステートのときに読
    出しデータを誤ったデータ値に設定するための抵抗素子
    群と、前記読出しデータを検査するための読出しデータ
    検査回路と、前記メモリアレイの出力がデータ出力時か
    、あるいはハイインピーダンスステートかの別を示すた
    めのタイミング発生回路とを具備して構成したことを特
    徴とする故障検出回路。
JP61280501A 1986-11-25 1986-11-25 故障検出回路 Pending JPS63133245A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61280501A JPS63133245A (ja) 1986-11-25 1986-11-25 故障検出回路

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JP61280501A JPS63133245A (ja) 1986-11-25 1986-11-25 故障検出回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63133245A true JPS63133245A (ja) 1988-06-06

Family

ID=17625966

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61280501A Pending JPS63133245A (ja) 1986-11-25 1986-11-25 故障検出回路

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