JPH0384941A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- Power Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
半導体チップを装着したリードフレームへのワイヤボン
ディング方法に関し、 ボンディングワイヤのリードプレームへの圧着接合を信
頼性よく行うことを目的とし、リードフレームの中央に
設けてあるステージ(2)に半導体チップ(1)を接着
した後、ワイヤボンダを用いて、前記リードフレームの
リード(4)の先端と半導体チップ(1)のパッドとを
それぞれワイヤボンディング接続を行うに当たり、前記
ワイヤボンダのリードフレームクランパ(5)が当接す
る位置のボンディング用加工台(3)の表面に、傾斜土
手部(8)、溝部(9)または針状突起部00)を設け
て圧着接合することを特徴として半導体装置の製造方法
を構成する。
ディング方法に関し、 ボンディングワイヤのリードプレームへの圧着接合を信
頼性よく行うことを目的とし、リードフレームの中央に
設けてあるステージ(2)に半導体チップ(1)を接着
した後、ワイヤボンダを用いて、前記リードフレームの
リード(4)の先端と半導体チップ(1)のパッドとを
それぞれワイヤボンディング接続を行うに当たり、前記
ワイヤボンダのリードフレームクランパ(5)が当接す
る位置のボンディング用加工台(3)の表面に、傾斜土
手部(8)、溝部(9)または針状突起部00)を設け
て圧着接合することを特徴として半導体装置の製造方法
を構成する。
本発明はワイヤボンディング法を改良した半導体装置の
製造方法に関する。
製造方法に関する。
LSIやVLSTなどの半導体装置は、素子形成が終わ
った半導体チップを鉄・ニッケル合金或いは銅合金から
なる薄板を打ち抜き加工して作られるリードフレームの
中央部にあるステージに接着し、リードフレームのリー
ドの先端と半導体チップの周辺部に設けてあるパッドと
をそれぞれワイヤボンディング接続した後、樹脂モール
ドなどの外装手段を施すことによって形成されている。
った半導体チップを鉄・ニッケル合金或いは銅合金から
なる薄板を打ち抜き加工して作られるリードフレームの
中央部にあるステージに接着し、リードフレームのリー
ドの先端と半導体チップの周辺部に設けてあるパッドと
をそれぞれワイヤボンディング接続した後、樹脂モール
ドなどの外装手段を施すことによって形成されている。
こ\で、半導体チップはこれを構成する素子数の増加に
比例して、半導体チップの周辺にパターン形成されてい
るポンディングパッドの数が増しており、従ってリード
フレームに設けられているリードの数も多くなっている
。
比例して、半導体チップの周辺にパターン形成されてい
るポンディングパッドの数が増しており、従ってリード
フレームに設けられているリードの数も多くなっている
。
このことは素子数が増大するに従ってリードフレームを
構成するリードの幅が狭くなってゆくことを示しており
、現在は低コスト化の要求もあって、リードフレームの
厚みは150μm程度と薄く、またリード幅は100〜
200μmと狭くなってきている。
構成するリードの幅が狭くなってゆくことを示しており
、現在は低コスト化の要求もあって、リードフレームの
厚みは150μm程度と薄く、またリード幅は100〜
200μmと狭くなってきている。
そして、ワイヤボンダを用いて半導体チップの周辺に設
けてあるパッドとリードの先端をワイヤボンディングす
ることにより電気的接続が行われているが、先に記した
ようにリードフレームの厚さは薄く、またリードの幅が
狭いために、ワイヤの圧着接合は困難になってきている
。
けてあるパッドとリードの先端をワイヤボンディングす
ることにより電気的接続が行われているが、先に記した
ようにリードフレームの厚さは薄く、またリードの幅が
狭いために、ワイヤの圧着接合は困難になってきている
。
第2図は従来のワイヤボンディング方法を示す断面図で
あって、半導体チップ1をリードフレームのステージ2
に共晶半田などを用いて接着した後、このリードフレー
ムをワイヤボンダのボンディング加工用台3に位置決め
してワイヤボンディングを行う状態を示す部分断面図で
ある。
あって、半導体チップ1をリードフレームのステージ2
に共晶半田などを用いて接着した後、このリードフレー
ムをワイヤボンダのボンディング加工用台3に位置決め
してワイヤボンディングを行う状態を示す部分断面図で
ある。
そして、ボンディングはリードフレームのり一ド4をリ
ードフレームクランパ5で押圧した状態でボンディング
ツール6によりワイヤボンディングが行われていた。
ードフレームクランパ5で押圧した状態でボンディング
ツール6によりワイヤボンディングが行われていた。
なお、ワイヤボンディングは超音波振動を用いて行われ
ているが、金(Au)線を使用する場合には200〜3
00℃の加熱を併用して行われている。
ているが、金(Au)線を使用する場合には200〜3
00℃の加熱を併用して行われている。
こ\で、リード4をリードクランパ5で固定するには2
〜4 Kg/ Cm”の加圧が必要であるが、先に記し
たように大容量化によるリード数の増大(多ピン化)に
より、リード4の浮きや“ズレ”が生じ易く、そのため
にボンディングワイヤ(以下略してワイヤ)7がリード
4に接合できなかったり、ワイヤ7が変形したり、断線
したりするような障害が発生し易く、この解決が求めら
れていた。
〜4 Kg/ Cm”の加圧が必要であるが、先に記し
たように大容量化によるリード数の増大(多ピン化)に
より、リード4の浮きや“ズレ”が生じ易く、そのため
にボンディングワイヤ(以下略してワイヤ)7がリード
4に接合できなかったり、ワイヤ7が変形したり、断線
したりするような障害が発生し易く、この解決が求めら
れていた。
ワイヤボンダのボンディングツール6を用いてアルミニ
ウム(A/り練成いはAu線からなるワイヤ7を半導体
チップlのパッドとり−ド4の先端トラワイヤボンディ
ング接続する場合、ボンディング加工用台3とリード4
との間に浮きが生じ易く、そのためリードフレームクラ
ンパ5による加圧が不充分となって圧着接合ができなか
ったり、ボンディングツール6からの振動によりリード
4やワイヤ7も振動してしまい、そのためワイヤ7の特
性が劣化して変形や断線が生じると云う問題がある。
ウム(A/り練成いはAu線からなるワイヤ7を半導体
チップlのパッドとり−ド4の先端トラワイヤボンディ
ング接続する場合、ボンディング加工用台3とリード4
との間に浮きが生じ易く、そのためリードフレームクラ
ンパ5による加圧が不充分となって圧着接合ができなか
ったり、ボンディングツール6からの振動によりリード
4やワイヤ7も振動してしまい、そのためワイヤ7の特
性が劣化して変形や断線が生じると云う問題がある。
そこで、リード4を充分に押圧し、安定したボンディン
グを行うことが課題である。
グを行うことが課題である。
上記の課題はリードフレームの中央に設けてあるステー
ジに半導体チップを接着した後、ワイヤボンダを用いて
、前記リードフレームのリードの先端と半導体チップの
パッドとをそれぞれワイヤボンディング接続を行うに当
たり、前記ワイヤボンダのリードフレームクランパが当
接する位置のボンディング用加工台の表面に、傾斜土手
部、溝部または針状突起部を設けて圧着接合することを
特徴として半導体装置の製造方法を構成することにより
解決することができる。
ジに半導体チップを接着した後、ワイヤボンダを用いて
、前記リードフレームのリードの先端と半導体チップの
パッドとをそれぞれワイヤボンディング接続を行うに当
たり、前記ワイヤボンダのリードフレームクランパが当
接する位置のボンディング用加工台の表面に、傾斜土手
部、溝部または針状突起部を設けて圧着接合することを
特徴として半導体装置の製造方法を構成することにより
解決することができる。
今まで、ボンディングツール6を用いて行う超音波によ
る圧着接合が充分に行われない理由は、半導体素子の大
容量化によりチップの面積が大きくなると共に、リード
フレームを構成するり−ド4の数が増大しており、また
リードフレームの厚さも0.15rIn程度と薄いため
に完全に平坦な状態のリードフレームが得られにくいか
らである。
る圧着接合が充分に行われない理由は、半導体素子の大
容量化によりチップの面積が大きくなると共に、リード
フレームを構成するり−ド4の数が増大しており、また
リードフレームの厚さも0.15rIn程度と薄いため
に完全に平坦な状態のリードフレームが得られにくいか
らである。
そこで、本発明はリードフレームが薄く、変形し易いの
を利用し、従来は平坦なボンディング加工用台に傾斜土
手部、溝部または針状突起部を設けるもので、リードフ
レームクランパ5でリード4が変形する程に加圧する方
法をとることによって、今までワイヤボンディング時に
存在していたボンディング加工用台3からのり一ド4の
浮きを無くするものである。
を利用し、従来は平坦なボンディング加工用台に傾斜土
手部、溝部または針状突起部を設けるもので、リードフ
レームクランパ5でリード4が変形する程に加圧する方
法をとることによって、今までワイヤボンディング時に
存在していたボンディング加工用台3からのり一ド4の
浮きを無くするものである。
実施例1: (傾斜土手部を設けた場合)第1図(A)
はボンディングツール6による圧着接合が行われるボン
ディング加工用台3に傾斜土手部8を設けるもので、こ
の傾斜土手部8はワイヤボンディングが行われるリード
4の先端底部に沿って方形に設けてある。
はボンディングツール6による圧着接合が行われるボン
ディング加工用台3に傾斜土手部8を設けるもので、こ
の傾斜土手部8はワイヤボンディングが行われるリード
4の先端底部に沿って方形に設けてある。
この実施例においては傾斜土手部8の幅は1ffIIn
とし、また傾斜角は8°としな。
とし、また傾斜角は8°としな。
なお、実験によれば、傾斜土手部8の幅は0.5〜1閣
、また1頃斜角は4〜8°が適当である。
、また1頃斜角は4〜8°が適当である。
そして、従来のようにリードフレームクランパ5により
2〜4Kg/cm”の圧力でリード4を加圧すると、リ
ード4の先端は強制的に曲げられて固定するため、均一
な条件でワイヤボンディングを行うことができる。
2〜4Kg/cm”の圧力でリード4を加圧すると、リ
ード4の先端は強制的に曲げられて固定するため、均一
な条件でワイヤボンディングを行うことができる。
実施例2:(溝部を設けた場合)
第1図(B)はボンディングツールによる圧着接合が行
われるボンディング加工用台3に溝部9を設けるもので
、この溝部9はワイヤボンディングが行われるリード4
の先端底部に沿って方形に設けてある。
われるボンディング加工用台3に溝部9を設けるもので
、この溝部9はワイヤボンディングが行われるリード4
の先端底部に沿って方形に設けてある。
この実施例においては溝部9の幅はllTl1mとし、
また深さは0:5 mとし、ボンディング加工用台3を
切削して形成した。
また深さは0:5 mとし、ボンディング加工用台3を
切削して形成した。
そして、従来のようにリードフレームクランパ5により
2〜4 Kg/ cm”の圧力でリード4を加圧すると
、リード4の先端は強制的に凹形に曲げられて固定する
ため、その先端のり−ド4に均一な条件でワイヤボンデ
ィングを行うことができる。
2〜4 Kg/ cm”の圧力でリード4を加圧すると
、リード4の先端は強制的に凹形に曲げられて固定する
ため、その先端のり−ド4に均一な条件でワイヤボンデ
ィングを行うことができる。
実施例3: (針状突起部を設けた場合)第1図(C)
はボンディングツールによる圧着接合が行われるボンデ
ィング加工用台3に複数の針状突起部IOを設けるもの
で、この針状突起部10はワイヤボンディングが行われ
るリード4の先端底部に沿って方形に設けてある。
はボンディングツールによる圧着接合が行われるボンデ
ィング加工用台3に複数の針状突起部IOを設けるもの
で、この針状突起部10はワイヤボンディングが行われ
るリード4の先端底部に沿って方形に設けてある。
そして、従来のようにリードフレームクランパ5により
2〜4Kg/c+++”の圧力でリード4を加圧すると
、リード4の先端は針状突起IOに食い込まれて固定す
るため、その先端のり一ド4に均一な条件でワイヤボン
ディングを行うことができる。
2〜4Kg/c+++”の圧力でリード4を加圧すると
、リード4の先端は針状突起IOに食い込まれて固定す
るため、その先端のり一ド4に均一な条件でワイヤボン
ディングを行うことができる。
〔発明の効果]
以上記したようにワイヤボンダのリードフレームクラン
パが当接する位置のボンディング用加工台に、傾斜土手
部、溝部または針状突起部を設けて圧着接合を行えば、
リードは完全に固定されているので、従来見られたよう
なワイヤの不着や劣化が生ずることがなく、そのためワ
イヤボンディングの信頼性を向上することができる。
パが当接する位置のボンディング用加工台に、傾斜土手
部、溝部または針状突起部を設けて圧着接合を行えば、
リードは完全に固定されているので、従来見られたよう
なワイヤの不着や劣化が生ずることがなく、そのためワ
イヤボンディングの信頼性を向上することができる。
第1図は本発明に係るワイヤボンディング方法を示す断
面図、 第2図は従来のワイヤボンディング方法を示す断面図、 である。 図において、 lは半導体チップ、 2はステージ、3はボン
ディング加工用台、4はリード、5はリードフレームク
ランパ、 6はボンディングツール、 7はワイヤ、8は傾斜土
手部、 9は溝部、10は針状突起部、 である。
面図、 第2図は従来のワイヤボンディング方法を示す断面図、 である。 図において、 lは半導体チップ、 2はステージ、3はボン
ディング加工用台、4はリード、5はリードフレームク
ランパ、 6はボンディングツール、 7はワイヤ、8は傾斜土
手部、 9は溝部、10は針状突起部、 である。
Claims (1)
- リードフレームの中央に設けてあるステージ(2)に半
導体チップ(1)を接着した後、ワイヤボンダを用いて
、前記リードフレームのリード(4)の先端と半導体チ
ップ(1)のパッドとをそれぞれワイヤボンディング接
続を行うに当たり、前記ワイヤボンダのリードフレーム
クランパ(5)が当接する位置のボンディング用加工台
(3)の表面に、傾斜土手部(8)、溝部(9)または
針状突起部(10)を設けて圧着接合することを特徴と
する半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1222156A JPH0384941A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1222156A JPH0384941A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0384941A true JPH0384941A (ja) | 1991-04-10 |
Family
ID=16778061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1222156A Pending JPH0384941A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0384941A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7385782B2 (en) | 2004-11-04 | 2008-06-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Cassette housing assembly having an x-lever with a locking member connected thereto and a magnetic recording and reproducing apparatus having the same |
US8796826B2 (en) | 2011-12-22 | 2014-08-05 | Stmicroelectronics Pte Ltd | Window clamp top plate for integrated circuit packaging |
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1989
- 1989-08-28 JP JP1222156A patent/JPH0384941A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7385782B2 (en) | 2004-11-04 | 2008-06-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Cassette housing assembly having an x-lever with a locking member connected thereto and a magnetic recording and reproducing apparatus having the same |
US8796826B2 (en) | 2011-12-22 | 2014-08-05 | Stmicroelectronics Pte Ltd | Window clamp top plate for integrated circuit packaging |
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