JP3017136B2 - 半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具 - Google Patents

半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具

Info

Publication number
JP3017136B2
JP3017136B2 JP9220496A JP22049697A JP3017136B2 JP 3017136 B2 JP3017136 B2 JP 3017136B2 JP 9220496 A JP9220496 A JP 9220496A JP 22049697 A JP22049697 A JP 22049697A JP 3017136 B2 JP3017136 B2 JP 3017136B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
chip component
forming
fixed block
bumps
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP9220496A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1167774A (ja
Inventor
直樹 石川
秀彦 吉良
健二 小八重
則夫 海沼
哲 江本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP9220496A priority Critical patent/JP3017136B2/ja
Publication of JPH1167774A publication Critical patent/JPH1167774A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3017136B2 publication Critical patent/JP3017136B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/11Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • H01L2224/113Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector
    • H01L2224/1133Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector in solid form
    • H01L2224/1134Stud bumping, i.e. using a wire-bonding apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体チップ接続バ
ンプ形成方法及び形成用治具に関する。詳しくは、小型
の半導体チップの接続バンプ形成時に該半導体チップ部
品を強力に保持し得る半導体チップ接続バンプ形成方法
及び形成用治具に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体チップ部品(ベアチップ)を基板
上に直接実装するCOB(CHIPON BOARD)
技術には目的や用途に応じて種々の方式が提案されてお
り、その一つの方式としてフリップチップ実装方式があ
る。この実装方法は、半導体チップ部品と基板との間を
ワイヤを使用することなく、半導体チップ部品を直接基
板に搭載するものであり、ワイヤレスボンディング実装
方式とも呼ばれている。
【0003】従来のフリップチップ実装方式の実装工程
を図6および図7を用いて説明すると、先ず、図6
(a)に示すように、ボンディングツールのキャピラリ
1の中を通した金線(金ワイヤ)2の先端と放電用電極
3との間に高電圧を印加して放電させ、その放電エネル
ギにより図6(b)の如く金線2の先端を溶融させ、そ
の表面張力により金ボール4を形成する。
【0004】次に、図6(c)に示すように、半導体チ
ップ部品5の表面に形成されている電極パッド6に前記
キャピラリ1により金ボール4を押圧し、同時に超音波
振動を与えて図6(d)の如く金ボール4をパッド6に
圧着する。このとき、キャピラリ1の先端内面に形成さ
れた凹型により金ボール4を塑性変形させて図6(e)
に示すような大径部と小径部よりなる2段形状のバンプ
7を形成する。
【0005】次いで、図6(e)の如く、金線2をクラ
ンパー8によりクランプして上方に引張りバンプ7の上
方で金線2を切断する。このようにして各パッド6にバ
ンプ7を形成したのち、各バンプ7の高さにバラツキが
あるため、図6(f)に示すように、半導体チップ部品
5を裏返し、平面度の良いガラス板9に押圧して各バン
プ7の先端を塑性変形させて高さを揃える。
【0006】次いで、図7(g)の如く、平板上に数ミ
クロンの厚さに塗布した導電性ペースト10にバンプ7
を押し付けて図7(h)の如く、導電性ペースト10を
バンプ7に転写する。この導電性ペースト10は基板上
に半導体チップ部品5を実装した時に、バンプ7と基板
のパッドとの電気的な導通をより確実に行うものであ
り、エポキシ樹脂中に銀のフィラーを多数分散したもの
が使用される。
【0007】次いで、この導電性ペースト10を後工程
(樹脂接着工程)で流れ出さないように半硬化させる。
次いで、図7(i)の如く、半導体チップ部品5を搭載
する基板11の所定位置に熱硬化性の樹脂接着剤12を
盛り、基板11の表面に形成されている配線パターンに
接続されたパッド13に半導体チップ部品のバンプ7を
位置合わせして載置し、次いで、図7(j)の如く、半
導体チップ部品5の上から加圧加熱治具14により加圧
・加熱して樹脂接着剤12を硬化させ完成する。
【0008】この場合、樹脂接着剤12が半導体チップ
部品5により押し広げられた際、バンプ7に塗布されて
いる導電性ペースト10と基板11のパッド13との間
に入り込まないように、樹脂接着剤12はバンプ7に塗
布されている導電性ペースト10が基板11のパッド1
3に接するまではバンプ7に到達せず、その到達後に半
導体チップ部品5の端部に到達して該半導体チップ部品
5を密封するようになっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の半導体チッ
プ部品の基板上への実装方法において、半導体チップ部
品にバンプを形成するときは、図8に示すように、半導
体チップ部品5をボンデイングステージ15に真空吸着
により保持固定している。ところが半導体チップ部品5
の大きさが小型化され、例えば5×5mm以下の大きさ
になると、真空吸着による固定力だけでは固定が不十分
となり、ボンディング中に超音波振動、金線の引きちぎ
り等の力が作用したとき半導体チップ部品5が動いてし
まい、所定の位置にバンブを形成することができなくな
るという問題が生ずる。
【0010】本発明は、上記従来の問題点に鑑み、半導
体チップ部品が小さくとも確実に固定して接続バンプを
形成することができる半導体チップ接続バンプ形成方法
及び形成用治具を実現することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1の半導
体チップ接続バンプ形成方法は、半導体チップ部品のパ
ッド上に接続バンプを形成する半導体チップ接続バンプ
形成法法において、ボンディングステージ上に、半導体
チップ部品の一辺を当接する固定ブロックと、他の2辺
に接して押圧するクランプ部材とを設け、該クランプ部
材が半導体チップ部品の2辺を押圧しながら前記固定ブ
ロックに対して斜め方向からじぐざぐに繰り返し移動し
前記固定ブロックに当接させて押圧固定することを特徴
とする。この構成を採ることにより、半導体チップ部品
をクランプ部材により押圧移動していくことにより、ク
ランプ部材は必ず半導体チップ部品の2辺に接して押圧
するため、該2辺と固定ブロックとにより半導体チップ
部品を確実に固定することができ、ボンディング時に半
導体チップ部品が動くことはない。
【0012】また、本発明の請求項2の半導体チップ接
続バンプ形成方法は、前記固定ブロックの半導体チップ
部品が当接する面に円弧状の突出部を設け、該突出部と
前記クランプ部材とにより半導体チップ部品を固定する
ことを特徴とする。この構成を採ることにより、半導体
チップ部品の角部に加わる集中応力を緩和し、角部が破
損するのを防止することができる。
【0013】また、本発明の請求項3の半導体チップ接
続バンプ形成方法は、前記クランプ部材の固定ブロック
と平行する面の押圧方向を水平より傾けて半導体チップ
部品の浮き上がりを防止することを特徴とする。この構
成を採ることにより、半導体チップ部品の確実な固定が
可能となる。
【0014】また、本発明の請求項4の半導体チップ接
続バンプ形成方法は、前記固定ブロックの半導体チップ
部品に接する面の下部に逃げを設け、該逃げに、半導体
チップ部品のダイシング時に生じたバリを逃がし、固定
ブロックに対する半導体チップ部品の当接不良を防止す
ることを特徴とする。この構成を採ることにより、半導
体チップ部品の確実な固定が可能となる。
【0015】また、本発明の請求項5の半導体チップ接
続バンプ形成用治具は、半導体チップ部品のパッド上に
接続バンプを形成する半導体チップ接続バンプ形成用治
具であって、ボンディングステージ上に固定され半導体
チップ部品の一辺を当接する固定ブロックと、半導体チ
ップ部品の他の2辺に接して押圧するクランプ部材と、
該クランプ部材を前記固定ブロックに対して斜め方向か
らじぐざぐに繰り返し移動して前記固定ブロックに当接
させて押圧する駆動押圧手段とを具備してなることを特
徴とする。この構成を採ることにより、小さい半導体チ
ップ部品でも機械的に固定できるため、真空吸引よりも
強力に固定することができる。
【0016】また、本発明の請求項6の半導体チップ接
続バンプ形成用治具は、前記固定ブロックの半導体チッ
プ部品が当接する面に円弧状の突出部を設けたことを特
徴とする。この構成を採ることにより、半導体チップ部
品の角部に加わる集中応力を緩和し、角部が破損するの
を防止することができる。
【0017】また、本発明の請求項7の半導体チップ接
続バンプ形成用治具は、前記クランプ部材の固定ブロッ
クと平行する面の押圧方向を水平より傾けたことを特徴
とする。この構成を採ることにより、半導体チップ部品
の浮き上がりを防止して確実な固定が可能となる。
【0018】また、本発明の請求項8の半導体チップ接
続バンプ形成用治具は、前記固定ブロックの半導体チッ
プ部品に接する面の下部に逃げを設けたことを特徴とす
る。この構成を採ることにより、半導体チップ部品のダ
イシング時に生じたバリを逃がすことができ、半導体チ
ップ部品を固定ブロックに確実当接し固定することがで
きる。
【0019】
【発明の実施の形態】図1は本発明の半導体チップ接続
バンプ形成方法に用いる形成用治具の第1の実施の形態
を半導体チップ部品と共に示す斜視図である。この、半
導体チップ接続バンプ形成用治具は、同図に示すよう
に、ボンディングステージ20と、該ボンディングステ
ージ20に固定された固定ブロック21と、該固定ブロ
ック21に半導体チップ部品22を押圧固定するクラン
プ部材23と、該クランプ部材23を固定ブロック21
に向かう方向(X方向)に移動させる駆動押圧手段24
と、固定ブロック21に対し平行方向(Y方向)に移動
させる駆動押圧手段25とを具備して構成されている。
【0020】なお、固定ブロック21は長方形をなし、
クランプ部材23は半導体チップ部品22の隣接する2
辺に接触できる直角な2辺を有する形状をなし、それぞ
れの厚さは半導体チップ部品22の厚さと同等乃至はそ
れより薄く形成されている。また、クランプ部材23を
移動させる駆動押圧手段24,25にはねじとモータ、
あるいは油圧シリンダ等が用いられる。
【0021】このように構成された半導体チップ接続バ
ンプ形成用治具を用いた本発明の半導体チップ接続バン
プ形成方法を図2を用いて説明する。先ず、図2(a)
の如く、半導体チップ部品22を固定ブロック21とク
ランプ部材23との間に載置し、次いで、駆動押圧手段
24,25により図の如くクランプ部材23を固定ブロ
ック21に対して斜め方向から〜の如くじぐざぐ
動させ、図2(b)に示すように固定ブロック21に
半導体チップ部品22の一辺を当接させ、他の2辺をク
ランプ部材23の2辺で押圧して固定する。
【0022】このように、クランプ部材23を固定ブロ
ック21に対して斜め方向から移動することにより、ク
ランプ部材23の内側の2辺が半導体チップ部品22の
2辺に先ず当接するため半導体チップ部品22の位置決
めが行われ、その後固定ブロック21に当接されるた
め、確実な固定ができる。なお、従来の真空吸着では吸
着孔の面積に比例して固定力が小さくなるが、本発明方
法では機械的な固定であるため、そのようなことはな
い。
【0023】図3は本発明の半導体チップ接続バンプ形
成用治具の第2の実施の形態における固定ブロックを示
す斜視図である。本実施の形態の特徴は、固定ブロック
21の形状を同図に示すように、半導体チップ部品を当
接する辺に円弧状の突出部26を設けたことで、その他
の構成は第1の実施の形態と同様である。
【0024】このように形成された形成治具を用いた半
導体チップ接続バンプ形成方法は前実施の形態とは同様
であるが、固定ブロック21に円弧状の突出部26を設
けた利点は次のとおりである。即ち、固定ブロック21
の半導体チップ部品を当接する辺が直線であると、半導
体チップ部品の対向する2辺の平行度、または固定ブロ
ック21とクランプ部材との対向する辺の平行度が正確
でないと、半導体チップ部品22を固定したときに、そ
の角部に応力が集中し、破損する場合がある。しかし本
実施の形態では突出部26で半導体チップ部品に当接す
るため角部には応力が発生せず、破損の危険は防止され
る。
【0025】図4は本発明の半導体チップ接続バンプ形
成用治具の第3の実施の形態を示す断面図である。本実
施の形態の特徴は、クランプ部材23の固定ブロック2
1と平行する面の押圧方向を水平より傾け、斜め上方よ
り半導体チップ部品22を押圧できるようにしたこと
で、その他の構成は第1の実施の形態と同様である。な
お、クランプ部材23の傾斜角度θは5°程度がよい。
【0026】このように構成された本実施の形態は、半
導体チップ部品22をクランプ部材23が斜め上方から
押圧するため、その垂直分力により半導体チップ部品2
2をボンディングステージ20に押圧するため、半導体
チップ部品22の浮き上がりを防止することができる。
【0027】図5は本発明の半導体チップ接続バンプ形
成用治具の第4の実施の形態を示す断面図である。本実
施の形態の特徴は、固定ブロック21の半導体チップ部
品22に接する面の下部に逃げ27を設けたことで、そ
の他の構成は前実施の形態と同様である。
【0028】このように構成された本実施の形態は、固
定ブロック21に半導体チップ部品22を当接したと
き、半導体チップ部品22に生じているバリ22aを逃
げ27により逃がすことができるため、固定ブロック2
1と半導体チップ部品22との接触部に隙間ができず、
半導体チップ部品22を確実に固定することができる。
なお、半導体チップ部品22に生じるバリ22aは、ウ
エハよりダイシングして個々の半導体チップ部品とする
とき、ダイシング用の切り込みを途中で止め、折り放す
ときに生ずるものである。
【0029】
【発明の効果】本発明の半導体チップ接続バンプ形成方
法及び形成用治具に依れば、半導体チップ部品を機械的
に保持固定するため、小型化された半導体チップ部品に
対して従来の真空吸引に比し強力な固定ができる。また
固定ブロックに円弧状の突出部設けたことにより半導体
チップ部品の角部の割れを防止でき、また半導体チップ
部品を押圧するクランプ部材を斜め上方より押圧するこ
とにより半導体チップ部品の浮き上がりを防止でき、さ
らに固定ブロックに半導体チップ部品のバリを逃がす逃
げを設けたことにより確実な固定が可能となり、半導体
チップ接続バンプの形成時に形成するバンプの位置ずれ
を防止し信頼性の向上に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体チップ接続バンプ形成方法に用
いる形成用治具の第1の実施の形態を半導体チップ部品
と共に示す斜視図である。
【図2】本発明の半導体チップ接続バンプ形成用治具の
第1の実施の形態による半導体チップ接続バンプ形成方
法を説明するための図である。
【図3】本発明の半導体チップ接続バンプ形成方法に用
いる形成用治具の第2の実施の形態における固定ブロッ
クを示す斜視図である。
【図4】本発明の半導体チップ接続バンプ形成方法に用
いる形成用治具の第3の実施の形態を示す断面図であ
る。
【図5】本発明の半導体チップ接続バンプ形成方法に用
いる形成用治具の第4の実施の形態を示す断面図であ
る。
【図6】従来のフリップチップ実装方式の実装工程を説
明するための図である。
【図7】従来のフリップチップ実装方式の実装工程を説
明するための図である。
【図8】従来のボンディングステージに半導体チップ部
品を固定する方法を示す図である。
【符号の説明】
20…ボンディングステージ 21…固定ブロック 22…半導体チップ部品 23…クランプ部材 24,25…駆動押圧手段 26…突出部 27…逃げ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 海沼 則夫 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1 番1号 富士通株式会社内 (72)発明者 江本 哲 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1 番1号 富士通株式会社内 (56)参考文献 特開 平7−68441(JP,A) 特開 平4−158535(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/50 - 21/60

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体チップ接続バンプ形成方法におい
    て、 ボンディングステージ上に、半導体チップ部品の一辺を
    当接する固定ブロックと、他の2辺に接して押圧するク
    ランプ部材とを設け、 該クランプ部材が半導体チップ部品の2辺を押圧しなが
    ら前記固定ブロックに対して斜め方向からじぐざぐに繰
    り返し移動し前記固定ブロックに当接させて押圧固定す
    ることを特徴とする半導体チップ接続バンプ形成方法。
  2. 【請求項2】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体チップ接続バンプ形成方法におい
    て、 ボンディングステージ上に、半導体チップ部品の一辺を
    当接する固定ブロックと、他の2辺に接して押圧するク
    ランプ部材とを設け、且つ、 前記固定ブロックの半導体
    チップ部品が当接する面に円弧状の突出部を設け、前記クランプ部材が半導体チップ部品の2辺を押圧しな
    がら前記固定ブロックに対して移動し前記固定ブロック
    の突出部に当接させて押圧固定することを特徴とする半
    導体チップ接続バンプ形成方法。
  3. 【請求項3】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体チップ接続バンプ形成方法におい
    て、 ボンディングステージ上に、半導体チップ部品の一辺を
    当接する固定ブロックと、他の2辺に接して押圧するク
    ランプ部材とを設け、 前記クランプ部材の固定ブロックと平行する面の押圧方
    向を水平より傾けて半導体チップ部品の2辺を押圧しな
    がら固定ブロックに対して移動し前記固定ブロックに当
    接させ、半導体チップ部品の浮き上がりを防止して押圧
    固定することを特徴とする半導体チップ接続バンプ形成
    方法。
  4. 【請求項4】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体チップ接続バンプ形成方法におい
    て、 ボンディングステージ上に、半導体チップ部品の一辺を
    当接する固定ブロックと、他の2辺に接して押圧するク
    ランプ部材とを設け、且つ、 前記固定ブロックの半導体
    チップ部品に接する面の下部に半導体チップ部品のダイ
    シング時に生じたバリを逃がすための逃げを設け、 前記クランプ部材が半導体チップ部品の2辺を押圧しな
    がら前記固定ブロックに対して移動し前記固定ブロック
    に当接させて押圧固定し、 固定ブロックに対する半導体
    チップ部品のバリによる当接不良を防止することを特徴
    とする半導体チップ接続バンプ形成方法。
  5. 【請求項5】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体チップ接続バンプ形成用治具であっ
    て、 ボンディングステージ上に固定され半導体チップ部品の
    一辺を当接する固定ブロックと、半導体チップ部品の他
    の2辺に接して押圧するクランプ部材と、該クランプ部
    材を前記固定ブロックに対して斜め方向からじぐざぐに
    繰り返し移動して前記固定ブロックに当接させて押圧す
    る駆動押圧手段とを具備してなることを特徴とする半導
    体チップ接続バンプ形成用治具。
  6. 【請求項6】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体チップ接続バンプ形成用治具であっ
    て、 ボンディングステージ上に固定され半導体チップ部品の
    一辺を当接する固定ブロックと、半導体チップ部品の他
    の2辺に接して押圧するクランプ部材と、該クランプ部
    材を前記固定ブロックに対して移動して前記固定ブロッ
    クに当接させて押圧する駆動押圧手段とを具備し、 前記
    固定ブロックの半導体チップ部品が当接する面に円弧状
    の突出部を設けたことを特徴とする半導体チップ接続バ
    ンプ形成用治具。
  7. 【請求項7】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体チップ接続バンプ形成用治具であっ
    て、 ボンディングステージ上に固定され半導体チップ部品の
    一辺を当接する固定ブロックと、半導体チップ部品の他
    の2辺に接して押圧するクランプ部材と、該クランプ部
    材を前記固定ブロックに対して移動して前記固定ブロッ
    クに当接させて押圧する駆動押圧手段とを具備し、 前記
    クランプ部材の固定ブロックと平行する面の押圧方向を
    水平より傾けたことを特徴とする半導体チップ接続バン
    プ形成用治具。
  8. 【請求項8】 半導体チップ部品のパッド上に接続バン
    プを形成する半導体 チップ接続バンプ形成用治具であっ
    て、 ボンディングステージ上に固定され半導体チップ部品の
    一辺を当接する固定ブロックと、半導体チップ部品の他
    の2辺に接して押圧するクランプ部材と、該クランプ部
    材を前記固定ブロックに対して移動して前記固定ブロッ
    クに当接させて押圧する駆動押圧手段とを具備し、 前記
    固定ブロックの半導体チップ部品に接する面の下部に逃
    げを設けたことを特徴とする半導体チップ接続バンプ形
    成用治具。
JP9220496A 1997-08-15 1997-08-15 半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具 Expired - Fee Related JP3017136B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9220496A JP3017136B2 (ja) 1997-08-15 1997-08-15 半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9220496A JP3017136B2 (ja) 1997-08-15 1997-08-15 半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1167774A JPH1167774A (ja) 1999-03-09
JP3017136B2 true JP3017136B2 (ja) 2000-03-06

Family

ID=16751971

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9220496A Expired - Fee Related JP3017136B2 (ja) 1997-08-15 1997-08-15 半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3017136B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4700639B2 (ja) * 2007-03-02 2011-06-15 株式会社新川 バンプボンディング装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1167774A (ja) 1999-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6353263B1 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP3526788B2 (ja) 半導体装置の製造方法
EP0890989A1 (en) Semiconductor device and method for manufacturing thereof
KR20010098592A (ko) 반도체패키지 및 그 제조방법
JP3421548B2 (ja) 半導体ベアチップ、半導体ベアチップの製造方法、及び半導体ベアチップの実装構造
EP1369911A1 (en) Method of manufacturing semiconductor device
JP3017136B2 (ja) 半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具
US6881612B2 (en) Method of bonding a semiconductor element to a substrate
JP4057875B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3496569B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法並びにその実装構造
US20090001135A1 (en) Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method
KR100533847B1 (ko) 캐리어 테이프를 이용한 적층형 플립 칩 패키지
JP3075398B2 (ja) 超音波ボンディング用コレットおよびボンディング方法
JP3510520B2 (ja) 半導体パッケージ及びその製造方法
JP3335562B2 (ja) 半導体チップ接続バンプ形成方法
JPH10335366A (ja) 半導体装置
JP3149631B2 (ja) 半導体装置及びその実装装置及びその実装方法
JP3942500B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3196845B2 (ja) バンプ電極形成方法
JP2004119550A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2004014637A (ja) 半導体装置及びワイヤボンディング方法
JP2000214216A (ja) 半導体検査装置
JP2526534B2 (ja) 半導体装置の実装方法
JP4729438B2 (ja) 半導体装置、およびその製造方法
JPH06151525A (ja) ワイヤボンディング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19991214

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071224

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081224

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091224

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees