JPH0366605B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0366605B2
JPH0366605B2 JP57002808A JP280882A JPH0366605B2 JP H0366605 B2 JPH0366605 B2 JP H0366605B2 JP 57002808 A JP57002808 A JP 57002808A JP 280882 A JP280882 A JP 280882A JP H0366605 B2 JPH0366605 B2 JP H0366605B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
data
temperature
correction
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP57002808A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58120137A (ja
Inventor
Shoichi Murase
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Terumo Corp
Original Assignee
Terumo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Terumo Corp filed Critical Terumo Corp
Priority to JP57002808A priority Critical patent/JPS58120137A/ja
Priority to US06/454,020 priority patent/US4559954A/en
Priority to GB08237064A priority patent/GB2115930B/en
Priority to FR8300353A priority patent/FR2519757B1/fr
Priority to DE19833300836 priority patent/DE3300836A1/de
Publication of JPS58120137A publication Critical patent/JPS58120137A/ja
Publication of JPH0366605B2 publication Critical patent/JPH0366605B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/24Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
    • G01K7/25Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit for modifying the output characteristic, e.g. linearising
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K13/00Thermometers specially adapted for specific purposes
    • G01K13/20Clinical contact thermometers for use with humans or animals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 A 技術分野 本発明は電子体温計に関するものであり、更に
詳細に言えば非線形特性を有する温度検出素子を
用いた検出部の出力値を所定の温度範囲における
線形出力値に近似するよう補正する機能を有する
電子体温計に関するものである。 B 先行技術及びその問題点 現在、実用化されている温度センサーの、温
度・出力値特性は非線形特性を有するものがほと
んどである。これらを素子を使用する場合、従来
はブリツジ等のハード手法を用いて直線化した出
力を得ていたが、近年ソフト手法により補正する
ものが提案されている。例えばサーミスタの非線
形出力値の所定温度範囲における線形出力値から
のずれを補正すものとして提案された技術の一つ
として補正手段に予め各々の非線形出力値データ
に対応する線形出力値データをROM(READ
ONLY MEMORY)内にテーブルとして用意し
ておき、非線形出力値データを入力として、非線
形出力値をデータに対応する線形出力値データを
得るものがあるが、ぼう大なテーブルを記憶する
記憶部を必要とする欠点がある。また他の提案技
術の電子体温計は予じめ非線形特性のデータを求
めておき、それに基づいて非線形出力値から線形
出力値を求めるための演算プログラムをマイクロ
コンピユータに用意しているので線形出力値を得
るためにマイクロプロセツサの処理を必要とす
る。従つて結果を得るまではマイクロプロセツサ
の処理時間を待つ必要がある。 発明の目的 本発明は上述した従来技術の欠点を除去するも
のであり、その目的とする所は、所定精度(分解
能)で温度を出力するための補正データの数が前
記所定精度(分解能)で出力すべき全有効データ
の数よりも少ない電子体温計を提案することにあ
る。 本発明による電子体温計は上記の目的を達成す
るために、温度変化に応じて非直線に変化する電
気信号を所定分解能のデジタルデータに変換して
出力する温度検出手段と、出力の微小温度増分に
対応する前記非直線と基準となる直線との差の変
化分が所定精度を越えない範囲の前記微小温度増
分を単位として該微小温度増分毎に規定した補正
データを記憶している記憶手段と、前記温度検出
手段の出力するデジタルデータのうち前記微小温
度増分を刻む上位ビツトデータで前記記憶手段か
ら補正データを読み出す読出手段と、 各温度のサンプリング時点において前記温度検
出手段が出力するデジタルデータと前記記憶手段
から読み出した補正データを加算又は減算する演
算手段を備えることをその概要とする。 かかる構成において、温度検出手段は、サーミ
スタ等のように温度変化に応じて非直線に変化す
る電気信号を例えは分解能0.01℃の10ビツトデジ
タルデータに変換して出力する。従つて、例えば
有効測定レンジを32.00℃〜42.00℃かつ測定精度
を0.01℃とすると、出力すべき全有効データの数
は1000個になる。 また記憶手段は、出力の微小温度増分に対応す
る前記非直線と基準となる直線との差の変化分が
測定精度(0.01℃)を越えない範囲の前記微小温
度増分を単位として該微小温度増分毎に規定した
補正データを記憶している。この微小温度増分の
単位がどの程度の値になるかは実際に使用するサ
ーミスタ等の非直線特性形状がどれだけ基準とな
る直線形状に近いかによるが、例えば結果として
微小温度増分=0.1℃になるとすると、記憶手段
は測定レンジ内の出力すべき全有効データの数の
1000個に対して32.0℃、32.1℃、32.2℃、…、の
如く微小温度増分の0.1℃毎に規定した合計略100
個の補正データを記憶すれば良い。 また読出手段は、温度検出手段の出力する10ビ
ツトデジタルデータのうち、微小温度増分である
0.1℃の単位を刻むような上位7ビツトデータで
記憶手段から補正データを読み出す。即ち、微小
温度増分が0.1℃を単位とすることとなつた結果、
少なくとも検出したデジタルデータが0.1℃以上
変化するまでの間は同一の補正データを読み出し
て有効に使用できる。 そして演算手段は、各温度のサンプリング時点
において温度検出手段が出力するデジタルデータ
と記憶手段から読み出した補正データを加算又は
減算する。これにより、少なくとも体温を0.01℃
の分解能でサンプリングすることができ、しか
も、各微小温度増分0.1℃の区間内で検出される
各10個の体温データは夫々の区間の微小曲線の形
に沿つて変化をするから、各区間内では補正デー
タの値が一定であつても常に所定精度0.01℃以内
の出力温度を提供できる。 発明の具体的説明 第1図は、サーミスタによる感知温度とそれに
対応する出力を一次関数換算して得た表示温度と
の関係を非線形出力と線形出力の特性を示して説
明するためのブラフ図である。 サーミスタの出力特性が線形であれば、参照番
号1に示すように、傾き一定の直線となる。しか
し、実際にはサーミスタの出力特性は非線形であ
るので32℃と42℃とを結ぶ出力特性で示すと第1
図の参照番号2に示すようになつてしまう。すな
わち、本来A点の温度のものが、非線形出力値に
おいてはA′の点になつてしまい、参照番号3に
示すだけのサーミスタ出力の差が表示温度の差と
して入り込む。換言すれば第1図の差は温度表示
に際し、線形出力値を必要とする場合に補正しな
ければならない補正量に相当する。さて、上に述
べた出力値の差を補正量としてたて軸をとり、横
軸を感知される温度としてグラフ図にしてみる
と、第2図のようになる。電子体温計において
は、実用上、32℃より42℃と間で0.01℃以上の分
解能(精度)が必要とされている。これは温度を
2進表現とすると約10ビツトを必要とする。すな
わち、サーミスタよりの非線形出力値を10ビツト
のデジタル値に変換し、この出力を線形出力値に
対応する値に補正すればよい。 以下、本発明の原理を説明する。 第2図における補正曲線4の32℃から42℃間の
接線の最大の傾きb/a、回路により多少差異は
あるが、約0.1以下である。そこで以下0.01℃以
内の精度で補正することを考える。第2図におけ
るΔbを0.01℃以内の精度にするにはb/a=
Δb/Δaより、Δa=(a/b)×Δbすなわち、
b/a=0.1としてΔa=(1/0.1)×0.01、従つてΔa =0.1℃となる。すなわち、0.1℃毎に補正すれ
ば、精度を0.01℃以内に保つことができる。 以上の理由により、10ビツトの未補正データの
下位3ビツトを省略しても、b/a≒0.1<1/
28であるため、上位7ビツトを使用して0.01℃以
内の精度をもつように充分補正が可能となる。 第3図は以上の理由を基に本発明を電子体温計
に適用したときの基本構成を示す図面である。 参照番号101はコンデンサCと2つのインバ
ータINVからなる非安定マルチバイブレータで
あり、このバイブレータの発振周波数は検温素子
として形成されたサーミスタ100の特定の温度
下の抵抗値に従属する。102は一定の周波数で
発振する基準発振器であり、103は基準発振器
102の発振するパルスを計数して、所定の時間
幅Txのゲート信号を形成する制御回路である。
制御回路103は計数に先立つて、出力ライン1
04にカウンタリセツトパルスを出力し、カウン
タ106のリセツトを行う。105はアンドゲー
トであり、制御回路103の出力するゲート信号
幅に対応する非安定マルチバイブレータ101の
発振パルスをカウンタ106に与える。カウンタ
106は時間幅Txにおける非安定マルチバイブ
レータ101の発振パルス数に対応する2進出力
データ107を加算器111の1の入力として出
力する。2進出力データ107の上位7ビツトの
信号108で補正データを記憶している補正用
ROM109をアドレスし、補正出力110を得
る。2進出力データ107と補正出力110を加
算器111で演算(実施例では加算)し、補正済
み出力112を求め、演算回路113に出力す
る。演算回路113は補正済み出力112から温
度を求める演算(実施例では一次関数)を行い、
演算結果を表示回路114に与えて温度表示を行
う。 補正用ROM109の補正データを記憶するた
めに必要とするビツト数は、第1図の補正量3を
表すことができればよい、補正量3の大きさを
0.01℃の精度で表わすとすると、補正量3の最大
量を0.5℃とすれば、補正の種類は0.5℃/0.01℃
=50となる。従つて、6ビツトあればそれぞれの
補正データを特定できる。実際には、サーミスタ
毎にバラツキがあるので、各サーミスタに対応し
て、線形出力との差を取り補正値として記憶でき
るように、ROM109をPROM(プログラマブ
ルROM)にすると、精度を更に向上することが
できる。 第4図は、第3図に準じた回路を用いた場合の
32℃と42℃を結んだ線形出力値と非線形出力値を
表わす図である。たて軸は、B定数を4000Kとし
たときのカウント値を表わす。カウント値は、第
3図の非安定マルチバイブレータ101の出力と
同様のものである。(但し、後で説明する第5図
からわかるようにカウント値を出力するため出力
200は12ビツトとなる)そこで、ROM109
を用いて、サーミスタ100及び非安定マルチバ
イブレータ101の非直線性を補正する。この例
では、非線形出力値との補正を必要とする補正部
分は、斜線で示している。すなわち、斜線で示す
部分のみを補正データとしてROM109に記憶
することにより、ROMの容量を少なくしてい
る。さて、B定数を4000Kとして、32℃〜42℃の
間を0.1℃ごとに計算した結果を示せば第5図か
ら解るように補正量は最大約74(カウント)であ
るので、7ビツト(27=128)のデータ出力を持
つROMでよい。ROM109のアドレス入力即
ち、補正データ108は、第4図より、0.01℃が
何カウントに相当するかを計算すると、32℃〜42
℃間の10℃のカウント差が2968−1276≒1700カウ
ントとなり、0.01℃当りのカウント値は、1700/
(10℃/0.01℃)=1.7カウントとなる。すなわち、
0.01℃の精度を得るためには、補正量間の差が
1.7カウント以下になるように、補正量のステツ
プを決めればよい。表はB定数を4000Kとして32
℃から42℃の間を0.1℃ごとに計算したときのカ
ウント値とカウント値に対する補正量を示すもの
である。
【表】
【表】
【表】
【表】 この表の中で補正量の差が、1.7カウント以下
に入る範囲は、34.1℃より40.0℃である。従つて
体温計として必要な35℃〜38℃の範囲には充分入
つている。表で、41.9℃と42.0℃の時の補正量の
差は、3.1カウントである。これは0.018℃の差に
相当し、この値が最悪値となる。従つて、総合的
に言えば、この例では35℃より38℃以外の温度計
測範囲でも、0.02℃以上の分解能を得ることがで
きる。さて、35℃〜38℃の間を精度0.01℃以内に
するためには、0.1℃毎に補正すればよいことが
明らかとなつた。そこで、これに必要なROMを
アドレスをするビツト数を計算すると、次のよう
になる。 0.1℃をステツプとするということは、カウン
ト値としては17になるので、17カウント以内のカ
ウント毎にROMのアドレスを変化させればよ
い。すなわち、非安定マルチバイブレータ101
の12ビツト出力のうち、下位4ビツトを取り除い
た上位8ビツトをROMアドレスとすればよい。
即ち、24=16であるから、これは17カウント以下
となるので、下位4ビツトを取り除いた所の上位
8ビツトをROMアドレスとする。従つて補正用
ROMは、7ビツトデータを1語とすると、8ビ
ツトアドレス分に相当する256語の記憶容量のも
ので充分である。 以上計算値を示して説明したが32℃〜42℃の作
図から求めた線形出力値もほぼこれに近い値にな
る。 以上において詳述した非線形出力値を線形出力
値に近づけるための補正用のROM109及び補
正を行う演算器111等が実装された電子体温計
の全体の構成及び動作を更に第5図、第6図を参
照して詳細に説明する。 抵抗値−パルス数変換回路202には基準クロ
ツク信号206と変換指令信号204が入力され
ている。変換はコントロール回路227からの信
号204が論理1になると開始され、変換回路2
02からの変換終了信号205によつて、信号2
04が論理0になり終了する。参照番号206は
基準クロツク信号である。 さて203は変換回路202の出力であるデー
ダパルス出力信号であり、カウンタ207のクロ
ツク(CLK)入力を構成する。カウンタ207
はモード切換端子U/Dに論理1が入力されると
アツプ動作をする。論理0が入力されるとダウン
動作をする。Rはカウンタ207のリセツト端子
である。208はカウンタ207のデーダ出力で
あり、デコーダ212のデータ入力を構成する。
サーミスタ201が温度30℃を検出し、カウント
数200のデータ入力を受けたとき出力端子T1に論
理1の出力を形成する。出力端子T2はカウンタ
207のモード切換端子(U/D)に論理0の入
力を受け−3のデータ出力をデコーダ112に与
えたときに形成される。213は端子T1の出力
信号である。214はアンドゲートであり、カウ
ンタ212のT1の出力とコントロール回路22
7のデコードコントロール信号229をゲート入
力とする。サーミスタ201が30℃以上を検出
し、デコーダ212が端子T1に出力を形成し、
デコードコントロール信号が論理1のときに1/2
分周器216の分周器出力217は論理1とな
り、DフリツプフロツプのD側入力を論理1にす
る。222はコントロール回路227が出力する
読込みパルスであり、変換指令信号204の立下
がり時にD側入力をフリツプフロツプ219に記
憶するために出力される。さて分周器出力21
7、即ちD側入力は論理1である。出力、即ち
アツプダウンコントロール信号220は論理0と
なり、出力をモード切換端子U/Dに受けるカ
ウンタ212はダウンカウンタに切りかえられ、、
データパルス出力信号203でダウントカウント
動作する。また、カウンタリセツト信号211は
アンドゲート209でゲートされる。このため、
次の変換指令信号204によつて変換されたデー
タパルス出力信号203は前回のアツプカウント
時のカウント値から逆にカウンタ207をカウン
トダウンする。 さて、ダウンカウントされた値は前回の測定値
と同じ値の時は零となるがそれよりも温度が高い
場合はカウンタ207の内容は零からさらにダウ
ンカウトしてマイナスの値を取る事になる。さ
て、この値がたとえばマイナス3カウント(+
0.3℃相当)以下になるとデコーダ212のデコ
ード出力223に出力信号を発生する。その出力
はフリツプフロツプ224に入力され、測定開始
検知信号225を出力する。測定開始検知信号2
25は抵抗値−パルス数変換回路202に入力さ
れており、体温計測モードに入り精度を上げる。
またこの信号をマイクロコンピユータのスタート
端子にアンドゲート233を通して1秒信号23
4とアンドを取つて与え、マイクロコンピユータ
231を割り込みスタート番地から1秒毎に起動
させる。測定開始信号230はマイクロコンピユ
ータ231からのサンプリング指令信号であり、
この信号がコントロール回路227に入力される
と変換指令信号204を出力し、サーミスタの温
度に対応したデータ出力208を得る。データ出
力208は加算器240に与えられる。一方、2
進データ出力208の上位8ビツトから成る補正
データ241は補正用ROM242をアドレス
し、補正データ243を読み出す。補正データは
加算器240に加算データとして与えられ、デー
タ出力208に加算される。加算器240は補正
済みデータ出力244をマイクロコンピユータ2
31に出力する。マイクロコンピユータ231は
これを受けて演算処理、表示等を行う。体温計測
が終了するとマイクロコンピユータから測定終了
信号228が送られ再び測定開始を検知する予備
計測モードに入る。マイクロコンピユータはこの
時再び待機状態となり消費電力を押さえる。 さて先ほどのカウンタ207のダウンカウント
時のカウント値がマイナス3カウント未満の時に
はデコーダ212のデコード出力223には出力
信号を発生しない。このためフリツプフロツプ2
24は反転せず、測定開始検知信号は発生しな
い。この時はダウンカウント開始時に1/2分周器
216にデコード出力215を発生している為に
1/2分周器216の分周器出力は再び反転する。
この結果フリツプフロツプ219は再び反転し、
カウンタ207をアツプカウント状態でリセツト
可能の状態にし再び30℃以上かどうかを調べる。 なお、第5図で示す回路をC−MOS回路で構
成し、これに電源を投入した時点でカウンタリセ
ツト信号211、フリツプフロツプリセツト信号
221,226にリセツト信号を出力し、カウン
タ及びフリツプフロツプのリセツト制御を行う。
また、マイクロコンピユータ231に対してはリ
セツト信号232を出力したイニシヤライズした
後、待機状態に設定し、消費電力を押さえる。 発明の具体的作用 次に第6図のタイミングチヤートを参照して第
5図に示す構成の動作を説明する。 変換指令信号204は例えば4秒ごとに変換時
間相当分、たとえば50mSの長さでコントロール
回路227から変換回路202に出力され、20
2はこれを受けてデータパルス出力信号203を
出力する。読込みパルス222は50mSの読込時
間の終了時に出力される。さて、変換回路202
が変換指令信号204を受けカウンタ207がカ
ウントを開始したとする。たとえば100カウント
(30℃以上)を越えない場合はデコード出力21
3は出力されないため、1/2分周器216以降の
回路は動作しない。図において2発目の変換指令
信号が到来するとカウンタ207はカウントを開
始する。100カウントを越えた所でデコーダ21
2は出力端子T1を論理1にする。これにより、
1/2分周器216の分周器出力217も論理1に
なる。変換終了信号205を受けて出力される読
込みパルス222により分周器出力217はDフ
リツプフロツプ219に記憶され、219の出
力を論理0にする。従つてカウンタ207はダウ
ンカウンタに切り変えられ、次の変換指令信号2
04によつて変換回路202が出力するデータパ
ルス出力信号によりカウンタ207はダウンカウ
ントする。ダウンカウントによりカウンタ207
はカウント値100をカウントとする。このカウン
トにより出力端子T1を論理1にする。この論理
1は読込みパルス222によりDフリツプフロツ
プ219により記憶され、アツプダウンコントロ
ール信号220を論理1とする。アツプダウンコ
ントロール信号220が論理1でカウンタリセツ
ト信号211とアンドゲート209でゲートを取
られ、カウンタのリセツト端子R及び1/2分周器
216のリセツト端子Rにリセツト信号を出力す
るが、カウンタ207は温度変化がないすなわち
温度差がゼロの時には(アツプカウントとダウン
カウントを相殺すればゼロ)ため、リセツトが行
なわれても状態の変化はない。また−3カウント
未満の時にはリセツトされてクリアされる。また
1/2分周器216も既にリセツトモードになつて
いる。さて、次の変換指令信号204によりカウ
ンタ207はカウントを開始し、カウント値が
200を越えたとする。デコーダ212の出力端子
T1の論理1は読込みパルス222によりDフリ
ツプフロツプ219に記憶され、アツプダウンコ
ントロール信号220を論理0にする。さて、次
の変換指令信号204が到来したとき、カウンタ
207は下方に向つてカウント値100を通過し、
そこで出力端子T1を論理1にする。この論理1
は分周器出力217を論理1にする。しかし温度
変化が大きく読込みパルス222が出力される前
にダウンカウント動作を実行しているカウンタ2
07が−3をカウントしたとする。このとき設定
条件よりしてデコーダ212は出力端子T2に論
理1をデコード出力223としてDフリツプフロ
ツプ224のクロツク入力端子CLKに出力する
ので、Dフリツプフロツプ224はD側入力を記
憶し、Q側出力を論理1にする。論理1のQ側出
力、即ち測定開始検知信号225はマイクロコン
ピユータ231に対してリスタート信号を形成
し、所定の番地からマイクロコンピユータを起動
させ、補正済みデータ出力244を読込む。補正
済みデータ出力244はデータ出力208と補正
用ROM242から読み出された補正データ24
3とを加算器240で加算した加算値である。 発明の具体的効果 本発明は以上のように構成されかつ動作するた
め本発明によればまず第1に小容量の補正用デー
タを記憶する記憶部を用意するだけで必要な精度
を測定値にもたせることができる。このため、本
発明は使用するメモリ容量を縮小できる。 また本発明によれば補正値を得るためにマイク
ロプロセツサ等の処理系を必要としないので、高
い精度の測定を短時間に求めることができる。し
たがつて動作に必要な電力も少なくてすむ。 また本発明によれば、測定精度に応じた経済的
な電子体温計を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はサーミスタによる温度の非線形出力値
と線形出力値の関係を示すグラフ図、第2図は温
度の線形出力に対する補正量を示す図、第3図は
本発明の一実施例を示すブロツク図、第4図はた
て軸にカウント値、横軸に温度をとつたサーミス
タを用いた場合の実測値と真知を表わす図、第5
図は本発明を具体的な電子体温計内に実装したと
きの回路構成を示すブロツク図、第6図は第5図
の動作を説明するためのタイミングチヤートであ
る。 ここで、100……サーミスタ、109,24
2……補正データ格納用ROM、107,208
……データ出力、108,241……補正デー
タ、110,244……補正済みデータ出力であ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 温度変化に応じて非直線に変化する電気信号
    を所定分解能のデジタルデータに変換して出力す
    る温度検出手段と、 出力の微小温度増分に対応する前記非直線と基
    準となる直線との差の変化分が所定精度を越えな
    い範囲の前記微小温度増分を単位として該微小温
    度増分毎に規定した補正データを記憶している記
    憶手段と、 前記温度検出手段の出力するデジタルデータの
    うち前記微小温度増分を刻む上位ビツトデータで
    前記記憶手段から補正データを読み出す読出手段
    と、 各温度のサンプリング時点において前記温度検
    出手段が出力するデジタルデータと前記記憶手段
    から読み出した補正データを加算又は減算する演
    算手段を備えることを特徴とする電子体温計。
JP57002808A 1982-01-13 1982-01-13 電子体温計 Granted JPS58120137A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57002808A JPS58120137A (ja) 1982-01-13 1982-01-13 電子体温計
US06/454,020 US4559954A (en) 1982-01-13 1982-12-28 Electronic clinical thermometer
GB08237064A GB2115930B (en) 1982-01-13 1982-12-31 Electronic clinical thermometer
FR8300353A FR2519757B1 (fr) 1982-01-13 1983-01-11 Thermometre medical electronique
DE19833300836 DE3300836A1 (de) 1982-01-13 1983-01-12 Elektronisches klinisches thermometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57002808A JPS58120137A (ja) 1982-01-13 1982-01-13 電子体温計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58120137A JPS58120137A (ja) 1983-07-16
JPH0366605B2 true JPH0366605B2 (ja) 1991-10-18

Family

ID=11539680

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57002808A Granted JPS58120137A (ja) 1982-01-13 1982-01-13 電子体温計

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4559954A (ja)
JP (1) JPS58120137A (ja)
DE (1) DE3300836A1 (ja)
FR (1) FR2519757B1 (ja)
GB (1) GB2115930B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007135865A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Terumo Corp 婦人用体温測定装置
JP2007135864A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Terumo Corp 氷枕及びその温度モニタ
WO2021024710A1 (ja) * 2019-08-02 2021-02-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 物理量検出装置

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2157515B (en) * 1984-02-01 1987-10-07 Suwa Seikosha Kk Electronic thermometer
JPS61159121A (ja) * 1984-12-29 1986-07-18 Omron Tateisi Electronics Co 電子温度計
JPH0625700B2 (ja) * 1986-03-04 1994-04-06 テルモ株式会社 電子体温計
JPS62240824A (ja) * 1986-04-11 1987-10-21 Sharp Corp 温度計
GB9127112D0 (en) * 1991-12-20 1992-02-19 Schlumberger Ind Ltd Smart displacement sensor
US5857777A (en) * 1996-09-25 1999-01-12 Claud S. Gordon Company Smart temperature sensing device
JP2002512829A (ja) * 1998-04-30 2002-05-08 ゲラテルム メディカル アクチェンゲゼルシャフト 医療遠隔測定システム
US6390672B1 (en) * 2000-01-20 2002-05-21 Harris Corporation Space vehicle with temperature sensitive oscillator and associated method of sensing temperature in space
US6774653B2 (en) * 2001-08-22 2004-08-10 Sun Microsystems, Inc. Two-pin thermal sensor calibration interface
US6996491B2 (en) * 2002-02-19 2006-02-07 Sun Microsystems, Inc. Method and system for monitoring and profiling an integrated circuit die temperature
US6806698B2 (en) * 2002-02-19 2004-10-19 Sun Microsystems, Inc. Quantifying a difference between nodal voltages
US6809557B2 (en) * 2002-02-19 2004-10-26 Sun Microsystems, Inc. Increasing power supply noise rejection using linear voltage regulators in an on-chip temperature sensor
US6937958B2 (en) * 2002-02-19 2005-08-30 Sun Microsystems, Inc. Controller for monitoring temperature
US20030158683A1 (en) * 2002-02-19 2003-08-21 Claude Gauthier Temperature calibration using on-chip electrical fuses
US6893154B2 (en) * 2002-02-19 2005-05-17 Sun Microsystems, Inc. Integrated temperature sensor
US6749335B2 (en) * 2002-05-17 2004-06-15 Sun Microsystems, Inc. Adjustment and calibration system for post-fabrication treatment of on-chip temperature sensor
US6874933B1 (en) * 2002-10-15 2005-04-05 National Semiconductor Corporation Apparatus for digital temperature measurement in an integrated circuit
US7447607B2 (en) * 2004-08-31 2008-11-04 Watow Electric Manufacturing System and method of compensation for device mounting and thermal transfer error
US20070268954A1 (en) * 2006-05-19 2007-11-22 Sherwood Services Ag Portable test apparatus for radiation-sensing thermometer
US20070268952A1 (en) * 2006-05-19 2007-11-22 Sherwood Services Ag Thermometer calibration by immersion in non-electrically conductive liquid
US7507019B2 (en) * 2006-05-19 2009-03-24 Covidien Ag Thermometer calibration
US7549792B2 (en) * 2006-10-06 2009-06-23 Covidien Ag Electronic thermometer with selectable modes

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5434852A (en) * 1977-08-24 1979-03-14 Hitachi Ltd Measurement apparatus

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3273395A (en) * 1963-08-05 1966-09-20 Barnes Eng Co Automatic ambient temperature compensation for a medical thermometer
DD105060A1 (ja) * 1973-06-05 1974-04-05
US4050309A (en) * 1974-11-04 1977-09-27 William Wahl Corporation Method and apparatus for measuring temperature
JPS595850B2 (ja) * 1976-09-25 1984-02-07 株式会社東芝 体温測定装置
SE406643B (sv) * 1977-02-16 1979-02-19 Aga Ab Elektronisk korrigeringsanordning for en lengd- eller vinkelmetare
JPS5479085A (en) * 1977-12-05 1979-06-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Temperature measuring apparatus
US4161880A (en) * 1978-01-05 1979-07-24 Electromedics, Inc. Linearized digital thermometer
AT380340B (de) * 1979-09-07 1986-05-12 Goerz Electro Gmbh Linearisierungsschaltung
US4443117A (en) * 1980-09-26 1984-04-17 Terumo Corporation Measuring apparatus, method of manufacture thereof, and method of writing data into same

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5434852A (en) * 1977-08-24 1979-03-14 Hitachi Ltd Measurement apparatus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007135865A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Terumo Corp 婦人用体温測定装置
JP2007135864A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Terumo Corp 氷枕及びその温度モニタ
WO2021024710A1 (ja) * 2019-08-02 2021-02-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 物理量検出装置
JPWO2021024710A1 (ja) * 2019-08-02 2021-02-11
US11768682B2 (en) 2019-08-02 2023-09-26 Hitachi Astemo, Ltd. Physical quantity detection device

Also Published As

Publication number Publication date
FR2519757A1 (fr) 1983-07-18
GB2115930B (en) 1985-10-02
US4559954A (en) 1985-12-24
DE3300836C2 (ja) 1989-09-07
JPS58120137A (ja) 1983-07-16
GB2115930A (en) 1983-09-14
DE3300836A1 (de) 1983-08-04
FR2519757B1 (fr) 1986-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0366605B2 (ja)
US4644481A (en) Electronic thermometer
JP2712701B2 (ja) 圧力伝送器
US4380745A (en) Digitally controlled temperature compensated oscillator system
US4551031A (en) Electronic clinical thermometer
EP0704048A1 (en) Dither signal remover for dithered ring laser gyro
JPS61112971A (ja) 1個もしくはそれ以上の基準を用いてインピーダンス、特に低容量を測定するインピーダンス測定方法
JPS6343005B2 (ja)
GB2113397A (en) Electronic clinical thermometer
EP0021568B1 (en) Electronic weighing apparatus
US4337456A (en) Analog to digital converter with offset error correction
US6313415B1 (en) Pulse width modulated weighing platform
US4844623A (en) Electronic thermometer
JPH06342088A (ja) 計時方式、半導体装置、計時装置
JPS6260656B2 (ja)
JP4711546B2 (ja) リアルタイムクロックの温度補正方法およびリアルタイムクロックを備えた処理装置
CN111897202A (zh) 烟感探测器mcu的rtc校准电路及校准方法
JPH0414292B2 (ja)
JP2730312B2 (ja) 計時機構の誤差補正回路
JPH0337694B2 (ja)
SU1177687A1 (ru) Цифровой термометр дл дистанционного измерени температуры
JP2747012B2 (ja) ディジタル信号復号回路
KR100286043B1 (ko) 속도검출 시스템 및 그 방법
GB1600393A (en) Correcting oscillator output frequency for temperature variations
SU1478333A1 (ru) Устройство дл линеаризации характеристик частотных датчиков