JPS595850B2 - 体温測定装置 - Google Patents
体温測定装置Info
- Publication number
- JPS595850B2 JPS595850B2 JP51114402A JP11440276A JPS595850B2 JP S595850 B2 JPS595850 B2 JP S595850B2 JP 51114402 A JP51114402 A JP 51114402A JP 11440276 A JP11440276 A JP 11440276A JP S595850 B2 JPS595850 B2 JP S595850B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- body temperature
- resistance element
- thermistor
- sensitive resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、熱流補償法により体温を電子的に測定する装
置に関する。
置に関する。
一般に、体温を測定するには感熱抵抗素子を生体に接触
させる必要がある。
させる必要がある。
できるだけ正確な体温を測る為には感温抵抗素子を外気
の影響の少ない部位、例えば腋の下とか口腔に入れて測
定するが、腕の運動を束縛する等の苦痛を伴ない連続測
定には適しない。そこで、連続測定としては第１図の如
く生体１の表面に生体温度測定用の感温抵抗素子２を接
触させ、この素子を保温材３で覆いこの外側にヒーター
４を設けて加熱しこのヒーター４の内側に設けた感熱抵
抗素子５で検出した温度と上記感温抵抗素子２で検出し
た温度の差を差動増幅器６で検知しこれに応じて制御装
置７によりヒーター４を制御させ、測定部分の体表から
の熱放散を見かけ上零として体温を測定する熱流補償法
を利用した方法が知られている。
の影響の少ない部位、例えば腋の下とか口腔に入れて測
定するが、腕の運動を束縛する等の苦痛を伴ない連続測
定には適しない。そこで、連続測定としては第１図の如
く生体１の表面に生体温度測定用の感温抵抗素子２を接
触させ、この素子を保温材３で覆いこの外側にヒーター
４を設けて加熱しこのヒーター４の内側に設けた感熱抵
抗素子５で検出した温度と上記感温抵抗素子２で検出し
た温度の差を差動増幅器６で検知しこれに応じて制御装
置７によりヒーター４を制御させ、測定部分の体表から
の熱放散を見かけ上零として体温を測定する熱流補償法
を利用した方法が知られている。
この熱流補償法を利用した体温測定装置の一例を第２図
に示す。
に示す。
ヒーターに接して設けられたサミスタＴｈｌと抵抗ｒｌ
の並列合成抵抗Ｒ１と、抵抗に２と可変抵抗ｖｒｌの直
列合成抵抗Ｒ２と、体表に接して設けられたサーミスタ
Ｔｈ２と抵抗に３の並列合成抵抗Ｒ３と、抵抗Ｒ４とに
より４辺を構成するブリッジにおいて、サーミスタＴｈ
ｌとＴｈ２の温度差によつて抵抗Ｒ４とＲ２及びＲ３と
Ｒ４の接続点間で生ずる不平衡電圧ｅｌを差動増幅器１
１にて増幅し制御装置１２ではこの差信号の大きさに応
じてヒーター１３の加熱程度を制御する。サーミスタＴ
ｈ７とＴｈ２の温度が同じになれば電圧ｅｌが零となる
ように可変抵抗Ｖｒ０が調整されており、このときヒー
ター１３が一定に加熱され続けるようになつている。ま
た抵抗Ｒ５と、抵抗に４と可変抵抗ｖｒ２の直列抵抗Ｒ
５と、前記抵抗Ｒ３、Ｒ４もブリッジを構成しており、
サーミスタＴｈ２の温度変化によつて抵抗Ｒ３とＲ４及
びＲ５とＲ６の接続点間で生ずる不平衡電圧ｅ２は差動
増幅器１４にて増幅され表示装置１５で体温が表示され
る。
の並列合成抵抗Ｒ１と、抵抗に２と可変抵抗ｖｒｌの直
列合成抵抗Ｒ２と、体表に接して設けられたサーミスタ
Ｔｈ２と抵抗に３の並列合成抵抗Ｒ３と、抵抗Ｒ４とに
より４辺を構成するブリッジにおいて、サーミスタＴｈ
ｌとＴｈ２の温度差によつて抵抗Ｒ４とＲ２及びＲ３と
Ｒ４の接続点間で生ずる不平衡電圧ｅｌを差動増幅器１
１にて増幅し制御装置１２ではこの差信号の大きさに応
じてヒーター１３の加熱程度を制御する。サーミスタＴ
ｈ７とＴｈ２の温度が同じになれば電圧ｅｌが零となる
ように可変抵抗Ｖｒ０が調整されており、このときヒー
ター１３が一定に加熱され続けるようになつている。ま
た抵抗Ｒ５と、抵抗に４と可変抵抗ｖｒ２の直列抵抗Ｒ
５と、前記抵抗Ｒ３、Ｒ４もブリッジを構成しており、
サーミスタＴｈ２の温度変化によつて抵抗Ｒ３とＲ４及
びＲ５とＲ６の接続点間で生ずる不平衡電圧ｅ２は差動
増幅器１４にて増幅され表示装置１５で体温が表示され
る。
このような回路によれぱ体温を測定でき”ゞ外気変動を
受け易くブリツジの零調整や差動増幅器のオフセツト調
整が必要であり、正確な測定を行なう為には操作が複雑
であつた。
受け易くブリツジの零調整や差動増幅器のオフセツト調
整が必要であり、正確な測定を行なう為には操作が複雑
であつた。
本発明は、これらの従来の熱流補償法を利用した体温測
定装置の欠点に鑑みてなされたもので簡単にしかも正確
に体温を測定できる長時間測定に適した体温測定装置を
提供することを目的とする。
定装置の欠点に鑑みてなされたもので簡単にしかも正確
に体温を測定できる長時間測定に適した体温測定装置を
提供することを目的とする。
以下、本発明の実施例について説明する。この実施例の
回路構成を第３図に示す。抵抗Ｒｌｌ、サーミスタ等の
感温抵抗素子ＴＨｌ、抵抗Ｒｌ２とサーミスタＴＨ２又
は標準抵抗ＲＳは一つのブリツジ回路Ｂ１を構成する。
また抵抗Ｒｌ３，Ｒｌ４，Ｒｌ２とサーミスタＴＨ２又
は標準抵抗ＲＳも他のブリツジ回路Ｂ２を構成しており
、抵抗Ｒｌｌ，Ｒｌ２，Ｒｌ３の接続端は抵抗Ｒｌ５を
介して所定の電圧＋Ｖに、また抵抗Ｒｌ４、サーミスタ
ＴＨｌサーミスタＴＨ２又は標準抵抗ＲＳに切換えるス
イツチＳＷｌ欠抵抗Ｒｌ６を介して接地される。尚、ス
イツチＳＷｌは制御装置２１からの制御信号によつてサ
ーミスタＴＨ２又は標準抵抗ＲＳに切換えられる。サー
ミスタＴＨｌはヒーターＨの近くに設けられ、サーミス
タＴＨ２は体表に接触するように設けられており、通常
制御装置２１の制御によつてスイツチＳＷｌ，ＳＷ２，
ＳＷ３は閉じているので、両サーミスタの温度差によつ
て不平衡電圧Ｅ１が生じこの電圧は差動増幅器２２にて
増幅され、この出力に応じてヒーター制御部２３はヒー
ターＨの加熱を制御する。
回路構成を第３図に示す。抵抗Ｒｌｌ、サーミスタ等の
感温抵抗素子ＴＨｌ、抵抗Ｒｌ２とサーミスタＴＨ２又
は標準抵抗ＲＳは一つのブリツジ回路Ｂ１を構成する。
また抵抗Ｒｌ３，Ｒｌ４，Ｒｌ２とサーミスタＴＨ２又
は標準抵抗ＲＳも他のブリツジ回路Ｂ２を構成しており
、抵抗Ｒｌｌ，Ｒｌ２，Ｒｌ３の接続端は抵抗Ｒｌ５を
介して所定の電圧＋Ｖに、また抵抗Ｒｌ４、サーミスタ
ＴＨｌサーミスタＴＨ２又は標準抵抗ＲＳに切換えるス
イツチＳＷｌ欠抵抗Ｒｌ６を介して接地される。尚、ス
イツチＳＷｌは制御装置２１からの制御信号によつてサ
ーミスタＴＨ２又は標準抵抗ＲＳに切換えられる。サー
ミスタＴＨｌはヒーターＨの近くに設けられ、サーミス
タＴＨ２は体表に接触するように設けられており、通常
制御装置２１の制御によつてスイツチＳＷｌ，ＳＷ２，
ＳＷ３は閉じているので、両サーミスタの温度差によつ
て不平衡電圧Ｅ１が生じこの電圧は差動増幅器２２にて
増幅され、この出力に応じてヒーター制御部２３はヒー
ターＨの加熱を制御する。
一方、サーミスタＴＨｌ又は標準抵抗ＲＳの抵抗変化（
温度変化に依存する）によつてブリツジ回路Ｂ２に不平
衡電圧Ｅ２を生ずる。
温度変化に依存する）によつてブリツジ回路Ｂ２に不平
衡電圧Ｅ２を生ずる。
この電圧は二重積分型のＡＤ変換器２４にてサーミスタ
ＴＨｌ又は標準抵抗ＲＳの感じた温度をデイジタル的に
表わす。ＡＤ変換器２４は、差動増幅器２５及びコンデ
ンサＣからなる積分器２６と、この積分出力が一定電圧
Ｅより低くなつたとき出力を出す差動増幅器２７と、こ
の出力によりりセツトされ、発振器２８の出力パルスを
カウントするカウンタ２９の所定カウント値ｎをカウン
トしたとき出力するパルスによつてセツトされるフリツ
プフロツプ３０の出力により制御されるスイツチＳＷ４
と、このスイツチＳＷ４に直列に接続された抵抗Ｒｌ７
と、前記カウンタ２９のカウント値を記憶する記憶器３
０とから構成されている。
ＴＨｌ又は標準抵抗ＲＳの感じた温度をデイジタル的に
表わす。ＡＤ変換器２４は、差動増幅器２５及びコンデ
ンサＣからなる積分器２６と、この積分出力が一定電圧
Ｅより低くなつたとき出力を出す差動増幅器２７と、こ
の出力によりりセツトされ、発振器２８の出力パルスを
カウントするカウンタ２９の所定カウント値ｎをカウン
トしたとき出力するパルスによつてセツトされるフリツ
プフロツプ３０の出力により制御されるスイツチＳＷ４
と、このスイツチＳＷ４に直列に接続された抵抗Ｒｌ７
と、前記カウンタ２９のカウント値を記憶する記憶器３
０とから構成されている。
このＡＤ変換器２４の動作を第４図を用いて説明する。
カウンタ２９がｎを計数したとき第４図ａに示す如きパ
ルスＳＰｌによつてフリツプフロツプ２８はセツトされ
、Ｑ出力は１となりスイツチＳＷ４が閉じる。したがつ
て、抵抗Ｒｌ７とコンデンサＣにより放電を開始し第４
図ｂに示す如く差動増幅器２５の出力端子の電位は下降
し設定電位Ｅより低くなるとＣのりセツトパルスＲＰｌ
フリツプフロツプ２８はりセツトされる。このりセツト
によつてＱ出力がＯとなりスイツチＳＷ４は開く。この
ときからブリツジ回路Ｂ２の不平衡電圧Ｅ２の積分が積
分回路２６にて開始される。尚、カウンタ２９はｎをカ
ウントするとフリツプフロツプ２８をセツトすると共に
自己の内容をクリアする。したがつて、パルスＳＰｌを
出力してからｎカウントした後に再びパルスＳＰ２を出
力すると共にカウンタ２９は再び零からカウントを始め
る。差動増幅器２５の出力端子電位が設定電位Ｅより低
くなると再びりセツトパルスＲＰ２によりフリツプフロ
ツプ２８はりセツトされこのＲＰ２は制御装置２１にも
送られる。このとき制御装置２１はカウンタ２９及びデ
コーダ３０に制御信号を送りそのときのカウント数を記
憶器３０に記憶する。即ち、フリツプフロツプ２８がセ
ツトされてからりセツトされる迄の時間Ｔ，が測定され
ることになり、この間の計数値がサーミスタＴＨ２又は
標準抵抗ＲＳの感じた温度となるように発振器２８の周
波数が調整されている。尚第２図においてＴ１＋Ｔ２は
一定である。記憶器３０に記憶された計数値温度値は演
算表示装置３１にて後述の演算がなされ正確な体温の値
が表示される。次にこの実施例の動作を説明する。通常
制御装置２１の制御によりスイツチＳＷｌはサーミスタ
ＴＨ２側に接続され、またスイツチＳＷ２及びスイツチ
ＳＷ３はオン状態となつている。したがつてサーミスタ
ＴＨｌとＴＨ２の温度が同じになるようにヒーターＨは
制御されている。所定時間後に制御装置２１はスイツチ
ＳＷ２及びＳＷ３をオフ状態とする。したがつてヒータ
ーＨの加熱制御は一時中断されるが測定時間は短かいの
で急激な変化はない。スイツチＳＷｌはサーミスタＴＨ
２側に接続されているので、サーミスタＴＨ２の温度変
化に応じてブリツジ回路Ｂ２に生ずる不平衡電圧Ｅ２は
積分回路２６にて積分され、上述のようにＡＤ変換して
サーミスタＴＨ２の感する体温を記憶器３０に記憶する
。
ルスＳＰｌによつてフリツプフロツプ２８はセツトされ
、Ｑ出力は１となりスイツチＳＷ４が閉じる。したがつ
て、抵抗Ｒｌ７とコンデンサＣにより放電を開始し第４
図ｂに示す如く差動増幅器２５の出力端子の電位は下降
し設定電位Ｅより低くなるとＣのりセツトパルスＲＰｌ
フリツプフロツプ２８はりセツトされる。このりセツト
によつてＱ出力がＯとなりスイツチＳＷ４は開く。この
ときからブリツジ回路Ｂ２の不平衡電圧Ｅ２の積分が積
分回路２６にて開始される。尚、カウンタ２９はｎをカ
ウントするとフリツプフロツプ２８をセツトすると共に
自己の内容をクリアする。したがつて、パルスＳＰｌを
出力してからｎカウントした後に再びパルスＳＰ２を出
力すると共にカウンタ２９は再び零からカウントを始め
る。差動増幅器２５の出力端子電位が設定電位Ｅより低
くなると再びりセツトパルスＲＰ２によりフリツプフロ
ツプ２８はりセツトされこのＲＰ２は制御装置２１にも
送られる。このとき制御装置２１はカウンタ２９及びデ
コーダ３０に制御信号を送りそのときのカウント数を記
憶器３０に記憶する。即ち、フリツプフロツプ２８がセ
ツトされてからりセツトされる迄の時間Ｔ，が測定され
ることになり、この間の計数値がサーミスタＴＨ２又は
標準抵抗ＲＳの感じた温度となるように発振器２８の周
波数が調整されている。尚第２図においてＴ１＋Ｔ２は
一定である。記憶器３０に記憶された計数値温度値は演
算表示装置３１にて後述の演算がなされ正確な体温の値
が表示される。次にこの実施例の動作を説明する。通常
制御装置２１の制御によりスイツチＳＷｌはサーミスタ
ＴＨ２側に接続され、またスイツチＳＷ２及びスイツチ
ＳＷ３はオン状態となつている。したがつてサーミスタ
ＴＨｌとＴＨ２の温度が同じになるようにヒーターＨは
制御されている。所定時間後に制御装置２１はスイツチ
ＳＷ２及びＳＷ３をオフ状態とする。したがつてヒータ
ーＨの加熱制御は一時中断されるが測定時間は短かいの
で急激な変化はない。スイツチＳＷｌはサーミスタＴＨ
２側に接続されているので、サーミスタＴＨ２の温度変
化に応じてブリツジ回路Ｂ２に生ずる不平衡電圧Ｅ２は
積分回路２６にて積分され、上述のようにＡＤ変換して
サーミスタＴＨ２の感する体温を記憶器３０に記憶する
。
この測定値には真の体温の値Ｎの他に、ブリツジ回路、
差動増幅器のドリフト電流オフセツト電圧等によつて生
ずる誤差αが加算されている。次に、制御装置２１はス
イツチＳＷｌを標準抵抗ＲＳの方に切換える。
差動増幅器のドリフト電流オフセツト電圧等によつて生
ずる誤差αが加算されている。次に、制御装置２１はス
イツチＳＷｌを標準抵抗ＲＳの方に切換える。
この標準抵抗ＲＳはサーミスタＴＨ２が標準体温Ｍ（例
えば３ｒＣ）のとき有する抵抗値となつている。したが
つてスイツチＳＷｌが標準抵抗ＲＳに切換えられれば記
憶器３０にはＭが記憶される筈である。しかし、上述の
ような誤差αによつて実際にはＭ＋αが記憶される。尚
、この後制御装置２１はスイツチＳＷｌをサーミスタＴ
Ｈ２に切換え、スイツチＳＷ２，ＳＷ３をオフ状態とす
る。演算表示回路３１においては測定値Ｎ＋α，Ｍ＋α
及びＭから（Ｎ＋α）＋Ｍ−（Ｍ＋α）＝Ｎ の加減算を行ない、測定体温の真の値Ｎを表示する。
えば３ｒＣ）のとき有する抵抗値となつている。したが
つてスイツチＳＷｌが標準抵抗ＲＳに切換えられれば記
憶器３０にはＭが記憶される筈である。しかし、上述の
ような誤差αによつて実際にはＭ＋αが記憶される。尚
、この後制御装置２１はスイツチＳＷｌをサーミスタＴ
Ｈ２に切換え、スイツチＳＷ２，ＳＷ３をオフ状態とす
る。演算表示回路３１においては測定値Ｎ＋α，Ｍ＋α
及びＭから（Ｎ＋α）＋Ｍ−（Ｍ＋α）＝Ｎ の加減算を行ない、測定体温の真の値Ｎを表示する。
即ち、減算により誤差の影響はキヤンセルされることに
なる。このように体温の測定値Ｎ＋αに標準体温を加算
し標準抵抗の測定値Ｍ＋αを減算することにより体温の
真に近い値が求められ、このときの測定は必ずしも二重
積分型のＡＤ変換器による必要はない。
なる。このように体温の測定値Ｎ＋αに標準体温を加算
し標準抵抗の測定値Ｍ＋αを減算することにより体温の
真に近い値が求められ、このときの測定は必ずしも二重
積分型のＡＤ変換器による必要はない。
しかし、以下に述べるように二重積分型のＡＤ変換器に
よれば誤差は更に小さくできる。ところで、上述のよう
な体温の測定を行なうときは第３図ａのような放電回路
とｂのような充電回路が形成されると考えられる。但し
抵抗ＲはサーミスタＴＨ２の抵抗値である。第５図ａの
放電回路及びｂの充電回路においてオフセツト電流△Ｉ
のため放電時間Ｔ１、充電時間Ｔ２がＴｌｌ，ＴＣにな
つたとし、各々放電電流、充電電流１１，ｉ２とすると
抵抗ＲとしてサーミスタＴＨ２が接続されたときのＴ／
１，Ｔ１，ｉ１，Ｔ２をこのまま表示し、標準抵抗ＲＳ
を接続したときのこれらの値をＴ／１８，Ｔ１８，１！
ＳラＴ２Ｓと表示Ｔ（＋Ｔｌ８−Ｔ｛８を計算するとこ
こでＩｌＴ，−１２Ｔ２，ｉ，，Ｔ１−１２ｓＴ２８で
あり放電時間と充電時間の和が一定の二重積分型のＡＤ
変換器を用いているのでＴ１＋Ｔ２−Ｔｌ８＋Ｔ２Ｓよ
つて３式を２式に代入して 甲 ↓： ところで放電電流１１と充電電流１２の和は第５図Ａ，
ｂよりここでＡｓはＡｘにおいてＲをＲｓに変えた式で
ある。
よれば誤差は更に小さくできる。ところで、上述のよう
な体温の測定を行なうときは第３図ａのような放電回路
とｂのような充電回路が形成されると考えられる。但し
抵抗ＲはサーミスタＴＨ２の抵抗値である。第５図ａの
放電回路及びｂの充電回路においてオフセツト電流△Ｉ
のため放電時間Ｔ１、充電時間Ｔ２がＴｌｌ，ＴＣにな
つたとし、各々放電電流、充電電流１１，ｉ２とすると
抵抗ＲとしてサーミスタＴＨ２が接続されたときのＴ／
１，Ｔ１，ｉ１，Ｔ２をこのまま表示し、標準抵抗ＲＳ
を接続したときのこれらの値をＴ／１８，Ｔ１８，１！
ＳラＴ２Ｓと表示Ｔ（＋Ｔｌ８−Ｔ｛８を計算するとこ
こでＩｌＴ，−１２Ｔ２，ｉ，，Ｔ１−１２ｓＴ２８で
あり放電時間と充電時間の和が一定の二重積分型のＡＤ
変換器を用いているのでＴ１＋Ｔ２−Ｔｌ８＋Ｔ２Ｓよ
つて３式を２式に代入して 甲 ↓： ところで放電電流１１と充電電流１２の和は第５図Ａ，
ｂよりここでＡｓはＡｘにおいてＲをＲｓに変えた式で
ある。
５，６式を４式に代入すると
〜
例えばＴ２８−３５２０カウント、△Ｉ＝４μＡ（オフ
セツト電圧５７７１Ｖ）、Ｉｌ８−９２．８μＡでまた
Ｒｌ２−９．２４４ＫΩ、Ｒｌ３−５．５７ＫΩ、Ｒｌ
４−０．８４ＫΩ、Ｒｌ５＝１３ＫΩ、Ｒｌ６−１２．
３ＫΩとすると体温Ｔ℃とサーミスタＴＨ２の抵抗値Ｒ
とＲｓＡｘ （一・一一１）の関係は下表の如くなり７式のＲＡｓ２
項が非常に小さいことがわかる。
セツト電圧５７７１Ｖ）、Ｉｌ８−９２．８μＡでまた
Ｒｌ２−９．２４４ＫΩ、Ｒｌ３−５．５７ＫΩ、Ｒｌ
４−０．８４ＫΩ、Ｒｌ５＝１３ＫΩ、Ｒｌ６−１２．
３ＫΩとすると体温Ｔ℃とサーミスタＴＨ２の抵抗値Ｒ
とＲｓＡｘ （一・一一１）の関係は下表の如くなり７式のＲＡｓ２
項が非常に小さいことがわかる。
以上説明したように本発明によれば熱流補償法を用いて
おりしかもオフセツト電圧ドリフト電流等の影響による
誤差を自動的に除去できるので、調整機構が不必要であ
り、簡単且つ正確に体温を測定できる長時間測定に適し
た体温測定装置が得られる。
おりしかもオフセツト電圧ドリフト電流等の影響による
誤差を自動的に除去できるので、調整機構が不必要であ
り、簡単且つ正確に体温を測定できる長時間測定に適し
た体温測定装置が得られる。
尚、上述の実施例によれば体温測定時にはヒーター制御
部の回路が切り離されるので測定に与える影響を小さく
できる。
部の回路が切り離されるので測定に与える影響を小さく
できる。
本発明は必ずしもサーミスタに限らず感温抵抗素子なら
ば用いることができる。
ば用いることができる。
第１図は従来の熱流補償法を利用した体温測定装置の原
理説明図、第２図はこの従来の回路構成図、第３図は本
発明一実施例の回路構成図、第４図及び第５図は第３図
の実施例に用いるＡＤ変換器の動作説明図、である。 ２１・・・・・・制御装置、２２，２５，２７・・・・
・・差動増幅器、２３・・・・・・ヒーター制御部、２
４・・・・・・ＡＤ変換器、２６・・・・・・積分回路
、２９・・・・・・カウンタ、３０・・・・・・記憶器
、３１・・・・・・演算表示装置、Ｂｌ，Ｂ２・・・・
・・ブリツジ回路、Ｈ・・・・・・ヒーター。
理説明図、第２図はこの従来の回路構成図、第３図は本
発明一実施例の回路構成図、第４図及び第５図は第３図
の実施例に用いるＡＤ変換器の動作説明図、である。 ２１・・・・・・制御装置、２２，２５，２７・・・・
・・差動増幅器、２３・・・・・・ヒーター制御部、２
４・・・・・・ＡＤ変換器、２６・・・・・・積分回路
、２９・・・・・・カウンタ、３０・・・・・・記憶器
、３１・・・・・・演算表示装置、Ｂｌ，Ｂ２・・・・
・・ブリツジ回路、Ｈ・・・・・・ヒーター。
Claims (1)
- １ 体温に応じて抵抗値が変化する第１の感温抵抗素子
を一辺としこの感温抵抗素子の周囲温度に応じて抵抗値
が変化する第２の感温抵抗素子を他の一辺とする第１の
ブリッジ回路と、このブリッジ回路の第１第２の感温抵
抗素子の検知温度差に応じて第１の感温抵抗素子の周囲
温度をこの素子の検知温度とほぼ等しくなる如く制御す
る手段と、前記第１の感温抵抗素子又はこの感温抵抗素
子の標準体温時の抵抗値と等しい抵抗値を有する標準抵
抗を選択的に一辺に接続する第２のブリッジ回路と、こ
のブリッジ回路の一辺に前記第１の感温抵抗素子又は標
準抵抗を接続したときの不平衡電圧を抵抗値に対応する
体温に変換するＡＤ変換器と、前記第２のブリッジ回路
の一辺に第１の感温抵抗素子を接続したときのこのＡＤ
変換器出力に前記標準体温を加算し前記第２のブリッジ
回路の一辺に標準抵抗を接続したときの前記ＡＤ変換器
出力を減算する手段とを具備してなることを特徴とする
体温測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51114402A JPS595850B2 (ja) | 1976-09-25 | 1976-09-25 | 体温測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51114402A JPS595850B2 (ja) | 1976-09-25 | 1976-09-25 | 体温測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5340572A JPS5340572A (en) | 1978-04-13 |
| JPS595850B2 true JPS595850B2 (ja) | 1984-02-07 |
Family
ID=14636771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51114402A Expired JPS595850B2 (ja) | 1976-09-25 | 1976-09-25 | 体温測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS595850B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58120137A (ja) * | 1982-01-13 | 1983-07-16 | Terumo Corp | 電子体温計 |
| JPS61274233A (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-04 | Mitsubishi Mining & Cement Co Ltd | 温度検出装置 |
| JPH0273123A (ja) * | 1988-09-07 | 1990-03-13 | Yokogawa Electric Corp | 多点温度測定装置 |
-
1976
- 1976-09-25 JP JP51114402A patent/JPS595850B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5340572A (en) | 1978-04-13 |
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