JPS6260656B2 - - Google Patents
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- JPS6260656B2 JPS6260656B2 JP15255678A JP15255678A JPS6260656B2 JP S6260656 B2 JPS6260656 B2 JP S6260656B2 JP 15255678 A JP15255678 A JP 15255678A JP 15255678 A JP15255678 A JP 15255678A JP S6260656 B2 JPS6260656 B2 JP S6260656B2
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- counter
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- resistor
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000036760 body temperature Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、感温抵抗体および基準抵抗の各抵
抗値を周波数に変換して演算により温度を測定す
る電子温度計に係り、特に基準抵抗のバラツキ等
による測定誤差を補正するための調整方法に関す
る。
抗値を周波数に変換して演算により温度を測定す
る電子温度計に係り、特に基準抵抗のバラツキ等
による測定誤差を補正するための調整方法に関す
る。
電子温度計の一つに発振法と呼ばれるものが知
られている。これはサーミスタの如き感温抵抗体
と温度により抵抗値がほとんど変化しない基準抵
抗の各抵抗値を発振回路の周波数に変換し、カウ
ンタを用いてその各周波数から演算により温度を
求めるものである。
られている。これはサーミスタの如き感温抵抗体
と温度により抵抗値がほとんど変化しない基準抵
抗の各抵抗値を発振回路の周波数に変換し、カウ
ンタを用いてその各周波数から演算により温度を
求めるものである。
このような発振法電子温度計は、温度（抵抗
値）―周波数変換器、基準発信器、カウンタ等よ
りなるデジタル回路等より構成され、第１図は温
度（抵抗値）―周波数変換器を具体的に示したも
のである。第１図において、増幅器A1，A2とコ
ンデンサC0および抵抗R0で発振回路を構成して
いる。Ｒxは感温抵抗体、Ｒsは基準抵抗であり、
これらはスイツチSW1，SW2によつて発振回路に
選択的に接続される。r2は温度―周波数特性の傾
斜を調整するための抵抗である。
値）―周波数変換器、基準発信器、カウンタ等よ
りなるデジタル回路等より構成され、第１図は温
度（抵抗値）―周波数変換器を具体的に示したも
のである。第１図において、増幅器A1，A2とコ
ンデンサC0および抵抗R0で発振回路を構成して
いる。Ｒxは感温抵抗体、Ｒsは基準抵抗であり、
これらはスイツチSW1，SW2によつて発振回路に
選択的に接続される。r2は温度―周波数特性の傾
斜を調整するための抵抗である。
ここで、スイツチSW1を閉じて感温抵抗体Ｒx
を接続した場合の周波数xは x＝ｋ／Ｃｐ（Ｒｘ＋ｒ２） ……(1) また、スイツチSW2を閉じて基準抵抗Ｒsを接
続した場合の周波数sは s＝ｋ／Ｃｐ（Ｒｓ＋ｒ２） ……(2) となる。但しｋは定数である。(1)，(2)式より x／s＝Ｒx／Ｒs ……(3) となる。一方、Ｒxは温度変化範囲の狭い領域で
は Ｒx＝Ｒs｛１−αp（Ｔ−Ｔp）｝ ……(4) である。但し、αpはＲxの温度係数、Ｔはその検
出温度、Ｔpは基準温度で、Ｔ＝Ｔpのとき Ｒx＝ＲsになるようにＲsを定めておくものと
する。(1)〜(4)式より Ｔ＝Ｔp＋１／αｐ（１−ｓ／ｘ）……(5) ここでs，xをそれぞれ一定時間t0だけカウ
ントしたときのカウント値Ｍs，Ｍxとすれば Ｔ＝Ｔp＋１／αｐ（１−Ｍｓ／Ｍｘ） ＝Ｔp＋１／Ｍｘ・αｐ（Ｍx−Ｍs） ＝１／Ｍｘ・αｐ（Ｍx・αp・Ｔp＋Ｍx−Ｍs）…
… (6) 今、Ｍx・αp＝100とすれば、 Ｔ＝１／１００｛（100Tp＋Ｍx）−Ｍs｝ ……(7) (7)式はさらに Ｔ＝１／１００｛（100Tp＋１００／αｐ）−Ｍs｝…
…(8) と変形できる。100Tp＋１００／αｐは既知の値であり
、 これを例えば18000とおけば Ｔ＝１／１００（18000−Ｍs） ……(9) となる。従つて(9)式の演算を行なうことにより温
度Ｔを求めることができる。
を接続した場合の周波数xは x＝ｋ／Ｃｐ（Ｒｘ＋ｒ２） ……(1) また、スイツチSW2を閉じて基準抵抗Ｒsを接
続した場合の周波数sは s＝ｋ／Ｃｐ（Ｒｓ＋ｒ２） ……(2) となる。但しｋは定数である。(1)，(2)式より x／s＝Ｒx／Ｒs ……(3) となる。一方、Ｒxは温度変化範囲の狭い領域で
は Ｒx＝Ｒs｛１−αp（Ｔ−Ｔp）｝ ……(4) である。但し、αpはＲxの温度係数、Ｔはその検
出温度、Ｔpは基準温度で、Ｔ＝Ｔpのとき Ｒx＝ＲsになるようにＲsを定めておくものと
する。(1)〜(4)式より Ｔ＝Ｔp＋１／αｐ（１−ｓ／ｘ）……(5) ここでs，xをそれぞれ一定時間t0だけカウ
ントしたときのカウント値Ｍs，Ｍxとすれば Ｔ＝Ｔp＋１／αｐ（１−Ｍｓ／Ｍｘ） ＝Ｔp＋１／Ｍｘ・αｐ（Ｍx−Ｍs） ＝１／Ｍｘ・αｐ（Ｍx・αp・Ｔp＋Ｍx−Ｍs）…
… (6) 今、Ｍx・αp＝100とすれば、 Ｔ＝１／１００｛（100Tp＋Ｍx）−Ｍs｝ ……(7) (7)式はさらに Ｔ＝１／１００｛（100Tp＋１００／αｐ）−Ｍs｝…
…(8) と変形できる。100Tp＋１００／αｐは既知の値であり
、 これを例えば18000とおけば Ｔ＝１／１００（18000−Ｍs） ……(9) となる。従つて(9)式の演算を行なうことにより温
度Ｔを求めることができる。
ところで、第１図における基準抵抗Ｒsおよび
傾斜調整用抵抗r2は、固定抵抗のみでは所望の抵
抗値のものが得にくく、多量の抵抗を用意して選
別する必要がある。そこで、Ｒsについては固定
抵抗Ｓspと可変抵抗r1の組合せとし、r2について
も固定抵抗と可変抵抗の組合せで構成する方法が
従来とられている。これらの可変抵抗のうち、r1
は基準温度Ｔp（例えば37.00℃または41.00℃）
に影響を与え、r2は前述したように温度―周波数
特性の傾斜に影響を与える。r2については感温抵
抗体Ｒx（特にシリコンサーミスタ）の温度―抵
抗値特性の傾斜がほとんど一定であることから、
r2の固定抵抗部分の抵抗値を大きくとることで可
変抵抗のセツテイング安定度は無視することがで
きる。しかし、r1の方は実例で約2kΩというよう
な比較的高い抵抗値のものが必要となるため、そ
のセツテイング安定度が問題となる。従つて基準
抵抗Ｒsを構成する可変抵抗r1を除去することは
温度計全体の安定度を高める上で重要な要素とな
る。この場合、可変抵抗r1を単純に除去するだけ
では基準抵抗Ｒsとして極めて高精度なものを必
要とするという困難性があるので、基準抵抗Ｒs
のバラツキによる測定誤差を補償する手段が必要
となる。
傾斜調整用抵抗r2は、固定抵抗のみでは所望の抵
抗値のものが得にくく、多量の抵抗を用意して選
別する必要がある。そこで、Ｒsについては固定
抵抗Ｓspと可変抵抗r1の組合せとし、r2について
も固定抵抗と可変抵抗の組合せで構成する方法が
従来とられている。これらの可変抵抗のうち、r1
は基準温度Ｔp（例えば37.00℃または41.00℃）
に影響を与え、r2は前述したように温度―周波数
特性の傾斜に影響を与える。r2については感温抵
抗体Ｒx（特にシリコンサーミスタ）の温度―抵
抗値特性の傾斜がほとんど一定であることから、
r2の固定抵抗部分の抵抗値を大きくとることで可
変抵抗のセツテイング安定度は無視することがで
きる。しかし、r1の方は実例で約2kΩというよう
な比較的高い抵抗値のものが必要となるため、そ
のセツテイング安定度が問題となる。従つて基準
抵抗Ｒsを構成する可変抵抗r1を除去することは
温度計全体の安定度を高める上で重要な要素とな
る。この場合、可変抵抗r1を単純に除去するだけ
では基準抵抗Ｒsとして極めて高精度なものを必
要とするという困難性があるので、基準抵抗Ｒs
のバラツキによる測定誤差を補償する手段が必要
となる。
この発明は上記した点に鑑みてなされたもの
で、基準抵抗を固定抵抗のみとして温度計全体の
安定度を高めつつ、その場合の基準抵抗（固定抵
抗）のバラツキによる測定誤差を除去するための
調整方法を提供することを目的とする。
で、基準抵抗を固定抵抗のみとして温度計全体の
安定度を高めつつ、その場合の基準抵抗（固定抵
抗）のバラツキによる測定誤差を除去するための
調整方法を提供することを目的とする。
以下この発明を実施例によつて詳細に説明す
る。
る。
第２図はこの発明の一実施例を説明するための
電子温度計の構成図である。１は温度―周波数変
換器で、基準抵抗Ｒsを固定抵抗のみとした点が
第１図と異なる。２は一定周波数Rで発振する
基準発振器、３は全体の動作をコントロールする
ためのステツプカウンタ、４はアツプダウンカウ
ンタからなる演算用カウンタ５はこのカウンタ４
にほぼ基準温度Ｔpに相当する値をプリセツトす
るためのプリセツト回路、６は比較回路、７は最
大値レジスタ、８はアツプダウンカウンタからな
る基準カウンタ、９は表示部、１０は一定時間を
計測するためのカウンタである。また、G1〜G7
はORゲート、G11〜G18はANDゲート、I1〜I3は
インバータである。
電子温度計の構成図である。１は温度―周波数変
換器で、基準抵抗Ｒsを固定抵抗のみとした点が
第１図と異なる。２は一定周波数Rで発振する
基準発振器、３は全体の動作をコントロールする
ためのステツプカウンタ、４はアツプダウンカウ
ンタからなる演算用カウンタ５はこのカウンタ４
にほぼ基準温度Ｔpに相当する値をプリセツトす
るためのプリセツト回路、６は比較回路、７は最
大値レジスタ、８はアツプダウンカウンタからな
る基準カウンタ、９は表示部、１０は一定時間を
計測するためのカウンタである。また、G1〜G7
はORゲート、G11〜G18はANDゲート、I1〜I3は
インバータである。
次に動作を説明する。イニシヤライズ信号ISが
入ると、ステツプカウンタ３がゲートG1を介し
てクリアされてステツプ「０」にセツトされ、そ
の出力端子「０」に“１”レベルを出力する。こ
れによりゲートG5を介してスイツチSW1が閉じ
るので、温度―周波数変換器１は周波数xで発
振を開始する。演算用カウンタ４はイニシヤライ
ズ信号ISをゲートG3を介して受入れることによ
つてプリセツト回路５で設定された値を初期値と
してプリセツトされ、かつステツプ「０」になる
とゲートG15，G4を介してxによりカウントアツ
プされる。
入ると、ステツプカウンタ３がゲートG1を介し
てクリアされてステツプ「０」にセツトされ、そ
の出力端子「０」に“１”レベルを出力する。こ
れによりゲートG5を介してスイツチSW1が閉じ
るので、温度―周波数変換器１は周波数xで発
振を開始する。演算用カウンタ４はイニシヤライ
ズ信号ISをゲートG3を介して受入れることによ
つてプリセツト回路５で設定された値を初期値と
してプリセツトされ、かつステツプ「０」になる
とゲートG15，G4を介してxによりカウントアツ
プされる。
一方、基準カウンタ３もイニシヤライズ信号IS
をゲートG7を介して受入れることによつてクリ
アされると共に、ステツプ「０」でゲートG17，
G6を介して基準発振器２の発振周波数Rにより
カウントアツプされる。
をゲートG7を介して受入れることによつてクリ
アされると共に、ステツプ「０」でゲートG17，
G6を介して基準発振器２の発振周波数Rにより
カウントアツプされる。
演算用カウンタ４がステツプ「０」の間xの
カウントアツプされ、このカウント値がついに
（18000）に達すると、ゲートG11，G2を介してス
テツプカンタ３が１ステツプ進みステツプ「１」
となつてその出力端子「１」に“１”レベルを出
力する。これによりイニシヤライズ信号ISによつ
てクリアされていたカウンタ１０がRのカウン
トを開始し一定値に達すると、すなわち一定時間
経過すると、ゲートG12，G2を介してステツプカ
ウンタ３がされに１ステツプ進みステツプ「２」
となつて出力端子「２」に“１”レベルを出力す
る。温度―周波数変換器１はこの時点ではゲート
G5、インバータI2を介してスイツチSW2が閉じる
ことによつて周波数sで発振している。また、
ステツプ「２」になると演算用カウンタ４、基準
カウンタ８はいずれもダウンモードになつてい
る。従つて演算用カウンタ４はゲートG16，G4を
介してsによりカウントダウンされ、基準カウ
ンタ８もゲートG18，G6を介してRによりカウ
ントダウンされる。そして基準カウンタ８の内容
が０になると、すなわち演算用カウンタ４が前述
の如くカウント値「18000」に達するまでにカウ
ントアツプするのに要した時間だけカウントダウ
ンされると、ゲートG13，G2を介してステツプカ
ウンタ３がさらに１ステツプ進みステツプ「３」
となつて出力端子「３」に“１”レベルを出力す
る。ステツプ「３」になると、ゲートG5を介し
てスイツチSW1が閉じ、温度―周波数変換器１は
再びxで発振することになる。また、比較回路
６で演算用カウンタ４と最大値レジスタ７との内
容が比較され、演算用カウンタ４の内容の方が大
きい場合、その内容が最大値レジスタ７に移され
ると同時に、ゲートG14，G2を介してステツプカ
ウンタ３がステツプ「０」に戻る。最大値レジス
タ７の内容は表示部９でデイジタル表示される。
そして以上の動作が繰返され、演算用カウンタ４
の最終カウント値が最大値レジスタ７の内容と平
衡した点で測定が終了する。なお、感温抵抗体Ｒ
xと被測定体との接触不良などの原因により検出
温度Ｔが低すぎる場合は、誤測定を防止するため
基準カウンタ８よりカウント値が一定値を超えた
こと示す信号を得て、全体を初期状態に設定す
る。
カウントアツプされ、このカウント値がついに
（18000）に達すると、ゲートG11，G2を介してス
テツプカンタ３が１ステツプ進みステツプ「１」
となつてその出力端子「１」に“１”レベルを出
力する。これによりイニシヤライズ信号ISによつ
てクリアされていたカウンタ１０がRのカウン
トを開始し一定値に達すると、すなわち一定時間
経過すると、ゲートG12，G2を介してステツプカ
ウンタ３がされに１ステツプ進みステツプ「２」
となつて出力端子「２」に“１”レベルを出力す
る。温度―周波数変換器１はこの時点ではゲート
G5、インバータI2を介してスイツチSW2が閉じる
ことによつて周波数sで発振している。また、
ステツプ「２」になると演算用カウンタ４、基準
カウンタ８はいずれもダウンモードになつてい
る。従つて演算用カウンタ４はゲートG16，G4を
介してsによりカウントダウンされ、基準カウ
ンタ８もゲートG18，G6を介してRによりカウ
ントダウンされる。そして基準カウンタ８の内容
が０になると、すなわち演算用カウンタ４が前述
の如くカウント値「18000」に達するまでにカウ
ントアツプするのに要した時間だけカウントダウ
ンされると、ゲートG13，G2を介してステツプカ
ウンタ３がさらに１ステツプ進みステツプ「３」
となつて出力端子「３」に“１”レベルを出力す
る。ステツプ「３」になると、ゲートG5を介し
てスイツチSW1が閉じ、温度―周波数変換器１は
再びxで発振することになる。また、比較回路
６で演算用カウンタ４と最大値レジスタ７との内
容が比較され、演算用カウンタ４の内容の方が大
きい場合、その内容が最大値レジスタ７に移され
ると同時に、ゲートG14，G2を介してステツプカ
ウンタ３がステツプ「０」に戻る。最大値レジス
タ７の内容は表示部９でデイジタル表示される。
そして以上の動作が繰返され、演算用カウンタ４
の最終カウント値が最大値レジスタ７の内容と平
衡した点で測定が終了する。なお、感温抵抗体Ｒ
xと被測定体との接触不良などの原因により検出
温度Ｔが低すぎる場合は、誤測定を防止するため
基準カウンタ８よりカウント値が一定値を超えた
こと示す信号を得て、全体を初期状態に設定す
る。
以上の動作により、温度Ｔが測定され表示部９
に表示される。その測定値が前記(9)式に基く値と
なつていることはいうまでもない。
に表示される。その測定値が前記(9)式に基く値と
なつていることはいうまでもない。
上記のように構成した電子温度計では、基準抵
抗Ｒsにバラツキがあると、測定値に誤差を生ず
る。この測定誤差を除去するため、この発明では
次のような方法をとる。
抗Ｒsにバラツキがあると、測定値に誤差を生ず
る。この測定誤差を除去するため、この発明では
次のような方法をとる。
まず、基準抵抗Ｒsとして基準温度Ｔp（例えば
37℃または41℃）に対応する値より少しずれた例
えば少し小さめの抵抗値のものを用いる。そし
て、プリセツト回路５で3700または4100の如く基
準温度Ｔpに相当する値を演算用カウンタ４に初
期値としてプリセツトする。この状態で感温抵抗
体ＲxをＴpに等しい37℃または41℃の恒温槽に入
れる。このとき表示部９で表示される測定値は、
Ｒsの抵抗値がＴpに相当する値より小さい分だ
け、Ｔpより小さい36.90℃または40.55℃の如き
値となる。この場合、 （37.00−36.90）＝0.10または （41.00−40.55）＝0.45が測定誤差となる。
37℃または41℃）に対応する値より少しずれた例
えば少し小さめの抵抗値のものを用いる。そし
て、プリセツト回路５で3700または4100の如く基
準温度Ｔpに相当する値を演算用カウンタ４に初
期値としてプリセツトする。この状態で感温抵抗
体ＲxをＴpに等しい37℃または41℃の恒温槽に入
れる。このとき表示部９で表示される測定値は、
Ｒsの抵抗値がＴpに相当する値より小さい分だ
け、Ｔpより小さい36.90℃または40.55℃の如き
値となる。この場合、 （37.00−36.90）＝0.10または （41.00−40.55）＝0.45が測定誤差となる。
そこで、この発明では上記の誤差分だけ、プリ
セツト回路５によりプリセツトされる初期値を補
正する。すなわち3700に0010を加えた3710、また
は4100に0045を加えた4145の如き値に設定し直
す。このようにすることによつて、固定抵抗のみ
で構成された基準抵抗Ｒsのバラツキによる測定
誤差を除去することができる。
セツト回路５によりプリセツトされる初期値を補
正する。すなわち3700に0010を加えた3710、また
は4100に0045を加えた4145の如き値に設定し直
す。このようにすることによつて、固定抵抗のみ
で構成された基準抵抗Ｒsのバラツキによる測定
誤差を除去することができる。
この調整方法は、具体的には次のようにして実
現できる。第３図は演算用カウンタ４を５個の４
ビツトBCDカウンタ４１〜４５で構成した場合
の例で、４１は１位桁、４２は10位桁、４３は
100位桁、４４は1000位桁、４５は10000位桁にそ
れぞれ相当する。プリセツト回路５はこれら各カ
ウンタ４１〜４５の入力端子ａ，ｂ，ｃ，ｄのピ
ンを外部に引出し、これらを電源ＶBに接続する
か、アースに落すかを任意に選べるように構成す
る。第３図はプリセツト回路５が演算用カウンタ
４に対し4100を初期値としてプリセツトする場合
の状態を示している。なお実際上は、高位桁例え
ば10000位、1000位の桁についてはほとんど変え
る必要はないので、演算用カウンタ４をICで構
成する場合、これら高位桁の入力端子はIC内部
で固定とし、100位桁以下の低位桁の入力端子の
みIC外部にピンを引出すようにしてもよい。
現できる。第３図は演算用カウンタ４を５個の４
ビツトBCDカウンタ４１〜４５で構成した場合
の例で、４１は１位桁、４２は10位桁、４３は
100位桁、４４は1000位桁、４５は10000位桁にそ
れぞれ相当する。プリセツト回路５はこれら各カ
ウンタ４１〜４５の入力端子ａ，ｂ，ｃ，ｄのピ
ンを外部に引出し、これらを電源ＶBに接続する
か、アースに落すかを任意に選べるように構成す
る。第３図はプリセツト回路５が演算用カウンタ
４に対し4100を初期値としてプリセツトする場合
の状態を示している。なお実際上は、高位桁例え
ば10000位、1000位の桁についてはほとんど変え
る必要はないので、演算用カウンタ４をICで構
成する場合、これら高位桁の入力端子はIC内部
で固定とし、100位桁以下の低位桁の入力端子の
みIC外部にピンを引出すようにしてもよい。
さらにプリセツト回路５を第４図に示すよう
に、演算用カウンタ４の入力端子ａ，ｂ，ｃ，ｄ
から引出されたピンを抵抗Ｒを介して電源ＶBに
接続すると同時に、一端がアースに接続されたス
イツチSWの他端に接続しておくことにより、ス
イツチSWの操作で各入力端子を電源ＶBに接続
するか、アースに落すかを選択し得るようにすれ
ば、初期値の補正がより一層簡単となる。なお、
この場合の電源ＶBとアースとの関係は入れ替え
てもよい。
に、演算用カウンタ４の入力端子ａ，ｂ，ｃ，ｄ
から引出されたピンを抵抗Ｒを介して電源ＶBに
接続すると同時に、一端がアースに接続されたス
イツチSWの他端に接続しておくことにより、ス
イツチSWの操作で各入力端子を電源ＶBに接続
するか、アースに落すかを選択し得るようにすれ
ば、初期値の補正がより一層簡単となる。なお、
この場合の電源ＶBとアースとの関係は入れ替え
てもよい。
また、スイツチとしてBCD出力を発生するも
のが最近開発されているので、それを使えばさら
に簡単にプリセツト回路を構成することができ
る。
のが最近開発されているので、それを使えばさら
に簡単にプリセツト回路を構成することができ
る。
以上説明したように、この発明ではアツプダウ
ンカウンタからなる演算用カウンタに初期値とし
てプリセツトされる値を補正することによつて、
基準抵抗のバラツキによる測定誤差を除去するよ
うにしたため、基準抵抗として比較的精度の低い
ものが使用できてその選別が容易となるのみなら
ず、基準抵抗に組合せる可変抵抗を使用する必要
がないことから可変抵抗のセツテイング安定度を
考慮しなくて済むという利点を有する。従つて電
子温度計による体温などの温度測定をより容易に
精度よく行なうことが可能となる。
ンカウンタからなる演算用カウンタに初期値とし
てプリセツトされる値を補正することによつて、
基準抵抗のバラツキによる測定誤差を除去するよ
うにしたため、基準抵抗として比較的精度の低い
ものが使用できてその選別が容易となるのみなら
ず、基準抵抗に組合せる可変抵抗を使用する必要
がないことから可変抵抗のセツテイング安定度を
考慮しなくて済むという利点を有する。従つて電
子温度計による体温などの温度測定をより容易に
精度よく行なうことが可能となる。
なお、前記説明ではアツプダウンカウンタを演
算用カウンタとして用いて説明したが、他の回路
例えばExcess―３コードのカウンタであつても
良いことは勿論である。
算用カウンタとして用いて説明したが、他の回路
例えばExcess―３コードのカウンタであつても
良いことは勿論である。
第１図は従来の電子温度計における温度―周波
数変換器の構成図、第２図はこの発明の一実施例
を説明するための電子温度計の構成図、第３図お
よび第４図はその要部をより詳細に示す図であ
る。 Ｒx……感温抵抗体、Ｒs……基準抵抗、４……
演算用カウンタ（アツプダウンカウンタ）、５…
…プリセツト回路。
数変換器の構成図、第２図はこの発明の一実施例
を説明するための電子温度計の構成図、第３図お
よび第４図はその要部をより詳細に示す図であ
る。 Ｒx……感温抵抗体、Ｒs……基準抵抗、４……
演算用カウンタ（アツプダウンカウンタ）、５…
…プリセツト回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ほぼ基準温度に相当する値が初期値としてプ
リセツトされた演算用カウンタを感温抵抗体の抵
抗値に対応した周波数で一定のカウント値に達す
るまでカウントアツプさせ、次いで温度により抵
抗値がほとんど変化しない固定抵抗のみからなる
基準抵抗の抵抗値に対応した周波数で上記カウン
トアツプに要する時間だけ前記カウンタの内容を
減じて温度を測定する電子温度計において、前記
感温抵抗体を基準温度の恒温槽に入れて測定を行
ない、その測定温度に誤差が生じた場合その誤差
分だけ前記カウンタにプリセツトされた初期値を
補正することを特徴とする電子温度計の調整方
法。 ２ 前記カウンタの各入力端子を適宜電源に接続
するかアースに落すことによつて初期値のプリセ
ツトおよびその補正を行なうようにした特許請求
の範囲第１項記載の電子温度計の調整方法。 ３ 前記カウンタの全入力端子または所定位桁の
入力端子を、抵抗を介して電源またはアースに接
続すると共に、一端がアースまたは電源に接続さ
れたスイツチの他端に接続しておき、初期値のプ
リセツトおよびその補正を行なうようにした特許
請求の範囲第１項記載の電子温度計の調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15255678A JPS5578222A (en) | 1978-12-09 | 1978-12-09 | Adjusting method for electronic thermometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15255678A JPS5578222A (en) | 1978-12-09 | 1978-12-09 | Adjusting method for electronic thermometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5578222A JPS5578222A (en) | 1980-06-12 |
| JPS6260656B2 true JPS6260656B2 (ja) | 1987-12-17 |
Family
ID=15543044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15255678A Granted JPS5578222A (en) | 1978-12-09 | 1978-12-09 | Adjusting method for electronic thermometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5578222A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06229272A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-16 | Yukio Mikami | エンジンの自動停止装置 |
| JP2008256694A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Korea Univ Industrial & Academic Collaboration Foundation | 発振回路を利用した温度測定装置及び方法 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59225324A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計の製造方法 |
| JPH01162636U (ja) * | 1989-05-16 | 1989-11-13 | ||
| CN108871621A (zh) * | 2018-06-29 | 2018-11-23 | 国网湖北省电力有限公司孝感供电公司 | 一种变电站指针式主变温度系统故障检测方法及装置 |
| CN108844663A (zh) * | 2018-06-29 | 2018-11-20 | 三峡大学 | 一种变电站数显式主变温度系统故障检测方法及装置 |
-
1978
- 1978-12-09 JP JP15255678A patent/JPS5578222A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06229272A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-16 | Yukio Mikami | エンジンの自動停止装置 |
| JP2008256694A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Korea Univ Industrial & Academic Collaboration Foundation | 発振回路を利用した温度測定装置及び方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5578222A (en) | 1980-06-12 |
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