JPH0344461A - スパッタ用銅セレン系ターゲット材料 - Google Patents
スパッタ用銅セレン系ターゲット材料Info
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は2例えばCu1nSezやCu1nSe*等の
半導体材料をスパッタリングによって製造するのに好適
なターゲット材料に関する。
半導体材料をスパッタリングによって製造するのに好適
なターゲット材料に関する。
Cu1nSe、、CuGa5et、Cu(In、Ga)
Set等のカルコパイライト系多元化合物は太陽電池等
の光電変換デバイス用材料として有用であり、このよう
な用途への適用にあたっては、広い面積にあたって組成
や純度並びに膜厚の精密さが特に重要視されることから
、スパッタリングによってこれら多元化合物の薄膜を製
造することが有利である。
Set等のカルコパイライト系多元化合物は太陽電池等
の光電変換デバイス用材料として有用であり、このよう
な用途への適用にあたっては、広い面積にあたって組成
や純度並びに膜厚の精密さが特に重要視されることから
、スパッタリングによってこれら多元化合物の薄膜を製
造することが有利である。
従来より、銅とセレンを含むこの種の多元化合物の薄膜
をスパッタリングによって製造するには。
をスパッタリングによって製造するには。
(a)、目標とする多元化合物と同じ組成をもつ合金タ
ーゲットを用いてスパッタする。
ーゲットを用いてスパッタする。
(b)、該化合物を構成する各成分元素に対応する複数
の元素ターゲットを用いてスパッタする。
の元素ターゲットを用いてスパッタする。
(C)、該化合物元素の一部で構成された化合物ターゲ
ットと他部の元素ターゲットを用いてスパッタする(例
えば米国特許第4465575号明細書等にはI rl
l S e、ターゲットとCuターゲットを組み合わせ
る方法が教示されている)。
ットと他部の元素ターゲットを用いてスパッタする(例
えば米国特許第4465575号明細書等にはI rl
l S e、ターゲットとCuターゲットを組み合わせ
る方法が教示されている)。
(イ)、該化合物元素の一部からなる複数の化合物ター
ゲットを用いて(例えばCu、SeとI nz S e
3をターゲットとして)スパッタする といった方法が知られている。
ゲットを用いて(例えばCu、SeとI nz S e
3をターゲットとして)スパッタする といった方法が知られている。
前述の如きターゲットあるいはターゲットの組み合わせ
のもとで、スパッタリング法で鋼とセレンを含む多元化
合物の薄膜を作成しようとした場合に、一般に組成制御
が困難であるなどの問題があった。
のもとで、スパッタリング法で鋼とセレンを含む多元化
合物の薄膜を作成しようとした場合に、一般に組成制御
が困難であるなどの問題があった。
例えば前記(a)法のターゲットの場合にはターゲット
自体の組成制御が難しく、また、一般にターゲラ)Al
1戒とスパッタ膜組成は等しくないので目標とする膜組
成を得ることは困難である。そのため1通常は(b)、
(C)または(d)法のようなターゲットの組み合わせ
が使用されており、その膜組成は各ターゲットの投入電
力によって調節している。
自体の組成制御が難しく、また、一般にターゲラ)Al
1戒とスパッタ膜組成は等しくないので目標とする膜組
成を得ることは困難である。そのため1通常は(b)、
(C)または(d)法のようなターゲットの組み合わせ
が使用されており、その膜組成は各ターゲットの投入電
力によって調節している。
しかし、わ)や(C1法の如くセレン源としてセレン単
体ターゲットを使用する場合には、(1)セレンの融点
が220″Cと低く、また1熱伝導性が小さいためにバ
ッキングプレートを通しての水冷効果が不充分となって
スパッタ中にターゲット表面が溶は易くなり、このため
セレンターゲットへの投入電力の!J1節範囲を狭くせ
ざるを得ず、よって成膜速度が遅くなるという問題と、
(2)セレンの蒸気圧が高いため(197℃でI X1
O−3Torr)、 ターゲット表面からはセレンガ
スが放出され、このセレンガスがスパッタ装置の真空容
器および真空容器内に設置されたその他のターゲットを
汚染し、また放電不安定を起こす原因となる。といった
問題があった。
体ターゲットを使用する場合には、(1)セレンの融点
が220″Cと低く、また1熱伝導性が小さいためにバ
ッキングプレートを通しての水冷効果が不充分となって
スパッタ中にターゲット表面が溶は易くなり、このため
セレンターゲットへの投入電力の!J1節範囲を狭くせ
ざるを得ず、よって成膜速度が遅くなるという問題と、
(2)セレンの蒸気圧が高いため(197℃でI X1
O−3Torr)、 ターゲット表面からはセレンガ
スが放出され、このセレンガスがスパッタ装置の真空容
器および真空容器内に設置されたその他のターゲットを
汚染し、また放電不安定を起こす原因となる。といった
問題があった。
更に(d)法では1例えばIn25 e3ターゲットを
使用する場合には、(1) I n! S esが高抵
抗のためDC放電が不安定となるという問題と、(2)
スパッタリング中にInzSesターゲット表面にIn
が析出し。
使用する場合には、(1) I n! S esが高抵
抗のためDC放電が不安定となるという問題と、(2)
スパッタリング中にInzSesターゲット表面にIn
が析出し。
得られる薄膜組成はセレン不足となるので、セレンの含
有量を補償するためには有毒なH,Seガス等のセレン
含有ガス雰囲気で薄膜を熱処理する必要があるなどの問
題があった。
有量を補償するためには有毒なH,Seガス等のセレン
含有ガス雰囲気で薄膜を熱処理する必要があるなどの問
題があった。
本発明は、このような問題の解決を目的としたものであ
り、銅とセレンを含む多元化合物半導体薄膜材料をスパ
ッタリングによって製造するさいの新しいターゲット材
料およびその製造法を提供しようとするものである。
り、銅とセレンを含む多元化合物半導体薄膜材料をスパ
ッタリングによって製造するさいの新しいターゲット材
料およびその製造法を提供しようとするものである。
〔問題点を解決する手段]
本発明は、銅セレン合金の粉末を不活性ガス雰囲気下で
熱間加圧成形してなるターゲット材料を提供するもので
ある。このターゲット材料は2〜60原子%の銅を含み
、残部はセレンからなる。具体的にはCu:4〜62重
量%、Se:38〜96重景%であるのが好ましい。
熱間加圧成形してなるターゲット材料を提供するもので
ある。このターゲット材料は2〜60原子%の銅を含み
、残部はセレンからなる。具体的にはCu:4〜62重
量%、Se:38〜96重景%であるのが好ましい。
銅セレン合金の粉末は融解および鋳造によって製造した
銅セレン合金を例えばスタンプミル等を用いて機械的に
粉砕すればよい。銅セレン合金の粉末の製造にあたって
は、目標とするターゲット材料の銅とセレンの組成化に
実質上等しい組成化をもつ合金粉とする。粉末の粒度は
平均粒径が150メツシユ以下の成る値となるようにす
ると共に粒度分布も平均粒径に近いものが多くなるよう
に分級するのがよい。この粉末を用いてターゲット材料
に熱間加圧成形するのであるが、これは150〜300
kg’ 7cm”の加圧力を付与しながら200〜30
0”Cの温度に不活性ガス雰囲気下で保持する (例え
ば2時間程度以上)ことによって行う必要がある。その
さい不活性ガス雰囲気も大気圧以上の圧力とするのがよ
い。不活性ガスとしてはArが適切である。
銅セレン合金を例えばスタンプミル等を用いて機械的に
粉砕すればよい。銅セレン合金の粉末の製造にあたって
は、目標とするターゲット材料の銅とセレンの組成化に
実質上等しい組成化をもつ合金粉とする。粉末の粒度は
平均粒径が150メツシユ以下の成る値となるようにす
ると共に粒度分布も平均粒径に近いものが多くなるよう
に分級するのがよい。この粉末を用いてターゲット材料
に熱間加圧成形するのであるが、これは150〜300
kg’ 7cm”の加圧力を付与しながら200〜30
0”Cの温度に不活性ガス雰囲気下で保持する (例え
ば2時間程度以上)ことによって行う必要がある。その
さい不活性ガス雰囲気も大気圧以上の圧力とするのがよ
い。不活性ガスとしてはArが適切である。
(作用)
本発明による銅セレンターゲントは、その融点が340
℃以上となる。これはセレンターゲットの融点が220
”Cであるのと比べると非常に高い値である。また熱伝
導性もセレンターゲットに比べると非常に良好である。
℃以上となる。これはセレンターゲットの融点が220
”Cであるのと比べると非常に高い値である。また熱伝
導性もセレンターゲットに比べると非常に良好である。
このようなことから1本発明のターゲットはスパッタ中
に溶融し難く、冷却効率も良好となるので、ターゲット
表面からの熱蒸発セレンがなくなり、放電が安定すると
共に。
に溶融し難く、冷却効率も良好となるので、ターゲット
表面からの熱蒸発セレンがなくなり、放電が安定すると
共に。
投入電力を上げることができるため膜堆積速度もセレン
ターゲットに比べて1〜2桁上昇し、且つ再現性も良好
となる。
ターゲットに比べて1〜2桁上昇し、且つ再現性も良好
となる。
また、不活性ガス雰囲気中での熱間加圧成形を実施する
ことによって、原料粉末の重量減少を極めて小さくする
ことができる。すなわちセレン蒸気の蒸発損を軽微にす
ることができ、原料歩留りが向上すると共に仕込み組成
に極めて近い組成比をもつターゲットを容易に製造する
ことができる。
ことによって、原料粉末の重量減少を極めて小さくする
ことができる。すなわちセレン蒸気の蒸発損を軽微にす
ることができ、原料歩留りが向上すると共に仕込み組成
に極めて近い組成比をもつターゲットを容易に製造する
ことができる。
この点、鋳造法で銅セレンターゲットを作成すると、セ
レンの蒸気圧が高いために製造中にセレンが蒸発して原
料歩留が大きく低下し2Mi戒比の制御が困難となるし
1w4セレン合金はガラス質であるため、冷却時や鋳型
からの取り出し時に割れ易く製造性が悪い。またコール
ドプレス法では、圧粉成形体を焼結することが必要とな
るが、この焼結時に蒸気圧の高いセレンが蒸発して組成
がずれるなどしてやはり製造性が悪い0本発明ではこの
ような問題は実質的に回避できたものである。
レンの蒸気圧が高いために製造中にセレンが蒸発して原
料歩留が大きく低下し2Mi戒比の制御が困難となるし
1w4セレン合金はガラス質であるため、冷却時や鋳型
からの取り出し時に割れ易く製造性が悪い。またコール
ドプレス法では、圧粉成形体を焼結することが必要とな
るが、この焼結時に蒸気圧の高いセレンが蒸発して組成
がずれるなどしてやはり製造性が悪い0本発明ではこの
ような問題は実質的に回避できたものである。
本発明の銅セレンターゲットをスパッタに用いてCu1
nSez、CuGa5ex、Cu(In、Ga)Set
等の多元化合物半導体の薄膜を製造するさいには。
nSez、CuGa5ex、Cu(In、Ga)Set
等の多元化合物半導体の薄膜を製造するさいには。
InやGaの供給は別のターゲットを用いて行えばよい
。これは単体ターゲットであってもよいし化合物ターゲ
ットであってもよい。そのさい銅ターゲツトも併用する
ことも好ましい。
。これは単体ターゲットであってもよいし化合物ターゲ
ットであってもよい。そのさい銅ターゲツトも併用する
ことも好ましい。
原料として純度5Nlqと純度5Nセレンを用い。
真空溶融法によって、 Cu:20wtχ、 Se
: 80wtχの合金を作製し、これをスタンプ5ルで
粉砕したうえ分級して150メツシユ以下の所定の平均
粒径を有する銅セレン合金粉末にした。この合金粉末を
加圧200kg’ 7cm”、保持温度260℃1保持
時間2時間、Arガス雰囲気(1,3気圧)の条件で熱
間加圧成形することによって、直径80I×厚さ5mm
の銅セレンターゲットを作製した。また、比較のために
雰囲気を真空雰囲気とした以外は同様の方法を繰り返し
た。第1表はArガス雰囲気中と真空雰囲気中で熱間加
圧成形した場合について、成形体に仕込んだ重量と得ら
れたターゲットの重量比の割合(重量減少率)と、得ら
れた形成体の密度を示した。
: 80wtχの合金を作製し、これをスタンプ5ルで
粉砕したうえ分級して150メツシユ以下の所定の平均
粒径を有する銅セレン合金粉末にした。この合金粉末を
加圧200kg’ 7cm”、保持温度260℃1保持
時間2時間、Arガス雰囲気(1,3気圧)の条件で熱
間加圧成形することによって、直径80I×厚さ5mm
の銅セレンターゲットを作製した。また、比較のために
雰囲気を真空雰囲気とした以外は同様の方法を繰り返し
た。第1表はArガス雰囲気中と真空雰囲気中で熱間加
圧成形した場合について、成形体に仕込んだ重量と得ら
れたターゲットの重量比の割合(重量減少率)と、得ら
れた形成体の密度を示した。
第1表
第1表の結果に見られるように9本発明では重tm少率
を極めて小さくすることができる。したがって5歩留が
向上し、仕込みMi戊に極めて近い組成比をもつターゲ
ットを容易に作製することができる。また、実施例のタ
ーゲットの耐投入電力は4 u/ca+”以上であるこ
とが確認された。
を極めて小さくすることができる。したがって5歩留が
向上し、仕込みMi戊に極めて近い組成比をもつターゲ
ットを容易に作製することができる。また、実施例のタ
ーゲットの耐投入電力は4 u/ca+”以上であるこ
とが確認された。
前記の本発明例で作製された鋼セレンターゲットを使用
して、第2表に示したスパッタ条件でスパッタリングを
行った。そのさいの膜堆積速度の経時変化を第1図に示
した。
して、第2表に示したスパッタ条件でスパッタリングを
行った。そのさいの膜堆積速度の経時変化を第1図に示
した。
第2表
第1図の結果に見られるように、膜堆積速度はスパッタ
開始から50分後には一定となりその後極めて安定して
いる。したがって1本発明の銅セレンターゲットをセレ
ン源として使用することによって、長時間にわたってセ
レン組成が変動することなくスパッタ底膜できることが
わかる。
開始から50分後には一定となりその後極めて安定して
いる。したがって1本発明の銅セレンターゲットをセレ
ン源として使用することによって、長時間にわたってセ
レン組成が変動することなくスパッタ底膜できることが
わかる。
第1図は本発明のターゲットを用いてスパッタしたさい
の銅セレン膜の体積速度の経時変化を示す図である。
の銅セレン膜の体積速度の経時変化を示す図である。
Claims (3)
- (1) 銅セレン合金の粉末を不活性ガス雰囲気下で熱
間加圧成形してなるスパッタ用銅セレン系ターゲット材
料。 - (2) Cu:4〜62重量%,Se:38〜96重量
%,および不可避的不純物からなる請求項1に記載のタ
ーゲット材料。 - (3) 熱間加圧成形は200〜300℃の温度と15
0〜300kg’/cm^2の加圧下で実施された請求
項1または2に記載のターゲット材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17551689A JPH0344461A (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | スパッタ用銅セレン系ターゲット材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17551689A JPH0344461A (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | スパッタ用銅セレン系ターゲット材料 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0344461A true JPH0344461A (ja) | 1991-02-26 |
Family
ID=15997422
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17551689A Pending JPH0344461A (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | スパッタ用銅セレン系ターゲット材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0344461A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100370044C (zh) * | 2006-08-25 | 2008-02-20 | 江西铜业集团(贵溪)新材料有限公司 | 一种铜硒中间合金的制备方法 |
JP2009120863A (ja) * | 2007-11-12 | 2009-06-04 | Mitsubishi Materials Corp | Cu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法 |
JP2009287092A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Mitsubishi Materials Corp | カルコパイライト型半導体膜成膜用スパッタリングターゲットの製造方法 |
JP2012001803A (ja) * | 2010-06-21 | 2012-01-05 | Ulvac Japan Ltd | In−Se合金粉末、In−Se合金焼結体、Ga−Se合金粉末、Ga−Se合金焼結体、In−Ga−Se合金粉末、In−Ga−Se合金焼結体、Cu−In−Ga−Se合金粉末及びCu−In−Ga−Se合金焼結体の製造方法 |
-
1989
- 1989-07-10 JP JP17551689A patent/JPH0344461A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100370044C (zh) * | 2006-08-25 | 2008-02-20 | 江西铜业集团(贵溪)新材料有限公司 | 一种铜硒中间合金的制备方法 |
JP2009120863A (ja) * | 2007-11-12 | 2009-06-04 | Mitsubishi Materials Corp | Cu−In−Ga三元系焼結合金スパッタリングターゲットの製造方法 |
JP2009287092A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Mitsubishi Materials Corp | カルコパイライト型半導体膜成膜用スパッタリングターゲットの製造方法 |
JP2012001803A (ja) * | 2010-06-21 | 2012-01-05 | Ulvac Japan Ltd | In−Se合金粉末、In−Se合金焼結体、Ga−Se合金粉末、Ga−Se合金焼結体、In−Ga−Se合金粉末、In−Ga−Se合金焼結体、Cu−In−Ga−Se合金粉末及びCu−In−Ga−Se合金焼結体の製造方法 |
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