JPS61227167A - 焼結合金タ−ゲツト材 - Google Patents
焼結合金タ−ゲツト材Info
- Publication number
- JPS61227167A JPS61227167A JP60066170A JP6617085A JPS61227167A JP S61227167 A JPS61227167 A JP S61227167A JP 60066170 A JP60066170 A JP 60066170A JP 6617085 A JP6617085 A JP 6617085A JP S61227167 A JPS61227167 A JP S61227167A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target material
- alloy
- powder
- molding
- density
- Prior art date
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- Granted
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、テルル、セレンおよびアンチモンのうち1種
もしくはコ、禎以上を含む薄膜層をスパッタリング法に
よシ形成する場合に使用されるテルル、セレンおよびア
ンチモンのうち1種又は2種以上からなる焼結合金ター
ゲット材に関する。
もしくはコ、禎以上を含む薄膜層をスパッタリング法に
よシ形成する場合に使用されるテルル、セレンおよびア
ンチモンのうち1種又は2種以上からなる焼結合金ター
ゲット材に関する。
周知のように、テルル、セレンおよ・びアンチモンのう
ち/f11もL〈は2種以上、および/又はそれ等の/
111以上を含む合金等は光ディスクの記録媒体薄膜層
に好適な素材として実用化され【おり、同薄膜層は、一
般にスパッタリング法によシ襄遺されている。このスパ
ッタリング法に用いられるターゲットは、円形または角
形板状のテルル、セレンおよびアンチモンのうち7棟も
しくは2種以上および/又はそれ岬の/種以上を含む合
金等のターゲット材(以下ターゲット材という)とそれ
にロウ付けされたバンキングプレート(冷却板)とから
なっている。
ち/f11もL〈は2種以上、および/又はそれ等の/
111以上を含む合金等は光ディスクの記録媒体薄膜層
に好適な素材として実用化され【おり、同薄膜層は、一
般にスパッタリング法によシ襄遺されている。このスパ
ッタリング法に用いられるターゲットは、円形または角
形板状のテルル、セレンおよびアンチモンのうち7棟も
しくは2種以上および/又はそれ岬の/種以上を含む合
金等のターゲット材(以下ターゲット材という)とそれ
にロウ付けされたバンキングプレート(冷却板)とから
なっている。
従来、このようなターゲット材は、溶解鋳造法或いは粉
末焼結法によってつくられている。
末焼結法によってつくられている。
しかし、テルル、セレンおよびアンチモンのうちいずれ
か/櫨もしくは2種以上を含むこれらターゲット材とし
ての組成は、’l’e、Se%Sb、゛Te−3e、T
o−Pb%To−Ges Te−8e−cd % T
e S e S b A g s S eS b
sSs−8n、5e−8n−In、Se−Te−8b等
があるが、いずれも極めて脆く、展延性がなく塑性加工
が出来ない。
か/櫨もしくは2種以上を含むこれらターゲット材とし
ての組成は、’l’e、Se%Sb、゛Te−3e、T
o−Pb%To−Ges Te−8e−cd % T
e S e S b A g s S eS b
sSs−8n、5e−8n−In、Se−Te−8b等
があるが、いずれも極めて脆く、展延性がなく塑性加工
が出来ない。
そのため、溶解鋳造法においては割れ易く、製品歩留り
が悪いのみならず、鋳塊の結晶粒が大きく、#同時のガ
ス巻込みがあり、ガスホールを生じ、したがって溶解鋳
造によるターゲット材を用いてスパッタリングを行なう
とスパッタリング中に必ず異常放電が起シ安定して薄膜
を形成することが出来ない欠点がある。さら忙合金にお
いては、偏析を生じ易いので、結局、薄膜での組成が均
一に保持出来ない。
が悪いのみならず、鋳塊の結晶粒が大きく、#同時のガ
ス巻込みがあり、ガスホールを生じ、したがって溶解鋳
造によるターゲット材を用いてスパッタリングを行なう
とスパッタリング中に必ず異常放電が起シ安定して薄膜
を形成することが出来ない欠点がある。さら忙合金にお
いては、偏析を生じ易いので、結局、薄膜での組成が均
一に保持出来ない。
他方焼結法はテルル、セレンおよびアンチモノの単体ま
たはテルル、セレン、およびアンチモンのうちl種以上
を含む合金化した鋳塊を粉砕し、加圧成形して焼結する
ものである。この方法によってつくられたターゲット材
は、上記溶解鋳造法によってつくられたターゲット材の
檀々な欠点はなくなるが、スパッタリングを行なう場合
、ターゲット材の熱伝導が悪く、発生する熱を充分忙除
去出来ないため温度が上昇し、高出力に上けることが出
来ない欠点がある。
たはテルル、セレン、およびアンチモンのうちl種以上
を含む合金化した鋳塊を粉砕し、加圧成形して焼結する
ものである。この方法によってつくられたターゲット材
は、上記溶解鋳造法によってつくられたターゲット材の
檀々な欠点はなくなるが、スパッタリングを行なう場合
、ターゲット材の熱伝導が悪く、発生する熱を充分忙除
去出来ないため温度が上昇し、高出力に上けることが出
来ない欠点がある。
本発明者らは、上記欠点を解消すべく鋭意研究した結果
、焼結法によってつくられたターゲット材の1#度が、
単体またはその合金の密度に対して従来go−gダチで
あつものを僅か高くすることによって熱伝導率が大@に
高くなることを知見した。
、焼結法によってつくられたターゲット材の1#度が、
単体またはその合金の密度に対して従来go−gダチで
あつものを僅か高くすることによって熱伝導率が大@に
高くなることを知見した。
本発明は上記知見に基づいて完成されたもので、高出力
において効率よくスパッタリングを行うことができ、均
質、平滑で優れたテルル、セレンおよびアンチモンのう
ち1種もしくは2種以上を含む合金薄膜が得られるター
ゲット材を提供することを目的とする。
において効率よくスパッタリングを行うことができ、均
質、平滑で優れたテルル、セレンおよびアンチモンのう
ち1種もしくは2種以上を含む合金薄膜が得られるター
ゲット材を提供することを目的とする。
本発明は、上記の目的な達成するためになされたもので
、その手3段は、テルル、セレンおよびアンチモンの単
体またはテルル、セレンおよびアンチモンのうちいずれ
か/種以上な含む合金の鋳塊を粉砕し、微細な結晶サイ
ズの均質な粉末とし、それを高い冷間静水圧で加圧成形
して焼成することによシ、密度を単体或いはその合金の
密度のg!−以上としたターゲット材である。さら九本
発明の詳細な説明する。
、その手3段は、テルル、セレンおよびアンチモンの単
体またはテルル、セレンおよびアンチモンのうちいずれ
か/種以上な含む合金の鋳塊を粉砕し、微細な結晶サイ
ズの均質な粉末とし、それを高い冷間静水圧で加圧成形
して焼成することによシ、密度を単体或いはその合金の
密度のg!−以上としたターゲット材である。さら九本
発明の詳細な説明する。
本発明に係るターゲット材の原料として使用される合金
は、テルル、セレンおよびアンチモンのうちいずれかw
io*子チ以上含有する合金である。この合金またはテ
ルル、セレンもしくはアンチモン単体を粉砕し、篩い分
は等によって粒度を調整し、混合して、100〜6コS
メツシユの結晶サイズの微細化された全体的に均質な粉
末とする。この粉末の粒度分布が広過ぎると不均質とな
シ、また粒径が大きすぎても小さすぎても成形体の強度
が上らず、加工中或いはスパッタ中にクラックが入シス
バッタ中の異常放電の原因となシ、さらにターゲット材
の密度も高くならない。
は、テルル、セレンおよびアンチモンのうちいずれかw
io*子チ以上含有する合金である。この合金またはテ
ルル、セレンもしくはアンチモン単体を粉砕し、篩い分
は等によって粒度を調整し、混合して、100〜6コS
メツシユの結晶サイズの微細化された全体的に均質な粉
末とする。この粉末の粒度分布が広過ぎると不均質とな
シ、また粒径が大きすぎても小さすぎても成形体の強度
が上らず、加工中或いはスパッタ中にクラックが入シス
バッタ中の異常放電の原因となシ、さらにターゲット材
の密度も高くならない。
次いで通常上記粉末を真空に保持して脱ガスする。真空
脱ガスの条件としては温度は30℃以上から粉末そのも
のの蒸気圧が/Torr以下でちる温度までの範囲で選
択され、真窒度は/Torr以下とし、7〜5時間位の
処理が行なわれる。この真空脱ガス処理は、場合によっ
てはスパッタリング前のターゲット材に施すこともある
。
脱ガスの条件としては温度は30℃以上から粉末そのも
のの蒸気圧が/Torr以下でちる温度までの範囲で選
択され、真窒度は/Torr以下とし、7〜5時間位の
処理が行なわれる。この真空脱ガス処理は、場合によっ
てはスパッタリング前のターゲット材に施すこともある
。
この粉末を高い冷間静水81によって加圧成形し、さら
に焼結して単体又は合金そのものの密度のg5チ以上の
密度の焼結体をつ<シ、これを機械加工してターゲット
材を切出し、バッキングプレートと四つ付けしてターゲ
ットとする。このようにして得られたターゲットは熱、
伝導率がよく、冷却が充分に行なわれるので、高出力に
よつ【スパッタリングを行なうことができる。
に焼結して単体又は合金そのものの密度のg5チ以上の
密度の焼結体をつ<シ、これを機械加工してターゲット
材を切出し、バッキングプレートと四つ付けしてターゲ
ットとする。このようにして得られたターゲットは熱、
伝導率がよく、冷却が充分に行なわれるので、高出力に
よつ【スパッタリングを行なうことができる。
本発明に係るターゲット材は、単体またはその合金の密
度のざ!−以上の密度を有するので極めて熱伝導率がよ
く、これKよってつくられたターゲットは、よく冷却さ
れ、高出力を付与しても温就かあがらず、効率的なスパ
ッタリングを行うことが可能となる。
度のざ!−以上の密度を有するので極めて熱伝導率がよ
く、これKよってつくられたターゲットは、よく冷却さ
れ、高出力を付与しても温就かあがらず、効率的なスパ
ッタリングを行うことが可能となる。
以下に実施例および比較例を示して本発明をさらに詳し
く説明する。
く説明する。
単体または合金tボールミルによって粉砕し、篩分けし
″′c100−42!メツシュの粉末とし、表に示す条
件で真窒脱気した。これを冷間静水圧プレス忙よって加
圧成形し、焼結してそれぞれ単体または合金塊密度のg
ss以上の密度の焼結体とした。この焼結体を機械加工
して径が/!;Oms厚さが6mのターゲット材とした
。このターゲット材にバッキングプレートとして銅板を
ロウ付けしてターゲットとし、所定の温度、流量の水で
冷却し【スパッタリングを行なった。
″′c100−42!メツシュの粉末とし、表に示す条
件で真窒脱気した。これを冷間静水圧プレス忙よって加
圧成形し、焼結してそれぞれ単体または合金塊密度のg
ss以上の密度の焼結体とした。この焼結体を機械加工
して径が/!;Oms厚さが6mのターゲット材とした
。このターゲット材にバッキングプレートとして銅板を
ロウ付けしてターゲットとし、所定の温度、流量の水で
冷却し【スパッタリングを行なった。
〔比較例/−/1
焼結体の密度を単体または合金塊の密度のざSチ未満と
した外は、実施例と同じにしてスパッタリングを行なっ
た。
した外は、実施例と同じにしてスパッタリングを行なっ
た。
実施例、比較例の結果を第1表に示す。
表よシ、実施例に示すターゲット材の優れていることが
わかる。
わかる。
以上述べたように本発明に係るターゲット材は、僅かK
その密度を高めることによって熱伝導率が大幅によくな
シ、冷却が充分に行なわれるのでターゲット表面の温度
が上らないため高出力によるスパッタリングが可能とな
シ、薄膜の形成速度が早く、従来の焼結法によってつく
られたターゲット材忙比して極めて効率のよいスパッタ
リングを行なうことが出来る。
その密度を高めることによって熱伝導率が大幅によくな
シ、冷却が充分に行なわれるのでターゲット表面の温度
が上らないため高出力によるスパッタリングが可能とな
シ、薄膜の形成速度が早く、従来の焼結法によってつく
られたターゲット材忙比して極めて効率のよいスパッタ
リングを行なうことが出来る。
Claims (1)
- テルル、セレンおよびアンチモンのうち1種もしくは2
種以上の粉末および/又はこれらの1種もしくは2種以
上を含む合金粉末を加圧成形し、これを焼結した、焼結
ターゲット材において、組成が全体的に均一で、密度が
85%以上であることを特徴とした焼結合金ターゲット
材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60066170A JPS61227167A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 焼結合金タ−ゲツト材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60066170A JPS61227167A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 焼結合金タ−ゲツト材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61227167A true JPS61227167A (ja) | 1986-10-09 |
JPH0372153B2 JPH0372153B2 (ja) | 1991-11-15 |
Family
ID=13308103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60066170A Granted JPS61227167A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 焼結合金タ−ゲツト材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61227167A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS621146A (ja) * | 1985-06-27 | 1987-01-07 | Toyo Soda Mfg Co Ltd | 光記録用スパツタリングタ−ゲツト及びその製造方法 |
JPS6395983A (ja) * | 1986-10-14 | 1988-04-26 | Mitsubishi Kasei Corp | 光学的記録用媒体の製造方法 |
JPS63143258A (ja) * | 1986-12-05 | 1988-06-15 | Mitsubishi Metal Corp | スパツタリング用タ−ゲツト |
EP1480209A1 (en) * | 2002-02-25 | 2004-11-24 | Nikko Materials Company, Limited | Sputtering target for phase-change memory, film for phase change memory formed by using the target, and method for producing the target |
US8241834B2 (en) * | 2008-05-01 | 2012-08-14 | Sony Corporation | Optical recording medium and production method therefor, and sputtering target and production method therefor |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57203771A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-14 | Mitsubishi Metal Corp | Manufacture of target for vapor-deposition |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP60066170A patent/JPS61227167A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57203771A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-14 | Mitsubishi Metal Corp | Manufacture of target for vapor-deposition |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS621146A (ja) * | 1985-06-27 | 1987-01-07 | Toyo Soda Mfg Co Ltd | 光記録用スパツタリングタ−ゲツト及びその製造方法 |
JPS6395983A (ja) * | 1986-10-14 | 1988-04-26 | Mitsubishi Kasei Corp | 光学的記録用媒体の製造方法 |
JPH0511559B2 (ja) * | 1986-10-14 | 1993-02-15 | Mitsubishi Chem Ind | |
JPS63143258A (ja) * | 1986-12-05 | 1988-06-15 | Mitsubishi Metal Corp | スパツタリング用タ−ゲツト |
EP1480209A1 (en) * | 2002-02-25 | 2004-11-24 | Nikko Materials Company, Limited | Sputtering target for phase-change memory, film for phase change memory formed by using the target, and method for producing the target |
EP1480209A4 (en) * | 2002-02-25 | 2006-11-08 | Nippon Mining Co | SPUTTER TARGET FOR A PHASE SWITCH MEMORY, FILM FOR A PHASE SWITCHED MEMORY DEVELOPED BY USING THE TARGET, AND METHOD FOR PRODUCING THE TARGET |
US8241834B2 (en) * | 2008-05-01 | 2012-08-14 | Sony Corporation | Optical recording medium and production method therefor, and sputtering target and production method therefor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0372153B2 (ja) | 1991-11-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |