JPH0337652A - 化学線感応性重合体組成物 - Google Patents

化学線感応性重合体組成物

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JPH0337652A
JPH0337652A JP17364989A JP17364989A JPH0337652A JP H0337652 A JPH0337652 A JP H0337652A JP 17364989 A JP17364989 A JP 17364989A JP 17364989 A JP17364989 A JP 17364989A JP H0337652 A JPH0337652 A JP H0337652A
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JP
Japan
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compound
group
aromatic
polymer
amino group
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JP17364989A
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English (en)
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Masao Tomikawa
真佐夫 富川
Masuichi Eguchi
益市 江口
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Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、化学線感応性重合体組成物に関するものであ
り、さらに詳しくは、g線ステッパーを用いた露光時に
高い残膜率を得ることのできる化学線感応性重合体組成
物に関するものである。
[従来の技術] 感光性ポリイミド組成物としては、ポリアミド酸に化学
線により2量化または重合可能な炭素−炭素2重結合お
よびアミノ基またはその4級化塩を含む化合物を添加し
た組成物(例えば特公昭59−52822)あるいはポ
リアミド酸にエステル基で感光性を導入したポリイミド
前駆体組成物(例えば米国特許第3957512号、同
第4040831号明細書など)が知られている。
しかし、かかる従来の組成物は現在半導体素子の製造に
用いられている水銀灯のg線を用いるステッパーによる
露光では長波長露光、酸素減感の影響により残膜率が大
幅に低下し希望の膜厚を得るのが困難であり、現像時に
膜荒れを起こすという欠点を有している。
また、酸過酸化物のエステルを光重合開始剤に用いるも
のは高感度な感光性樹脂が得られるが保存時の安定性が
悪いという欠点を有している。
[発明が解決しようとする課題] この発明は、かかる従来技術の諸欠点に鑑み創案された
もので、その目的は、上記欠点、すなわち、g線ステッ
パー露光時に膜減り、膜荒れの少ない保存安定性に優れ
た化学線感応性重合体組成物を提供することにある。
[課題を解決するための手段] かる本発明の目的は次の構成、すなわち(1)(a)一
般式 %式%] ) (ただし、式中R1は少なくとも2個以上の炭素原子を
有する3価または4価の有機基、R2は少なくとも2個
以上の炭素原子を有する2価の有機基、R3は水素また
はアルカリ金属対イオンを表有機基、R3は水素または
2である。)で表わされる構造単位[1]を主成分とす
るポリマと、(b)化学線により、2量化または重合可
能な不飽和結合および、アミノ基または、その4級化塩
を含む化合物[2]と、 (C)第2級アミノ基または第3級アミン基が結合して
いる芳香核に直接ケトン性の>C=Oが結合していない
芳香族第2級または第3級アミノアルコール化合物[3
]と、 (d)芳香族アジド化合物[4]および/または芳香族
スルホンアジド化合物[5]と、(e)3.3’ 、4
.4’−テトラ(t−ブチルパーオキシカルボニル)ベ
ンゾフェノン[6]と、 (f)ニトロソアミン化合物[7コ とからなる化学線感応性重合体組成物により達成される
本発明における構造単位[1]を有するポリマとしては
、前記一般式で示される構造を有し、加熱あるいは適当
な触媒によりイミド環や、その他層状構造を有するポリ
マ(以後、ポリイミド系ポリマと呼ぶ)となり得るもの
である。
上記構造単位[1]中、R1は少なくとも2個以上の炭
素原子を有する3価のまたは4価の有機基である。ポリ
イミド系ポリマの耐熱性から、R1はポリマ主鎖のカル
ボニル基との結合が芳香族複素環から直接行われる構造
を有するものが好ましい。したがって、R1としては、
芳香環または芳香族複素環を含有し、かつ炭素数6〜3
0の3価または4価の基が好ましい。
(式中、結合手はポリマ主鎖のカルボニル基との結合を
表わし、ポリマ側鎖のカルボニル基は結合手に対してオ
ルト位に位置するが、この結合手は上記構造式には記載
していない) などが挙げられるが、これに限定されない。
また構造単位[1]を有するポリマは、R1がこれらの
うちただ1種から構成されていても良いし、2種以上か
ら構成される共重合体であっても良い。
R1として特に望ましいものは、 である。
上記構造単位[1]中、R2は少なくとも2個以上の炭
素原子を有する2価の有機基であるが、ポリイミド系ポ
リマとした時の耐熱性の面から、ポリマ主鎖のアミド基
との結合が芳香族環あるいは芳香族複素環から直接行わ
れる構造を有するものが好ましい。したがって、R2と
しては芳香族環または芳香族複素環を含有し、かつ炭素
数6〜30の2価の基が好ましい。
R2の好ましい具体的な例としては、 CH3 (式中、結合手は主鎖のアミド基との結合を表わす)な
どが挙げられる。また、これらがポリイミド系ポリマの
耐熱性に悪影響を与えない範囲内でアミノ基、アジド基
、カルボキシル基、スルホンアミド基などの核置換基を
有していても差支えない。
これらの核置換基を有するものの内で特に好ましい例と
して、 構造単位[1]を有するポリマは、R2がこれらのうち
ただ1種から構成されていても良いし、2種以上から構
成される共重合体であっても良い。
さらに、ポリイミド系ポリマの接着性を向上させるため
に、耐熱性を低下させない範囲でR2として、シロキサ
ン結合を有する脂肪族性の基を共重合することも可能で
ある。
好ましい具体例としては CH3CH3 (CH2) 3   Si   OSt   (CH2
)  3H3CH3 などが挙げられる。
構造単位[1]を主成分とするポリマの具体的な例とし
て、 ピロメリット酸2無水物と4.4′−ジアミノジフェニ
ルエーテル、 3.3’ 、4.4’ −ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸2無水物と4,4′ −ジアミノジフェニルエーテ
ル、 3、 3’ 、  4. 4’ −ビフェニルテトラカ
ルボン酸2無水物と4,4′−ジアミノジフェニルエー
テル、 ピロメリット酸2無水物と3.3’ −(または4.4
’)ジアミノジフェニルスルホン、3.3’ 、4.4
’ −ベンゾフェノンテトラカルボン酸2無水物と3.
 3’ −(または4. 4’ )ジアミノジフェニル
スルホン、 3、 3’ 、  4. 4’ −ビフェニルテトラカ
ルボン酸2無水物と3. 3’ −(または4. 4’
 )ジアミノジフェニルスルホン、 ピロメリット酸2無水物と4,4′ −ジアミノジフェ
ニルスルフィド、 3.3’ 、4.4’  −ベンゾフェノンテトラカル
ボン酸2無水物と4.4′ −ジアミノジフェニルスル
フィド、 3、 3’ 、  4. 4’ −ビフェニルテトラカ
ルボン酸2無水物と4,4′ −ジアミノジフェニルス
ルフィド、 3.3’ 、4.4’ −ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸2無水物とパラフェニレンジアミン、3.3’ 、
4.4’ −ビフェニルテトラカルボン酸2無水物とパ
ラフェニレンジアミン、3.3’ 、4.4’ −ジフ
ェニルエーテルテトラカルボン酸2無水物と4,4′−
ジアミノジフェニルエーテル、 3.3’ 、4.4’ −ジフェニルエーテルテトラカ
ルボン酸2無水物とパラフェニレンジアミンなどから合
成されたポリアミド酸が好ましく用いられる。
構造単位[1]を有するポリマとは、構造単位[1]の
みから成るものであっても良いし、他の構造単位との共
重合体あるいはブレンド体であっても良い。共重合に用
いられる構造単位の種類、量は最終加熱処理によって得
られるポリイミド系ポリマの耐熱性を著しく損なわない
範囲で選択するのが望ましい。
本発明において化学線により2量化または重合可能な不
飽和結合およびアミノ基またはその4級花壇を含む化合
物[2コとしては、1分子中に炭素−炭素2重結合とア
ミノ基または4級化したアミノ基を含む化合物が使用さ
れる。
化合物[2コとしては下記一般式[A]、[B]または
[C]で表わされる少なくとも1種の化合物またはこれ
らの四級化塩が好ましく用いられる。
一般式[A] \ 8 (ここでR4は水素またはフェニル基、R6は水素また
は炭素数1〜6の低級アルキル基、R6は置換または無
置換の炭素数2〜12の炭化水素基、R7、Rsは置換
または無置換の炭素数1〜6のアルキル基を各々表わす
)と、 一般式[B] (R9は置換または無置換の炭素数1〜6のアルキル基
を表わす)と、 一般式[C] Rho            [C](CH2=CC
H−+−TN  Hl (ここで、Rloは水素、またはメチル基を表わし、n
+1=3、n=1〜3である)。
好ましい具体的な例として、 CR3 / \ CR3 H3 / \ CH2 R3 / CH2=CH−CH2NH2゜ (CH2=CHCH2)2  NH などが挙げられるが、これらに限定されない。
化学線感応性の面から、特に不飽和基としてアクリル基
またはメタクリル基を有するアミン化合物が望ましい。
アミン基が4級化されていない化合物の場合は構造単位
[1]のR3が水素のものと組合わせるのが望ましい。
アミン基が4級化されている化合物の場合は構造単位[
1]のR3がアルカリ金属イオンまたはアンモニウムイ
オンのものと組合わせるのが望ましい。
化合物[2]は構造単位[1]を主成分とするポリマの
全カルボキシル基(またはその塩)の0゜05当量以上
、好ましくは0.3当量以上で、かつ2倍当量以下でポ
リマと混合されているのが望ましい。この範囲をはずれ
ると感光性が悪くなったり、現像時間、温度などの現像
条件の許容幅が狭くなったりする恐れがあるので注意を
要する。
本発明における第2級アミノ基または第3級アミン基が
結合している芳香核に直接ケトン性の〉C=Oが結合し
ていない芳香族第2級または第3級アミノアルコール化
合物[3]としては、アミノ基にアルコール性の水酸基
を有するアルキル基と芳香核とを有し、分子内にケトン
性の>C=O基を全く有しないか、分子内にケトン性の
>C=Oを有する場合には、該第2級または第3級アミ
ノ基の結合した芳香核にはケトン性の>C=Oが結合し
ない化合物が使用される。
より具体的には、分子内にケトン性の>C=O基を有す
る場合には、少なくとも炭素数1以上のアルキレン基、
その他>C=Oと芳香核の共役を阻害するような2価の
基を介して結合しているような芳香族第2級または第3
級のアミノアルコール化合物である。
ここでいう芳香族環とはベンゼン環、ナフタレン環やそ
の他の縮合環などを指す。これら芳香族環は低級(炭素
数1〜6)のアルキル基、アルコキシ基、カルボキシア
ルキル基、ニトロ基、ハロゲン基、カルボキシル基など
の置換基すなわち、通常この種の感光性組成物の露光に
用いる程度の照射量では2量化などの光化学反応を生じ
ないような置換基で置換されていても良い。例えばカル
ボキシエステル基、2級または3級のアミノ基などの置
換基で置換されていても良く、また、−0co−−so
。−−CH2−−CH =CH−1−CH=CH−CO−などの2価の基を介し
て無置換または、上述の置換基で置換された別の芳香族
環と結合していても良い。したがって、炭素数としては
通常6〜30.好ましくは6〜21のものである。
アミノ基に結合しているアルキル基は鎖状であってもよ
いし、アミノ基の窒素原子を含む環状(環の中に酸素、
イオウ、窒素などのへテロ原子を含んでいてもよい)を
呈していてもよい。そして通常炭素数1〜12、好まし
くは1〜6のものが用いられる。
該アミノアルコール化合物[3]の好ましい具体例とし
ては、N−フェニルエタノールアミン、N−フェニル−
N−メチルエタノールアミン、N−フェニル−N−エチ
ルエタノールアミン、N−フエニルジエタノールアミン
、N−(3−メチルフェニル)ジェタノールアミン、N
−(4−メチルフェニル)ジェタノールアミンおよびN
−フエニルジイソプロパノールアミンなどが挙げられる
化合物[3]は構造単位[1]を主成分とするポリマ重
量に対して、0. 1重量%以上混合するのが望ましく
、より好ましくはポリマの重量に対して0. 5重量%
以上で、かつ20重量%以下の割合で混合するのがよい
。この範囲をはずれると、感光性が悪くなったり、現像
時間、現像条件の許容幅が狭くなる恐れがあるので注意
を要する。
第2級アミノ基または第3級アミン基が結合している芳
香核に直接ケトン性の>C=Oが結合している場合には
、例えば特開昭51−145794号公報に示されるよ
うに、目的とする十分な感度の向上が達成されにくい。
本発明における芳香族アジド化合物[4]としては、ア
ジド基が芳香族環に直接結合している化合物が使用され
る。ここでいう芳香族環とはベンゼン環やナフタレン環
あるいはその他の縮合環などを指す。これらの芳香族環
は低級(炭素数1〜6)のアルキル基、アルコキシ基、
カルボキシアルキル基、ニトロ基、ハロゲン基、カルボ
キシル基、あるいはカルボキシエステル基、2級または
3級のアミノ基などの置換基で置換されていても良い。
また、 OCo    SO2CH 2−−CH=CH−1−CH=CH−Co−などの2価
の基を介して無置換または、上述の置換基で置換された
別の芳香族環と結合していても良い。したがって、炭素
数としては通常6〜30のもの、好ましくは6〜21の
ものが使用される。
具体的には、 などの芳香族モノアジド化合物が好ましく用いられるが
、これらに限定されない。
芳香族もモノアジド化合物[4]は1種類のみを用いて
も良いし、また2種類あるいはそれ以上の種類を併用し
ても良い。
芳香族アジド化合物[4]は、構造単位[1]を主成分
とするポリマの重量に対し、総量で0゜1%以上加える
のが望ましく、より好ましくはポリマの重量に対して0
.5重量%以上で30重量%以下の割合で加えるのが良
い。この範囲をはずれると、現像性や組成物の安定性に
悪影響をおよぼす恐れがあるので注意を要する。
本発明における芳香族スルホンアジド化合物[5]とし
ては、スルホアジド基が芳香族環に直接結合している化
合物が使用される。ここでいう芳香族環とはベンゼン環
、ナフタレン環やその他の縮合環などを指す。これら芳
香族環は低級(炭素数1〜6)のアルキル基、アルコキ
シ基、カルボキシアルキル基、ニトロ基、ハロゲン基、
カルボキシル基、カルボキシエステル基、2級または3
級のアミン基などの置換基で置換されていても良く、ま
た、−o−−co−−5o2−CH2−−CH=CH−
1−CH=CH−CO−などの2価の基を介して無置換
または、上述の置換基で置換された別の芳香族環と結合
していても良い。したがって、炭素数としては通常6〜
30、好ましくは6〜21のものである。
具体的には、 CONH2゜ などの芳香族モノスルホンアジド化合物が好ましく用い
られるが、これらに限定されない。
芳香族スルホンアジド化合物[5]は1種類のみを用い
ても良いし、また2種類あるいはそれ以上の種類を併用
しても良い。
芳香族スルホンアジド化合物[5]は、構造単位[1]
を主成分とするポリマの重量に対し、総量で0゜1%以
上加えるのが望ましく、より好ましくはポリマの重量に
対して0.5重量%以上で30重量%以下の割合で加え
るのが良い。添加量がこの範囲をはずれると、現像性や
組成物の安定性に悪影響をおよぼす恐れがあるので注意
を要する。
芳香族アジド化合物[4]と芳香族スルホンアジド化合
物[5]を併用する場合は、構造単位[1]を主成分と
するポリマの重量に対し、総量で0.1%重量以上加え
るがよく、より好ましくはポリマの重量に対して0.5
重量%以上で30重量の範囲で加えるのがよい。この範
囲をはずれると、現像性や組成物の安定性に悪影響を及
ぼす恐れがあるので注意を要する。
本発明における3、  3’ 、  4. 4’ −テ
トラ(t−ブチルパーオキシカルボニル)ベンゾフェノ
ン[6]は構造単位[1コを主成分とするポリマ重量に
対し0.05重量%以上でかつ10%以下の割合で加え
るのが良い。この範囲をはずれると、現像性や組成物の
安定性に悪影響を及ぼす恐れがあるので注意を要する。
本発明におけるニトロソアミン化合物[7]は、重合禁
止剤として使用できるものであれば特に制限はなく、例
えばアンモニウムニトロソフェニルヒドロキシルアミン
、N−ニトロソジフェニルアミン、N、N−ジメチルニ
トロソアニリン、N1N−ジエチルニトロソアニリン、
N−ニトロソジエチルアミン、ニトロソジメチルアミノ
フェノール、ニトロソジエチルアミノフェノール、N−
ニトロソ−N−メチルアニリン、N−ニトロソ−N−フ
ェニルヒドロキシルアミン、ニトロソヒドロキシキノリ
ンおよびジニトロソペンタメチレンテトラミンなどが挙
げられる。
ニトロソアミン化合物[7]は構造単位[1]を主成分
とするポリマ重量に対し0.001重量%以上でかつ2
%以下の割合で加えるのが良い。
この範囲を外れると、現像性や組成物の安定性に悪影響
を及ぼす恐れがあるので注意を要する。
本発明の組成物の製造方法の一例について説明する。ま
ず溶媒中でジアミン化合物と酸2無水物を反応させ、構
造単位[1]を主成分とするポリマを得る。次にこの溶
液に化合物[2]と[3]および[4]および/または
[5コと[6]および[7]、必要に応じてその他の添
加剤を溶解調合することにより製造することができる。
なお、上記のポリマとして、固体状のポリアミド酸ポリ
マあるいは、反応後に溶液から分離精製したポリマを再
溶解して用いても差し支えない。
上記製造方法で用いる溶媒としてはポリマの溶解性の面
から極性溶媒が好ましく用いられ、特に非プロトン性極
性溶媒が好適である。非プロトン性極性溶媒としては、
N−メチル−2−ピロリドン、N、N−ジメチルホルム
アミド、N、N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスル
ホキシド、ヘキサメチルホスホロトリアミド、γ−ブチ
ロラクトンなどが好ましく用いられる。他の添加剤とし
ては、増感剤、共重合モノマあるいは基板との接着改良
材を感度と耐熱性が大幅に低下しない範囲で含んでいて
も良い。
なお、化合物[4]および/または[5]の混合量が0
.5〜10重量%の場合には、増感剤として、ミヒラ・
ケトン、4.4′−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェ
ノンなどが好ましく用いられる。増感剤を加えることに
より、本発明の組成物の化学線感応性をさらに向上させ
ることができる。共重合モノマとしてモノマレイミド、
ポリマレイミドあるいはそれらの置換体が好ましく用い
られる。
次に、本発明の組成物の使用方法について説明する。本
発明の組成物は化学線を用いた周知の微細加工技術でパ
ターン加工が可能である。
まず本発明の組成物を適当な支持体の上に塗布する。塗
布方法としては、スピンナーを用いた回転塗布、スプレ
ーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印刷、ロールコー
ティングなどの手段が可能である。塗布膜厚は塗布手段
、組成物の固形分濃度、粘度によって調節することがで
きる。
本発明の組成物を塗布する支持体の材質としては、例え
ば金属、ガラス、半導体、金属酸化絶縁体、窒化ケイ素
などが挙げられる。
本発明の組成物の塗膜または加熱処理後のポリイミド被
膜と支持体との接着性を向上させるために適宜接着助剤
を用いることもできる。
接着助剤として、オキシプロピルトリメトキシシラン、
γ−グリシドキシプロビルトリメトキシシラン、γ−ア
ミノプロピルトリエトキシシラン、γ−メタクリルオキ
シプロピルトリメトキシシランなどの有機ケイ素化合物
あるいは、アルミニウムモノエチルアセトアセテートジ
イソプロピレート、アルミニウムトリス(アセチルアセ
トネート)などのアルミニウムキレート化合物あるいは
チタニウムビス(アセチルアセトネート)などのチタニ
ウムキレート化合物などが好ましく用いられる。
次に上記支持体上で塗膜となった本発明の組成物に所望
のパターン状に化学線を照射する。化学線としてはX線
、電子線、紫外線、可視光線などが挙げられるが、紫外
線および短波長の可視光線、すなわち波長範囲で200
〜500nmのものが好ましい。
ついで未照射部を現像液で溶解除去することによりレリ
ーフ・パターンを得る。現像液はポリマの構造に合わせ
て適当なものを選択するのがよい。
現像液は本組成物の溶媒であるN−メチル−2−ピロリ
ドン、N−アセチル−2−ピロリドン、N、N−ジメチ
ルホルムアミド、N、N−ジメチルアセトアミド、ジメ
チルスルホキシド、ヘキサメチルホスホルトリアミドな
どを単独あるいはメタノール、エタノール、イソプロピ
ルアルコール、水、メチルカルピトール、エチルカルピ
トール、トルエン、キシレンなどの組成物の非溶媒との
混合液として用いることができる。またアンモニア水や
その他のアルカリ水溶液が使用可能な場合も多い。
現像は上記の現像液を塗膜面にスプレーする、現像液中
に浸漬する、あるいは浸漬しながら超音波をかける等の
方法によって行うことができる。
現像によって形成したレリーフパターンは、ついでリン
ス液により洗浄することが望ましい。リンス液には現像
液との混和性の良いメタノール、エタノール、イソプロ
ピルアルコール、酢酸ブチルなどが好ましく用いられる
上記の処理によって得られたレリーフ・パターンのポリ
マは耐熱性を有するポリイミド系ポリマの前駆体であり
、加熱処理によりイミド環やその他の環状構造を有する
耐熱ポリマとなる。熱処理温度は135〜400℃で行
われる。熱処理は通常、段階的にあるいは連続的に昇温
しながら行われる。
本発明の組成物の化学線感応性の評価は支持基板上に形
成した被膜に、グレースケール(コダック社 Phot
ographic 5tep tablet No22
15teps )を介してフィルター(東芝ガラス製 
Y−43)を通した高圧水銀灯の光を照射し、次に現像
して現像後の膜荒れと膜減り量を調べることにより行っ
た。
本発明の化学線感応性重合体組成物は、半導体のパッシ
ベーション膜、パッシベーション膜のバッファーコート
膜、多層集積回路の層間絶縁膜、混成集積回路の層間絶
縁膜や表面保護膜、プリント回路の半田付は保護膜、液
晶用配向膜、実装基板の層間絶縁膜などの形成に供せら
れる。さらに高耐熱性のフォトレジストとして金属付着
や、ドライエツチングプロセスへの応用も可能である。
その他ポリイミドの公知の用途へ適用できる。
[発明の効果] 本発明の化学線感応性組成物は上述したように構造単位
[1コを主成分とするポリマと、化学線により2量化ま
たは重合可能な不飽和結合およびアミノ基またはその4
級化塩を含む化合物[2]と、アミノ基にアルコール性
水酸基を有する有機基と芳香族に直接ケトン性のC=O
が結合していない芳香族第2級または第3級アミン化合
物[3]と、芳香族アジド化合物[4]および/または
芳香族スルホンアジド化合物[5]と、3,3′4.4
′−テトラ(t−ブチルパーオキシカルボニル)ベンゾ
フェノン[6]および二[・ルソアミン化合物[7]と
で構成したので、高圧水銀灯のg線による露光で、従来
の感光性ポリイミドに見られない、高感度を示すものを
得ることができる。
[実施例] 次に実施例に基づいて本発明の詳細な説明するが、本発
明はこれらに限定されない。
実施例1 4.4′−ジアミノジフェニルスルフィド207.65
g、1.3−ビス(3−アミノプロピル)テトラメチル
ジシロキサン9.94gをN−メチル−2−ピロリドン
1530gに溶解し、アミン溶液を調整した。このアミ
ン溶液に無水ピロメリット酸213.76gを加えて、
50℃で3時間反応させ、25℃で130ポアズのポリ
マ溶液(A)を得た。このポリマ溶液(A)にジエチル
アミノエチルメタクリレート370gを混合し、次いで
N−フエニルジエタノールアミン8.63g14−アジ
ドベンザルアセトフェノン17.25g、3.3’ 、
4.4’−テトラ(t−ブチルパーオキシカルボニル)
ベンゾフェノン17.25g1アンモニウムニトロソフ
エニルヒドロキシルアミン2.15gをN−メチル−2
−ピロリドン250gに溶解した溶液を混合、濾過した
得られた溶液をスピンナーでシリコンウェハ上に回転塗
布し、次いで真空吸着式のホットプレート(大日本スク
リーン(株)製S CW636型)を用いて90℃と9
5℃で各々3分ずつの乾燥を行った。この塗膜の膜厚は
10μmとなった。次に、塗膜を露光機(キャノン(株
)製PLA−501F)にセットし、グレースケール(
コダック社Photographic 5tep ta
blet No2215teps )とフィルター(東
芝ガラス製 Y−43)を介して2分間行った。この時
の紫外線の強度は5 mW/am2 (436nm)で
あった。現像はN−メチルピロリドン(70部)とキシ
レン(30部)の混合溶媒を用い、浸漬現像を行った。
現像時間は未露光部が溶解した直後から、さらに30秒
間現像を続行した。次いでイソプロパノールで20秒間
リンスし、スピンナーで回転乾燥した。現像後の膜厚を
測定すると、8.0μmであった。(膜減り量:2,0
μm)この後、200℃、350℃で30分間ずつ熱処
理し、光学顕微鏡を用いてパターンを観察したが、露光
量が200mJ以上で膜荒れのない良好なパターンを示
した。
実施例2 4.4′−ジアミノジフェニルエーテル192゜2g、
1.3−ビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジシ
ロキサン9.94gをN−メチル−2−ピロリドン18
90gに溶解し、アミン溶液を調整した。このアミン溶
液にペンゾフエノンテトラカルボン酸無水物315.7
gを加えて、500Cで3時間反応させ、25℃で15
0ポアズのポリマ溶液(B)を得た。このポリマ溶液(
B)にジエチルアミノエチルメタクリレート370gを
混合し、次いでN−フエニルジエタノールアミン8.6
3g、4−アジドベンザルアセトフェノンエフ、  2
5g、 3. 3’ 、  4. 4’ −テトラ(t
−ブチルパーオキシカルボニル)ベンゾフェノン17.
25g、アンモニウムニトロソフェニルヒドロキシルア
ミン2.59gをN−メチル−2−ピロリドン250g
に溶解した溶液を混合、濾過した。
得られた溶液をスピンナーでシリコンウェハ上に回転塗
布し、次いで80℃で1時間乾燥した。
この塗膜の膜厚は10μmとなった。次に、塗膜を実施
例■と同様の条件で露光した。現像はN−メチルピロリ
ドン(7,0部)とメタノール(30部)の混合溶媒を
用い、浸漬現像を行った。現像時間は未露光部が溶解し
た直後から、さらに30秒間現像を続行した。次いでイ
ソプロパノールで20秒間リンスし、スピンナーで回転
乾燥した。
現像後の膜厚を測定すると、8.5μmであった。
(膜減り量+1.5μm)この後、200℃、350℃
で30分間ずつ熱処理し、光学顕微鏡を用いてパターン
を観察したが、露光量が150m1以上で膜荒れのない
良好なパターンを示した。
実施例3 4.4′−ジアミノジフェニルスルフィド207.6g
、1.3−ビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジ
シロキサン9.94gをN−メチル−2−ピロリドン1
890gに溶解し、アミン溶液を調整した。このアミン
溶液にベンゾフェノンテトラカルボン酸無水物315.
7gを加えて、50℃で3時間反応させ、25℃で13
0ポアズのポリマ溶液(C)を得た。このポリマ溶液(
C)にジエチルアミンエチルメタクリレート370gを
混合し、次いでN−フエニルジエタノールアミン10.
3g、4−アジドベンザルアセトフェノン20. 6g
、 3. 3’ 、  4. 4’−テトラ(を−ブチ
ルパーオキシカルボニル)ベンゾフェノン20.6gお
よびアンモニウムニトロソフェニルヒドロキシルアミン
2.67gをN−メチル−2−ピロリドン300gに溶
解した溶液を混合、濾過した。
得られた溶液をスピンナーでシリコンウェハー上に回転
塗布し、次いで真空吸着式のホットプレート(大日本ス
クリーン(株)製S CW636型)を用いて90℃と
95℃で各々3分ずつの乾燥を行った。この塗膜の膜厚
は10μmとなった。次に、この塗膜を実施例1と同様
の条件で露光、現像、リンスおよび乾燥を行った。現像
後の膜厚を測定すると、8.5μmであった。(膜減り
量:1.5μm)この後、200℃、350℃で30分
間ずつ熱処理し、光学顕微鏡を用いてパターンを観察し
たが、露光量が200mJ以上で膜荒れのない良好なパ
ターンを示した。
実施例4 実施例2で使用したものと同一のポリマ溶液(B)にジ
エチルアミンエチルメタクリレート370gを混合し、
次いでN−フエニルジエタノールアミン8.63g、4
−アジドベンザルアセトフェノン8.66g、3−スル
ホニルアジド安息香酸17.25g、3.3−.4.4
−−テトラ(t−ブチルパーオキシカルボニル)ベンゾ
フェノン17.25g、アンモニウムニトロソフェニル
ヒドロキシルアミン2.59gをN−メチル−2−ピロ
リドン250gに溶解した溶液を混合、濾過した。
得られた溶液をスピンナーでシリコンウェハー上に回転
塗布し、次いで80℃で1時間乾燥した。
この塗膜の膜厚は10μmとなった。次に、この塗膜を
実施例2と同様の条件で露光、現像、リンスおよび乾燥
を行った。現像後の膜厚を測定すると、8.7μmであ
った。(膜減り量:1.3μm)この後、200℃、3
50℃で30分間ずつ熱処理し、光学顕微鏡を用いてパ
ターンを観察したが、露光量が200mJ以上で膜荒れ
のない良好なパターンを示した。
実施例5 実施例2で使用したものと同一のポリマ溶液(B)にジ
エチルアミノエチルメタクリレート370gを混合し、
次いでN−フエニルジエタノールアミン8.63g、3
−スルホニルアジド安息香酸17.25g、3.3’ 
、4.4’ −テトラ(t−ブチルパーオキシカルボニ
ル、)ベンゾフェノン17.25g、アンモニウムニト
ロソフェニルヒドロキシルアミン2.59gをN−メチ
ル−2−ピロリドン250gに溶解した溶液を混合、濾
過した。
得られた溶液をスピンナーでシリコンウェハー上に回転
塗布し、次いで80℃で1時間乾燥した。
この塗膜の膜厚は10μmとなった。次に、この塗膜を
実施例2と同様の条件で露光、現像、リンスおよび乾燥
を行った。現像後の膜厚を測定すると、8.0μmであ
った。(膜減り量=2.0μm)この後、200℃、3
50℃で30分間ずつ熱処理し、光学顕微鏡を用いてパ
ターンを観察したが、露光量が25On+J以上で膜荒
れのない良好なパターンを示した。
比較例1 実施例1で使用したものと同一のポリマ溶液(A)にジ
エチルアミノエチルメタクリレート370gを混合し、
次いでN−フエニルジエタノールアミン10.3g、4
−アジドベンザルアセトフェノン20.6gをN−メチ
ル−2−ピロリドン300gに溶解した溶液を混合、濾
過した。
得られた溶液をスピンナーでシリコンウェハ上に回転塗
布し、次いで真空吸着式のホットプレート(大日本スク
リーン(株)製S CW636型)を用いて90℃と9
5°Cで各々3分ずつの乾燥を行った。この塗膜の膜厚
は10μmとなった。次に、この塗膜を実施例1と同様
の条件で露光、現像、リンスおよび乾燥を行った。現像
後の膜厚を測定すると、5.4μmであった。(膜減り
量:4.6μm)この後、200℃、350℃で30分
間ずつ熱処理し、光学顕微鏡を用いてパターンを観察し
たが、露光量が600mJでも膜荒れが生じていた。
比較例2 実施例2で用いたポリマ溶液(A)にジエチルアミノエ
チルメタクリレート370gを混合し、次いでミヒラー
ケトンを20.6gをN−メチル−2−ピロリドン25
0gに溶解した溶液を混合、濾過した。
得られた溶液をスピンナーでシリコンウェハ上に回転塗
布し、次いで80℃で1時間乾燥した。
この塗膜の膜厚は10μmとなった。次に、塗膜を実施
例2と同一条件で露光および浸漬現像を行ったところ、
720n+Jの露光量でも像が溶解してしまった(膜減
り量:10.0μm)。
比較例3 実施例3で用いたポリマ溶液(C)にジエチルアミノエ
チルメタクリレート370gを混合し、次いでN−フエ
ニルジエタノールアミン8.63g13−スルホニルア
ジド安息香酸17.25g。
3.3”、4.4−−テトラ(t−ブチルパーオキシカ
ルボニル)ベンゾフェノン17.25gをN−メチル−
2−ピロリドン250gに溶解した溶液を混合、濾過し
た。
このワニスは1晩室温で放置後、ゲル化を起こしていた
比較例4 実施例3で用いたポリマ溶液(C)にジエチルアミンエ
チルメタクリレート370gを混合し、次いでN−フエ
ニルジエタノールアミン8.63g13−スルホニルア
ジド安息香酸17.25g。
3、 3’ 、  4. 4’−テトラ(t−ブチルパ
ーオキシカルボニル)ベンゾフェノン17.25g。
ヒドロキノンモノメチルエーテル2.67gをN−メチ
ル−2−ピロリドン250gに溶解した溶液を混合、濾
過した。
このワニスは1晩室温で放置後、ゲル化を起こしていた

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(a)一般式 −[CO−R_1−CONH−R_2−NH]−(CO
    OR_3)n (ただし、式中R_1は少なくとも2個以上の炭素原子
    を有する3価または4価の有機基、R_2は少なくとも
    2個以上の炭素原子を有する2価の有機基、R_3は水
    素またはアルカリ金属対イオンを表わす。nは1または
    2である。)で表わされる構造単位[1]を主成分とす
    るポリマと、 (b)化学線により、2量化または重合可能な不飽和結
    合および、アミノ基または、その4級化塩を含む化合物
    [2]と、 (c)第2級アミノ基または第3級アミノ基が結合して
    いる芳香核に直接ケトン性の>C=Oが結合していない
    芳香族第2級または第3級アミノアルコール化合物[3
    ]と、 (d)芳香族アジド化合物[4]および/または芳香族
    スルホンアジド化合物[5]と、 (e)3,3′,4,4′−テトラ(t−ブチルパーオ
    キシカルボニル)ベンゾフェノン[6]と、 (f)ニトロソアミン化合物[7] とからなる化学線感応性重合体組成物。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002333706A (ja) * 2001-05-08 2002-11-22 Toyobo Co Ltd 感光性樹脂組成物
JP2003177517A (ja) * 2001-08-23 2003-06-27 Nippon Kayaku Co Ltd ネガ型着色感光性組成物
JP2007086597A (ja) * 2005-09-26 2007-04-05 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ポジ型感光性樹脂組成物

Cited By (4)

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JP2007086597A (ja) * 2005-09-26 2007-04-05 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ポジ型感光性樹脂組成物
JP4578369B2 (ja) * 2005-09-26 2010-11-10 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ポジ型感光性樹脂組成物

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