JPH03277787A - エッチング装置 - Google Patents

エッチング装置

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Publication number
JPH03277787A
JPH03277787A JP8032390A JP8032390A JPH03277787A JP H03277787 A JPH03277787 A JP H03277787A JP 8032390 A JP8032390 A JP 8032390A JP 8032390 A JP8032390 A JP 8032390A JP H03277787 A JPH03277787 A JP H03277787A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
etching
pump
etching chamber
chamber
vacuum
Prior art date
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Pending
Application number
JP8032390A
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English (en)
Inventor
Yasuhito Takahashi
康仁 高橋
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 エツチング装置に関し、 反応性ガスでエツチング可能な真空度と非反応性ガスで
エツチング可能な真空度が速やかに、かつ容易に得られ
るようにしたエツチング室を有するエツチング装置の提
供を目的とし、 エツチング室に連なり、該室内を高真空に排気するポン
プを備えた高真空排気配管系と、該エツチング室に連な
り、該室内を低真空に排気するポンプを備えた低真空排
気配管系とを分岐して設け、 前記エツチング室の排気出口で、前記高真空排気配管系
と前記低真空排気配管系とが分岐する以前に、前記エツ
チング室内の圧力を自動的に制御する自動圧力制御弁を
設け、 前記エツチング室内の圧力を前記自動圧力制御弁にて所
定の圧力に設定するとともに、該設定圧力に対応して前
記エツチング室内を高真空に排気するポンプ、或いは該
エツチング室内を低真空に排気するポンプの何れかで選
択的に排気し、前記高真空排気ポンプの排気時には、非
反応性ガスが該エツチング室内に導入可能とし、前記低
真空排気ポンプの排気時には、反応性ガスが該エツチン
グ室内に導入可能と成るようにして、エツチング室内の
被エツチング物をエツチングするようにしたことで構成
する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はエツチング装置に係り、特に反応性ガスでエツ
チング可能な真空度と非反応性ガスでエツチング可能な
真空度が速やかに、かつ容易に得られるようにしたエツ
チング室を有するエツチング装置に関する。
セラミック多層プリント基板に於いては、該基板上に層
間絶縁膜を介して多層構造に金属薄膜パターンを形成す
る場合、該金属薄膜パターンが前記絶縁体層と密着する
ように、或いは所定の電気的特性を得るようにするため
に、例えば、クロム(Cr)、アルミニウム(AN)、
銅(Cu)等の金属層を多層構造に積層形成した金属薄
膜パターンが用いられている。
〔従来の技術〕
このような多層薄膜金属パターンを工、チングする従来
の装置としては、第2図に示すようにエツチング室1に
連なる排気管2を途中で分岐し、該分岐した一方の高真
空排気配管系2Aにバルブ3、該エツチング室1内を例
えば5 Xl0−’pa(パスカル)程度の高真空に排
気可能なターボ分子ポンプ4、バルブ5、前記ターボ分
子ポンプ内を、大気圧より粗引きするロータリーポンプ
6を設ける。
また分岐した他方の低真空排気配管系2Bにバルブ7、
該エツチング室1内を例えば3〜50pa程度の真空度
に排気可能なルーツポンプ8と該ルーツポンプ8内を通
して大気圧より粗引きするロータリーポンプ9を設ける
そして従来は、上記Cr、  Am、Cu層を順次形成
した多層薄膜金属層13を有するセラミック基板14を
基板設置金工5に設置してエツチング室1内に収容した
後、前記バルブ5を開放にし、バルブ3を閉じた状態で
バルブ7を開放にしてロータリーポンプ6でエツチング
室1内を粗引きした後、バルブ7を閉じ、バルブ3を開
放にしてターボ分子ポンプ4を作動させてエツチング室
1内を5XlO−’pa程度の高真空にベース排気する
更にバルブ3を閉じバルブ7を開放にしてルーツポンプ
8とロータリーポンプ9を作動させてバルブ16を開い
てエツチング室1内に非反応性のアルゴン(Ar)ガス
を導入して該エツチング室1内を3〜50pa程度の真
空度に排気しながら、前記基板設置台15と対向電極(
図示せず)間に高電圧を印加してCu層をエツチングす
る。
そしてAJ層、或いはCr層をエツチングする場合は、
前記バルブ16を閉し、バルブ17を開放にして四塩化
炭素(CCI!、)ガスのような反応性ガスをエツチン
グ室1内に導入してエツチングしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
然し、上記したCu層をエツチングする場合には、該エ
ツチング室内を5 X 10−’pa程度の高真空に排
気した状態で該エツチング室内にArガスのような非反
応性ガスを導入して該エツチング室1内を1〜o、lp
a程度の圧力としてイオンエツチングしないとエツチン
グ速度が遅い。
また上記Crやl金属層をエツチングする場合には、エ
ンチング室内を3〜50pa程度の真空度に排気しなが
ら、CCj24ガスのような反応性ガスを導入して反応
性イオンエツチングしないと所定のエツチング速度で上
記金属層がエツチングされない問題がある。
つまりCrやAt’等の金属層のように、反応性ガスで
エツチングする場合のエツチング室内の最適な真空度は
3〜50pa程度の真空度であり、Cu層のように非反
応性ガスでエツチングする場合のエツチング室内の最適
真空度は1〜0.1pa程度の高真空である。
また上記3〜50pa程度の真空度に排気するための最
適なポンプはルーツポンプ8であり、また5x1o−’
pa程度の高真空に排気した後、Arガスを導入して該
室内を1〜0.1pa程度の圧力とするための最適なポ
ンプはターボ分子ポンプ4である。
本発明は上記した事項に鑑みてなされたもので、反応性
ガスを用いてエツチングする場合は、該エツチング室内
の真空度が該反応性ガスエツチングに最適な真空度とな
り、またこの最適真空度を実現できるような排気ポンプ
が作動し、また非反応性ガスを用いてエツチングする場
合は、該エツチング室内の真空度が非反応ガスエツチン
グに最適な真空度になり、またこの最適真空度を実現で
きるような排気ポンプが作動するようにしたエツチング
装置を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するための本発明のエツチング装置は、
エツチング室に連なり、該室内を高真空に排気するポン
プを備えた高真空排気配管系と、該エツチング室に連な
り、該室内を低真空に排気するポンプを備えた低真空排
気配管系とを分岐して設け、 前記エツチング室の排気出口で、前記高真空排気配管系
と前記低真空排気配管系とが分岐する以前に、前記エツ
チング室内の圧力を自動的に制御する自動圧力制御弁を
設け、 前記エツチング室内の圧力を前記自動圧力制御弁にて所
定の圧力に設定するとともに、該設定圧力に対応して前
記エツチング室内を高真空に排気するポンプ、或いは該
エツチング室内を低真空に排気するポンプの何れかで排
気し、前記高真空の排気ポンプの排気時には、非反応性
ガスが該エツチング室内に導入可能とし、前記低真空の
排気ポンプの排気時には、反応性ガスが該エツチング室
内に導入可能と成るようにして、エツチング室内の被エ
ツチング物をエツチングするようにしたことを特徴とし
ている。
〔作 用〕
本発明の装置はエツチング室に連なる排気出口に、前記
ターボ分子ポンプに連なる高真空排気配管系と、ルーツ
ポンプに連なる低真空排気配管系とが分岐する以前にエ
ツチング室内の圧力を自動的に設定する自動圧力制御弁
を設け、この自動圧力制御弁でエツチング室内の圧力を
自動的に設定するとともに、この設定値に対応して高真
空排気配管系に備えたターボ分子ポンプを作動させるか
、或いは低真空排気配管系に備えたルーツポンプかのい
ずれかのポンプを選択して作動させる。そしてターボ分
子ポンプを作動させている時には非反応性ガスをエツチ
ング室内に導入し、ルーツポンプを作動させている時に
は反応性ガスをエツチング室内に導入する。
このようにすることで、エツチング室内はCu層を非反
応性ガスでエツチングするのに最適な真空度から、Cr
、或いはA1層を反応性ガスでエツチングするのに最適
−な真空度に到達するまで容易にエツチング室内の真空
度を変化させることができる。
また上記真空度に成るように排気するための最適な排気
ポンプを選択できるので、1台のエツチング装置で多層
構造に積層された金属薄膜パターンが最適な条件で効率
良(エツチングできる。
[実 施 例] 以下、図面を用いて本発明の一実施例につき詳細に説明
する。
第1図は本発明のエツチング装置の説明図である。
図示するように本発明の装置が従来の装置と異なる点は
、エツチング室1の排気管2が、ターボ分子ポンプ4が
連なる高真空排気配管系2Aと、ルーツポンプ8が連な
る低真空排気配管系2Bとに分岐する以前に、エツチン
グ室内の圧力を自動的に制御する自動圧力制御弁21を
設ける。
この自動圧力制御弁21は自動的に開閉してエツチング
室1内の圧力を自動的に所定の値に成るように制御する
ものである。
このような本発明の装置の動作について述べると、該エ
ツチング室1内に例えばCr、Ap1Cu層を積層形成
した多層薄膜金属層13を有するセラミック基板14を
基板設置台15上に設置する。
次いでバルブ5とバルブ7を開放にし、バルブ3を閉じ
てロータリーポンプ9を所定の圧力に成る迄作動させた
後、バルブ7を閉じ、バルブ3を開いてターボ分子ポン
プ4にてエツチング室1内を5 Xl0−’pa程度の
高真空に排気した後、自動圧力制御弁21を絞って該エ
ツチング室1内の圧力を1〜Q、01pa程度の圧力に
する。そして前記セラミック基板14を設置する基板設
置台15と、図示しないが対向電極間に高電圧を印加し
、バルブ16を開いて該エツチング室1内に導入された
Arガスをイオン化してCu層をイオンエツチングする
ここで図のオイルフィルタ18を用いてロータリーポン
プ6内のオイル内にターボ分子ポンプ4の方からの金属
片が蓄積しないようにしている。
次いでバルブ3を閉し、バルブ7を開放にしてロータリ
ーポンプ9とルーツポンプ8を作動させてエツチング室
1内をベース排気した後、バルブ16を閉じ、バルブ1
7を開放にしてエツチング室1内にCCl4ガスを導入
して上記自動圧力制御弁21にてエツチング室内の圧力
が反応性イオンエツチングの圧力に最適な圧力の3〜5
0paと成るように調整して上記したAA層、或いはC
rff1を反応性イオンエツチングする。
このようにすることで、エツチング室内が非反応性ガス
を用いてイオンエツチングするのに最適な真空度より、
反応性ガスを用いて反応性イオンエツチングするのに最
適な真空度に容易に制御される。また上記真空度を実現
するための最適な排気ポンプを選択してエツチング室1
内を排気できるので、1台のエツチング装置を用いてイ
オンエツチング、或いは反応性イオンエツチングの両方
のエツチングが実施でき、多層構造の金属薄膜パターン
が1台のエツチング装置を用いて効率良くエツチング形
成できる。
また上記実施例はプリント配線基板に於ける多層金属膜
のエンチング番二例を用いて説明したが、半導体装置形
成時の多層金属パターンの形成に本発明の装置が適用で
きるのは無論である。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明のエツチング装
置によれば、エンチング室内が非反応性ガスを用いてイ
オンエツチングするのに最適な高真空度より、反応性ガ
スを用いて反応性エツチングするのに最適な真空度まで
容易に制御される。
また上記真空度を実現するための最適な排気ポンプを選
択して排気できるので、−台のエツチング装置を用いて
Cu層に有利なイオンエツチング、A#、Cr層に有利
な反応性イオンエツチングの両方のエツチングが可能と
なり、上記金属層を有する多層構造の金属薄膜パターン
が効率良くエツチング形成できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のエツチング装置の説明図、第2図は従
来のエツチング装置の説明図である。 図において、 1はエツチング室、2は排気管、2Aは高真空排気配管
系、2Bは低真空排気配管系、3,5.7はバルブ、4
はターボ分子ポンプ、6,9はロータリーポンプ、8は
ルーツポンプ、13は多層薄膜金属層、14はセラミッ
ク基板、15は基板設置台、16.17はバルブ、18
はオイルフィルタ、21は自動圧力制御弁を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 エッチング室(1)に連なり、該室内を高真空に排気す
    るポンプ(4)を備えた高真空排気配管系(2A)と、 該エッチング室(1)に連なり、該室内を低真空に排気
    するポンプ(8)を備えた低真空排気配管系(2B)と
    を分岐して設け、 前記エッチング室(1)の排気出口で、前記高真空排気
    配管系(2A)と前記低真空排気配管系(2B)とが分
    岐する以前に、前記エッチング室(1)内の圧力を自動
    的に制御する自動圧力制御弁(21)を設け、前記エッ
    チング室(1)内の圧力を前記自動圧力制御弁(21)
    にて所定の圧力に設定するとともに、該設定圧力に対応
    して前記エッチング室(1)内を高真空に排気するポン
    プ(4)、或いは該エッチング室(1)内を低真空に排
    気するポンプ(8)の何れかを選択して排気し、前記高
    真空排気ポンプ(4)の排気時には、非反応性ガスが該
    エッチング室(1)内に導入可能とし、前記低真空排気
    ポンプ(8)の排気時には、反応性ガスが該エッチング
    室(1)内に導入可能と成るようにして、エッチング室
    (1)内の被エッチング物(13)をエッチングするよ
    うにしたことを特徴とするエッチング装置。
JP8032390A 1990-03-27 1990-03-27 エッチング装置 Pending JPH03277787A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100269605B1 (ko) * 1997-12-04 2000-10-16 김영환 웨이퍼의 식각균일성을 향상시키는 건식각장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100269605B1 (ko) * 1997-12-04 2000-10-16 김영환 웨이퍼의 식각균일성을 향상시키는 건식각장치

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