JPH03264365A - Ｌｅｄアレイの診断装置 - Google Patents
Ｌｅｄアレイの診断装置Info
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- JPH03264365A JPH03264365A JP2062669A JP6266990A JPH03264365A JP H03264365 A JPH03264365 A JP H03264365A JP 2062669 A JP2062669 A JP 2062669A JP 6266990 A JP6266990 A JP 6266990A JP H03264365 A JPH03264365 A JP H03264365A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/435—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material
- B41J2/44—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material using single radiation source per colour, e.g. lighting beams or shutter arrangements
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/435—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material
- B41J2/447—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material using arrays of radiation sources
- B41J2/45—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material using arrays of radiation sources using light-emitting diode [LED] or laser arrays
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- Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
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- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は、ＬＥＤアレイを記録光源とする光プリンタ等
の記録装置に関するもので、そのＬＥＤ素子の発光良否
を診断するＬＥＤアレイの診断装置に関する。
の記録装置に関するもので、そのＬＥＤ素子の発光良否
を診断するＬＥＤアレイの診断装置に関する。
［従来の技術］
ＬＥＤアレイを有する光プリンタは、従来、第１０図に
示すような概略構成をとる。同図において、ホストコン
ピュータ１００は記録データをＬＥＤアレイプリンタ２
００へ出力する。ＬＥＤプリンタ２００は、輛動回路２
０１．ＬＥＤアレイ２０２、結像アレイレンズ２０３．
ドラム形感光体２０４より成る。記録データはディジタ
ル形式であり、各々はＬＥＤアレイ２０２の各素子（図
示せず）に対応して、発光、非発光を与えるものであり
、ホストコンピュータ１００から１ライン分すなわちＬ
ＥＤアレイ総素子数分順次送られる。駒動回路２０１は
それをシリアル−パラレル変換しＬＥＤアレイ２０２の
各素子をデータ通りに発光させる。ＬＥＤアレイのうち
、輛動された素子の発光は、結像レンズアレイ２０３を
通って、感光体２０４上に結像し、ドツト像が形成され
る。この様なライン単位の発光走査を次々と行い、回転
騨動する感光体２０４上に順次ドツト像を得る。これに
よって文字、イメージ等の記録像が形成される。尚、感
光体２０４上に結像したドツト像は、静電記録方式等に
よって紙に転写される。
示すような概略構成をとる。同図において、ホストコン
ピュータ１００は記録データをＬＥＤアレイプリンタ２
００へ出力する。ＬＥＤプリンタ２００は、輛動回路２
０１．ＬＥＤアレイ２０２、結像アレイレンズ２０３．
ドラム形感光体２０４より成る。記録データはディジタ
ル形式であり、各々はＬＥＤアレイ２０２の各素子（図
示せず）に対応して、発光、非発光を与えるものであり
、ホストコンピュータ１００から１ライン分すなわちＬ
ＥＤアレイ総素子数分順次送られる。駒動回路２０１は
それをシリアル−パラレル変換しＬＥＤアレイ２０２の
各素子をデータ通りに発光させる。ＬＥＤアレイのうち
、輛動された素子の発光は、結像レンズアレイ２０３を
通って、感光体２０４上に結像し、ドツト像が形成され
る。この様なライン単位の発光走査を次々と行い、回転
騨動する感光体２０４上に順次ドツト像を得る。これに
よって文字、イメージ等の記録像が形成される。尚、感
光体２０４上に結像したドツト像は、静電記録方式等に
よって紙に転写される。
各ＬＥＤ素子２０２は輝度変化を生じると、記録像の濃
度が一定しないという問題が生じ、著しく画像品質を損
なう。輝度の変化は、温度、汚損。
度が一定しないという問題が生じ、著しく画像品質を損
なう。輝度の変化は、温度、汚損。
経時劣化等で生じるが、これらに対しては、例えば特開
昭６１−２６４３６１号において、光量センサを用いて
ＬＥＤアレイの光量を検出して、発光時間を制御し発光
量を常に一定に保つことが開示されている。一方、ＬＥ
Ｄ素子の良否判定例には、特開昭６２−２７０３５０号
、特開昭６３−２５０６６号がある。この２つの従来例
は、点検すべきＬＥＤ素子に直列に抵抗成分をつけてＬ
ＥＤ素子が正常であれば、ＯＮ時にこの抵抗成分に電流
が流れるが、この電流を検出してＬＥＤ素子を正常と判
定する。
昭６１−２６４３６１号において、光量センサを用いて
ＬＥＤアレイの光量を検出して、発光時間を制御し発光
量を常に一定に保つことが開示されている。一方、ＬＥ
Ｄ素子の良否判定例には、特開昭６２−２７０３５０号
、特開昭６３−２５０６６号がある。この２つの従来例
は、点検すべきＬＥＤ素子に直列に抵抗成分をつけてＬ
ＥＤ素子が正常であれば、ＯＮ時にこの抵抗成分に電流
が流れるが、この電流を検出してＬＥＤ素子を正常と判
定する。
［発明が解決しようとする課題］
しかし、特開昭６１−２６４３６１号は、ＬＥＤ素子へ
の通電供給線が切断するなどにより全く発光しない場合
の対応やＬＥＤ素子素子光量検知については述べられて
いない。
の通電供給線が切断するなどにより全く発光しない場合
の対応やＬＥＤ素子素子光量検知については述べられて
いない。
一方、ＬＥＤ素子が発光不良になれば、そのドツト像は
欠落するので、障害は濃度むらよりもさらに深刻で、場
合によっては情報が正しく伝わらないことにもなる。従
って、プリンタ装置に組み込まれた状態でＬＥＤアレイ
の中に、発光不良の素子が生じたかどうか、診断する必
要がある。特開昭６２−２７０３５０号及び特開昭６３
−２５０６６号はこうした要求に応えるものであるが、
プリンタの如き膨大な数のＬＥＤ素子の１つ１つに対し
て、直列抵抗をつけることは現実的でなく、また直列抵
抗を減らすためにスイッチング手段で切替えるやり方も
考えられるが、このスイッチング手段自体も複雑となり
、現実的でない。
欠落するので、障害は濃度むらよりもさらに深刻で、場
合によっては情報が正しく伝わらないことにもなる。従
って、プリンタ装置に組み込まれた状態でＬＥＤアレイ
の中に、発光不良の素子が生じたかどうか、診断する必
要がある。特開昭６２−２７０３５０号及び特開昭６３
−２５０６６号はこうした要求に応えるものであるが、
プリンタの如き膨大な数のＬＥＤ素子の１つ１つに対し
て、直列抵抗をつけることは現実的でなく、また直列抵
抗を減らすためにスイッチング手段で切替えるやり方も
考えられるが、このスイッチング手段自体も複雑となり
、現実的でない。
本発明は、上記した問題点に対処するもので、短時間に
ＬＥＤアレイの全素子数を診断して、発光不良の有無を
検出することができるようにしたＬＥＤアレイの診断装
置を提供することを目的としたものである。
ＬＥＤアレイの全素子数を診断して、発光不良の有無を
検出することができるようにしたＬＥＤアレイの診断装
置を提供することを目的としたものである。
［課題を解決するための手段］
本発明はＬＥＤアレイと、ＬＥＤアレイの発生光の照射
空間に、ＬＥＤアレイの発光面対応に配置され、且つそ
の受光面が複数に区分され、各区分が直列に電気的に接
続されて成る診断用受光部と、診断時に該受光部対応に
ＬＥＤアレイを区分し、各区分から同時に１個ずつ、順
次に発光素子を選択し、この同時選択した素子を同時発
光させる第１の手段と、該診断時に、順次、上記診断用
受光部から得られる電気的直列接続による出力端の信号
と基準信号との大小比較を行う第２の手段と、該第２の
手段での比較の結果、出力端の信号が基準信号より小さ
いとの判定の時に、その出力端の信号を得た、同時選択
発光素子の少なくとも１つは異常であると判断する第３
の手段と、より成る（請求項１）。
空間に、ＬＥＤアレイの発光面対応に配置され、且つそ
の受光面が複数に区分され、各区分が直列に電気的に接
続されて成る診断用受光部と、診断時に該受光部対応に
ＬＥＤアレイを区分し、各区分から同時に１個ずつ、順
次に発光素子を選択し、この同時選択した素子を同時発
光させる第１の手段と、該診断時に、順次、上記診断用
受光部から得られる電気的直列接続による出力端の信号
と基準信号との大小比較を行う第２の手段と、該第２の
手段での比較の結果、出力端の信号が基準信号より小さ
いとの判定の時に、その出力端の信号を得た、同時選択
発光素子の少なくとも１つは異常であると判断する第３
の手段と、より成る（請求項１）。
更に本発明は、上記複数に区分された受光面を電気的に
直列に接続させるやり方はとらずに、各区分毎に出力端
子を設け、各出力端子毎の信号と基準信号との大小比較
を行わしめるようにした（請求項２）。
直列に接続させるやり方はとらずに、各区分毎に出力端
子を設け、各出力端子毎の信号と基準信号との大小比較
を行わしめるようにした（請求項２）。
更に本発明は、上記複数に区分された受光面を電気的に
直列に接続させるやり方はとらずに、各区分毎に出力端
子を設け、各出力端子の信号の総和と基準信号との大小
比較を行わしめるようにした（請求項３）。
直列に接続させるやり方はとらずに、各区分毎に出力端
子を設け、各出力端子の信号の総和と基準信号との大小
比較を行わしめるようにした（請求項３）。
更に本発明は、上記複数に区分された受光面を電気的に
直列に接続させるやり方はとらずに、偶数番目と奇数番
目とでそれぞれ別個に直列に接続し、偶数番目の出力端
子と奇数番目の出力端子とを有し、各出力端子での診断
を時系列で行わしめるようにした（請求項４）。
直列に接続させるやり方はとらずに、偶数番目と奇数番
目とでそれぞれ別個に直列に接続し、偶数番目の出力端
子と奇数番目の出力端子とを有し、各出力端子での診断
を時系列で行わしめるようにした（請求項４）。
更に本発明は、複数に区分した受光面ではなく、区分し
ない受光面を持たせることとした（請求項５）。
ない受光面を持たせることとした（請求項５）。
更に本発明は、受光部は、互いに異なる位置に配置した
２つの受光部であることとした（請求項６）。
２つの受光部であることとした（請求項６）。
［作用コ
本発明によれば、受光部が複数に区分され、各区分毎に
同時に１個ずつ選択されるやり方をとるため、ＬＥＤア
レイの全素子の高速診断を達成できる。
同時に１個ずつ選択されるやり方をとるため、ＬＥＤア
レイの全素子の高速診断を達成できる。
更に、本発明によれば、受光部を区分することなく、単
一受光領域として扱うため、この受光部からの１つの出
力端子の信号のみで、ＬＥＤアレイの全素子の高速診断
を達成できる。
一受光領域として扱うため、この受光部からの１つの出
力端子の信号のみで、ＬＥＤアレイの全素子の高速診断
を達成できる。
［実施例コ
以下、本発明の実施例を図面を用いながら詳細に説明す
る。第１図は本発明の第１の実施例を示すものである。
る。第１図は本発明の第１の実施例を示すものである。
同図において、１は診断データ発生器、２は能動回路、
３はＬＥＤアレイ、４は発光不良検知器、４１．４２．
４３．４ｎはフォトダイオード、５は増幅器、６は比較
器、ＳＬは切り換え器である。数十個のＬＥＤ素子から
成るＬＥＤアレイ３を、均等素子数を有する複数のブロ
ック３１゜３２、３３．３ｎに分ける。このブロック分
けは、ＬＥＤアレイの配列構成上、何等制約となるもの
でなく、便宜上のものである。このＬＥＤアレイ３に対
して診断データ発生器ｌは、発光不良のＬＥＤ素子があ
るかどうかを検査するための診断データを出力するもの
である。診断はＬＥＤアレイ３の各素子について必ず発
光してみることを行うが、発光を検出する光電変換は、
ＬＥＤアレイ３の全素子が同時に発光状態にある中で、
数素子が発光不良であることを分別することは不可能な
ので、同時に発行する素子数は制限され、複数回に分け
て発光走査を行う必要がある。本実施例ではＬＥＤアレ
イの各ブロック３１．３２．３３．３ｎにつき１個以上
の素子を発光させる発光データを与え、全体としてブロ
ック数分を倍加した数の素子を同時に発光させる能動を
ｌ走査とする。次の走査では各ブロックとも、前の走査
と違うＬＥＤ素子を発光するようにする。診断データ発
生器１は、このような発光走査を複数回繰り返して、Ｌ
ＥＤアレイを構成する全ての素子を発光するデータを出
力するものである。
３はＬＥＤアレイ、４は発光不良検知器、４１．４２．
４３．４ｎはフォトダイオード、５は増幅器、６は比較
器、ＳＬは切り換え器である。数十個のＬＥＤ素子から
成るＬＥＤアレイ３を、均等素子数を有する複数のブロ
ック３１゜３２、３３．３ｎに分ける。このブロック分
けは、ＬＥＤアレイの配列構成上、何等制約となるもの
でなく、便宜上のものである。このＬＥＤアレイ３に対
して診断データ発生器ｌは、発光不良のＬＥＤ素子があ
るかどうかを検査するための診断データを出力するもの
である。診断はＬＥＤアレイ３の各素子について必ず発
光してみることを行うが、発光を検出する光電変換は、
ＬＥＤアレイ３の全素子が同時に発光状態にある中で、
数素子が発光不良であることを分別することは不可能な
ので、同時に発行する素子数は制限され、複数回に分け
て発光走査を行う必要がある。本実施例ではＬＥＤアレ
イの各ブロック３１．３２．３３．３ｎにつき１個以上
の素子を発光させる発光データを与え、全体としてブロ
ック数分を倍加した数の素子を同時に発光させる能動を
ｌ走査とする。次の走査では各ブロックとも、前の走査
と違うＬＥＤ素子を発光するようにする。診断データ発
生器１は、このような発光走査を複数回繰り返して、Ｌ
ＥＤアレイを構成する全ての素子を発光するデータを出
力するものである。
診断データとは、発光走査点の発光素子を診断用に発光
させるためのデータである。この走査法及び診断データ
の具体例を以下に示す。
させるためのデータである。この走査法及び診断データ
の具体例を以下に示す。
簡単のため、リニア配置の全素子の番号を端部から順に
（１，１）、（１，２）、・・・、（２，１）。
（１，１）、（１，２）、・・・、（２，１）。
（２，２）、・・・、（ｍ、ｎ）とする。従って、全素
子数はｍＸｎ１ｉとみてよい。このＬＥＤ素子をｎ個毎
に順に区分化し、全部でｍ区分化する。従って、ｍブロ
ック化したことになる。各ブロックに属する素子番号は
以下となる。
子数はｍＸｎ１ｉとみてよい。このＬＥＤ素子をｎ個毎
に順に区分化し、全部でｍ区分化する。従って、ｍブロ
ック化したことになる。各ブロックに属する素子番号は
以下となる。
この区分のもとでの走査法は、以下となる。
この走査法では、第１回目では、（１，１）、（２゜１
）、・・・、（ｍ、１）が選ばれ、このｍ個を診断デー
タで同時発光させる。第１回目が終ると、第２回目の走
査となり、（１，２）、（２，２）、−、（ｍ、２）が
選ばれ、このｍ個を診断データで同時発光させる。以下
、第ｎ回目までシーケンシャルに走査を行い、全素子の
診断のための発光を行う。
）、・・・、（ｍ、１）が選ばれ、このｍ個を診断デー
タで同時発光させる。第１回目が終ると、第２回目の走
査となり、（１，２）、（２，２）、−、（ｍ、２）が
選ばれ、このｍ個を診断データで同時発光させる。以下
、第ｎ回目までシーケンシャルに走査を行い、全素子の
診断のための発光を行う。
診断データの付与の仕方には、以下に示す種々の形式が
ある。
ある。
（１）、走査点の素子番号をシーケンシャルに診断デー
タ発生器ｌが出力するやり方である。この場合、第１回
目の走査では、（１，ｌ）、（２，１）。
タ発生器ｌが出力するやり方である。この場合、第１回
目の走査では、（１，ｌ）、（２，１）。
・・・、（ｍ、１）の素子番号（アドレス）を次々に出
力させる。同時に、診断のための発光データ″１”を付
加して出力する。第２回目以降も同じやり方をとる。
力させる。同時に、診断のための発光データ″１”を付
加して出力する。第２回目以降も同じやり方をとる。
（２）、走査点の素子番号を“ｌ”とする発光データを
直接送出するやり方もある。例えば、第１回目の走査時
には、（１，１）、（２，１）、・・・、（ｍ。
直接送出するやり方もある。例えば、第１回目の走査時
には、（１，１）、（２，１）、・・・、（ｍ。
１）のみを“１”とし、他の素子番号は“Ｏ”とする下
記のデータを診断データ発生器１が発生する。
記のデータを診断データ発生器１が発生する。
（１，１） （２，１） （３，１） （ｍ、
１）よＯＯ・・・Ｏよ００・・・Ｏよ・・・・・・よＯ
Ｏ・・・Ｏ第２回目の走査時には、 （１，２） （２，２） （３，２） （
＋＋＋、２）ＯよＯ・・・ＯＯＯＯ・・・００土Ｏ・・
・・・・Ｏ工０・・・Ｏとなる。以下、同様な方法によ
り第ｎ間走査点まで継続する。
１）よＯＯ・・・Ｏよ００・・・Ｏよ・・・・・・よＯ
Ｏ・・・Ｏ第２回目の走査時には、 （１，２） （２，２） （３，２） （
＋＋＋、２）ＯよＯ・・・ＯＯＯＯ・・・００土Ｏ・・
・・・・Ｏ工０・・・Ｏとなる。以下、同様な方法によ
り第ｎ間走査点まで継続する。
（３）０診断データ発生器１は、１ビツトの診断データ
のみを出力し、駆動回路２の選択を（２）式に従って、
別置の走査回路によって行わせるやり方もある。
のみを出力し、駆動回路２の選択を（２）式に従って、
別置の走査回路によって行わせるやり方もある。
（４）、この他にも種々のやり方があるが、要は、結果
として（２）式に示す走査法がＬＥＤ素子３に与えられ
ればよい。そのために、診断データ発生器１．駆動回路
２のそれぞれの構成も、各やり方によって異なったもの
となる。
として（２）式に示す走査法がＬＥＤ素子３に与えられ
ればよい。そのために、診断データ発生器１．駆動回路
２のそれぞれの構成も、各やり方によって異なったもの
となる。
駆動回路２は、ｍＸｎのビットを持つレジスタ及び駆動
手段より成り、例えば診断データ発生器１から出力され
た前記（２）項の如きデータを次々と受信し、シリアル
−パラレル変換して、発光データにより選択されたＬＥ
Ｄ素子を同時に発光する。例えば、ある走査で各ブロッ
クともその左端のＬＥＤ素子Ｅｌ、Ｅ２．Ｅ３．Ｅｎが
発光するデータを受けると、シリアル−パラレル変換後
、該ＬＥＤ素子に対して同時に通電を行う。これによっ
て発光Ｌｌ、Ｌ２．Ｌ３．Ｌｎが生じる。
手段より成り、例えば診断データ発生器１から出力され
た前記（２）項の如きデータを次々と受信し、シリアル
−パラレル変換して、発光データにより選択されたＬＥ
Ｄ素子を同時に発光する。例えば、ある走査で各ブロッ
クともその左端のＬＥＤ素子Ｅｌ、Ｅ２．Ｅ３．Ｅｎが
発光するデータを受けると、シリアル−パラレル変換後
、該ＬＥＤ素子に対して同時に通電を行う。これによっ
て発光Ｌｌ、Ｌ２．Ｌ３．Ｌｎが生じる。
発光不良検知器４の光電変換は、該ブロック長に対応す
る短尺のフォトダイオード（以下、ショートサイズフォ
トダイオードと称す） ４１．４２．４３゜４ｎを電気
的にカスケードに接続して、ＬＥＤアレイ全長に渡るよ
うに構成したものである。ショートサイズフォトダイオ
ードのそれぞれは、対応ブロック内の如何なるＬＥＤ素
子の発光も受光することができる位置に配置する。
る短尺のフォトダイオード（以下、ショートサイズフォ
トダイオードと称す） ４１．４２．４３゜４ｎを電気
的にカスケードに接続して、ＬＥＤアレイ全長に渡るよ
うに構成したものである。ショートサイズフォトダイオ
ードのそれぞれは、対応ブロック内の如何なるＬＥＤ素
子の発光も受光することができる位置に配置する。
各ショートサイズフォトダイオードは、ブロックからの
発光量を受光できるような面としての広がりを持つ受光
面を持つ。等価的にはダイオードで置きかえることがで
きる。但し、導通時には、起電力を発生させると考えて
よく、非導通時にはダイオードはオフとなる。従って、
どれかの区分に属するダイオードが非導通であれば、カ
スケード接続である故に、その出力端子４１Ａと４１Ｂ
には起電力は発生しない。
発光量を受光できるような面としての広がりを持つ受光
面を持つ。等価的にはダイオードで置きかえることがで
きる。但し、導通時には、起電力を発生させると考えて
よく、非導通時にはダイオードはオフとなる。従って、
どれかの区分に属するダイオードが非導通であれば、カ
スケード接続である故に、その出力端子４１Ａと４１Ｂ
には起電力は発生しない。
第２図は、ＬＥＤアレイ３、フォトダイオード４１〜４
ｎ、レンズ２０３、感光体２０４の斜視図を強調した本
発明の実施例図である。フォトダイオード４１〜４ｎは
、レンズ２０３に近接して且つ並行的に配置する。ダイ
オード４１は区分３１の発生光を受光し、ダイオード４
２は区分３２の発生光を受光する。他のダイオード及び
区分の関係も同じである。
ｎ、レンズ２０３、感光体２０４の斜視図を強調した本
発明の実施例図である。フォトダイオード４１〜４ｎは
、レンズ２０３に近接して且つ並行的に配置する。ダイ
オード４１は区分３１の発生光を受光し、ダイオード４
２は区分３２の発生光を受光する。他のダイオード及び
区分の関係も同じである。
第３図（イ）、及び（ロ）は、第１図のＡ−Ｂ断面を示
す図である。ここで、容器１０は第１図、第２図には示
していないが遮光ケースである。（イ）のショートサイ
ズフォトダイオード４２は、遮光ケース１０内であって
、ＬＥＤアレイ３の発光のうち結像レンズアレイ２０３
を通過する光路８の外の一方側の発光９を受ける位置に
全数ある例である。この他に（ロ）の如くショートサイ
ズフォトダイオードの奇数番は、光路の外で結像レンズ
アレイ７からみて一方側４０１に、偶数番は他方側４０
２にあってもよい。
す図である。ここで、容器１０は第１図、第２図には示
していないが遮光ケースである。（イ）のショートサイ
ズフォトダイオード４２は、遮光ケース１０内であって
、ＬＥＤアレイ３の発光のうち結像レンズアレイ２０３
を通過する光路８の外の一方側の発光９を受ける位置に
全数ある例である。この他に（ロ）の如くショートサイ
ズフォトダイオードの奇数番は、光路の外で結像レンズ
アレイ７からみて一方側４０１に、偶数番は他方側４０
２にあってもよい。
一般に、フォトダイオードの時間応答は、その接合容量
に強く依存する。各ショートサイズフォトダイオードの
接合容量をＣとすると、カスケード接続している本構成
では、検出端４１Ａと４１Ｂ間ではＣ／ｎ（ｎはフォト
ダイオード数）と小さくなる。また、ＬＥＤアレイに発
光不良の素子がなければ、各ショートサイズフォトダイ
オードは等光量の発光Ｌｌ、Ｌ２．Ｌ３．Ｌｎを受け、
それぞれは同量の光起電圧を生じるので、検出抵抗Ｒｄ
には、それらを加算した検出量が得られる。入力抵抗Ｒ
□、Ｒ２及び抵抗Ｒ３を持つ増幅器５は、この検出量を
概ね、数ボルトに増幅するものである。
に強く依存する。各ショートサイズフォトダイオードの
接合容量をＣとすると、カスケード接続している本構成
では、検出端４１Ａと４１Ｂ間ではＣ／ｎ（ｎはフォト
ダイオード数）と小さくなる。また、ＬＥＤアレイに発
光不良の素子がなければ、各ショートサイズフォトダイ
オードは等光量の発光Ｌｌ、Ｌ２．Ｌ３．Ｌｎを受け、
それぞれは同量の光起電圧を生じるので、検出抵抗Ｒｄ
には、それらを加算した検出量が得られる。入力抵抗Ｒ
□、Ｒ２及び抵抗Ｒ３を持つ増幅器５は、この検出量を
概ね、数ボルトに増幅するものである。
今、発光不良の素子があると、その分、光起電圧は降下
するので、検出量は低下する。各発光走査における同時
発光のＬＥＤ素子中に、発光不良の素子が１個でもあれ
ば、エラー信号を発生する様にするには、発光不良１素
子に相当する検出量変化に基づいて良否を分別すること
が必要である。
するので、検出量は低下する。各発光走査における同時
発光のＬＥＤ素子中に、発光不良の素子が１個でもあれ
ば、エラー信号を発生する様にするには、発光不良１素
子に相当する検出量変化に基づいて良否を分別すること
が必要である。
比較器６はこの分別を行うものである。また、発光をし
ない素子があれば、その素子対応のフォトダイオードは
感応せず、検出端の出力は零となる。
ない素子があれば、その素子対応のフォトダイオードは
感応せず、検出端の出力は零となる。
尚１発光をしない素子がある場合でも、この素子以外の
区分の素子の発生光が入射してくることもある。しかし
、この場合には、その入射光は小さいため、発光不良素
子が存在したと同じ考え方で診断できる。
区分の素子の発生光が入射してくることもある。しかし
、この場合には、その入射光は小さいため、発光不良素
子が存在したと同じ考え方で診断できる。
光電変換の出力は比較器６の一端りに入力され。
他端ＲＥＦには抵抗Ｒ４とＲ６とで分圧された基準値が
入力される。基準値は、同時発光の複数のＬＥＤ素子が
すべて、正常であるときの検出量の最低値（絶対値）と
、そのうち１個の素子が発光不良の時の検出量の最大値
（絶対値）の間に設定される。１個以上の発光不良素子
があると、検出量は基準値より低くなり、出力端ＯＵＴ
にはロジックレベルで“Ｈ”レベルの信号、全部正常の
場合、“Ｌ”レベルの信号と二値化された検出信号が出
力される。
入力される。基準値は、同時発光の複数のＬＥＤ素子が
すべて、正常であるときの検出量の最低値（絶対値）と
、そのうち１個の素子が発光不良の時の検出量の最大値
（絶対値）の間に設定される。１個以上の発光不良素子
があると、検出量は基準値より低くなり、出力端ＯＵＴ
にはロジックレベルで“Ｈ”レベルの信号、全部正常の
場合、“Ｌ”レベルの信号と二値化された検出信号が出
力される。
この様な診断データ発生器を用いた発光不良検査は、通
常、画像記録とは別に行う必要があるので、入力端子Ｉ
Ｎを通して入力される画像データと診断データとを切り
換える切り換え器Ｓ１を有する。これにより診断データ
は電源立ち上げ時の記録動作に入る前の段階や記録と記
録の合間に、切り換え器を切り換えて駆動回路へ入力し
て、発光不良検知を行うようにシーケンスを組む。
常、画像記録とは別に行う必要があるので、入力端子Ｉ
Ｎを通して入力される画像データと診断データとを切り
換える切り換え器Ｓ１を有する。これにより診断データ
は電源立ち上げ時の記録動作に入る前の段階や記録と記
録の合間に、切り換え器を切り換えて駆動回路へ入力し
て、発光不良検知を行うようにシーケンスを組む。
本実施例によれば、一つの発光走査で複数個のＬＥＤ素
子の発光良否を診断することができるので、ＬＥＤアレ
イを構成するすべての素子の診断に要する時間が大幅に
短縮される。更に、一つの発光走査でみると、ショート
サイズフォトダイオードをカスケードに接続しているの
で、検出端からみた静電容量はフォトダイオード数に反
比例して小さくなり、発光駆動に対する出力の時間応答
は速くなる。従って、一つの発光走査に要する時間を短
く済ませることができるので、これによってＬＥＤアレ
イの全素子診断の時間は一段と加速される。
子の発光良否を診断することができるので、ＬＥＤアレ
イを構成するすべての素子の診断に要する時間が大幅に
短縮される。更に、一つの発光走査でみると、ショート
サイズフォトダイオードをカスケードに接続しているの
で、検出端からみた静電容量はフォトダイオード数に反
比例して小さくなり、発光駆動に対する出力の時間応答
は速くなる。従って、一つの発光走査に要する時間を短
く済ませることができるので、これによってＬＥＤアレ
イの全素子診断の時間は一段と加速される。
本発明の第２の実施例を第４図に示す。同図において、
１は診断データ発生器、２は駆動回路、３はＬＥＤアレ
イ、４は発光不良検知器、４１〜４ｎはフォトダイオー
ド、５は増幅器、Ｓｌ、 Ｓ２は切り換え器である。第
１の実施例と同じ＜ＬＥＤアレイ３を複数のブロック３
１．３２．３３．３ｎに分ける。このブロック分けは、
仮想的なもので、アレイ構成にかかわるハード上の制約
はなにも生じない。発光不良検知器４の光電変換はフォ
トダイオードで行うもので、該ブロックに対応するよう
にしたショートサイズフォトダイオード４１．４２゜４
３．４ｎを並べて構成される。そして、互いに他のブロ
ック内のいかなるＬＥＤ素子からの発光も受光しない位
置にあるショートサイズフォトダイオード同志でもって
、複数のグループＧｌ、 Ｇ２（例えば、偶数と奇数で
２分化する）を形威し、同一グループ内にあるショート
サイズフォトダイオードを電気的にカスケードに接続し
て、一つの検出抵抗Ｒｄに導くようにした。グループを
全都合わせると、ＬＥＤアレイ全域に渡っており、いか
なるＬＥＤ素子の光電変換も行える。ショートサイズフ
ォトダイオードの配置は、第１の実施例の第３図に示さ
れるように、結像レンズアレイからみて片側にのみ配置
してもよく、Ｇ１グループは左側、Ｇ２グループは右側
のごとく両側に分散してもよい。
１は診断データ発生器、２は駆動回路、３はＬＥＤアレ
イ、４は発光不良検知器、４１〜４ｎはフォトダイオー
ド、５は増幅器、Ｓｌ、 Ｓ２は切り換え器である。第
１の実施例と同じ＜ＬＥＤアレイ３を複数のブロック３
１．３２．３３．３ｎに分ける。このブロック分けは、
仮想的なもので、アレイ構成にかかわるハード上の制約
はなにも生じない。発光不良検知器４の光電変換はフォ
トダイオードで行うもので、該ブロックに対応するよう
にしたショートサイズフォトダイオード４１．４２゜４
３．４ｎを並べて構成される。そして、互いに他のブロ
ック内のいかなるＬＥＤ素子からの発光も受光しない位
置にあるショートサイズフォトダイオード同志でもって
、複数のグループＧｌ、 Ｇ２（例えば、偶数と奇数で
２分化する）を形威し、同一グループ内にあるショート
サイズフォトダイオードを電気的にカスケードに接続し
て、一つの検出抵抗Ｒｄに導くようにした。グループを
全都合わせると、ＬＥＤアレイ全域に渡っており、いか
なるＬＥＤ素子の光電変換も行える。ショートサイズフ
ォトダイオードの配置は、第１の実施例の第３図に示さ
れるように、結像レンズアレイからみて片側にのみ配置
してもよく、Ｇ１グループは左側、Ｇ２グループは右側
のごとく両側に分散してもよい。
診断データ発生器１は、ＬＥＤアレイ中の発光不良の素
子の有無を検査するための診断データを出力するもので
、画像記録動作とは区別されて行われる。第１の実施例
と同様に、診断データ発生器は電源立ち上がり時や画像
記録の合間に動作するもので、そのデータと入力端子Ｉ
Ｎから入力する画像データとは、切り換え器Ｓ１により
データフローを制御する。該診断データ発生器１が、次
々と発光走査を繰り返して、すなわち複数回の発光走査
でもって、ＬＥＤアレイのすべての素子を発光させる点
は、第１の実施例と同じである。このとき、診断データ
は、１発光走査で発光するＬＥＤ素子が一つのグループ
内の各ブロック当りｌ素子とする複数個、例えばＥｌ、
Ｅ３であるようにして、この発光走査を繰り返して、グ
ループ内のすべてのＬＥＤ素子を発光せしめ、次に残り
のグループに対しても同様な発光走査を順次継続して行
イ、ＬＥＤアレイ内のすべての素子を発光するようなデ
ータである。ブロックの数を多くすれば、一つの発光走
査での発光素子数が増えるので、発光走査数は反比例し
て少なくなり、診断に要する時間が短くなる。
子の有無を検査するための診断データを出力するもので
、画像記録動作とは区別されて行われる。第１の実施例
と同様に、診断データ発生器は電源立ち上がり時や画像
記録の合間に動作するもので、そのデータと入力端子Ｉ
Ｎから入力する画像データとは、切り換え器Ｓ１により
データフローを制御する。該診断データ発生器１が、次
々と発光走査を繰り返して、すなわち複数回の発光走査
でもって、ＬＥＤアレイのすべての素子を発光させる点
は、第１の実施例と同じである。このとき、診断データ
は、１発光走査で発光するＬＥＤ素子が一つのグループ
内の各ブロック当りｌ素子とする複数個、例えばＥｌ、
Ｅ３であるようにして、この発光走査を繰り返して、グ
ループ内のすべてのＬＥＤ素子を発光せしめ、次に残り
のグループに対しても同様な発光走査を順次継続して行
イ、ＬＥＤアレイ内のすべての素子を発光するようなデ
ータである。ブロックの数を多くすれば、一つの発光走
査での発光素子数が増えるので、発光走査数は反比例し
て少なくなり、診断に要する時間が短くなる。
駆動回路２は、第１の実施例と同じく、発光走査毎に受
信データをシリアル−パラレルへ変換して、発光データ
に基づいてＬＥＤ素子を同時に発光駆動するものである
。該診断データ発生器と駆動回路の作動により、例えば
１走査で、複数個のＬｌ、Ｌ３の発光が生じる。
信データをシリアル−パラレルへ変換して、発光データ
に基づいてＬＥＤ素子を同時に発光駆動するものである
。該診断データ発生器と駆動回路の作動により、例えば
１走査で、複数個のＬｌ、Ｌ３の発光が生じる。
これらの発光は、グループＧ１に属するショートサイズ
フォトダイオード４１．４３で受光して、それぞれ光起
電圧の和の検出量が検出抵抗Ｒｄに得られる。グループ
Ｇ１に属するＬＥＤ素子が診断されている間は、切り換
え器Ｓ２によってその検出信号が外部へ出力される。引
き続き、残りのグループＧ２に属するＬＥＤ素子の発光
診断に移ると、切り換え器によって別系統の検出ルート
に切り換えるシーケンスをとる。
フォトダイオード４１．４３で受光して、それぞれ光起
電圧の和の検出量が検出抵抗Ｒｄに得られる。グループ
Ｇ１に属するＬＥＤ素子が診断されている間は、切り換
え器Ｓ２によってその検出信号が外部へ出力される。引
き続き、残りのグループＧ２に属するＬＥＤ素子の発光
診断に移ると、切り換え器によって別系統の検出ルート
に切り換えるシーケンスをとる。
診断の各発光走査において、１個でも発光不良のＬＥＤ
素子があれば、それに対応するショートサイズフォトダ
イオードは出力がなく、高インピーダンスとなる。この
ため、カスケードに接続された他のショートサイズフォ
トダイオードは、例え正常な発光を受けても、検出抵抗
Ｒｄにはほとんど出力を生じない。すなわち、同時発光
の複数のＬＥＤ素子の中に１発光不良の素子がなければ
、内部インピーダンスが低く、大きな検出量を出力し、
１個でも発光不良の素子が混じると、内部インピーダン
スが高くなるため出力を生じないという光電変換になり
、発光不良素子の有無を診断するのに非常に好都合であ
る。本光電変換により検出信号は同時発光の複数のＬＥ
Ｄ素子中の不良素子数にかかわらず、常に良、不良を区
別する二値化信号になって出力される。
素子があれば、それに対応するショートサイズフォトダ
イオードは出力がなく、高インピーダンスとなる。この
ため、カスケードに接続された他のショートサイズフォ
トダイオードは、例え正常な発光を受けても、検出抵抗
Ｒｄにはほとんど出力を生じない。すなわち、同時発光
の複数のＬＥＤ素子の中に１発光不良の素子がなければ
、内部インピーダンスが低く、大きな検出量を出力し、
１個でも発光不良の素子が混じると、内部インピーダン
スが高くなるため出力を生じないという光電変換になり
、発光不良素子の有無を診断するのに非常に好都合であ
る。本光電変換により検出信号は同時発光の複数のＬＥ
Ｄ素子中の不良素子数にかかわらず、常に良、不良を区
別する二値化信号になって出力される。
また、検出端からみた静電容量は、各ショートサイズフ
ォトダイオードの接合容量がカスケード接続の時に生じ
るものとなるので、その数に反比例して小さくなる。従
って、検出信号の時間応答は速く、発光走査が高速に行
える。
ォトダイオードの接合容量がカスケード接続の時に生じ
るものとなるので、その数に反比例して小さくなる。従
って、検出信号の時間応答は速く、発光走査が高速に行
える。
増幅器５は検出信号を数ボルトの大きさに増幅し、以後
のディジタル回路での取り扱いを容易にするものである
。
のディジタル回路での取り扱いを容易にするものである
。
以上のごとく本実施例によれば、ショートサイズフォト
ダイオードをカスケード接続して実効静電容量を減じて
高速化した発光不良検知器でもって、複数のＬＥＤ素子
の同時発光診断を行うので、ＬＥＤアレイの全素子を診
断する時間を短縮することができる効果がある。
ダイオードをカスケード接続して実効静電容量を減じて
高速化した発光不良検知器でもって、複数のＬＥＤ素子
の同時発光診断を行うので、ＬＥＤアレイの全素子を診
断する時間を短縮することができる効果がある。
また、グレープ化してカスケード接続されるショートサ
イズフォトダイオードによる光電変換は、複数ＬＥＤ素
子の同時発光診断において、常に発光の良否に対応して
の二値化信号を出力するので、回路が簡易になるという
メリットがある。
イズフォトダイオードによる光電変換は、複数ＬＥＤ素
子の同時発光診断において、常に発光の良否に対応して
の二値化信号を出力するので、回路が簡易になるという
メリットがある。
本発明の第３の実施例を以下に説明する。第５図はその
実施例を示すものである。同図において、ｌは診断デー
タ発生器、２は駆動回路、３はＬＥＤアレイ、４は発光
不良検知器、４１〜４ｎはフォトダイオード、５０は加
算器、６は比較器、Ｓｌは切り換え器である。
実施例を示すものである。同図において、ｌは診断デー
タ発生器、２は駆動回路、３はＬＥＤアレイ、４は発光
不良検知器、４１〜４ｎはフォトダイオード、５０は加
算器、６は比較器、Ｓｌは切り換え器である。
診断データ発生器ｌは、１発光走査でＬＥＤアレイ中の
複数素子が同時に発光するデータを出力する。例えば、
ＬＥＤ素子Ｅｌ、Ｅ２．Ｅｎを駆動し、発光Ｌｌ、Ｌ２
．Ｌｎを発生させるようなデータである。次の発光走査
では、前回とは別なるＬＥＤ素子を同数発光させる。診
断データ発生器は、このように毎回、別なるＬＥＤ素子
を一定なる複数個、発光させるという発光走査を繰り返
して行い、ＬＥＤアレイのすべての素子を発光するもの
である。そしてこのデータは、入力端子ＩＮから入力す
る画像データとは切り換え器Ｓ１によって切り換えられ
てデータフロー制御され、電源立ち上げ時や画像記録の
合間に、ＬＥＤ素子の発光診断を行うようにシーケンス
が組まれることは、第１、第２の実施例と同様である。
複数素子が同時に発光するデータを出力する。例えば、
ＬＥＤ素子Ｅｌ、Ｅ２．Ｅｎを駆動し、発光Ｌｌ、Ｌ２
．Ｌｎを発生させるようなデータである。次の発光走査
では、前回とは別なるＬＥＤ素子を同数発光させる。診
断データ発生器は、このように毎回、別なるＬＥＤ素子
を一定なる複数個、発光させるという発光走査を繰り返
して行い、ＬＥＤアレイのすべての素子を発光するもの
である。そしてこのデータは、入力端子ＩＮから入力す
る画像データとは切り換え器Ｓ１によって切り換えられ
てデータフロー制御され、電源立ち上げ時や画像記録の
合間に、ＬＥＤ素子の発光診断を行うようにシーケンス
が組まれることは、第１、第２の実施例と同様である。
駆動回路２は発光走査毎に受信データをシリアル−パラ
レル変換して、発光を与えられた複数の素子に通電して
、それら同時に発光させるものである。
レル変換して、発光を与えられた複数の素子に通電して
、それら同時に発光させるものである。
発光不良検知器４の光電変換は、複数のショートサイズ
フォトダイオード４１．４２．４３．４ｎによってなさ
れる。これらを第３図の（イ）、（ロ）のごとく、結像
レンズアレイの片側に一列に、または結像レンズアレイ
を跨いで千鳥状に配列して、ＬＥＤアレイ３を構成する
いかなる位置にある素子からの発光も受光することがで
きるように、等価的にフルサイズと同じくしたものであ
る。各ショートサイズフォトダイオードで受光したとき
の光起電圧は、それぞれ検出抵抗Ｒｄに導かれ、検出信
号を得る。検出信号は、それぞれ入力抵抗Ｒを持つ加算
器５０へ入力される。そして同時に発光される複数のＬ
ＥＤ素子のうち、正常な素子数に比例した出力が加算器
で得られる。この加算器により、複数発光のＬＥＤ素子
のそれぞれはアレイ中の任意の位置にあっても、常にそ
れらの発光を合計した検出量になり、フルサイズのフォ
トダイオードと等価な機能が得られる。このときの検出
信号の応答速度は、ショートサイズフォトダイオードの
持つ接合容量によって決まる。それは、フルサイズを一
つのフォトダイオードで構成した場合に比較すると、１
／ｎ（ｎはショートサイズフォトダイオードの数）であ
るので、応答速度はｎ倍となる。従って、１発光走査に
要する時間は短くなる利点がある。
フォトダイオード４１．４２．４３．４ｎによってなさ
れる。これらを第３図の（イ）、（ロ）のごとく、結像
レンズアレイの片側に一列に、または結像レンズアレイ
を跨いで千鳥状に配列して、ＬＥＤアレイ３を構成する
いかなる位置にある素子からの発光も受光することがで
きるように、等価的にフルサイズと同じくしたものであ
る。各ショートサイズフォトダイオードで受光したとき
の光起電圧は、それぞれ検出抵抗Ｒｄに導かれ、検出信
号を得る。検出信号は、それぞれ入力抵抗Ｒを持つ加算
器５０へ入力される。そして同時に発光される複数のＬ
ＥＤ素子のうち、正常な素子数に比例した出力が加算器
で得られる。この加算器により、複数発光のＬＥＤ素子
のそれぞれはアレイ中の任意の位置にあっても、常にそ
れらの発光を合計した検出量になり、フルサイズのフォ
トダイオードと等価な機能が得られる。このときの検出
信号の応答速度は、ショートサイズフォトダイオードの
持つ接合容量によって決まる。それは、フルサイズを一
つのフォトダイオードで構成した場合に比較すると、１
／ｎ（ｎはショートサイズフォトダイオードの数）であ
るので、応答速度はｎ倍となる。従って、１発光走査に
要する時間は短くなる利点がある。
加算器の出力は、比較器６の一端りへ入力される。他端
ＲＥＦには基準値が入力される。基準値は、同時に発光
の複数のＬＥＤ素子がすべて正常であるときの検出量の
最低値（絶対Ｉｉ）と、１個のＬＥＤ素子が発光不良の
ときの検出量の最大値（絶対値）の間に設定する。これ
により、１個以上の発光不良素子があると、検出量は基
準値よりも低くなり、出力端ＯＵＴにはロジックレベル
で１１ Ｈｊｌレベルの信号、すべて正常の場合（（Ｌ
ｊ＋レベルの信号とする二値化された検出信号が出力
される。
ＲＥＦには基準値が入力される。基準値は、同時に発光
の複数のＬＥＤ素子がすべて正常であるときの検出量の
最低値（絶対Ｉｉ）と、１個のＬＥＤ素子が発光不良の
ときの検出量の最大値（絶対値）の間に設定する。これ
により、１個以上の発光不良素子があると、検出量は基
準値よりも低くなり、出力端ＯＵＴにはロジックレベル
で１１ Ｈｊｌレベルの信号、すべて正常の場合（（Ｌ
ｊ＋レベルの信号とする二値化された検出信号が出力
される。
本実施例によれば、複数のショートサイズフォトダイオ
ードの構成によって光電変換の応答を速くし、且つ複数
のＬＥＤ素子を同時に診断することができるので、ＬＥ
Ｄアレイの全素子を診断するのに要する時間が短縮され
るという効果がある。
ードの構成によって光電変換の応答を速くし、且つ複数
のＬＥＤ素子を同時に診断することができるので、ＬＥ
Ｄアレイの全素子を診断するのに要する時間が短縮され
るという効果がある。
特に、本実施例では、区分毎の感度ばらつきがある場合
に、全区分の出力を加算しているため９区分のばらつき
の悪影響を少なくすることができる。
に、全区分の出力を加算しているため９区分のばらつき
の悪影響を少なくすることができる。
尚、各区分の出力は加算させたが、各区分の出力を別々
に取り出し、別々に判別してもよい。
に取り出し、別々に判別してもよい。
本発明の第４の実施例を第６図に示す。同図において、
１は診断データ発生器、２は駆動回路、３はＬＥＤアレ
イ、４は発光不良検知器、４１はフォトダイオード、５
は増幅器、６は比較器、Ｓｌは切り換え器、ＩＮは画像
データ入力端子である。
１は診断データ発生器、２は駆動回路、３はＬＥＤアレ
イ、４は発光不良検知器、４１はフォトダイオード、５
は増幅器、６は比較器、Ｓｌは切り換え器、ＩＮは画像
データ入力端子である。
診断データ発生、データフローシーケンス及びＬＥＤア
レイの発光駆動は、前記の第３の実施例と同一である。
レイの発光駆動は、前記の第３の実施例と同一である。
すなわち、診断データ発生器が立ち上がると、毎回側な
る一定数の複数個のＬＥＤ素子が通電され発光する。
る一定数の複数個のＬＥＤ素子が通電され発光する。
この発光を受光して診断する発光不良検知器４は、１個
のフォトダイオード４１を有する。フォトダイオード４
１は、ＬＥＤアレイ３のいかなる位置にある素子からの
発光も受光することができるように、その受光面がフル
サイズのものである。該フルサイズフォトダイオード４
１は、第３図（イ）に示すように、ＬＥＤアレイに近接
する位置にあつて、その発光のうちの結像レンズアレイ
を通過する光路外の発光を受ける位置に設置する。該フ
ルサイズフォトダイオードは、受光したＬＥＤ素子数に
比例した光起電圧を生じ、これは検出抵抗Ｒｄに導かれ
、検出信号を得る。増幅器５．比較器６は、第１の実施
例と全く同じに機能し、動作するものであり、同時発光
の複数個のＬＥＤ素子の中に、１個以上の発光不良の素
子があると、ロジックレベルで“Ｈ”レベルのエラー信
号を出力するようにした。
のフォトダイオード４１を有する。フォトダイオード４
１は、ＬＥＤアレイ３のいかなる位置にある素子からの
発光も受光することができるように、その受光面がフル
サイズのものである。該フルサイズフォトダイオード４
１は、第３図（イ）に示すように、ＬＥＤアレイに近接
する位置にあつて、その発光のうちの結像レンズアレイ
を通過する光路外の発光を受ける位置に設置する。該フ
ルサイズフォトダイオードは、受光したＬＥＤ素子数に
比例した光起電圧を生じ、これは検出抵抗Ｒｄに導かれ
、検出信号を得る。増幅器５．比較器６は、第１の実施
例と全く同じに機能し、動作するものであり、同時発光
の複数個のＬＥＤ素子の中に、１個以上の発光不良の素
子があると、ロジックレベルで“Ｈ”レベルのエラー信
号を出力するようにした。
本実施例によれば、複数個のＬＥＤ素子の発光診断を同
時に行うので、ＬＥＤアレイの全素子を短時間に発光診
断することができる。
時に行うので、ＬＥＤアレイの全素子を短時間に発光診
断することができる。
本発明の第５の実施例を第７図、第８図に示す。
これらの図において、１は診断データ発生器、２は駆動
回路、ＩＮは画体データ入力端子、Ｓｌは切り換え器、
３はＬＥＤアレイ、４は発光不良検知器、４１．４２は
フォトダイオード、５は増幅器、５０は加算器、６は比
較器である。第７図に示される切り換え器Ｓｌ、診断デ
ータ発生器１．駆動回路２によって、診断データ発生器
を立ち上げ、毎回別なる一定数の複数個のＬＥＤ素子を
通電して発光させる発光走査を、次々と繰り返してＬＥ
Ｄアレイ３を構成しているすべての素子を発光せしめる
ことは、前記した第３．第４の実施例と全く同じである
。
回路、ＩＮは画体データ入力端子、Ｓｌは切り換え器、
３はＬＥＤアレイ、４は発光不良検知器、４１．４２は
フォトダイオード、５は増幅器、５０は加算器、６は比
較器である。第７図に示される切り換え器Ｓｌ、診断デ
ータ発生器１．駆動回路２によって、診断データ発生器
を立ち上げ、毎回別なる一定数の複数個のＬＥＤ素子を
通電して発光させる発光走査を、次々と繰り返してＬＥ
Ｄアレイ３を構成しているすべての素子を発光せしめる
ことは、前記した第３．第４の実施例と全く同じである
。
毎走査、複数個の発光を受けて発光不良を診断する発光
不良検知器４の光電変換は、２個のフォトダイオード４
１．４２によってなされる。それらは、前記の第４の実
施例に示したものと同じ＜ＬＥＤアレイに対してフルサ
イズを有するものである。
不良検知器４の光電変換は、２個のフォトダイオード４
１．４２によってなされる。それらは、前記の第４の実
施例に示したものと同じ＜ＬＥＤアレイに対してフルサ
イズを有するものである。
そして、該フルサイズフォトダイオードは、第３図の（
ロ）に示すように、結像レンズアレイの両側であって、
ＬＥＤアレイからの発光のうち、結像レンズアレイを通
過する光路外の発光を、該ＬＥＤアレイに近接して受け
る位置に設置される。２個のフルサイズフォトダイオー
ドは、電気的にカスケードに接続され、検出抵抗Ｒｄに
導かれる。
ロ）に示すように、結像レンズアレイの両側であって、
ＬＥＤアレイからの発光のうち、結像レンズアレイを通
過する光路外の発光を、該ＬＥＤアレイに近接して受け
る位置に設置される。２個のフルサイズフォトダイオー
ドは、電気的にカスケードに接続され、検出抵抗Ｒｄに
導かれる。
この構成により、各ＬＥＤ素子からの発光を２箇所で受
光し、これらを加算するから、検出抵抗Ｒｄには、フォ
トダイオード１個の場合に比べて２倍の検出量が得られ
、ノイズ信号の影響を受は難くなる。
光し、これらを加算するから、検出抵抗Ｒｄには、フォ
トダイオード１個の場合に比べて２倍の検出量が得られ
、ノイズ信号の影響を受は難くなる。
一方、検出端からみると、フォトダイオードの接合容量
はカスケード接続により、等価的に半分になるので、発
光に対する応答速度は速くなる。
はカスケード接続により、等価的に半分になるので、発
光に対する応答速度は速くなる。
増幅器５は検出抵抗Ｒｄに検出された信号を。
概ね数ボルトに増幅するものであり、比較器６は増幅器
５から出力された検出信号を受け、同時発光の複数個の
ＬＥＤ素子の中に、１個以上の発光不良の素子があると
、エラー信号を出力するものであり、これらの作動は前
記した第１．第４の実施例と全く同じである。
５から出力された検出信号を受け、同時発光の複数個の
ＬＥＤ素子の中に、１個以上の発光不良の素子があると
、エラー信号を出力するものであり、これらの作動は前
記した第１．第４の実施例と全く同じである。
第８図は、第７図における光電変換の変形を示すもので
ある。結像レンズアレイの両側に設置したフルサイズフ
ォトダイオード４１．４２は、それぞれ別個に検出抵抗
Ｒｄを有して検出信号を得、これらを力ｉ算器５０にて
加算する構成をとる。この構成においても、各ＬＥＤ素
子の発光を２箇所で受けてそれらを加算するので、検出
信号は２倍の量になり、ノイズからの分別が容易になる
。このときの検出信号の光応答速度は、フォトダイオー
ド１個の場合と同じであり、前記のごとく検出量を倍増
したにもかかわらず、応答速度は劣らない。
ある。結像レンズアレイの両側に設置したフルサイズフ
ォトダイオード４１．４２は、それぞれ別個に検出抵抗
Ｒｄを有して検出信号を得、これらを力ｉ算器５０にて
加算する構成をとる。この構成においても、各ＬＥＤ素
子の発光を２箇所で受けてそれらを加算するので、検出
信号は２倍の量になり、ノイズからの分別が容易になる
。このときの検出信号の光応答速度は、フォトダイオー
ド１個の場合と同じであり、前記のごとく検出量を倍増
したにもかかわらず、応答速度は劣らない。
第７図、第８図に示した実施例によれば、複数個のＬＥ
Ｄｉ子の発光診断を同時に行うようにしたので、ＬＥＤ
アレイ全素子を診断するのに要する時間が短縮されると
いう効果がある。また、ＬＥＤ素子からの発光を２箇所
で受光してそれらを加算し、検出量を倍増するので、ノ
イズに影響されがたい発光診断が可能となる。
Ｄｉ子の発光診断を同時に行うようにしたので、ＬＥＤ
アレイ全素子を診断するのに要する時間が短縮されると
いう効果がある。また、ＬＥＤ素子からの発光を２箇所
で受光してそれらを加算し、検出量を倍増するので、ノ
イズに影響されがたい発光診断が可能となる。
以上の第１から第５までの実施例では、ＬＥＤアレイを
用いた記録光源装置として説明したが、本発明はＬＥＤ
アレイに限定されず、例えばエレクトロルミネッセンス
素子アレイ、液晶シャッターアレイ、レーザアレイを含
む記録光源装置にも同様に適用することができる。更に
、受光部もフォトダイオードの代りに、光導電体を使っ
てもよい。
用いた記録光源装置として説明したが、本発明はＬＥＤ
アレイに限定されず、例えばエレクトロルミネッセンス
素子アレイ、液晶シャッターアレイ、レーザアレイを含
む記録光源装置にも同様に適用することができる。更に
、受光部もフォトダイオードの代りに、光導電体を使っ
てもよい。
尚、区分分けは、端部から順に行ったが、こうした位置
に無関係に、無差別に区分分けしてもよい。
に無関係に、無差別に区分分けしてもよい。
第９図は診断タイミングを示す。このタイミングはスイ
ッチＳ１の切り換えタイミングであり。
ッチＳ１の切り換えタイミングであり。
実際の画像印字（または文字印字）の合間に診断を行わ
せる例が（イ）であり、立ち上がりと終了時にのみ診断
を行わせる例が（ロ）である。
せる例が（イ）であり、立ち上がりと終了時にのみ診断
を行わせる例が（ロ）である。
［発明の効果］
本発明によれば、複数の発光を受光するように、ＬＥＤ
アレイに対してフルサイズフォトダイオードの光電変換
、またはショートサイズのフォトダイオードの複数個で
構成した等測的にフルサイズの光電変換とによって、−
度に複数個のＬＥＤ素子の発光診断を行えるようにした
ので、ＬＥＤアレイ全素子の発光診断するに要する時間
が短縮されるという効果がある。また、複数のフォトダ
イオードをカスケードに接続した光電変換は、その合成
静電容量が小さくなり、検出信号の光応答速度が速くな
るので、発光診断の各走査が高速になり、ＬＥＤアレイ
全素子の発光診断が短時間になるという効果がある。
アレイに対してフルサイズフォトダイオードの光電変換
、またはショートサイズのフォトダイオードの複数個で
構成した等測的にフルサイズの光電変換とによって、−
度に複数個のＬＥＤ素子の発光診断を行えるようにした
ので、ＬＥＤアレイ全素子の発光診断するに要する時間
が短縮されるという効果がある。また、複数のフォトダ
イオードをカスケードに接続した光電変換は、その合成
静電容量が小さくなり、検出信号の光応答速度が速くな
るので、発光診断の各走査が高速になり、ＬＥＤアレイ
全素子の発光診断が短時間になるという効果がある。
第１図は本発明の第１の実施例を示す説明図、第２図は
本発明の実施例の斜視図、第３図は本発明のフォトダイ
オードの配置を示す断面図、第４図、第５図、第６図、
第７図は、それぞれ本発明の第２．第３．第４．第５の
実施例を示す説明図、第８図は、第５の実施例における
光電変換の変形を示す説明図、第９図は本発明の診断タ
イミングを示す図、第１０図は１本発明に関係する従来
技術を一般的に示す説明図である。 １・・・診断データ発生器、２・・・駆動回路、３・・
・ＬＥＤアレイ、４・・・発光不良検知器、４１．４２
．４３゜４ｎ・・・フォトダイオード、５・・・増幅器
、５０・・・加算器、６・・・比較器、Ｅｌ、Ｅ２．Ｅ
３．Ｅｎ−ＬＥＤ素子、Ｒｄ・・・検出抵抗。
本発明の実施例の斜視図、第３図は本発明のフォトダイ
オードの配置を示す断面図、第４図、第５図、第６図、
第７図は、それぞれ本発明の第２．第３．第４．第５の
実施例を示す説明図、第８図は、第５の実施例における
光電変換の変形を示す説明図、第９図は本発明の診断タ
イミングを示す図、第１０図は１本発明に関係する従来
技術を一般的に示す説明図である。 １・・・診断データ発生器、２・・・駆動回路、３・・
・ＬＥＤアレイ、４・・・発光不良検知器、４１．４２
．４３゜４ｎ・・・フォトダイオード、５・・・増幅器
、５０・・・加算器、６・・・比較器、Ｅｌ、Ｅ２．Ｅ
３．Ｅｎ−ＬＥＤ素子、Ｒｄ・・・検出抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、ＬＥＤアレイと、 ＬＥＤアレイの発生光の照射空間に、ＬＥＤアレイの発
光面対応に配置され、且つその受光面が複数に区分され
、各区分が直列に電気的に接続されて成る診断用受光部
と、 診断時に該受光部対応にＬＥＤアレイを区分し、各区分
から同時に１個ずつ、順次に発光素子を選択し、この同
時選択した素子を同時発光させる第１の手段と、 該診断時に、順次、上記診断用受光部から得られる電気
的直列接続による出力端の信号と基準信号との大小比較
を行う第２の手段と、 該第２の手段での比較の結果、出力端の信号が基準信号
より小さいとの判定の時に、その出力端の信号を得た、
同時選択発光素子の少なくとも１つは異常であると判断
する第３の手段と、より成るＬＥＤアレイの診断装置。 ２、ＬＥＤアレイと、 ＬＥＤアレイの発生光の照射空間に、ＬＥＤアレイの発
光面対応に配置され、且つその受光面が複数に区分され
、各区分毎に出力端子を有する診断用受光部と、 診断時に該受光部対応にＬＥＤアレイを区分し、各区分
から同時に１個ずつ、順次に受光素子を選択し、この同
時選択した素子を同時発光させる第１の手段と、 該診断時に、順次、上記診断用受光部の各区分の出力端
の信号と基準信号との大小比較を区分対応に行う第２の
手段と、 該第２の手段での各区分毎の比較の結果、出力端の信号
が基準信号より小さいとの判定の区分にあっては該区分
の選択発光素子は異常であると判断する第３の手段と、 より成るＬＥＤアレイの診断装置。 ３、ＬＥＤアレイと、 ＬＥＤアレイの発生光の照射空間に、ＬＥＤプレイの発
光面対応に配置され、且つその受光面が複数に区分され
、各区分毎に出力端子を有する診断用受光部と、 診断時に該受光部対応にＬＥＤアレイを区分し、各区分
から同時に１個ずつ、順次に受光素子を選択し、この同
時選択した素子を同時発光させる第１の手段と、 該診断時に、順次、上記診断用受光部の各区分の出力端
の信号の総和と基準信号との大小比較を行う第２の手段
と、 該第２の手段での比較の結果、出力端の信号が基準信号
より小さいとの判定の時にはこの出力端の信号を得た、
同時選択発光素子は異常であると判断する第３の手段と
、 より成るＬＥＤアレイの診断装置。 ４、ＬＥＤアレイと、 ＬＥＤアレイの発生光の照射空間に、ＬＥＤアレイの発
光面対応に配置され、且つその受光面が複数に区分され
、各区分が偶数番目と奇数番目とで直列に接続され、偶
数番目の出力端子と奇数番目の出力端子とを有する診断
用受光部と、 診断時に該受光部対応にＬＥＤアレイを区分し、偶数番
目（または奇数番目）に属する各区分から同時に１個ず
つ、順次に発光素子を選択し、この同時選択した素子を
同時発光させ、奇数番目（または偶数番目）に対しても
、継続して、同様に発光させる第１の手段と、 該診断時に、順次、上記診断用受光部の偶数番目の出力
端子と奇数番目の出力端子との信号を監視して、同時選
択発光素子の少なくとも１つは異常であると判断する第
２の手段と、 より成るＬＥＤアレイの診断装置。 ５、ＬＥＤアレイと、 ＬＥＤアレイの発生光の照射空間に、ＬＥＤアレイの発
光面対応に配置され、出力端子を有する診断用受光部と
、 診断時にＬＥＤアレイを区分し、各区分から同時に１個
ずつ、順次に発光素子を選択し、この同時選択した素子
を同時発光する第１の手段と、 該診断時に、順次、上記診断用受光部の出力端子の信号
と基準信号との大小比較を行う第２の手段と、 該第２の手段での比較の結果、出力端子の信号が基準信
号より小さいとの判定の時に、その出力端子の信号を得
た、同時選択発光素子の少なくとも１つは異常であると
判断する第３の手段と、 より成るＬＥＤアレイの診断装置。 ６、ＬＥＤアレイと、 ＬＥＤアレイの発生光の照射空間に、ＬＥＤアレイの発
光面対応に互いに異なる位置に配置され、それぞれ出力
端子を有する第１、第２の診断用受光部と、 診断時にＬＥＤアレイを区分し、各区分から同時に１個
ずつ、順次に発光素子を選択し、この同時選択した素子
を同時発光する第１の手段と、 該診断時に、順次、上記第１、第２の診断用受光部の出
力端子相互の加算値と基準信号との大小比較を行う第２
の手段と、 該第２の手段での比較の結果、加算値が基準信号より小
さいとの判定の時に、その出力端子の信号を得た、同時
選択発光素子の少なくとも１つは異常であると判断する
第３の手段と、より成るＬＥＤアレイの診断装置。 ７、上記ＬＥＤアレイに代って、他の発光手段アレイを
使ってなる請求項１〜６のいずれか１つの診断装置。 ８、上記診断用受光部は、フォトダイオードとする請求
項１〜６のいずれか１つの診断装置。 ９、上記診断用受光部は、光導電体とする請求項１〜６
のいずれか１つの診断装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6266990A JP2834521B2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | Ｌｅｄアレイの診断装置 |
| EP91103678A EP0446829B1 (en) | 1990-03-15 | 1991-03-11 | Light emitter array diagnostic apparatus |
| DE69106408T DE69106408T2 (de) | 1990-03-15 | 1991-03-11 | Prüfvorrichtung für ein Lichtstrahlerfeld. |
| KR1019910004055A KR0157061B1 (ko) | 1990-03-15 | 1991-03-14 | 발광 어레이의 진단장치 |
| US07/669,957 US5160837A (en) | 1990-03-15 | 1991-03-15 | Light emitter array diagnostic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6266990A JP2834521B2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | Ｌｅｄアレイの診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03264365A true JPH03264365A (ja) | 1991-11-25 |
| JP2834521B2 JP2834521B2 (ja) | 1998-12-09 |
Family
ID=13206932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6266990A Expired - Fee Related JP2834521B2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | Ｌｅｄアレイの診断装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5160837A (ja) |
| EP (1) | EP0446829B1 (ja) |
| JP (1) | JP2834521B2 (ja) |
| KR (1) | KR0157061B1 (ja) |
| DE (1) | DE69106408T2 (ja) |
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